礦體等X圖(X為深度,厚度,品位)

1、礦體產(chǎn)狀、厚度、品位等情況的統(tǒng)計(jì)性圖表的編制2011-3-18 11:35:55 中國(guó)選礦技術(shù)網(wǎng) 瀏覽174 次 收藏 我來(lái)說(shuō)兩句一、各類等量線圖各類等量線圖包括等高(或等深)線圖、等厚線圖、等品位線(或含量等值線)圖等。（一）等高(深)線圖；其目的是為了研究特定層面的深部構(gòu)造特別是褶皺構(gòu)造，也可用于研究斷層、礦床預(yù)測(cè)、指導(dǎo)勘探和開采以及儲(chǔ)量計(jì)算。1、等高(深)線圖有下列幾種：（1）一定地層層面的等高(深)線圖，多用于研究褶皺構(gòu)造：當(dāng)所選擇的層面代表一定地 層單位的界面時(shí)，特稱為層位等高(深)線圖，多用于研究一定等構(gòu)造層褶皺構(gòu)造，當(dāng)用于 成礦預(yù)測(cè)或指導(dǎo)勘探時(shí)，多選擇礦層(或含礦層)頂板或頂板以

2、上有一定距離的標(biāo)志層或礦 化遮擋層；當(dāng)用于指導(dǎo)開采時(shí)，多選擇礦層或含礦層頂或底板。（2）若干相鄰地層層面等高(深)線重疊的圖(重疊的圖最好用不同色例)：多用于研究大地構(gòu)造運(yùn)動(dòng)或上、下構(gòu)造層褶皺構(gòu)造的關(guān)系或含礦層的賦存空間。當(dāng)選擇的層面為若干相鄰的不(或假)整合面時(shí)，多用于大地構(gòu)造運(yùn)動(dòng)，特別是海侵、海退規(guī)律，用于沉積礦產(chǎn)的礦 床預(yù)測(cè)：預(yù)測(cè)含油、氣構(gòu)造及鐵、鋁土礦成礦有利地段。（3）一定地層單位的層位等高(深)線與等厚線重迭的圖，多用于研究大地構(gòu)造運(yùn)動(dòng)或一 定地質(zhì)時(shí)代的古地理環(huán)境，用于沉積礦產(chǎn)的成礦研究。（4）一定構(gòu)造線界面的等高(深)線圖以及綜合層面或?qū)游慌c構(gòu)造線界面的等高(深)線圖， 多用于研

3、究斷裂的類型及位移要素，特別是后者能全面反映斷層不同線段的位移要素，比 斷層圖解法要全面些，一般用于指導(dǎo)勘探或成礦預(yù)測(cè)(圖1示其一例)。圖1 用以研究斷層的構(gòu)造等深線圖(A)：斷層下盤；(B)：斷層上盤；1：斷層地表跡線；2(a)、(b)：分別為斷層面與下、 上盤下白堊統(tǒng)頂部交切線的投影線；3(a)、(b)：分別為斷層與下、上盤上侏羅統(tǒng)頂部的交切線的投影線；4、5 分別為下白堊統(tǒng)頂部與上侏羅統(tǒng)頂部的等深線。地質(zhì)判讀：斷層為正 斷層，但北部落差小，南部大，傾角自北向南逐步變陡，并有水平位移(上盤南移)；下白 堊統(tǒng)與上侏羅統(tǒng)之間為不整合接觸，不整合面為一曲面，向西傾伏。垂直斷層作平行剖面 可求得斷

