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1、蔣 仕 良全國(guó)特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)考委會(huì)考委RT、UT、MT、PT、AE五項(xiàng)高級(jí)資格高級(jí)檢驗(yàn)師天津石化公司裝備研究院TEL:022-638026722RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用 3圖2-1現(xiàn)有某個(gè)儲(chǔ)罐,如圖?,F(xiàn)有某個(gè)儲(chǔ)罐,如圖。材質(zhì)為材質(zhì)為16MnR,規(guī)格為,規(guī)格為:2000mm12mm, 要求對(duì)要求對(duì)殼體殼體A、B類(lèi)焊接接頭和類(lèi)焊接接頭和B8 (53014 )接管對(duì)接管對(duì)接縫透照接縫透照 。 (涉及到透照方式選擇、透照次數(shù)涉及到透照方式選擇、透照次數(shù)計(jì)算、射線(xiàn)能量選擇、焦距選擇、計(jì)算、射線(xiàn)能量選擇、焦距選擇、曝光量選擇、透照時(shí)機(jī)確定、散曝光量選擇、透照時(shí)機(jī)確定、散射線(xiàn)控制等射線(xiàn)檢測(cè)工藝參數(shù)

2、確射線(xiàn)控制等射線(xiàn)檢測(cè)工藝參數(shù)確定,這些即射線(xiàn)工藝,其中最重定,這些即射線(xiàn)工藝,其中最重要的是透照方式選擇,為射線(xiàn)檢要的是透照方式選擇,為射線(xiàn)檢測(cè)工藝的靈魂測(cè)工藝的靈魂)4 1 1 透照方式的選擇透照方式的選擇 1.1 透照方式的選擇原則:透照方式的選擇原則:v依據(jù)工件的結(jié)構(gòu)和技術(shù)條件的要求,優(yōu)依據(jù)工件的結(jié)構(gòu)和技術(shù)條件的要求,優(yōu)先選用單壁透照方法;先選用單壁透照方法;v在單壁透照方法不能實(shí)施時(shí)才允許采用在單壁透照方法不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方法;雙壁透照方法;v雙壁雙影法一般只用于直徑在雙壁雙影法一般只用于直徑在100mm以以下的小徑管的環(huán)焊縫透照。下的小徑管的環(huán)焊縫透照。 RT探傷方法與應(yīng)

3、用探傷方法與應(yīng)用5RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用1.2透照方式的分類(lèi):透照方式的分類(lèi):v直縫透照:?jiǎn)伪?、雙壁;直縫透照:?jiǎn)伪凇㈦p壁;v環(huán)縫單壁透照:外透、中心透照、偏環(huán)縫單壁透照:外透、中心透照、偏心內(nèi)透(心內(nèi)透(FR ););v環(huán)縫雙壁透照:雙壁單影(傾斜、垂環(huán)縫雙壁透照:雙壁單影(傾斜、垂直)、雙壁雙影(傾斜、垂直)。直)、雙壁雙影(傾斜、垂直)。6 2 2 一次透照長(zhǎng)度的計(jì)算(最少透照次數(shù)計(jì)算)一次透照長(zhǎng)度的計(jì)算(最少透照次數(shù)計(jì)算) 2.1 幾個(gè)概念:幾個(gè)概念:v一次透照長(zhǎng)度一次透照長(zhǎng)度焊縫射線(xiàn)照相一次透照的焊縫射線(xiàn)照相一次透照的有效檢驗(yàn)長(zhǎng)度有效檢驗(yàn)長(zhǎng)度(一般指源側(cè)的長(zhǎng)度一般指源側(cè)的長(zhǎng)

4、度),L3表示。受兩個(gè)因表示。受兩個(gè)因素的限制,一個(gè)是射線(xiàn)的有效照射場(chǎng)的范圍素的限制,一個(gè)是射線(xiàn)的有效照射場(chǎng)的范圍,一次透照長(zhǎng)度不可能大于有效照射場(chǎng)的尺,一次透照長(zhǎng)度不可能大于有效照射場(chǎng)的尺寸;另一個(gè)是透照厚度比(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定)限制寸;另一個(gè)是透照厚度比(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定)限制了一次透照長(zhǎng)度的大小。一次透照長(zhǎng)度對(duì)照了一次透照長(zhǎng)度的大小。一次透照長(zhǎng)度對(duì)照相質(zhì)量和工作效率同時(shí)產(chǎn)生影響。(雙壁雙相質(zhì)量和工作效率同時(shí)產(chǎn)生影響。(雙壁雙影的影的L3一般不計(jì)算,一次透照有效檢出范圍一般不計(jì)算,一次透照有效檢出范圍由其他因素決定,如寬容度。)由其他因素決定,如寬容度。)RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用78v搭接長(zhǎng)度搭接

5、長(zhǎng)度一張底片與相鄰底片重疊部分的長(zhǎng)度一張底片與相鄰底片重疊部分的長(zhǎng)度,L表示。表示。v有效評(píng)定長(zhǎng)度有效評(píng)定長(zhǎng)度一次透照檢驗(yàn)長(zhǎng)度在底片上的投影長(zhǎng)一次透照檢驗(yàn)長(zhǎng)度在底片上的投影長(zhǎng)度,度,Leff表示。表示。v實(shí)際透照時(shí),如果搭接標(biāo)記放在射源側(cè),則底片上搭接實(shí)際透照時(shí),如果搭接標(biāo)記放在射源側(cè),則底片上搭接標(biāo)記之間長(zhǎng)度即為有效評(píng)定長(zhǎng)度。如搭接標(biāo)記放在膠片標(biāo)記之間長(zhǎng)度即為有效評(píng)定長(zhǎng)度。如搭接標(biāo)記放在膠片側(cè),則底片上搭接標(biāo)記以外還附加側(cè),則底片上搭接標(biāo)記以外還附加L長(zhǎng)度才是有效評(píng)長(zhǎng)度才是有效評(píng)定范圍(如縱縫雙壁透照時(shí))定范圍(如縱縫雙壁透照時(shí))(上述說(shuō)法不包括環(huán)縫偏心上述說(shuō)法不包括環(huán)縫偏心FR)。v三者關(guān)

6、系:三者關(guān)系:Leff=L3+L。 L= 2 L2 (L3/2)/L1= L2 L3/L1RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用9 2.2 直縫透照直縫透照L3的計(jì)算:的計(jì)算:L3=2L1tan,其中其中=cos-1(1/K), L1射源到工件表面的距離。射源到工件表面的距離。 橫向裂紋檢出角。橫向裂紋檢出角。 K透照厚度比,透照厚度比,T/T。RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用10 2.2 環(huán)縫單壁外透環(huán)縫單壁外透L3的計(jì)算(的計(jì)算(最少曝光次數(shù))最少曝光次數(shù)):L3=DO/N ,其中,其中 N=180/,最少曝光次數(shù);,最少曝光次數(shù); =-, = sin-1 DOsin/(DO+2L1)。 = c

7、os-11+(K2-1)T/DO/K(據(jù)據(jù)OAC),(偏心內(nèi)透偏心內(nèi)透FR與同與同), 與與AB/2對(duì)應(yīng)的圓心角;對(duì)應(yīng)的圓心角; 有效最大失真角;有效最大失真角; 有效半輻射角;有效半輻射角; K透照厚度比;透照厚度比; T工件厚度;工件厚度; Do容器外徑。容器外徑。RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用1112 源在外單壁透照源在外單壁透照對(duì)接環(huán)形焊接接對(duì)接環(huán)形焊接接頭,透照厚度比頭,透照厚度比K=1.1K=1.1時(shí)的透照次時(shí)的透照次數(shù)數(shù) .Di=1800,T=30,K=1.1,F=600。(mm)T/Do=30/1860=0.016;Do/f=Do/(600-30)=3.26;N=19次。次。

8、13v環(huán)縫外透法中的幾何參數(shù)變化特點(diǎn): 當(dāng)透照距離L1減小時(shí),若透照長(zhǎng)度L3不變,則K值、角增大;若K值、角不變,則一次透照長(zhǎng)度L3縮短,最少透照次數(shù)增加。當(dāng)透照距離L1增大時(shí),情況相反,當(dāng)L1趨向無(wú)窮大時(shí),透照弧長(zhǎng)所對(duì)應(yīng)的圓心角即與壁厚度無(wú)關(guān)(?),其極限等于影像最大失真角的2倍(而與T總是有關(guān)的)。若當(dāng)Do T時(shí),cos-1K-1 ;當(dāng)K=1.1時(shí),=24.62,則環(huán)縫至少應(yīng)攝片8張,用數(shù)式表示即: N=180/= 180/ =180/24.62=7.31。 RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用142.3 環(huán)縫中心透照環(huán)縫中心透照L3的計(jì)算(的計(jì)算(最少曝光次最少曝光次數(shù))數(shù)) : 這種透照布

