吳鳳技術(shù)學(xué)院工程學(xué)群與安全學(xué)群貴重儀器中心附件十三

1、吳鳳技術(shù)學(xué)院工程學(xué)群與安全學(xué)群貴重儀器中心附件十三服務(wù)項(xiàng)目及收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)總表項(xiàng)次12345678儀器名稱CNC 電腦車床綜合中心切削機(jī)軟體Master CAM導(dǎo)熱係數(shù)量測(cè)系統(tǒng)精密快速成型機(jī)三次元量床光學(xué)式雷射帶狀掃描儀半導(dǎo)體晶圓研磨熱特性量測(cè)儀儀器功能 /服務(wù)內(nèi)容CNC 車床加工1.電腦輔助製造2.CNC 銑床加工、搪孔、鑽孔及攻牙加工電腦輔助製造材料導(dǎo)熱係數(shù)量測(cè)組裝測(cè)試及模具翻製 D 掃瞄儀器系統(tǒng)被廣泛應(yīng)用在品管之檢測(cè) 、醫(yī)學(xué)之立體定位 、廣告與動(dòng)畫、到美容與服裝設(shè)計(jì)等旋轉(zhuǎn)測(cè)頭減少死角。多角度掃描與結(jié)合。尋面掃描可變焦距。自動(dòng)分層掃描。雙鏡頭自動(dòng)判斷。自動(dòng)校正。區(qū)域選擇掃描。不受物體材質(zhì)影響。掃

2、描精度高、速度快、遠(yuǎn)超過(guò)傳統(tǒng)式掃描。安裝容易，操作簡(jiǎn)便。可安裝於 CNC 加工機(jī)。工業(yè)安全設(shè)備維修預(yù)知保養(yǎng)非破壞性檢測(cè) ：研究開(kāi)發(fā)放置地點(diǎn)花明樓TB-003花明樓TB-003花明樓TB-004花明樓TB-101花明樓TB-102花明樓TB-107花明樓TB-107花明樓TB-108收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)1.教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫收費(fèi)）2.軟體使用費(fèi)（每小時(shí) 1000 元）1.教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫收費(fèi)）2.硬體使用費(fèi)（每小時(shí) 1,000 元）1.教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫收費(fèi)）2.軟體使用費(fèi)（每小時(shí) 600 元）徐旭華900 元 /小時(shí)1.教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫收費(fèi)）2.硬體使用費(fèi)（每小

3、時(shí) 800 元）1.教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫收費(fèi)）2.硬體使用費(fèi)（每小時(shí) 800 元）各式試片及環(huán)境溫度量測(cè)與監(jiān)控，收費(fèi)依照量測(cè)條件與操作環(huán)境狀況議價(jià)。759 電腦叢集計(jì)算系統(tǒng)10 磁控電漿鍍膜系統(tǒng)系統(tǒng)操作盤面須提供系統(tǒng)操作資訊檢視功能 ，包括各節(jié)點(diǎn)之 CPU 溫度、風(fēng)扇轉(zhuǎn)速、記憶體使用率、 CPU 使用率等。導(dǎo)電薄膜 ZnO 之濺鍍沉積壓電薄膜 AlN 之濺鍍沉積薄膜塊體波諧振器(Thin Film Bulk Acoustic Wave Resonator , FBAR), 表 面 聲 波 元 件 (Surface Acoustic Wave Device , SAW)製作花明樓TB-1

4、08花明樓TB-1005附件十三1.教育訓(xùn)練課程（依產(chǎn)學(xué)合作計(jì)畫收費(fèi)）2.硬體使用費(fèi)（每小時(shí) 1,000 元）沉積薄膜500 元 /小時(shí)11D.3D 微細(xì)形狀測(cè)定器對(duì)微機(jī)電，光電，半導(dǎo)體， LCD ， OLED 等領(lǐng)域作膜厚段差 /粗度 /平坦度波紋度測(cè)定?；鳂荰B-607表面膜厚量測(cè)500 元 /小時(shí)12 光罩對(duì)準(zhǔn)曝光機(jī)13 向量網(wǎng)路分析儀多功能掃瞄探針顯14微鏡半導(dǎo)體元件圖形對(duì)準(zhǔn)及轉(zhuǎn)移製程射頻 /微波元件測(cè)試，含被動(dòng)元件量測(cè) ，搭配功率計(jì)和衰減計(jì)可量測(cè)主動(dòng)元件。射頻 /微波電路量測(cè)。支援輸入校正係數(shù)和參數(shù)，搭配探針臺(tái)，可量測(cè)晶圓電路特性。多功能掃瞄探針顯微鏡，標(biāo)準(zhǔn)裝備了原子力、磁力顯微鏡