4、層各點(diǎn)的傾角變化及位移要素。（5）浸入巖接觸面的等高(深)線圖，用于指導(dǎo)勘探及成礦預(yù)測(cè)。（二）編制這類圖紙要具備一定的條件，主要如下：1、目的層(即編圖對(duì)象)的產(chǎn)狀要有一定的平面延展，如產(chǎn)狀近于直立，不宜編制。2、一般只適宜于成層巖石，尤其是其厚度(和巖性)變化比較穩(wěn)定者所構(gòu)成的構(gòu)造。3、研究斷層時(shí)，一般只限于主要斷裂，當(dāng)被其他斷層切割劇烈時(shí)，編圖有困難。4、目的層及其上覆地層，要有實(shí)測(cè)厚度資料，包括實(shí)測(cè)剖面測(cè)定的和(或)深部工程揭 露的。所需實(shí)測(cè)資料的多少視具體情況及圖紙用途而定，除用于儲(chǔ)量計(jì)算及指導(dǎo)開采外，應(yīng)允許相當(dāng)一部分參數(shù)是根據(jù)類比推定的。5、盡可能取得與目的層的物性相適應(yīng)的地球物理資

5、料，作對(duì)比參考之用。6、作為成礦預(yù)測(cè)之用時(shí)，礦化體應(yīng)嚴(yán)格或主要控制在一定的層位或構(gòu)造界面內(nèi)，即上覆巖層底面或構(gòu)造線的上盤就是或主要是礦體的頂板或上盤，或礦體距某標(biāo)志層有一定的相對(duì)穩(wěn)定的距離。（三）等高線法或等深線法的選擇：1、等高線法適用于編圖區(qū)地形高差較大的地區(qū)，但同時(shí)需用另一色例標(biāo)明地形等高 線。優(yōu)點(diǎn)是地質(zhì)構(gòu)造形態(tài)沒(méi)有編圖技術(shù)上的歪曲，缺點(diǎn)是因重疊有地形等高線，圖面較復(fù) 雜。2、等深線法適用于編圖區(qū)地形高差很小的地區(qū)。優(yōu)點(diǎn)是圖面較清楚，能直接讀出每一點(diǎn)的埋藏深度，不需換算；缺點(diǎn)是除平原地區(qū)外，一般對(duì)地質(zhì)構(gòu)造的形態(tài)不免多少有編圖技術(shù)上的歪曲(因地形多少有些起伏)。二、等厚線圖其目的是為了研究

6、特定地層的厚度變化規(guī)律，用于指導(dǎo)找礦勘探和開 采、儲(chǔ)量計(jì)算及成礦規(guī)律與成礦預(yù)測(cè)的研究。根據(jù)目的層的不同而有下列三種：(一)一定地層單位的等厚線圖：當(dāng)配合其他圖紙時(shí)，可用以研究大地構(gòu)造運(yùn)動(dòng)和古地理環(huán)境，用于沉積礦床預(yù)測(cè)。適宜于成層巖石地區(qū)，不受構(gòu)造條件的限制，但單斜而傾斜較陡時(shí)，編圖有困難。(二)含礦層或含礦帶的等厚線圖；當(dāng)配合其他圖紙時(shí)，可用于內(nèi)、外生礦床的成礦規(guī)律和成礦預(yù)測(cè)的研究，用于指導(dǎo)勘探。適宜于有一定延展的含礦層(或帶)。一般情形下不受 目的層產(chǎn)狀的限制，但如產(chǎn)狀較陡時(shí)，如有褶皺應(yīng)限于舒緩波狀。(三)礦體等厚線圖：用于儲(chǔ)量計(jì)算和指導(dǎo)開采。適宜于層狀、似層狀或透鏡狀礦體，礦床構(gòu)造及礦體形

7、態(tài)復(fù)雜，厚度變化太大者，其應(yīng)用受到限制，不受礦體產(chǎn)狀的限制。等厚線圖所需目的層的實(shí)測(cè)厚度資料，主要是從實(shí)測(cè)剖面測(cè)量及探礦工程揭露獲得。所需資料的多少也視具體情況及圖紙用途而定。礦體產(chǎn)狀、厚度、品位等情況的統(tǒng)計(jì)性圖表的編制2011-3-18 11:35:55 中國(guó)選礦技術(shù)網(wǎng) 瀏覽175 次 收藏 我來(lái)說(shuō)兩句三、等品位線圖其目的是為了研究礦體或含礦層的品位變化規(guī)律，用手指導(dǎo)勘探和 開采；也可作成礦預(yù)測(cè)之用，例如，在巖相古地理圖上投上含礦層的等品位線，可以較準(zhǔn) 確地預(yù)測(cè)沉積成礦富集地段。另有一種厚度與品位的乘積的等值線圖，用于有色金屬或貴金屬的儲(chǔ)量計(jì)算。這一類 圖紙適宜于層狀、似層狀或透鏡狀礦體，不