9、置透這種透照布置透 照厚度照厚度K=1,橫,橫 向裂紋檢出角向裂紋檢出角 0o,一次透照長(zhǎng)度一次透照長(zhǎng)度 L3=整條環(huán)縫長(zhǎng)度。整條環(huán)縫長(zhǎng)度。 最少曝光次數(shù)為最少曝光次數(shù)為1次。次。RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用15RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用2.4 環(huán)縫偏心內(nèi)透照(環(huán)縫偏心內(nèi)透照(FR)L3的計(jì)算(的計(jì)算(最少曝最少曝光次數(shù))光次數(shù)) : L3=Di/N ,其中,其中 N=180/,最少曝光次數(shù);,最少曝光次數(shù); = - , = sin-1 Disin/(DO-2F)。 = cos-11 -( K2-1)T/D i/K, 與與AB/2對(duì)應(yīng)的圓心角;對(duì)應(yīng)的圓心角; 有效最大失真角;有效最大

10、失真角; 有效半輻射角;有效半輻射角; K透照厚度比;透照厚度比; T工件厚度;工件厚度; Di容器內(nèi)徑容器內(nèi)徑; Do容器外徑。容器外徑。1617 環(huán)縫偏心內(nèi)透照(FR)L3的計(jì)算(的計(jì)算(最少曝最少曝光次數(shù))光次數(shù)) : L3=Di/N ,其中,其中 N=180/,最少曝光次數(shù);,最少曝光次數(shù); = + , = sin-1 DOsin/( 2F - DO )。 = cos-11+(K2-1)T/DO/K, 與與AB/2對(duì)應(yīng)的圓心角;對(duì)應(yīng)的圓心角; 有效最大失真角;有效最大失真角; 有效半輻射角;有效半輻射角; K透照厚度比;透照厚度比; T工件厚度;工件厚度; Do容器外徑。容器外徑。19

11、20環(huán)縫偏心內(nèi)透照(FR)幾何參數(shù)變化特點(diǎn): 當(dāng)透照焦距減小時(shí)(即向圓心靠攏),若透照長(zhǎng)度L3不變,則K值、角減??;若K值、角不變,則一次透照長(zhǎng)度L3增大,當(dāng)焦距趨向圓心時(shí),透照弧長(zhǎng)所對(duì)應(yīng)的圓心角即與壁厚度無(wú)關(guān),其極限透照厚度比K=1,橫向裂紋檢出角0o,一次透照長(zhǎng)度L3=整條環(huán)縫長(zhǎng)度。最少曝光次數(shù)為1次。 當(dāng)透照焦距增加時(shí),若透照長(zhǎng)度L3不變,則K值、角增大;若K值、角不變,則一次透照長(zhǎng)度L3減小,當(dāng)焦距趨向直徑時(shí), 此時(shí) = 2;若當(dāng)DoT時(shí),cos-1K-1 ;當(dāng)K=1.1時(shí),=24.62,則環(huán)縫至少應(yīng)攝片4張,用數(shù)式表示即: N=180/= 180/ 2=180/(224.62)=3.

12、66。 RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用21RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用v環(huán)縫內(nèi)透照特別說(shuō)明:環(huán)縫內(nèi)透照特別說(shuō)明:不管是FR、F=R或FR的偏心法,如果使用普通的定向機(jī)照射,一次可檢范圍往往取決于X射線(xiàn)機(jī)的有效照射范場(chǎng)圍。偏心法中由計(jì)算求出的角,必須服從于實(shí)際最大可用半輻射角的限制。 222.6 雙壁單影透照雙壁單影透照L3的計(jì)算(的計(jì)算(最少曝光次數(shù))最少曝光次數(shù)) : L3=Do/N ,其中,其中 N=180/,最少曝光次數(shù);,最少曝光次數(shù); = + , = sin-1 DOsin/( 2F - DO )。 = cos-11+(K2-1)T/DO/K, 與與AB/2對(duì)應(yīng)的圓心角;對(duì)應(yīng)的

13、圓心角; 有效最大失真角;有效最大失真角; 有效半輻射角;有效半輻射角; K透照厚度比;透照厚度比; T工件厚度;工件厚度; Do容器外徑。容器外徑。RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用2324雙壁單影透照幾何參數(shù)變化特點(diǎn):雙壁單影透照幾何參數(shù)變化特點(diǎn): 當(dāng)焦距等于管當(dāng)焦距等于管子外徑而子外徑而T/DT/Do o甚小的情況,則最大透照長(zhǎng)度甚小的情況,則最大透照長(zhǎng)度L3所對(duì)所對(duì)應(yīng)的圓心角應(yīng)的圓心角2與壁厚度無(wú)關(guān),等于影象失真角與壁厚度無(wú)關(guān),等于影象失真角的的4倍,即(倍,即(2)max=4;若當(dāng);若當(dāng)Do T時(shí),時(shí),cos-1K-1 ;當(dāng);當(dāng)K=1.1時(shí),時(shí),=24.62,因,因N=180/ = 1

14、80/ 2=180/(224.62)=3.66。 則環(huán)縫至少應(yīng)攝片則環(huán)縫至少應(yīng)攝片4張。張。當(dāng)當(dāng)焦距無(wú)限大時(shí),最小透照有效長(zhǎng)度焦距無(wú)限大時(shí),最小透照有效長(zhǎng)度L3所對(duì)應(yīng)的所對(duì)應(yīng)的圓心角圓心角2就與管子形狀無(wú)關(guān),等于失真角就與管子形狀無(wú)關(guān),等于失真角的的2倍,倍,即即2max=2;若當(dāng);若當(dāng)Do T時(shí),時(shí),cos-1K-1 ;當(dāng);當(dāng)K=1.1時(shí),時(shí),=24.62,則環(huán)縫至少應(yīng)攝片,則環(huán)縫至少應(yīng)攝片8張,用數(shù)張,用數(shù)式表示即:式表示即: N=180/= 180/ =180/24.62=7.31。 RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用252.7 雙壁雙影透照雙壁雙影透照L3的計(jì)算(最少曝光次數(shù))的計(jì)算(最

15、少曝光次數(shù)) : 雙壁雙影法一般只用于直徑在雙壁雙影法一般只用于直徑在100mm以下的小徑以下的小徑管的環(huán)焊縫透照。管的環(huán)焊縫透照。 L3=Do/N ,其中,其中N由相應(yīng)的探傷標(biāo)準(zhǔn)確定,無(wú)須由相應(yīng)的探傷標(biāo)準(zhǔn)確定,無(wú)須計(jì)算。但理論計(jì)算完全能計(jì)算出來(lái)。計(jì)算。但理論計(jì)算完全能計(jì)算出來(lái)。 JB4730-2005規(guī)定:規(guī)定: 傾斜透照橢圓成像傾斜透照橢圓成像T/Do 0.12,最少曝光次數(shù)最少曝光次數(shù)N=2; 傾斜透照橢圓成像傾斜透照橢圓成像T/Do 0.12或垂直透照重疊成像時(shí),最少曝光次數(shù)或垂直透照重疊成像時(shí),最少曝光次數(shù)N=3。 結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時(shí),可采用橢圓成像或重結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透

16、照時(shí),可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次,由于透照一次不能疊成像方式透照一次,由于透照一次不能100%100%檢測(cè)焊檢測(cè)焊縫全長(zhǎng),此時(shí)應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大缺陷可檢出范圍,縫全長(zhǎng),此時(shí)應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大缺陷可檢出范圍,并保證底片評(píng)定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿(mǎn)足要求。并保證底片評(píng)定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿(mǎn)足要求。 RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用26273 3 射線(xiàn)能量的選擇射線(xiàn)能量的選擇 3.1 射線(xiàn)能量的選擇原則:射線(xiàn)能量的選擇原則:v選擇射線(xiàn)源的首要因素是射線(xiàn)源所發(fā)出的射線(xiàn)對(duì)被檢選擇射線(xiàn)源的首要因素是射線(xiàn)源所發(fā)出的射線(xiàn)對(duì)被檢試件具有足夠的穿透力。對(duì)試件具有足夠的穿透力。對(duì)X射線(xiàn)來(lái)說(shuō),穿透力取決射線(xiàn)來(lái)說(shuō)

