三種優(yōu)秀的內(nèi)存測試軟件用法

1、種內(nèi)存測試軟件的使用說明（1）微軟內(nèi)存檢測現(xiàn)在的系統(tǒng)盤一般都帶有“微軟內(nèi)存檢測工具”。程序加載后，即會開始掃 描RAM掃描界面如下圖：WindowsMemoryDiagnostic工具啟動時默認為“Standard” （標準）模式, 此模式包括6項不同的連續(xù)內(nèi)存測試，每項測試都使用一種獨特的算法來 掃描不同類型的錯誤。在程序運行時，屏幕會顯示每個單獨測試的結(jié)果，列出它的進度以及正在掃描的內(nèi)存地址范圍。這6項測試完成后，此工具將使用同樣的測試運行下一輪測試，并將一直持續(xù)下去，直至手動按X鍵退出軟件為止。但是，通常情況下，一輪測試即足以確定內(nèi)存是否存在故障。內(nèi)存診斷測試狀態(tài)有兩種模式（標準內(nèi)存測試

2、與擴展內(nèi)存測試）1、standard tests標準內(nèi)存測試模式：有6項測試，分別檢測MATS+,INVC,LRAND,STRIDE6,WMATS+,WIN它是不斷循環(huán)的，只須一輪檢 測就可以，當顯示Pass：2時，就表示此六項檢測完畢。2、extended tests擴展內(nèi)存測試模式（按T）:有11項測試，分別檢測MATS+,INVC,LRAND,STRIDE6,WMATS,WINVC,MATS+,STRIDE38,WSTRIDE-6,ERANnRIDE6它也是不斷循環(huán)的。般情況下用“擴展內(nèi)存測試模式”檢測內(nèi)存就可以了 注意：這個軟件是不會自動停止的，可以按X鍵退出？?？用的時候多看看它的數(shù)

3、據(jù)詳細說明:每測試都完一項后，工具會顯示“Succeeded（成功）或“Failed” （失 ?。┫?；如果你的內(nèi)存是兩條或以上， 可拔下一條來， 一條一條獨立測 試， 一定要全部Succeeded,否則就要換內(nèi)存了（或者是內(nèi)存槽壞了）。?（二）RAM Stress Test（RST內(nèi)存測試軟件Data Bus數(shù)據(jù)總線工廠檢測內(nèi)存條質(zhì)量的軟件RamStress Test，只要有一丁點問題，都能檢查出來，推薦 大家使用，各位一定都碰到過，提示內(nèi)存不能為？READ或者WRITTEN勺情況，很多時候 都是軟件問題，要解決他首先檢查內(nèi)存條的質(zhì)量，然后再從軟件去找問題。這個軟件是 最專業(yè)的，比那個？ME

4、MRES還好，只需要檢查一邊，好就是好，壞的就是壞的。這個軟 件確實很好，內(nèi)存壞的話會顯示紅色，并且報警。但是只能檢測一代內(nèi)存，？二代內(nèi)存就需要微軟的檢測工具了。？Ram Stress Test是美國Ultra-X公司旗下的一個專業(yè)記憶體 測試程式，是專門給系統(tǒng)生產(chǎn)廠商出機前用的測試程式，他其實是從其他的產(chǎn)品獨？過他的測試幾乎就能應付大部分的記憶體問題，所以是非常好用的一個測試工具?。渴褂梅浅：喴?，只要設定為軟碟開機就行了，他是一個獨立開發(fā)的系統(tǒng)，沒有依附任何 作業(yè)系統(tǒng)， 相容于X86系列， 只要BIOS認的到的容量他都能測！？發(fā)現(xiàn)ATS選項錯誤, 在BIOS中，記憶體選項設成Auto時，記憶