8、受礦體產(chǎn)狀的限制，但構(gòu)造復(fù)雜、礦體形態(tài)變 化大者，其應(yīng)用受到限制。對(duì)于礦體分割為若干品級(jí)的輔助原料及鋁土礦等礦床，不宜編 制。編圖時(shí)要有實(shí)測(cè)品位資料，最好有一定的網(wǎng)度控制，網(wǎng)度的稀密視具體情況及圖紙用 途而定。四、準(zhǔn)備底圖各類等量線圖的底圖因研究目的及圖紙用途的不同而不同：(一)用于研究大地構(gòu)造運(yùn)動(dòng)、古地理?xiàng)l件和區(qū)域構(gòu)造的等高(深)線圖和等厚線圖，以同 比例尺區(qū)域地質(zhì)圖為底圖，保留經(jīng)緯線、水系及目的層界面地表界線，勾出目的層沉積當(dāng)時(shí)的剝蝕區(qū)(用于研究區(qū)域構(gòu)造者不畫剝蝕區(qū))。(二)用于研究礦區(qū)或礦床構(gòu)造、礦層或含礦層厚度變化和品位變化的各類等量線圖均以 同比例尺礦區(qū)或礦床地質(zhì)圖(或水平投影圖)為

9、底圖，保留座標(biāo)線、勘探線及目的層界面地表界線。當(dāng)?shù)V層或含礦層產(chǎn)狀較陡時(shí)，可根據(jù)具體情況及圖紙用途選擇平行傾斜投影圖或 縱投影圖為底圖編制等厚線圖或等品位線圖，但不宜編制等高線圖，保留基本線條和礦體邊界線，五、等厚線圖厚度參數(shù)的準(zhǔn)則，根據(jù)研究目的及所采用的底圖而選擇(一)以平面地質(zhì)圖為底圖，用以研究大地構(gòu)造運(yùn)動(dòng)、古地理?xiàng)l件及內(nèi)、外生礦床的成礦規(guī)律和成礦預(yù)測(cè)的一定地層單位(包括含礦層或帶)的等厚線圖，以目的層真厚度為準(zhǔn)。此 時(shí)不受褶皺構(gòu)造的限制，但被斷層切割，增益的厚度和剝蝕殘余的厚度，雖然也應(yīng)標(biāo)出(用 不同圖例)，但只供參考。(二)以各類投影圖為底圖，用以指導(dǎo)勘探、開采和儲(chǔ)量計(jì)算的礦體等厚線圖，

10、以垂直于 圖面的厚度為準(zhǔn)。此時(shí)被斷層增益的厚度及剝蝕殘余的厚度與正常厚度同等對(duì)待，但褶皺很發(fā)育時(shí)，不甚合適。(三)研究含礦層或含礦帶的厚度變化規(guī)律，以闡明成礦規(guī)律和成礦預(yù)測(cè)者，用縱或平行 傾斜投影圖為底圖時(shí)，以垂直于圖面的厚度為準(zhǔn)。此時(shí)被斷層增益的厚度及剝蝕殘余的厚 度同樣只供參考，而褶曲發(fā)育時(shí)，亦不甚合適。六、參數(shù)點(diǎn)的分類包括深部工程點(diǎn)、地表剖面點(diǎn)及深部剖面點(diǎn)。后兩種剖面點(diǎn)指實(shí) 測(cè)剖面線上的某些點(diǎn)。(一)深部工程點(diǎn)為深部工程與目的層某一特定界面的交點(diǎn)。(二)地表剖面點(diǎn)為實(shí)測(cè)剖面線截取目的層的一段剖面的某一端點(diǎn)或目的層某一界面在 地表出露之點(diǎn)，也包括地表工程揭露的剖面點(diǎn)。以上兩種參數(shù)點(diǎn)所獲參數(shù)