17、,穿透力取決于管電壓。對(duì)于于管電壓。對(duì)于射線(xiàn)來(lái)說(shuō),穿透力取決于放射源種射線(xiàn)來(lái)說(shuō),穿透力取決于放射源種類(lèi)類(lèi) 。v在保證穿透力的前提下,選擇能量較低的射線(xiàn),以保在保證穿透力的前提下,選擇能量較低的射線(xiàn),以保證照相靈敏度。證照相靈敏度。RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用28RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用 隨著射線(xiàn)能量的增加,射線(xiàn)的平均波長(zhǎng)變短,線(xiàn)質(zhì)變硬,在物隨著射線(xiàn)能量的增加,射線(xiàn)的平均波長(zhǎng)變短,線(xiàn)質(zhì)變硬,在物質(zhì)中的衰減變小,穿透能力增強(qiáng)。對(duì)比度質(zhì)中的衰減變小,穿透能力增強(qiáng)。對(duì)比度D降低,固有不清晰降低,固有不清晰Ui增增大,底片顆粒也將增大,其效果是射線(xiàn)照相靈敏度下降。大,底片顆粒也將增大,其效果

18、是射線(xiàn)照相靈敏度下降。 選擇的射線(xiàn)能量過(guò)低,穿透力不夠,到達(dá)膠片的透射線(xiàn)強(qiáng)度過(guò)選擇的射線(xiàn)能量過(guò)低,穿透力不夠,到達(dá)膠片的透射線(xiàn)強(qiáng)度過(guò)小,造成底片黑度不足,灰霧增大,曝光時(shí)間過(guò)份延長(zhǎng);但可以獲小,造成底片黑度不足,灰霧增大,曝光時(shí)間過(guò)份延長(zhǎng);但可以獲得較高的對(duì)比度得較高的對(duì)比度D ,不過(guò)較高的,不過(guò)較高的D卻意味著較低的透照厚度寬容卻意味著較低的透照厚度寬容度度L。(很小的透照厚度差將產(chǎn)生很大的底片黑度差,使得底片黑度值超出允許很小的透照厚度差將產(chǎn)生很大的底片黑度差,使得底片黑度值超出允許范圍:或是厚度大的部位底片黑度太小,或是厚度小的部分黑度太大。范圍:或是厚度大的部位底片黑度太小,或是厚度小

19、的部分黑度太大。)因此,在有透照厚度差的情況下,選擇射線(xiàn)能量還必須考慮能夠得因此,在有透照厚度差的情況下,選擇射線(xiàn)能量還必須考慮能夠得到合適的透照厚度寬容度到合適的透照厚度寬容度L。在底片黑度不變的前提下,提高射線(xiàn)。在底片黑度不變的前提下,提高射線(xiàn)能量可以縮短曝光時(shí)間,從而可以提高工作效率,但其代價(jià)是靈敏能量可以縮短曝光時(shí)間,從而可以提高工作效率,但其代價(jià)是靈敏度降低。為保證透照質(zhì)量,標(biāo)準(zhǔn)對(duì)透照不同厚度允許使用的最高管度降低。為保證透照質(zhì)量,標(biāo)準(zhǔn)對(duì)透照不同厚度允許使用的最高管電壓進(jìn)行限制,并要求有適當(dāng)?shù)钠毓饬?。電壓進(jìn)行限制,并要求有適當(dāng)?shù)钠毓饬俊?9RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用3.2 選擇

20、射線(xiàn)能量的具體方法:選擇射線(xiàn)能量的具體方法:對(duì)于輕質(zhì)合金、低密度材料,目前尚無(wú)合適的對(duì)于輕質(zhì)合金、低密度材料,目前尚無(wú)合適的射線(xiàn)源,主要是射線(xiàn)源,主要是X X射線(xiàn)。射線(xiàn)。厚度小于厚度小于5mm5mm的鋼及其合金,要選用的鋼及其合金,要選用X X射線(xiàn)。射線(xiàn)。厚度為厚度為5mm5mm50mm50mm鋼及其合金,選用鋼及其合金,選用X X射線(xiàn)總可獲得較高的靈敏度,射線(xiàn)總可獲得較高的靈敏度, 射線(xiàn)的選用應(yīng)根據(jù)具體厚度和所要求的探傷靈敏度,選擇射線(xiàn)的選用應(yīng)根據(jù)具體厚度和所要求的探傷靈敏度,選擇Ir192Ir192或或Se75Se75,應(yīng)考濾配合使用的膠片類(lèi)別。,應(yīng)考濾配合使用的膠片類(lèi)別。厚度為厚度為50

21、mm50mm150mm150mm鋼及其合金,選用鋼及其合金,選用X X射線(xiàn)和射線(xiàn)和射線(xiàn)可得到幾乎射線(xiàn)可得到幾乎相同的像質(zhì)靈敏度(相同的像質(zhì)靈敏度(50mm50mm以下以下 X X射線(xiàn)靈敏度比射線(xiàn)靈敏度比射線(xiàn)明顯高),但射線(xiàn)明顯高),但裂紋檢出率還是有差異。裂紋檢出率還是有差異。厚度大于厚度大于150mm150mm的鋼及其合金,選用兆伏級(jí)高能的鋼及其合金,選用兆伏級(jí)高能X X射線(xiàn)。射線(xiàn)。 對(duì)大批量的工件實(shí)施射線(xiàn)照相,選用對(duì)大批量的工件實(shí)施射線(xiàn)照相,選用X X射線(xiàn),因?yàn)闀r(shí)間短,靈敏射線(xiàn),因?yàn)闀r(shí)間短,靈敏度高。度高。30RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用對(duì)某些條件困難的現(xiàn)場(chǎng)透照,體積龐大的對(duì)某些條件困

22、難的現(xiàn)場(chǎng)透照,體積龐大的X射線(xiàn)機(jī)使用不方便可射線(xiàn)機(jī)使用不方便可能成為主要問(wèn)題。能成為主要問(wèn)題。環(huán)焊縫的透照盡量選用圓錐靶周向環(huán)焊縫的透照盡量選用圓錐靶周向X射線(xiàn)機(jī)作內(nèi)透中心法垂直全射線(xiàn)機(jī)作內(nèi)透中心法垂直全周向曝光,以提高工效和影像質(zhì)量。對(duì)直徑較小的鍋爐聯(lián)箱或其他周向曝光,以提高工效和影像質(zhì)量。對(duì)直徑較小的鍋爐聯(lián)箱或其他管道焊縫,也可選用小焦點(diǎn)(管道焊縫,也可選用小焦點(diǎn)(0.5mm)的棒陽(yáng)極)的棒陽(yáng)極X射線(xiàn)管或小焦點(diǎn)射線(xiàn)管或小焦點(diǎn)(0.51.0mm)射線(xiàn)源作射線(xiàn)源作360周向曝光。周向曝光。 選用平靶周向選用平靶周向X射線(xiàn)機(jī)對(duì)環(huán)焊縫作內(nèi)透中心法傾斜全周向曝光,射線(xiàn)機(jī)對(duì)環(huán)焊縫作內(nèi)透中心法傾斜全周向

23、曝光,必須考慮射線(xiàn)傾斜角度對(duì)焊縫中縱向面狀缺陷的檢出影響必須考慮射線(xiàn)傾斜角度對(duì)焊縫中縱向面狀缺陷的檢出影響 。3.3 選擇射線(xiàn)能量時(shí)設(shè)備特點(diǎn)的考慮選擇射線(xiàn)能量時(shí)設(shè)備特點(diǎn)的考慮3.3.1 X射線(xiàn)機(jī)射線(xiàn)機(jī)特點(diǎn)特點(diǎn)體積較大,以便鞋式、移動(dòng)式、固定式依次增加;體積較大,以便鞋式、移動(dòng)式、固定式依次增加;基本費(fèi)用和維修費(fèi)用均較大;基本費(fèi)用和維修費(fèi)用均較大;能檢查能檢查40mm40mm以上的鋼厚度的大以上的鋼厚度的大X射線(xiàn)機(jī)成本很高,一般為移動(dòng)式射線(xiàn)機(jī)成本很高,一般為移動(dòng)式而非便攜式;而非便攜式;31RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用 X X射線(xiàn)能量可改變,因此對(duì)各種厚度的試件均可使用最適宜的能射線(xiàn)能量可改