5、。同時(shí)豐富多彩的表面電位、微粘彈性、隧道顯微鏡等多功能掃瞄探針顯微鏡功能可供選擇。花明樓TB-605花明樓TB-603花明樓TB-607500 元 /小時(shí)高頻量測(cè)：校內(nèi)教師、研究生使用免費(fèi)高頻量測(cè)：校外人員， 500 元/小時(shí)AFM 量測(cè)1000 元/小時(shí)15真空熱蒸鍍機(jī)使用在半導(dǎo)體製程用蒸花明樓500元 /小時(shí)度方式來(lái)達(dá)到鍍上金屬TB-60516電漿輔助化學(xué)氣相沈積半導(dǎo)體薄膜花明樓半導(dǎo)體製程實(shí)驗(yàn)室沉積系統(tǒng)TB-605500 元 /小時(shí)76Anritsu MS2687B 頻譜分析儀的應(yīng)用包括：位置監(jiān)看：驗(yàn)證發(fā)射器的訊號(hào)頻率是精確的。干擾監(jiān)看：系統(tǒng)在安裝之 前 可 使 用 AnritsuMS26

6、87B 頻譜分析儀確認(rèn)頻率沒(méi)有被佔(zhàn)據(jù) ，或確17頻譜分析儀認(rèn)沒(méi)有強(qiáng)烈的訊號(hào)干擾你的裝備。干擾可由不同的狀況產(chǎn)生，利用 AnritsuMS2687B 頻譜分析儀的功能，包括天線隔離、同通道干擾、相鄰?fù)ǖ拦β省?zhàn)據(jù)頻寬、互調(diào)、微波或衛(wèi)星天線調(diào)整和元件特性。18螢光光譜儀 (PL)有機(jī)物、無(wú)機(jī)物之螢光分析。廣泛應(yīng)用於無(wú)機(jī)陶瓷、金屬材料、塑膠聚合物、建築材料、塗層材料、耐火材料、複合材料19動(dòng)態(tài)熱膨脹係數(shù)量等領(lǐng)域。測(cè)儀 (DIL)研究材料特性如下 ：線膨脹與體積膨脹 、玻璃化溫度、軟化點(diǎn)檢測(cè)、相轉(zhuǎn)變過(guò)程、熱處理及燒結(jié)、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)研究。可用來(lái)測(cè)量的顆粒材質(zhì)包括：陶瓷及水泥、醫(yī)藥、金屬、礦物、火藥、20雷

7、射粒徑分析儀固體燃料、食物、藥妝乳(LA)液、微胞、高分子、塗料和黏著劑、顏料和染料，橡膠、塑膠和紙業(yè)用的碳黑和礦物添加劑。花明樓TB-603花明樓TB1003花明樓TB1003花明樓TB1003附件十三高頻量測(cè)：校內(nèi)教師、研究生使用免費(fèi)高頻量測(cè)：校外人員， 500 元 /小時(shí)校內(nèi)收費(fèi)： 30 元/件校外收費(fèi)： 40 元/件校內(nèi)收費(fèi)： 1500 元/件校外收費(fèi)： 3000 元 件(超過(guò) 5 小時(shí)每小時(shí)加收500 元)校內(nèi):300 元/件校外:800 元/件高效能液相層析花明樓校內(nèi)收費(fèi)： 30元/小時(shí)有機(jī)酸分析系統(tǒng)TB100321校外收費(fèi)： 50元/小時(shí)(HPLC)7722原子吸收光譜儀(AA)

8、金屬元素的定性及定量檢測(cè)水溶液中或經(jīng)過(guò)某些樣品處理程序後可溶解金屬含量之分析醫(yī)學(xué)、環(huán)境、食品及化學(xué)工業(yè)等領(lǐng)域中重金屬之分析可直接或間接用於水質(zhì)、海域、煙道、大氣、金屬工業(yè)、地質(zhì)化學(xué)研究、石油化學(xué)工業(yè)、陶瓷及臨床醫(yī)學(xué)等金屬之測(cè)定花明樓TB1003附件十三校內(nèi) :40 元/成份校外 :50 元/成份僅作檢測(cè)不作前理傅立葉紅外線光譜23有機(jī)物之成份鑑別無(wú)機(jī)物之結(jié)構(gòu)鑑別 Polymer 分析多層膜組成分析花明樓校內(nèi)收費(fèi)： 100 元/件242526儀 (FT-IR)掃瞄式電子顯微鏡(SEM)X-光繞射分析儀(XRD)示差掃瞄熱分析儀(DSC)薄膜膜厚測(cè)定蛋白質(zhì)二次結(jié)構(gòu)分析其他能觀看樣品表面結(jié)構(gòu) ，形狀