11、都是實(shí)測(cè)的，但對(duì)于等厚線圖來(lái)說(shuō)，地表剖面點(diǎn)的參數(shù)有一定的推定性質(zhì)，目的層厚度愈大，推定性愈大。(三)深部剖面點(diǎn)為實(shí)測(cè)剖面線上目的層以上某些地層單元的界面點(diǎn)或某些特定的點(diǎn)。與 這些點(diǎn)有關(guān)的目的層參數(shù)是根據(jù)實(shí)測(cè)剖面成果進(jìn)行剖面對(duì)比，確定地層柱狀，推定目的層以上的地層真厚度，換算為所需的參數(shù)。故均為推定參數(shù)。七、參數(shù)點(diǎn)的應(yīng)用及定位(一)等高(探)線圖：除用于指導(dǎo)開采和儲(chǔ)量計(jì)算的等高線圖外，其他等高(深)線圖，三 種參數(shù)點(diǎn)均可應(yīng)用，特別是區(qū)域性等高(深)線圖，深部剖面點(diǎn)占有相當(dāng)大一部份數(shù)量。但 用于指導(dǎo)開采和儲(chǔ)量計(jì)算者，不能使用深部剖面點(diǎn)，或者僅供計(jì)算地質(zhì)儲(chǔ)量之用。各參數(shù)點(diǎn)的定位以工程或剖面線與選定的

12、界面的交點(diǎn)的投影位置為準(zhǔn)。(二)等厚線圖：一般情形下，只能使用深部工程點(diǎn)及地表剖面點(diǎn)。參數(shù)點(diǎn)的定位一般規(guī) 定以工程或剖面線與目的層底板的交點(diǎn)的投影位置為準(zhǔn)。但地表剖面點(diǎn)的定位有三種情 況：1、剖面線與目的層底板的交點(diǎn)，此處的厚度參數(shù)為零。2、剖面線與目的層頂板的交點(diǎn)，此處的厚度參數(shù)為目的層的全厚。3、剖面線與目的層層內(nèi)某一特定面的交點(diǎn)，此點(diǎn)的厚度參數(shù)為該點(diǎn)以下至目的層底板 的一段地層厚度。當(dāng)目的層厚度較大特別是目的層為數(shù)種不同巖性的巖層組成的某一地層 單元時(shí)，常需布設(shè)此種參數(shù)點(diǎn)，在編制區(qū)域性等厚線圖時(shí)，常遇到這種情況。(三)等品位線圖：任何情形下，只能用深部工程點(diǎn)和地表剖面點(diǎn)，即深部采樣線和地

13、表 采樣線與目的層底板的交點(diǎn)的投影位置。(四)各參數(shù)點(diǎn)的投影方法，可選用解析法或座標(biāo)值法或作圖法。八、編圖方法及步驟(一)整理、核實(shí)和(必要時(shí))換算參數(shù)。對(duì)于等高(深)線圖及等厚線圖，要精確度量目的 層及其上覆地層的真實(shí)厚度，即從觀察所得的實(shí)際真層厚，或按實(shí)測(cè)原始資料計(jì)算的真層 厚，不應(yīng)有任何假設(shè)，即不能把被侵蝕或被斷層破壞的部份厚度根據(jù)推測(cè)而減或加進(jìn)去。注意厚度變化規(guī)律。礦體產(chǎn)狀、厚度、品位等情況的統(tǒng)計(jì)性圖表的編制2011-3-18 11:35:55 中國(guó)選礦技術(shù)網(wǎng) 瀏覽176 次 收藏 我來(lái)說(shuō)兩句(二）編制卡片：卡片內(nèi)容，因圖紙種類及使用參數(shù)點(diǎn)類別之不同而不同，很難作統(tǒng)一規(guī) 定。僅舉等高(