24、變,因此對(duì)各種厚度的試件均可使用最適宜的能量;量; X X射線(xiàn)機(jī)可用開(kāi)關(guān)切斷,故較易實(shí)施射線(xiàn)防護(hù);射線(xiàn)機(jī)可用開(kāi)關(guān)切斷,故較易實(shí)施射線(xiàn)防護(hù);曝光時(shí)間一般為幾分鐘;曝光時(shí)間一般為幾分鐘; 所有所有X X射線(xiàn)機(jī)均需電源,有些還需水源。射線(xiàn)機(jī)均需電源,有些還需水源。3.3.2 3.3.2 射線(xiàn)設(shè)備的特點(diǎn):射線(xiàn)設(shè)備的特點(diǎn):射源尺寸小,可用于射源尺寸小,可用于X X射線(xiàn)機(jī)頭無(wú)法接近的現(xiàn)場(chǎng);射線(xiàn)機(jī)頭無(wú)法接近的現(xiàn)場(chǎng);不需水源或電源;不需水源或電源;費(fèi)用低;費(fèi)用低;曝光時(shí)間長(zhǎng),通常需幾十分鐘,甚至多少小時(shí);曝光時(shí)間長(zhǎng),通常需幾十分鐘,甚至多少小時(shí);對(duì)薄鋼件(如對(duì)薄鋼件(如5mm5mm以下)只有合適的放射性同位素

25、(如以下)只有合適的放射性同位素(如Se75Se75)才)才能獲得較高的靈敏度。能獲得較高的靈敏度。323.4 最高射線(xiàn)能量的選擇最高射線(xiàn)能量的選擇 對(duì)截面厚度變化大的工件,在保證靈敏度要求的前提下,允許采用超過(guò)規(guī)定對(duì)截面厚度變化大的工件,在保證靈敏度要求的前提下,允許采用超過(guò)規(guī)定的射線(xiàn)管電壓。對(duì)鋼、銅及銅合金管電壓增量不應(yīng)超過(guò)的射線(xiàn)管電壓。對(duì)鋼、銅及銅合金管電壓增量不應(yīng)超過(guò)50kV50kV;對(duì)鈦及鈦合金管;對(duì)鈦及鈦合金管電壓增量不應(yīng)超過(guò)電壓增量不應(yīng)超過(guò)40kV40kV;對(duì)鋁及鋁合金管電壓增量不應(yīng)超過(guò);對(duì)鋁及鋁合金管電壓增量不應(yīng)超過(guò)30kV30kV。 333.4 最高射線(xiàn)能量的選擇最高射線(xiàn)能量

26、的選擇34射線(xiàn)源射線(xiàn)源透照厚度透照厚度W (AB級(jí)級(jí)),mm射線(xiàn)源射線(xiàn)源透照厚度透照厚度W (AB級(jí)級(jí)),mmX射線(xiàn)射線(xiàn)(300kV)40Co-6040200X射線(xiàn)射線(xiàn)(420kV)80X射線(xiàn)射線(xiàn)(1MeV4MeV)30200Se-751040X射線(xiàn)射線(xiàn)(4MeV12MeV)50400Ir-19220100X射線(xiàn)射線(xiàn)(12MeV)80AB級(jí)的常用厚度范圍級(jí)的常用厚度范圍35RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用4 4 焦距的選擇焦距的選擇 4.1焦距的選擇原則焦距的選擇原則 所選擇的焦距必須滿(mǎn)足射線(xiàn)照相對(duì)幾何不清晰度的規(guī)定。所選擇的焦距必須滿(mǎn)足射線(xiàn)照相對(duì)幾何不清晰度的規(guī)定。焦距焦距F越大,越大,Ug

27、值越小,底片上的影像越清新。焦距對(duì)射線(xiàn)值越小,底片上的影像越清新。焦距對(duì)射線(xiàn)照相靈敏度影響主要表現(xiàn)在幾何不清晰度照相靈敏度影響主要表現(xiàn)在幾何不清晰度Ug上上Ug=dfL2/(FL2)。(此條實(shí)際是確定了焦距的最小值此條實(shí)際是確定了焦距的最小值)所選擇的焦距應(yīng)給出射線(xiàn)強(qiáng)度比較均勻的適當(dāng)大小的透照區(qū)所選擇的焦距應(yīng)給出射線(xiàn)強(qiáng)度比較均勻的適當(dāng)大小的透照區(qū)。v以上兩點(diǎn)前者限制了焦距的最小值,后者指導(dǎo)如何確定實(shí)以上兩點(diǎn)前者限制了焦距的最小值,后者指導(dǎo)如何確定實(shí)際使用的焦距值。際使用的焦距值。v焦距的最小值通常由標(biāo)準(zhǔn)中的諾模圖查出(會(huì)使用)。焦距的最小值通常由標(biāo)準(zhǔn)中的諾模圖查出(會(huì)使用)。 像質(zhì)等級(jí)像質(zhì)等級(jí)

28、 透照距離透照距離L1 Ug值值 A級(jí)級(jí) L17.5dfL22/3 Ug2/15L21/3 AB級(jí)級(jí) L110dfL22/3 Ug1/10L21/3 B級(jí)級(jí) L115dfL22/3 Ug1/15L21/3 36RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用v實(shí)際透照時(shí)一般并不采用最小焦距值,所用的實(shí)際透照時(shí)一般并不采用最小焦距值,所用的焦距比最小焦距要大得多。這是因?yàn)橥刚請(qǐng)龅慕咕啾茸钚〗咕嘁蟮枚?。這是因?yàn)橥刚請(qǐng)龅拇笮∨c焦距相關(guān)。焦距增大后,勻強(qiáng)透照?qǐng)龇洞笮∨c焦距相關(guān)。焦距增大后,勻強(qiáng)透照?qǐng)龇秶龃螅@樣可以得較大的有效透照長(zhǎng)度,同圍增大,這樣可以得較大的有效透照長(zhǎng)度,同時(shí)影像清晰度也進(jìn)一步提高。時(shí)影像清晰

29、度也進(jìn)一步提高。 v增大焦點(diǎn)至膠片距離,按照平方反比定律,需增大焦點(diǎn)至膠片距離,按照平方反比定律,需要增加曝光時(shí)間。所以焦距不能無(wú)限增大。要增加曝光時(shí)間。所以焦距不能無(wú)限增大。 37RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用4.2不同透照方式的焦距選擇不同透照方式的焦距選擇v直縫透照直縫透照/環(huán)縫單壁外透照環(huán)縫單壁外透照/環(huán)縫雙壁雙影的環(huán)縫雙壁雙影的焦距按照標(biāo)準(zhǔn)采用值焦距按照標(biāo)準(zhǔn)采用值700mm。v環(huán)縫偏心內(nèi)透(環(huán)縫偏心內(nèi)透(FR )的焦距盡量)的焦距盡量接近環(huán)縫的半徑接近環(huán)縫的半徑; 這時(shí)最小焦距可減小這時(shí)最小焦距可減小20%。v環(huán)縫中心透照的焦距等于環(huán)縫的半徑環(huán)縫中心透照的焦距等于環(huán)縫的半徑;這時(shí)這

30、時(shí)最小焦距可減小最小焦距可減小50%。v環(huán)縫雙壁單影透照的焦距盡量接近環(huán)縫的環(huán)縫雙壁單影透照的焦距盡量接近環(huán)縫的直徑(外徑)。直徑(外徑)。38RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用5 5 曝光量的選擇曝光量的選擇 5.1曝光量與黑度、靈敏度的關(guān)系:曝光量與黑度、靈敏度的關(guān)系:v曝光量是指管電流曝光量是指管電流i與照射時(shí)間與照射時(shí)間t的乘積(的乘積(E=it):對(duì)):對(duì)于于射線(xiàn)來(lái)說(shuō),曝光量是指放射源活度射線(xiàn)來(lái)說(shuō),曝光量是指放射源活度A與照射時(shí)間與照射時(shí)間t的乘積(的乘積(E=At)。底片的黑度取決于膠片感光乳劑)。底片的黑度取決于膠片感光乳劑吸收的射線(xiàn)量(即曝光量)。如果固定各項(xiàng)透照條吸收的射線(xiàn)量(

31、即曝光量)。如果固定各項(xiàng)透照條件(試件尺寸,源試件、膠片的相對(duì)位置,膠片和件(試件尺寸,源試件、膠片的相對(duì)位置,膠片和增感屏,給定的放射源或管電壓),則底片黑度與增感屏,給定的放射源或管電壓),則底片黑度與曝光量有很好的對(duì)應(yīng)關(guān)系,通過(guò)曝光量可以控制底曝光量有很好的對(duì)應(yīng)關(guān)系,通過(guò)曝光量可以控制底片黑度。片黑度。 v曝光量也影響影像的對(duì)比度、顆粒度以及信噪比,曝光量也影響影像的對(duì)比度、顆粒度以及信噪比,從而影響底片上可記錄的最小細(xì)節(jié)尺寸(靈敏度)從而影響底片上可記錄的最小細(xì)節(jié)尺寸(靈敏度) 。395.2曝光量基準(zhǔn)值的確定:曝光量基準(zhǔn)值的確定: 曝光量應(yīng)不低于某一最小值。在焦距為曝光量應(yīng)不低于某一最