5、體的CL=2選項才能通過。？程序執(zhí)行后，第一選項是測試物理內(nèi)存中基本內(nèi)存地址（址，第三項是測試你CPU勺L2 cache。?可以測試SD及DDF內(nèi)存。？?依次代表內(nèi)存條的8顆顆粒。？從左到右橫著數(shù)：0-7代表第1顆粒區(qū)域、8-F代表第 代表第4顆粒、0-7代表第5顆粒代、8-F代表第6顆粒、0-7代表？第7顆粒、8-F代表第8顆粒？點不亮內(nèi)存的測試方法很多內(nèi)存短路或者顆粒損壞后都不能點亮，點不亮的可 以用一根好的內(nèi)存去帶動它（可解決部分點不亮問題）？。必須SD的帶SD的，DDR的帶DDR的。本軟件會自動跳過好的去檢測壞的那根。？發(fā)現(xiàn)ATS選項錯誤，在BIOS中，記憶體選項設成Auto時，記憶體

6、的CL=2改成Manual，自設CL=0，上述選項才能通過。？程序執(zhí)行后，第一選項是測試物理內(nèi)存中基本內(nèi)存地址（,第二項是擴展內(nèi)存地2顆粒、0-7代表第3顆粒、8-F注意DR的顆粒排列循序是-8?2.如果你是128M的雙面DDF內(nèi)存，如以上顯示界面圖：？ 1-16M16-32M32-48M48-64M- ?從1M到64M的上面的4根虛線上出現(xiàn)亂碼的話，說明這根內(nèi)存的的第一面的顆粒有問題(判斷哪個顆粒的好壞按照以上的說明)?64-80M80-96M96-112M 112-128M- ?從64M到128M的上面的4根虛線上出現(xiàn)亂碼的話,說明這根內(nèi)存的的第二面的顆粒有問 題(判斷哪個顆粒的好壞按照以

7、上的說明)?注意：在內(nèi)存的PCB板上的兩邊標著1與92的代表第一面，的8根虛線是用來區(qū)分兩面區(qū)域的作用.?3.SD的8位與16位的單面測法:?. 0-7(1). 8-F(2). 0-7(3). 8-F(4). 0-7(5). 8-F(6). 0-7(7). 8-F(8). 0-7(3 ). 8-F(4 ). 0-7(5 ). 8-F(6 ). 0-7(7 ). 8-F(8 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDF內(nèi)存條的第DDF內(nèi)存條的第DDF內(nèi)存條的第DDF內(nèi)存條的第D

8、DF內(nèi)存條的第DDF內(nèi)存條的第3顆粒已經(jīng)損壞?4顆粒已經(jīng)損壞?5顆粒已經(jīng)損壞?6顆粒已經(jīng)損壞?7顆粒已經(jīng)損壞?8顆粒已經(jīng)損壞?93與184的代表第二面。1-128M區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDF內(nèi)存條的第SDF內(nèi)存條的第SDF內(nèi)存條的第SDF內(nèi)存條的第SDF內(nèi)存條的第SDF內(nèi)存條的第SDF內(nèi)存條的第SDF內(nèi)存條的第8顆粒已經(jīng)損壞?4顆粒已經(jīng)損壞?7顆粒已經(jīng)損壞?3顆粒已經(jīng)損壞?6顆粒已經(jīng)損壞?2顆粒已經(jīng)損壞?5顆

9、粒已經(jīng)損壞?1顆粒已經(jīng)損壞?1到84為8-7-6-5-4-3-2-1(注：PCB板上從1到84為第一面，顆粒的排列順序從切記注意）？4.通過以上的介紹，說明SD的雙面是跟DDR勺是一樣的。但是顆粒的好壞判斷要按照？它們的排列循序來判斷。？板的短路或者虛焊的測法：如果在8根虛線上都出現(xiàn)亂碼，說明這根內(nèi)存的PCE板有問題？6.點不亮的內(nèi)存的測試方法：很多內(nèi)存短路或者顆粒損壞后都不能點亮，點不亮的可以用一根好的內(nèi)存去帶動它。必須SD的帶SD的，DDR的帶？DDR的。本軟件會自動跳過好的那根去檢測壞的那根。？7.使用方法:直接把光盤插入光驅(qū)，在主板的CMOS設置光驅(qū)起動，啟動后本軟件會自動 引導到測試