9、及顆粒大小?？煞治銎湓爻煞纸M成。提供一般科學(xué)、材料科學(xué)及醫(yī)藥科學(xué) 等全方位的分析應(yīng)用。能測(cè)量晶體結(jié)構(gòu) ，及計(jì)算晶體晶格大小以計(jì)算其理論密度。從X 光繞射圖樣決定其化學(xué)式 。提供一般科學(xué)、材料科學(xué)、生物科學(xué)及醫(yī)藥科學(xué)等全方位的分析應(yīng)用。在 -150 到 350溫度測(cè)定範(fàn)圍， DSC 能測(cè)定並計(jì)算各種熱流轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)。熱流轉(zhuǎn)移測(cè)定包括熔解、分解、玻離溫度轉(zhuǎn)移、熱容量、熟成動(dòng)力等現(xiàn)象測(cè)定。適合各種高分子材料的測(cè)定。TB1003花明樓TB001花明樓TB904花明樓TB909校外收費(fèi)： 200 元/件校內(nèi)收費(fèi)： 200 元/時(shí) (自行操作 )500 元/時(shí)(委託操作 )校外收費(fèi)： 400 元/時(shí) (自行

10、操作 )800 元/時(shí)(委託操作 )校內(nèi)收費(fèi)： 50 元 /件校外收費(fèi)： 100 元/件校內(nèi) :1000 元/件校外 :1500 元件7827氣相層析質(zhì)譜儀(GC-MS)可揮發(fā)性化合物之分析?？捎渺端幬?、毒物、環(huán)境污染、空氣污染等分析?；鳂荰B1003附件十三校內(nèi) :1000 元/件校外 :1500 元件熱重量 -熱示差掃瞄28分析儀29 X 光繞射儀反應(yīng)性射頻磁控濺30鍍機(jī)作為一種鋁矽酸鹽材料，蒙托石常存在于天然的粘土中。 DSC 曲線顯示了在868 與 923（峰溫）的額外吸放熱相轉(zhuǎn)變。 484（外推起始點(diǎn)）的放熱效應(yīng)是由於雜質(zhì)的存在所引起的。霰石是碳酸鈣的某種變體。這裏測(cè)試的樣品是一種

11、表面帶滑石雜質(zhì) （在461 與 490 出現(xiàn)放熱峰）的霰石晶體。由於雜質(zhì)的存在，碳酸鹽分解過(guò)程中的失重比（43.71%）稍低於計(jì)算得到的化學(xué)計(jì)量比（43.97%）。穿透導(dǎo)電氧化物薄膜(ex. ZnO) 優(yōu)選結(jié)晶方位分析薄膜太陽(yáng)電池微結(jié)構(gòu)與相分析壓電光電材料組成分析（43.71%）稍低於計(jì)算得到的化學(xué)計(jì)量比（43.97%）。 Ti/Au 等單一金屬 AlN ，TiW 或 SiN 等合金或化合物 ITO 或 SiO2，TiO2 等氧化物花明樓TB-609花明樓TB-609花明樓TB-611每件實(shí)驗(yàn)基本測(cè)試費(fèi) (氮?dú)狻③釄宓群牟馁M(fèi) )300 元。委託操作每件 200 元 /小時(shí)(含資料及樣品處理時(shí)間

12、；不足一小時(shí)以一小時(shí)計(jì))。每件實(shí)驗(yàn)基本測(cè)試費(fèi) (相關(guān)耗材費(fèi) ) 300 元。委託操作每件 200 元 /小時(shí)(含資料及樣品處理時(shí)間；不足一小時(shí)以一小時(shí)計(jì))。委託操作每件 1,000 元/小時(shí)(含資料及樣品處理時(shí)間；不足一小時(shí)以一小時(shí)計(jì))。79二極體、雙極性電晶體及場(chǎng)效電晶體、 CMOS元件電流-電壓特性分析。31光電及半導(dǎo)體特性發(fā)光二極體 I-V 特性量測(cè)儀器分析。半導(dǎo)體雷射起始電壓分析。光伏太陽(yáng)能電池及光電感測(cè)元件分析。 III-V 族半導(dǎo)體磊晶材料品質(zhì)分析。 III-N 氮化物螢光特性32光激光譜儀及雜質(zhì)分析。有機(jī)發(fā)光二極體材料發(fā)光機(jī)制分析。光電感測(cè)元件光嚮應(yīng)特性分折導(dǎo)線熔痕檢查導(dǎo)線熔痕金相分析33金相顯微鏡染色體之檢測(cè)分子生物之應(yīng)用生物醫(yī)學(xué)之應(yīng)用可應(yīng)用於大部分有機(jī)化合物之分析與結(jié)構(gòu)鑑定，例如環(huán)境污染物的分34氣相層析分析儀析、食品、香料、