32、小值。在焦距為700mm,曝光,曝光量的基準(zhǔn)值為量的基準(zhǔn)值為15mA.min(照相質(zhì)量等級(jí)(照相質(zhì)量等級(jí)A、AB級(jí))和級(jí))和20mA.min(照相質(zhì)量等(照相質(zhì)量等B級(jí))。級(jí))。5.3曝光量的調(diào)整曝光量的調(diào)整v幾個(gè)基本概念:幾個(gè)基本概念: 互易律互易律互易律是化學(xué)反應(yīng)的一條互易律是化學(xué)反應(yīng)的一條基本定律,是決定光化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)物質(zhì)量的條件,只與總的基本定律,是決定光化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)物質(zhì)量的條件,只與總的曝光量相關(guān),即取決于輻射強(qiáng)度和時(shí)間的乘積,而與這兩曝光量相關(guān),即取決于輻射強(qiáng)度和時(shí)間的乘積,而與這兩個(gè)因素的單獨(dú)作用無(wú)關(guān)。由互易可知,欲保持底片黑度不個(gè)因素的單獨(dú)作用無(wú)關(guān)。由互易可知,欲保持底片黑度不變,

33、只須滿(mǎn)足變,只須滿(mǎn)足E=It=I1T1=I2T2=但熒光增感時(shí)互易律失但熒光增感時(shí)互易律失效。效。 平方反比定律平方反比定律平方反比定律是物理光學(xué)的一條基平方反比定律是物理光學(xué)的一條基本定律。它指出:從一點(diǎn)源發(fā)出的輻射,強(qiáng)度本定律。它指出:從一點(diǎn)源發(fā)出的輻射,強(qiáng)度I與距離與距離FRT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用40 的平方成反比,即存在以下關(guān)系;的平方成反比,即存在以下關(guān)系;I1/I2=(F2/F1)2。曝曝光因子光因子x=it/F2=i1t1/F12=i2t2/F22 ;或;或=At/F2=A1t1/F12=A2t2/F22 。v利用曝光因子的曝光量利用曝光因子的曝光量 調(diào)整:調(diào)整:即底片黑

34、度不變,曝即底片黑度不變,曝光因子不變。光因子不變。 i1t1/F12=i2t2/F22 或或A1t1/F12=A2t2/F22 。v利用膠片特性曲線(xiàn)的曝光量利用膠片特性曲線(xiàn)的曝光量 調(diào)整:調(diào)整: 底片黑度改底片黑度改變的曝光量調(diào)整變的曝光量調(diào)整 ,根據(jù)膠片特性曲線(xiàn)上黑度的變化與根據(jù)膠片特性曲線(xiàn)上黑度的變化與曝光曝光量變化量變化對(duì)應(yīng)的關(guān)系對(duì)應(yīng)的關(guān)系 lgE=lgE1-lgE2 ; 膠片類(lèi)型改變的膠片類(lèi)型改變的曝光量調(diào)整曝光量調(diào)整 ,利用這兩種膠片特性曲線(xiàn)按達(dá)到,利用這兩種膠片特性曲線(xiàn)按達(dá)到同一黑度同一黑度時(shí)的時(shí)的曝光量變化曝光量變化lgE=lgEA-lgEB來(lái)調(diào)整。來(lái)調(diào)整。RT探傷方法與應(yīng)用探

35、傷方法與應(yīng)用41RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用6 6 曝光曲線(xiàn)及應(yīng)用曝光曲線(xiàn)及應(yīng)用 6.1曝光曲線(xiàn)曝光曲線(xiàn)表示工件(材質(zhì)、厚度)與工藝規(guī)范(管電壓、表示工件(材質(zhì)、厚度)與工藝規(guī)范(管電壓、管電流、曝光時(shí)間、焦距、暗室處理?xiàng)l件等)之間相關(guān)性的管電流、曝光時(shí)間、焦距、暗室處理?xiàng)l件等)之間相關(guān)性的曲線(xiàn)圖示。但通常只選擇工件厚度、管電壓和曝光量作為可曲線(xiàn)圖示。但通常只選擇工件厚度、管電壓和曝光量作為可變參數(shù),其他條件必須相對(duì)固定。曝光曲線(xiàn)變參數(shù),其他條件必須相對(duì)固定。曝光曲線(xiàn)必須通過(guò)實(shí)驗(yàn)制必須通過(guò)實(shí)驗(yàn)制作,且每臺(tái)作,且每臺(tái)X射線(xiàn)機(jī)的曝光曲線(xiàn)各不相同,不能通用射線(xiàn)機(jī)的曝光曲線(xiàn)各不相同,不能通用,因?yàn)?/p>

36、,因?yàn)榧词构茈妷?、管電流相同,如果不是一臺(tái)即使管電壓、管電流相同,如果不是一臺(tái)X射線(xiàn)機(jī),其線(xiàn)質(zhì)射線(xiàn)機(jī),其線(xiàn)質(zhì)和照射率是不同的。和照射率是不同的。 6.2曝光曲線(xiàn)的應(yīng)用:曝光曲線(xiàn)的應(yīng)用:v給定透照厚度查出曝光量。如果焦距變化,則通過(guò)平方反比給定透照厚度查出曝光量。如果焦距變化,則通過(guò)平方反比定律進(jìn)行換算。定律進(jìn)行換算。 42RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用v求半值層、衰減系數(shù)、散射比。求半值層、衰減系數(shù)、散射比。 在曝光曲線(xiàn)圖上,要確定某一管電壓下的半值層在曝光曲線(xiàn)圖上,要確定某一管電壓下的半值層H和和值,可任取兩曝光量值,可任取兩曝光量E1和和E2,使,使E2=2E1,則與,則與E2、E1相應(yīng)

37、的厚度相應(yīng)的厚度T2、T1之差即為該之差即為該“kV”下的平均半下的平均半值層值層H, H=T2-T1(E2=2E1)。)。 由由H可求得平均衰減系數(shù)可求得平均衰減系數(shù) =0.693/Hv求散射比。求散射比。 將用將用“寬束法寬束法”和和“窄束法窄束法”分別作出的曝光曲線(xiàn)組合在一張圖片中分別作出的曝光曲線(xiàn)組合在一張圖片中 ,同,同一厚度處散射比:一厚度處散射比:n=E2/E1。v材質(zhì)改變時(shí)曝光量的換算。材質(zhì)改變時(shí)曝光量的換算。 m=To/Tm 其中,其中,m金屬的射線(xiàn)透照等系數(shù)(以鋼為基準(zhǔn))。金屬的射線(xiàn)透照等系數(shù)(以鋼為基準(zhǔn))。 v大致確定底片黑度范圍。大致確定底片黑度范圍。 D=1.8=ET

38、A/ET; =E3.5/E1.8 式中:式中:D=1.8由曝光曲線(xiàn)讀出的用某一由曝光曲線(xiàn)讀出的用某一管電壓透照被檢部分厚薄兩部分達(dá)到同一黑度(管電壓透照被檢部分厚薄兩部分達(dá)到同一黑度(1 . 8)時(shí)相應(yīng)曝光量之比;)時(shí)相應(yīng)曝光量之比; 由膠片特性曲線(xiàn)讀出的與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格的黑度上下限值相應(yīng)的相對(duì)曝光量之由膠片特性曲線(xiàn)讀出的與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格的黑度上下限值相應(yīng)的相對(duì)曝光量之比;比;E3.5、E1.8分別使用膠片獲得黑度為分別使用膠片獲得黑度為3.5和和1.8時(shí)相應(yīng)的相對(duì)曝光量。時(shí)相應(yīng)的相對(duì)曝光量。 可簡(jiǎn)捷地確定用膠片獲得黑度能否符合規(guī)定的上下限制范圍??珊?jiǎn)捷地確定用膠片獲得黑度能否符合規(guī)定的上下限制范圍。 若