10、界面進行檢測。Memtest86使用說明通常我們會覺得內(nèi)存出錯損壞的幾率不大，并且認為如果內(nèi)存壞了，那么它是不可能通過主板的開機 自檢程序的。事實上這個自檢程序的功能很少，而且只是檢測容量速度而已，許多內(nèi)存出錯的問題并 不能檢測出來。如果你在運行程序時不時有某個程序莫名其妙地失去響應或者打游戲時突然退出游 戲；打開文件時偶爾提示文件損壞，但稍后打開又沒問題那你應該考慮檢測一下你的內(nèi)存了。一、軟件簡介Memtest86是一款基于Linux核心的測試程序，所以它的安裝和使用和其它內(nèi)存測試軟件有些不 同。將Memtest86程序下載解壓縮后，我們可以看到4個文件，其中用來安裝Memtest86程序到

11、軟盤。雙擊運行這個程序，在彈出窗口中的“Enter Target diskette drive :”后輸入你的軟盤驅(qū)動器的盤符，如a，然后回車。插入一張格式化過的軟盤，單擊回車開始安裝，這樣Memtest86就安裝到軟盤了。前面我們說過Memtest86是基于Linux核心的，所以在Windows的資源管理器里我們看不到軟盤 上的內(nèi)容（不要誤認為軟盤里沒有內(nèi)容）。如果沒有軟驅(qū)，Memtest86的主頁有該軟件的ISO文件，可以直接刻錄到光盤，用光驅(qū)啟動后進行測試。二、測試內(nèi)存制作好軟盤后，我們用這張盤來啟動電腦 所示。在紅色顯示的Memtest-86”程序版本號下， 頻率，以及CPU的一級緩存

12、和二級緩存的大小及速度， 量和速度。最后顯示的是主板所采用的芯片組類型。致的了解 在系統(tǒng)信息的右側(cè)顯示的是測試的進度，“Pass”顯示的是主測試進程完成進度，“Test”顯示的是當前測試項目的完成進度?！癟est #1”顯示的是目前的測試項目。Memtest86會自動開始測試內(nèi)存，其測試界面如圖1我們可以看到當前系統(tǒng)所采用的處理器型號和 當然也包括測試的主角一一系統(tǒng)物理內(nèi)存的容 通過這些信息我們可以對系統(tǒng)的主要配置有個大F方的“WallTime”顯示測試已經(jīng)耗費的時間，在這一排數(shù)據(jù)中“ECC一欄中，顯示的是當前內(nèi)存是否支持打開ECC校驗功能，“TEST顯示的是測試的模式，有“標準”和“完全”模

13、式可供選 擇。“Pass顯示的是內(nèi)存測試所完成的次數(shù)，Memtest86的測試是無限制循環(huán)的，除非你結(jié)束測試程序，否則它將一直測試下去。另外Memtest86的測試比較耗費時間，標準的測試模式跑一遍大概需 要個把小時，如果是完全測試的話則需要幾個小時（和內(nèi)存容量有關(guān)） 。要進行完全測試，我們可以單擊“C”鍵打開Memtest86的設置菜單，接著單擊數(shù)字鍵“2”選擇“TestSelection選項（注意從主鍵盤輸入數(shù)字） ，再單擊數(shù)字鍵“3選擇“All Test選項打開完全測 試模式（圖2）。利用這個設置菜單，我們還可以進行更多的設置，比如設置測試的Cache大小、重新開始測試等等。開始測試后，主要的內(nèi)存突發(fā)問題（比如“死亡位）將在幾秒鐘內(nèi)檢測出來，如果是由特定位模式 觸發(fā)的故障，則需要長時間測試才能檢測出來，對此需要有耐心。Memtest86一檢測到缺陷位，就會在屏幕底部顯示一條出錯消息，但是測試還將繼續(xù)下去。如果完成幾遍測試后，沒有任何錯誤信息， 那么我們可以確定內(nèi)存是穩(wěn)定可靠的。如果檢測出現(xiàn)問題，你可以試著降低BIOS中內(nèi)存參數(shù)的選項值，如將內(nèi)存CAS延遲時間設置為