SPC試題集(答案)演示教學(xué)

1、SPC試題集（答案）填空題：（每空2分，共50分）1.SPC 是英文 Statistical Process Control的前綴簡稱,即 統(tǒng)計過程控制，也稱為 統(tǒng)計制程管制。2.SPC 強調(diào)預(yù)防，防患于未然是 SPC 的宗旨。3.SPC 執(zhí)行成功的最重要條件是Action，即針對變差的偶因 和 異因分別采取措施。4.制程是 SPC 的焦點。5.普通原因始終作用于穩(wěn)定的過程中。特殊原因以不可預(yù)測的方式來影響過程分布。6.CL 表示 _管制中心線_ UCL 表示上控制界限_ LCL 表示 下控制界限 。7._ Ca 表示_準確度_ Cp 表示_精密度CPK 表示制程能力。& PPM 是指

2、制程中所產(chǎn)生之百萬分之不良數(shù)，DPM 是指制程中所產(chǎn)生之百萬分之缺點數(shù)。9.品管七大手法分別是查檢表 、柏拉圖 、特性要因圖、 散布圖 、管制圖、直方圖 、層別法。10.魚骨圖又稱特性要因圖。11. SPC 的目的是 持續(xù)改進。12. SPC 的核心思想是 預(yù)防.13 .實施 SPC 能夠幫助企業(yè)在質(zhì)量控制上真正作到”事前預(yù)防 和控制。14.控制圖的基本類型按數(shù)據(jù)類型分為計量值控制圖，計數(shù)值控制圖。15 .計量型數(shù)據(jù)，通過實際測量而取得的連續(xù)性實際值，適于使用以下控制圖進行分析：X-R 均值和極差圖、X-3均值和標準差圖、X -R 中位值極差圖、X-MR 單值移動極差圖。16.計數(shù)型數(shù)據(jù)，以計

3、產(chǎn)品的件數(shù)或點數(shù)的方法，適于使用以下控制圖進行分析：P chart 不良率控制圖、nP chart 不良數(shù)控制圖、C chart缺點數(shù)控制圖、U chart單位缺點數(shù)控制圖。17.直方圖是以一組無間隔的直條圖表現(xiàn)頻數(shù)分布特征的統(tǒng)計圖，能夠直觀地顯示出數(shù)據(jù)的分布情況。18.制絲歸檔數(shù)據(jù)的時間間隔是15 秒。19.如過程歷史數(shù)據(jù)計算的AVERAGE=5,b=0.2, 過程目標值=5.1,貝 U LCL（控制下限）是 4.4 ,CL（控制中心）是 5.0 , UCL（控制上限）是 5.6。20.使用控制圖，對數(shù)據(jù)進行分組的基本原則是組內(nèi)變異小，組間變異大_。21.一般企業(yè)的瑕疵率大約是3 到 4個西

4、格瑪，以 4 西格瑪而言，相當于每一百萬個機會里，有6210次誤差。如果企業(yè)不斷追求品質(zhì)改進，達到 在一百萬個機會里，只找得出3.4 個瑕疪。22.控制上限的英文代號是 UCL。23.計算 CP,CPK 時數(shù)據(jù)量不得少于 25 組。24.SPC 的中文意思是 統(tǒng)計過程控制 。25.影響過程的主要因素有人、機、料、法、環(huán)、測。26.影響過程波動的因素通?？煞譃槠胀ㄒ蛩?和 特殊因素6 西格瑪?shù)某潭?，績效就幾近于完美地達成顧客要求,27.對于普通原因的波動通常需要采取系統(tǒng) 措施。普通因素 的影響，過程特性的波動具有統(tǒng)計規(guī)律性。 特殊因素 的影響；波動偏離原來的規(guī)律。31.日常生產(chǎn)和服務(wù)中常見的波動