39、若,黑度范圍符合要求,若,黑度范圍符合要求,若,黑度必然,黑度必然“超標(biāo)超標(biāo)”。 43RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用7 7 散射線(xiàn)的控制散射線(xiàn)的控制 7.1散射線(xiàn)的來(lái)源和分類(lèi)散射線(xiàn)的來(lái)源和分類(lèi) 產(chǎn)生散射線(xiàn)的物體稱(chēng)作散射源,在射線(xiàn)透照時(shí),凡是被產(chǎn)生散射線(xiàn)的物體稱(chēng)作散射源,在射線(xiàn)透照時(shí),凡是被射線(xiàn)照射到的物體,例如試件、暗盒、桌面、墻壁、地面,甚射線(xiàn)照射到的物體,例如試件、暗盒、桌面、墻壁、地面,甚至空氣都會(huì)成為散射源。其中最大的散射源往往是試件本身。至空氣都會(huì)成為散射源。其中最大的散射源往往是試件本身。 按散射的方向?qū)ι⑸渚€(xiàn)分類(lèi),可將來(lái)自暗盒正面的散射稱(chēng)按散射的方向?qū)ι⑸渚€(xiàn)分類(lèi),可將來(lái)自暗盒正

40、面的散射稱(chēng)為為“前散射前散射”,將來(lái)自暗盒背面的散射稱(chēng)為,將來(lái)自暗盒背面的散射稱(chēng)為“背散射背散射”,還有,還有一種散射稱(chēng)為一種散射稱(chēng)為“邊蝕散射邊蝕散射”,是指試件周?chē)纳渚€(xiàn)向試件背后,是指試件周?chē)纳渚€(xiàn)向試件背后的膠片散射,或試件中的較薄部位的射線(xiàn)向較厚部位散射,這的膠片散射,或試件中的較薄部位的射線(xiàn)向較厚部位散射,這種散射會(huì)導(dǎo)致影象邊界模糊,產(chǎn)生低黑度區(qū)域的周邊被侵蝕,種散射會(huì)導(dǎo)致影象邊界模糊,產(chǎn)生低黑度區(qū)域的周邊被侵蝕,面積縮小的所謂面積縮小的所謂“邊蝕邊蝕”現(xiàn)象。現(xiàn)象。 44RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用7.2散射比的影響因素散射比的影響因素 v散射比散射比n定義為散射線(xiàn)強(qiáng)度定義為散

41、射線(xiàn)強(qiáng)度IS之比,即之比,即n=IS/IP。 v照射場(chǎng)大小的影響:照射場(chǎng)大小對(duì)散射比幾乎沒(méi)有影響。除非照射場(chǎng)大小的影響:照射場(chǎng)大小對(duì)散射比幾乎沒(méi)有影響。除非是用極小的照射場(chǎng)透照,散射比隨照射場(chǎng)的增大而增大,當(dāng)照是用極小的照射場(chǎng)透照,散射比隨照射場(chǎng)的增大而增大,當(dāng)照射直徑超過(guò)射直徑超過(guò)50mm后,即使照射場(chǎng)再增大,散射比也基本保持后,即使照射場(chǎng)再增大,散射比也基本保持不變。不變。v試件厚度的影響:在相同射線(xiàn)能量下,散射比隨鋼厚度大而增試件厚度的影響:在相同射線(xiàn)能量下,散射比隨鋼厚度大而增大。大。v射線(xiàn)能量的影響:散射比隨射線(xiàn)能量增大而變小。射線(xiàn)能量的影響:散射比隨射線(xiàn)能量增大而變小。(散射強(qiáng)度隨

42、(散射強(qiáng)度隨射線(xiàn)能量的增大而增大。)射線(xiàn)能量的增大而增大。) v焊縫余高的影響:焊縫中心散射比高于同厚度平板中的散射比,焊縫余高的影響:焊縫中心散射比高于同厚度平板中的散射比,隨著能量的增大,兩者數(shù)量逐漸接近。隨著能量的增大,兩者數(shù)量逐漸接近。v焊縫寬度的影響:余高寬度的增大而減小。此外,余高形狀不焊縫寬度的影響:余高寬度的增大而減小。此外,余高形狀不同,散射比也不同。同,散射比也不同。45RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用7.3散射線(xiàn)的控制措施散射線(xiàn)的控制措施v散射線(xiàn)會(huì)使射線(xiàn)底片的灰霧黑度增大,影象對(duì)比度降低,對(duì)射散射線(xiàn)會(huì)使射線(xiàn)底片的灰霧黑度增大,影象對(duì)比度降低,對(duì)射線(xiàn)相質(zhì)量是有害的。但由于受

43、射線(xiàn)照射的一切物體都是散射源,線(xiàn)相質(zhì)量是有害的。但由于受射線(xiàn)照射的一切物體都是散射源,所以實(shí)際上所以實(shí)際上散射線(xiàn)是無(wú)法消除的散射線(xiàn)是無(wú)法消除的,只能盡量設(shè)法減少。,只能盡量設(shè)法減少。一、選擇合適的射線(xiàn)能量:對(duì)厚度差較大的工件一、選擇合適的射線(xiàn)能量:對(duì)厚度差較大的工件,例如余高較高的例如余高較高的焊縫或小徑管透照時(shí)焊縫或小徑管透照時(shí),散射比隨射線(xiàn)能量的增大而減小散射比隨射線(xiàn)能量的增大而減小,因此可因此可以通過(guò)提高射線(xiàn)能量的方法來(lái)減少散射線(xiàn)。但射線(xiàn)能量值只能以通過(guò)提高射線(xiàn)能量的方法來(lái)減少散射線(xiàn)。但射線(xiàn)能量值只能適當(dāng)提高適當(dāng)提高,以免對(duì)主因?qū)Ρ榷群凸逃胁磺逦犬a(chǎn)生明顯不利的影以免對(duì)主因?qū)Ρ榷群凸逃胁?/p>

44、清晰度產(chǎn)生明顯不利的影響。響。二、使用鉛范增感屏:鉛箔增感屏除了具有增感作用外二、使用鉛范增感屏:鉛箔增感屏除了具有增感作用外,還具有吸還具有吸收低能散射線(xiàn)的作用收低能散射線(xiàn)的作用,使用增感屏是減少散射線(xiàn)最方便、最經(jīng)濟(jì)使用增感屏是減少散射線(xiàn)最方便、最經(jīng)濟(jì),也是最常用的方法。選擇較厚的鉛箔減少散射線(xiàn)的效果較好也是最常用的方法。選擇較厚的鉛箔減少散射線(xiàn)的效果較好,但但會(huì)使增感效率降低會(huì)使增感效率降低,因此鉛箔厚度也不能過(guò)大。實(shí)際使用的鉛箔因此鉛箔厚度也不能過(guò)大。實(shí)際使用的鉛箔厚度與射線(xiàn)能量有關(guān)厚度與射線(xiàn)能量有關(guān),且后屏的厚度一般大于前屏。且后屏的厚度一般大于前屏。46RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)

45、用v還有一些措施是專(zhuān)門(mén)用來(lái)控制散射線(xiàn)的還有一些措施是專(zhuān)門(mén)用來(lái)控制散射線(xiàn)的,應(yīng)根據(jù)經(jīng)濟(jì)、方便、有應(yīng)根據(jù)經(jīng)濟(jì)、方便、有效的原則加以選用效的原則加以選用,這些措施包括這些措施包括: 1.背防護(hù)鉛板:當(dāng)暗盒背后近距離內(nèi)如有金屬或非金屬材料背防護(hù)鉛板:當(dāng)暗盒背后近距離內(nèi)如有金屬或非金屬材料物體物體,例如鋼平臺(tái)、木頭桌面、水泥地面等。例如鋼平臺(tái)、木頭桌面、水泥地面等。 2.鉛罩和光闌:使用鉛罩和鉛光闌可以減小照射場(chǎng)范圍鉛罩和光闌:使用鉛罩和鉛光闌可以減小照射場(chǎng)范圍,從而從而在一定程度上減少散射線(xiàn)。在一定程度上減少散射線(xiàn)。 3.厚度補(bǔ)償物:在對(duì)厚度差較大的工件透照時(shí)厚度補(bǔ)償物:在對(duì)厚度差較大的工件透照時(shí),可

46、采用厚度補(bǔ)可采用厚度補(bǔ)償措施來(lái)減少散射線(xiàn)。焊縫照相可使用厚度補(bǔ)償塊償措施來(lái)減少散射線(xiàn)。焊縫照相可使用厚度補(bǔ)償塊。 4.濾板:在對(duì)厚度差較大的工件透照時(shí)濾板:在對(duì)厚度差較大的工件透照時(shí),可以在射線(xiàn)窗口處加可以在射線(xiàn)窗口處加一金屬薄板一金屬薄板,稱(chēng)為濾板稱(chēng)為濾板,濾板可將濾板可將x射線(xiàn)束中波長(zhǎng)較長(zhǎng)的軟射線(xiàn)吸射線(xiàn)束中波長(zhǎng)較長(zhǎng)的軟射線(xiàn)吸收掉收掉,使透過(guò)射線(xiàn)波長(zhǎng)均勻化使透過(guò)射線(xiàn)波長(zhǎng)均勻化,有效能量提高有效能量提高,從而減少邊蝕散射。從而減少邊蝕散射。濾板可用黃銅、鉛或鋼制作。濾板可用黃銅、鉛或鋼制作。 47RT探傷方法與應(yīng)用探傷方法與應(yīng)用v還有一些措施是專(zhuān)門(mén)用來(lái)控制散射線(xiàn)的還有一些措施是專(zhuān)門(mén)用來(lái)控制散射

47、線(xiàn)的,應(yīng)根據(jù)經(jīng)濟(jì)、方便、有應(yīng)根據(jù)經(jīng)濟(jì)、方便、有效的原則加以選用效的原則加以選用,這些措施包括這些措施包括: 5.遮蔽物:當(dāng)被透照的試件小于膠片時(shí)遮蔽物:當(dāng)被透照的試件小于膠片時(shí),應(yīng)使用遮蔽物對(duì)直接應(yīng)使用遮蔽物對(duì)直接處于射線(xiàn)照射的那部分膠片進(jìn)行遮蔽處于射線(xiàn)照射的那部分膠片進(jìn)行遮蔽,以減少邊蝕散射。以減少邊蝕散射。 6.修磨試件:通過(guò)修整修磨試件:通過(guò)修整,打磨的方法減小工件厚度差也可以視打磨的方法減小工件厚度差也可以視為減少散射線(xiàn)的一項(xiàng)措施。例如為減少散射線(xiàn)的一項(xiàng)措施。例如,檢查重要的焊縫時(shí)檢查重要的焊縫時(shí),將焊縫余將焊縫余高磨平后透照高磨平后透照,可明顯減小散射比可明顯減小散射比,獲得更佳的照

48、相質(zhì)量。獲得更佳的照相質(zhì)量。v另外,對(duì)散射線(xiàn)的控制應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查另外,對(duì)散射線(xiàn)的控制應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查 ,在暗盒背面貼,在暗盒背面貼附附“B”鉛字標(biāo)記。鉛字標(biāo)記。48RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化 49RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化 1 1 透照工藝的分類(lèi)和內(nèi)容透照工藝的分類(lèi)和內(nèi)容 1.1透照工藝的分類(lèi)透照工藝的分類(lèi) 射線(xiàn)透照工藝分通用工藝規(guī)程和專(zhuān)用工藝卡兩種射線(xiàn)透照工藝分通用工藝規(guī)程和專(zhuān)用工藝卡兩種,兩者都是兩者都是必須遵循的規(guī)定性書(shū)面文件。必須遵循的規(guī)定性書(shū)面文件。v通用工藝規(guī)程通用工藝規(guī)程:根據(jù)本單位所有應(yīng)檢產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和射線(xiàn)檢:根據(jù)本單位所有應(yīng)檢產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和射

49、線(xiàn)檢測(cè)器材的現(xiàn)有條件測(cè)器材的現(xiàn)有條件,按法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)要求制定的技術(shù)規(guī)程或通則。按法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)要求制定的技術(shù)規(guī)程或通則。 通用工藝規(guī)程應(yīng)有一定覆蓋性、通用性和可選擇性通用工藝規(guī)程應(yīng)有一定覆蓋性、通用性和可選擇性,主要內(nèi)主要內(nèi)容有容有:a) 適用范圍;適用范圍; b) 引用標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī);引用標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī); c) 檢測(cè)人員資格;檢測(cè)人員資格; d) 檢測(cè)設(shè)備、器材和材料;檢測(cè)設(shè)備、器材和材料; 50e) 檢測(cè)表面制備;檢測(cè)表面制備; f) 檢測(cè)時(shí)機(jī);檢測(cè)時(shí)機(jī); g) 檢測(cè)工藝和檢測(cè)技術(shù);檢測(cè)工藝和檢測(cè)技術(shù); h) 檢測(cè)結(jié)果的評(píng)定和質(zhì)量等級(jí)分類(lèi);檢測(cè)結(jié)果的評(píng)定和質(zhì)量等級(jí)分類(lèi); i) 檢測(cè)記錄、報(bào)告和資料存檔。

50、檢測(cè)記錄、報(bào)告和資料存檔。 j) 編制(級(jí)別)、審核(級(jí)別)和批準(zhǔn)人編制(級(jí)別)、審核(級(jí)別)和批準(zhǔn)人 ; k) 制定日期。制定日期。 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程的編制、審核及批準(zhǔn)應(yīng)符無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程的編制、審核及批準(zhǔn)應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。合相關(guān)法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。 RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化51v專(zhuān)用工藝卡專(zhuān)用工藝卡:是針對(duì)某一具體產(chǎn)品或產(chǎn)品上的某一部件是針對(duì)某一具體產(chǎn)品或產(chǎn)品上的某一部件, ,依依據(jù)通用規(guī)程和圖樣要求據(jù)通用規(guī)程和圖樣要求, ,所特意制定的有關(guān)透照技術(shù)的細(xì)節(jié)所特意制定的有關(guān)透照技術(shù)的細(xì)節(jié)和具體參數(shù)條件。和具體參數(shù)條件。 此卡應(yīng)包括以下內(nèi)容此卡應(yīng)包括以下內(nèi)容: :

51、a a) 工藝卡編號(hào);工藝卡編號(hào); b b) 產(chǎn)品名稱(chēng),產(chǎn)品編號(hào),制造、安裝或檢驗(yàn)編號(hào),鍋爐、壓產(chǎn)品名稱(chēng),產(chǎn)品編號(hào),制造、安裝或檢驗(yàn)編號(hào),鍋爐、壓力容器及壓力管道的類(lèi)別、規(guī)格尺寸、材料牌號(hào)、材質(zhì)、熱力容器及壓力管道的類(lèi)別、規(guī)格尺寸、材料牌號(hào)、材質(zhì)、熱處理狀態(tài)及表面狀態(tài);處理狀態(tài)及表面狀態(tài); c c) 檢測(cè)設(shè)備與器材:設(shè)備種類(lèi)、型號(hào)、規(guī)格尺寸、檢測(cè)附件檢測(cè)設(shè)備與器材:設(shè)備種類(lèi)、型號(hào)、規(guī)格尺寸、檢測(cè)附件和檢測(cè)材料;和檢測(cè)材料; d d) 檢測(cè)工藝參數(shù):檢測(cè)方法、檢測(cè)比例、檢測(cè)部位、標(biāo)準(zhǔn)試檢測(cè)工藝參數(shù):檢測(cè)方法、檢測(cè)比例、檢測(cè)部位、標(biāo)準(zhǔn)試塊或標(biāo)準(zhǔn)試樣(片);塊或標(biāo)準(zhǔn)試樣(片);RT工藝的編制與優(yōu)化工

52、藝的編制與優(yōu)化52 e e) 檢測(cè)技術(shù)要求:執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)和驗(yàn)收級(jí)別;檢測(cè)技術(shù)要求:執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)和驗(yàn)收級(jí)別; f f) 檢測(cè)程序;檢測(cè)程序; g g) 檢測(cè)部位示意圖;檢測(cè)部位示意圖; h h) 編制(級(jí)別)和審核(級(jí)別)人編制(級(jí)別)和審核(級(jí)別)人 ; i i) 制定日期。制定日期。 無(wú)損檢測(cè)工藝卡的編制、審核應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)或無(wú)損檢測(cè)工藝卡的編制、審核應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。(標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。(工藝卡無(wú)須批準(zhǔn)工藝卡無(wú)須批準(zhǔn))RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化53 1.21.2專(zhuān)用工藝卡的形式專(zhuān)用工藝卡的形式 儲(chǔ)氣罐儲(chǔ)氣罐分氣包分氣包RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化產(chǎn)品名稱(chēng)儲(chǔ)氣罐焊接種類(lèi)筒體:埋

53、弧焊:手工焊 圖號(hào)坡口形式X型 材質(zhì)16MnR檢查比例筒體:100%;接管:20% 板厚筒 體 1 6 m m ; 接 管 :12mm法規(guī)及制造標(biāo)準(zhǔn)“容規(guī)”,GB150 外徑1532mm方法及評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)JB4730 AB級(jí),級(jí)合格 透照示意及片定位圖(略) 膠片牌號(hào)T透照對(duì)象筒體接管 膠片尺寸360m80mm序號(hào)及焊縫類(lèi)別I縱縫環(huán)縫縱縫環(huán)縫 增感屏Pb0.03/0.1射線(xiàn)機(jī)型號(hào)ILXY2515CXXH2505LXY2515CXY2515 像質(zhì)要求黑 度 范圍2.04.0焦點(diǎn)尺寸,mm44134444 像 質(zhì) 計(jì)型號(hào)10/16焦點(diǎn)、工件距離mm582777586586 應(yīng) 顯 絲最小值筒體:0.3