5、分布有正態(tài)分布、二項分布、泊松分布。32.若直方圖符合正態(tài)分布，說明過程處于穩(wěn)定受控狀態(tài)。33.若直方圖出現(xiàn)孤島型、偏向型等非正態(tài)分布，說明過程中有 異常因素 作用，應(yīng)查明原因。34.當 X-MR 圖中有連續(xù) 9 個點落在中心線同一側(cè)時，說明過程處于失控狀態(tài)。35.當控制圖中有連續(xù) 14 點交替升降時，說明過程處于失控狀態(tài)。36.當控制圖中有連續(xù) 6 點上升或下降時，說明過程處于失控狀態(tài)。37.“6”指標準差，是用來衡量一個總數(shù)里標準誤差的統(tǒng)計單位。38.在“ 3/原則下，控制點落在p36到+36之間的概率是 99.73 %。二、選擇題：（每空2分，共6分）1將收集的測定值或數(shù)據(jù)之全距分為幾個

6、相等區(qū)間作為橫軸，并將各區(qū)間內(nèi)之測定值所出現(xiàn)次數(shù)累積而 成的面積以條狀方式排列起來所產(chǎn)生的圖形，稱之為B。A：. 柏拉圖 B：直方圖 C：管制圖 D：層別法2以下哪種直方圖的形態(tài)表現(xiàn)為缺齒形B。A：原料之微小變異B：機械之微小振動C:儀器測定時不十分精確之作法D:新手之作業(yè)員4生產(chǎn)部生產(chǎn)某一產(chǎn)品時，用快速檢測夾具檢測高度和同軸度，應(yīng)該使用（B ）控制圖A. Xbar-R chart B. np chart C. c chart D. Xbar-s chart5漏焊、未焊滿、氣孔、焊渣等指的是（B ）A.不良B.缺陷 C. 產(chǎn)品 D. OQA reject6檢驗員每小時用高度儀檢測軸的高度后，所

7、收集的數(shù)據(jù)應(yīng)該用（A ）控制圖。A. Xbar-R chart B. np chart C. u chart D. Xbar-s chart7以下哪個選項不屬于過程的重要輸入（ C ）A.自動粘和機B. 凈化室 C. 控制圖 D. 操作工& Sigma 指的是（A ）A.標準差 C. 方差 C. 公司標志 D. 極差9. （ a ）負責組織對產(chǎn)品不良及過程不良進行原因分析，并制訂對策，相關(guān)部門配合執(zhí)行對策，28.日常工作中，將X-bar 控制圖與 R 控制圖 聯(lián)合使用，較為方便有效。29.當過程處于受控狀態(tài)時，過程只受30.當過程處于失控狀態(tài)時，過程受到（ a ）對對策執(zhí)行情況進行監(jiān)督

8、。a.質(zhì)檢部b.生產(chǎn)部c.技術(shù)部d.采購部e.市場部10. （ a ）負責進行過程能力統(tǒng)計以及數(shù)據(jù)分析。a.質(zhì)檢部b.生產(chǎn)部c.技術(shù)部d.采購部e.市場部11.初始能力研究時：樣本大小一般至少為（c ）個數(shù)據(jù)以上。a.30b.50c.100d.125e.8012.過程能力研究時：每（a）小時抽?。╡ ）件，每班填寫一張能力測算表單。a.1b.2c.3d.4e.513.以下過程能力要求中，（ad ）符合客戶要求。a. PPK 1.67 b. 1.331.33 e. CPKv1.3314.在汽車行業(yè)中，不屬正態(tài)分配之數(shù)據(jù)，可依顧客之需求，采用a.PPM 值 b. 合格率 c. 柏拉圖 d. 直方圖

9、15.對過程能力進行持續(xù)不斷地改善，具體可以系統(tǒng)性從以下a) 調(diào)整過程加工之分布中心，減少偏移量。b) 提高過程作業(yè)水平，減少分散程度。c)修正上下控制限范圍。16.當客戶有要求較高或較低之過程能力時，應(yīng)在相應(yīng)的二、判斷題1.(X)做初始能力研究時，Cp 大于 1.33，這臺機器能力可以接受了。2.(X)只有超出 USL 和 LSL 才需要采取措施。3.(V) SPC 意思是統(tǒng)計過程控制。4.(X)我們的子組容量都是 4。5.(X)沒有超出控制界限的點，過程能力是可接受的。6.(X)所有的特殊特性 均應(yīng)使用統(tǒng)計過程控制。7.(X)特殊特性的選擇應(yīng)由企業(yè)按產(chǎn)品/過程中特性的重要程度來制定，并沒有

10、絕對的正確與否。&(X)在繪制控制圖時，不管采取何種方法，均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控，否則不能計算過 程能力。9.(X) P 圖控制法適用于對 所有的計數(shù)型數(shù)據(jù) 做統(tǒng)計過程控制。10.(V) 1924 年，美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將 3Sigma 原理運用于生產(chǎn)過程當 中， 并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為：Shewhart控制圖或 3 控制圖。即：一種以實際產(chǎn)品質(zhì) 量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形)。通過對過 程變差進行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。11.(X)因為 X(bar)-R 圖最為

11、精確和敏感，較其它方法優(yōu)勢更強，因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方 法。12.(V)特殊原因都是惡性的，都應(yīng)該進行剔除。13.(X)當過程能力較高時，為降低成本，采取方法使之降低。14.(V)當過程能力不足時，為提高過程能力，應(yīng)進一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。15.(X) Ppk 用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析，Cpk 用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。16. (V)正確使用統(tǒng)計技術(shù)，能達到早期預(yù)防或及時提出矯正措施并得以及時改善的目的。17. (X)控制計劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計過程控制一 SPC18. (V)當控制計劃要求對相關(guān)工序尺寸進行SPC 統(tǒng)計過程控制時，公司相關(guān)部門進行X-R 圖控制并

12、進行過程能力研究。19.(V)重要過程事件(如工具變更，機器修理等)須摘記于相應(yīng)之X-R 控制圖及/或直方圖上。(ab )方面入手。(b )予以注明。a.FMEA b. 控制計劃 c. 作業(yè)指導(dǎo)書d. 特殊特性清單四、概念題，請簡要敘述下列術(shù)語的意義:1 變差：過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。3.1 固有變差：僅由普通原因造成的過程變差，由？= R/d2來估計。3.2 總變差：由普通原因和特殊原因共同造成的變差，用?S來估計。2、特殊特性：可能影響安全性或法規(guī)的符合性、配合、功能、性能或產(chǎn)品后續(xù)生產(chǎn)過程的產(chǎn)品特性或制造過程參數(shù)。3、 標準差：過程輸出

13、的分布寬度或從過程中統(tǒng)計抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母或字母 s（用于樣本標準差）表示。4、控制限：控制圖上的一條線（或幾條線），作為制定一個過程是否穩(wěn)定的基礎(chǔ)。如有超出了控制極限變差存在，則證明過程受特殊因素的影響。控制限是通過過程數(shù)據(jù)計算出來的，不要與工程的 技術(shù)規(guī)范相混淆。5、過程能力：一個穩(wěn)定過程的固有變差（6? : R/d2 ）的總范圍。6、 Cpk （穩(wěn)定過程的能力指數(shù)） ：為一穩(wěn)定過程【某一天、某一班次、某一批、某一機臺其組內(nèi)的變差（R-bar/d2 or S-bar / C4 ）】下的能力指數(shù)”，計算時須同時考慮過程數(shù)的趨勢及該趨勢接近于規(guī)格界限的程度。即

14、：通常定義為CPU 或 CPL 中的最小值。7、 Ppk （性能指數(shù)，即初期過程的性能指數(shù)）：為試生產(chǎn)階段一項類似于Cpk 的能力指數(shù)，某一產(chǎn)品長期監(jiān)控下的“能力指數(shù)”；但本項指數(shù)的計算，是以新產(chǎn)品的初期過程性能研究所得的數(shù)據(jù) 為基礎(chǔ)。即：通常定義為PPU 或 PPL 中的最小值。8、 PPM（質(zhì)量水準，即每百萬零件不合格數(shù)）：指一種根據(jù)實際的有缺陷材料來反映過程能力的一種方法。PPM 數(shù)據(jù)常用來優(yōu)先制定糾正措施。9、過程（Process）: 一組將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的相互關(guān)聯(lián)或相互作用的活動。過程是向過程的顧客（內(nèi)部的和外部的）提供產(chǎn)品或服務(wù)的增值活動鏈。注：A） 個過程的輸入通常是其它過程的輸