54、2mm工件、膠片距離mm18181414 像 質(zhì) 計(jì)位置接管:0.25mm管電壓,kV180200175165 注意事項(xiàng) 縱縫環(huán)縫管電流,mA1051010 窗 口 加0.2mmPb板暗袋背面襯暴光時(shí)間,min23.522 (消“邊蝕”)1mmpb板透照方式源外片內(nèi)法中心內(nèi)透法源外片內(nèi)法源外片內(nèi)法 (防背散射)分?jǐn)鄪銷(xiāo)5;615110 備注 一次透照長(zhǎng)度L3mm300320.9200133.2 焊縫長(zhǎng)度,mm340014438.72001332 攝片數(shù)(張)5+615312編制人及資格 審核人及資格 日 期 日 期 55RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化 2 2 RT工藝編制的要點(diǎn)工藝編制的

55、要點(diǎn) 2.1一般縱縫、環(huán)縫的一般縱縫、環(huán)縫的RT工藝編制要點(diǎn)工藝編制要點(diǎn) 選定正確的透照方式;選定正確的透照方式; 當(dāng)確定透照方式后,焦距較小時(shí)關(guān)注是否滿(mǎn)足最小焦距要求當(dāng)確定透照方式后,焦距較小時(shí)關(guān)注是否滿(mǎn)足最小焦距要求 ; 正確計(jì)算透照壁厚(余高考慮);正確計(jì)算透照壁厚(余高考慮); 所選用的射線(xiàn)設(shè)備曝光曲線(xiàn)的正確使用所選用的射線(xiàn)設(shè)備曝光曲線(xiàn)的正確使用(設(shè)備可承受的電壓最大(設(shè)備可承受的電壓最大值、雙壁單影的電壓確定值、雙壁單影的電壓確定 ); 焦距變化時(shí)的曝光時(shí)間的確定;焦距變化時(shí)的曝光時(shí)間的確定; 像質(zhì)計(jì)指數(shù)的確定;像質(zhì)計(jì)指數(shù)的確定; 根據(jù)膠片規(guī)格正確計(jì)算劃線(xiàn)分段數(shù)量;根據(jù)膠片規(guī)格正確計(jì)

56、算劃線(xiàn)分段數(shù)量; 計(jì)算一次透照長(zhǎng)度計(jì)算一次透照長(zhǎng)度; 總的攝片張數(shù)??偟臄z片張數(shù)。56RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化 2 2 RT工藝編制的要點(diǎn)工藝編制的要點(diǎn) 2.2變截面焊縫的變截面焊縫的RT工藝編制要點(diǎn)工藝編制要點(diǎn) 工件本身的截面厚度不均勻的工件成為變截面工件,其焊縫即為變截面工件本身的截面厚度不均勻的工件成為變截面工件,其焊縫即為變截面焊縫;焊縫; 當(dāng)變截面的厚度比大于當(dāng)變截面的厚度比大于1.4時(shí)時(shí),可以為屬于大厚度比試件。實(shí)際工作中的可以為屬于大厚度比試件。實(shí)際工作中的大厚度比試件包括余高較高的薄板對(duì)接焊縫試件、小口徑管試件、角焊縫大厚度比試件包括余高較高的薄板對(duì)接焊縫試件、小口

57、徑管試件、角焊縫試件試件,以及不等厚板對(duì)接。以及不等厚板對(duì)接。 除除“ 2.1”以外以外,在在RT工藝編制時(shí)還應(yīng)注意以下要點(diǎn)工藝編制時(shí)還應(yīng)注意以下要點(diǎn): 1.適當(dāng)提高管電壓技術(shù)適當(dāng)提高管電壓技術(shù) 。尤其是厚度變化比較小尤其是厚度變化比較小,且連續(xù)變化的對(duì)接焊且連續(xù)變化的對(duì)接焊縫??p。L增加,增加, D下降。下降。 2.采用雙膠片技術(shù)(異速、同速疊加)。采用雙膠片技術(shù)(異速、同速疊加)。 厚度變化不是較大。厚度變化不是較大。 3.補(bǔ)償技術(shù)。補(bǔ)償技術(shù)是指用補(bǔ)償塊、補(bǔ)償粉、補(bǔ)償泥、補(bǔ)償液等填補(bǔ)償技術(shù)。補(bǔ)償技術(shù)是指用補(bǔ)償塊、補(bǔ)償粉、補(bǔ)償泥、補(bǔ)償液等填補(bǔ)工作較薄部分補(bǔ)工作較薄部分 。 如何考慮選管電壓、

58、曝光量、像質(zhì)指數(shù)?如何考慮選管電壓、曝光量、像質(zhì)指數(shù)?57RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化 2 2 RT工藝編制的要點(diǎn)工藝編制的要點(diǎn) 2.3橢圓封頭拼接焊縫的橢圓封頭拼接焊縫的RT工藝編制要點(diǎn)工藝編制要點(diǎn)除除“ 2.1”以外以外,在在RT工藝編制時(shí)還應(yīng)注意以下要點(diǎn)工藝編制時(shí)還應(yīng)注意以下要點(diǎn):1.橢圓封頭拼接焊縫,成形后須對(duì)直邊及直邊與第一曲橢圓封頭拼接焊縫,成形后須對(duì)直邊及直邊與第一曲率半徑率半徑r1的圓弧過(guò)渡區(qū)的圓弧過(guò)渡區(qū),第一曲率半徑第一曲率半徑rl與第二曲率半與第二曲率半徑徑r2的圓弧過(guò)渡區(qū)進(jìn)行攝片。一般在封頭拼縫每端至的圓弧過(guò)渡區(qū)進(jìn)行攝片。一般在封頭拼縫每端至少應(yīng)拍少應(yīng)拍2張片子。

59、(因?yàn)楸苊馔刚站嚯x、截面厚度在張片子。(因?yàn)楸苊馔刚站嚯x、截面厚度在有效被檢區(qū)內(nèi)變化不致過(guò)大)有效被檢區(qū)內(nèi)變化不致過(guò)大)2.由于余高是磨平的由于余高是磨平的,透照前要用石筆在封頭上劃出焊縫透照前要用石筆在封頭上劃出焊縫寬度、長(zhǎng)度范圍寬度、長(zhǎng)度范圍,并在被檢區(qū)兩端貼附焊縫寬度識(shí)別標(biāo)并在被檢區(qū)兩端貼附焊縫寬度識(shí)別標(biāo)記。記。58RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化 2 2 RT工藝編制的要點(diǎn)工藝編制的要點(diǎn) 2.4焊縫長(zhǎng)度小于膠片長(zhǎng)度時(shí)的焊縫長(zhǎng)度小于膠片長(zhǎng)度時(shí)的RT工藝編制要點(diǎn)工藝編制要點(diǎn)除除“ 2.1”以外以外,在在RT工藝編制時(shí)還應(yīng)注意以下一個(gè)要點(diǎn)工藝編制時(shí)還應(yīng)注意以下一個(gè)要點(diǎn): 必須采用同材質(zhì)、

60、同厚度的兩塊工裝板(屏蔽作用)必須采用同材質(zhì)、同厚度的兩塊工裝板(屏蔽作用)夾在焊縫長(zhǎng)度兩端。因?yàn)樯⑸渚€(xiàn)夾在焊縫長(zhǎng)度兩端。因?yàn)樯⑸渚€(xiàn)“邊蝕邊蝕”現(xiàn)象嚴(yán)重現(xiàn)象嚴(yán)重 。 如容器接管縱縫或大鍛件法蘭對(duì)接環(huán)縫。如容器接管縱縫或大鍛件法蘭對(duì)接環(huán)縫。59RT工藝的編制與優(yōu)化工藝的編制與優(yōu)化 2 2 RT工藝編制的要點(diǎn)工藝編制的要點(diǎn) 2.5小徑管對(duì)接環(huán)縫的小徑管對(duì)接環(huán)縫的RT工藝編制要點(diǎn)。工藝編制要點(diǎn)。 1.透照方式為雙壁雙影;透照方式為雙壁雙影; 2.確定是可采用橢圓成像確定是可采用橢圓成像壁厚壁厚 8mm,且,且 焊縫寬度焊縫寬度管子外徑管子外徑/4(mm),還是采用垂直透照重疊成像;還是采用垂直透照重

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