15、出。B）組織為了增值通常對過程進行策劃并使其在受控條件下運行。C）過程的資源通常包括：人員、資金、設(shè)施、設(shè)備、材料、技術(shù)和方法。10、 第I類錯誤： 拒絕一個真實的假設(shè)。例如：采取了一個適用于特殊原因的措施而實際上過程還沒有發(fā)生變化；即過度控制。11、 UCL,LCL:上下控制限：UCL X A2RUCL X A2R12、 SPC: Statistical Process Control的簡稱，即統(tǒng)計過程控制。它能科學(xué)地區(qū)分出生產(chǎn)過程中產(chǎn)品質(zhì)量的偶然波動與異常波動，從而對生產(chǎn)過程的異常及時告 警，以便采取措施，消除異常，恢復(fù)過程的穩(wěn)定。13、USL,LSL:上下規(guī)格限，一般指標準要求。14、C

16、pk,Ppk:CPK :過程能力指數(shù)，指長期的。PPK 性能能力（初始能力）指數(shù)，指短期的能力。15、Xbar, R,“ Xbay：均值（一般指子組均值）；R：極差，R MaxXiMinXi16、正態(tài)分布：呈以標稱值為中心、左右對稱的倒鐘形分布。一般地說，計量值質(zhì)量特性，如尺寸、重（T：標準差，Rd2或(XiX)2量、強度、溫度、時間等，都有相似的分布狀態(tài)：正態(tài)分布五、問答題1、控制圖應(yīng)用在什么條件下可以由分析階段轉(zhuǎn)入控制階段？答：控制圖應(yīng)用由分析階段轉(zhuǎn)入控制階段應(yīng)滿足的條件：1、控制圖是受控的；2、過程能力能夠滿足生產(chǎn)要求。2、什么時候應(yīng)該重新計算控制圖的控制界限？答：、控制圖是根據(jù)穩(wěn)定狀態(tài)

17、下的條件（人員、設(shè)備、原材料、工藝方法、測量系統(tǒng)、環(huán)境）來制定的。如果上述條件變化，則必須重新制定控制圖；2、一定時間后檢驗控制圖還是否適用；3、過程能力值有大的變化時。3、請寫出控制圖中常見的八種過程不受控的表現(xiàn)情況？答：控制圖中常見的八種過程不受控的表現(xiàn)情況為：1、不能有點子超出上、下控制限（即：檢定規(guī)則1: 1 界外T有 1 點在 A 區(qū)以外）；2、連續(xù) 3 點中不能有 2 點落在 A 區(qū)或 A 區(qū)以外之區(qū)域（即：檢定規(guī)則2: 2/3AT連續(xù) 3 點中有 2 點在 A 區(qū)或 A 區(qū)以外）；3、連續(xù) 5 點中不能有 4 點落在 B 區(qū)或 B 區(qū)以外之區(qū)域（即：檢定規(guī)則3: 4/5BT連續(xù)

18、5 點中有 4 點在 B 區(qū)或 B 區(qū)以外）；4、不能有連續(xù) 9 點（或更多點）落在控制中心線的同一側(cè)（即：檢定規(guī)則4: 9 單側(cè)T連續(xù) 9點在控制中心的同一側(cè)）；5、不能有連續(xù) 7 點（或更多點）持續(xù)上升或下降（即：檢定規(guī)則5: 7 連串T連續(xù) 7 點（或更多點）持續(xù)上升或下降）；6、不能有連續(xù) 14 點交互著一升一降（即：檢定規(guī)則 6: 14 升降T連續(xù) 14 點交互著一升一降）；7、不能有連續(xù) 8 點在中心線的兩側(cè)，但 C 區(qū)并無點子（即：檢定規(guī)則7: 8 缺CT連續(xù) 8 點在中心線的兩側(cè)，但 C 區(qū)并無點子）。8、不能有連續(xù) 15 點在中心線上下兩側(cè)的 C 區(qū)（即：檢定規(guī)則 8: 15CT連續(xù) 15 點在中心線上下兩側(cè)的 C 區(qū)）。4、請寫出常用的五