14、深)線圖為例，以供參考。其卡片內(nèi)容包括：順序號(hào)、勘探線或?qū)崪y(cè)剖面線 編號(hào)、參數(shù)點(diǎn)類別及編號(hào)、目的層界面、參數(shù)包括：地層真厚度(指自參數(shù)點(diǎn)以下至目的 層界面一段的地層真厚度)，地層傾角、地層垂直厚度(或垂深)、地表標(biāo)高讀數(shù)(指參數(shù)點(diǎn)所 在投影位置的地表標(biāo)高)、目的層界面標(biāo)高、備注。(三)在準(zhǔn)備好的底圖上，畫上勘探線及 (或)實(shí)測(cè)剖面線，注明編號(hào)。投上參數(shù)點(diǎn) 及其編號(hào)，注明有關(guān)參數(shù)。(四)以插入法繪出平滑的等量線。 (二)變化規(guī)律圖表 這是一些以勘探線為橫坐標(biāo)以不同標(biāo)高或深度為縱坐標(biāo)的統(tǒng)計(jì)圖表，借以分析沿走向、自地表至深部的礦體厚度、礦 體產(chǎn)狀或礦石品位變化規(guī)律，用于指導(dǎo)生 產(chǎn)、闡明礦體的空間分布

15、規(guī)律或研究礦床勘探類型。圖表格式要根據(jù)具體情況去設(shè) 計(jì)。一般需要有一定的深部工程才能編 制，否則，只能編制地表部份沿走向的變化圖表。今舉兩例，以供參考：1、以曲線或柱狀表達(dá)的；有礦體厚 度變化規(guī)律圖、礦石有益元素及(或)有害 元素含量變化規(guī)律圖(圖2、3)。利用各勘探線與各水平剖面交截線上的厚度或平均品位編制。當(dāng)沒(méi)有交截線 上的實(shí)測(cè)資料時(shí)；對(duì)于厚度可用內(nèi)插 法獲得；對(duì)于平均品位，可用各水平 面影響范圍內(nèi)的工程平均品位。一般 情形下可用算術(shù)平均。這一類變化規(guī)律圖與有關(guān)等量線圖(礦體等厚線圖或含量等值線圖)比 較，各有優(yōu)缺點(diǎn)。一般情況下，對(duì)于傾斜較大的礦體或內(nèi)生礦床，多編制變化規(guī)律圖。對(duì)于不宜編制

16、等厚線圖或含量等值線圖的礦床，也可編制這種圖。當(dāng)?shù)V體分割為若干品級(jí)時(shí)，或必須同時(shí)闡明有益和有害組份的變化規(guī)律時(shí)，可用各交截線上主要有益組份的平均含量和主要有害組份的平均含量重疊的曲線或柱狀編制。2、以數(shù)字表達(dá)的：有礦體產(chǎn)狀或 礦體產(chǎn)狀與厚度(及夾層厚度)變化表（附表1），其編制方法及條件同 上。(三)級(jí)頻率圖這是一種以礦石的主要有益元素含量分級(jí)為橫坐標(biāo)，以試樣個(gè)數(shù)為縱坐標(biāo)的柱狀統(tǒng)計(jì)圖(圖4)，用于研究：圖4 級(jí)頻率圖1、礦石主要有益元素分布的均勻程度和礦石品位變化情況；2、全礦床的礦石主要屬于何品級(jí)(貧、中或富)；3、平均品位計(jì)算方法的選擇：當(dāng)級(jí)頻率的高峰位于圖的中央(分級(jí)的中間)部份，同時(shí)

17、兩側(cè)又大致對(duì)稱時(shí)，算術(shù)平均與加權(quán)平均結(jié)果比較應(yīng)相近，當(dāng)級(jí)頻率的高峰偏左或偏右時(shí)， 亦相應(yīng)的偏低或偏高。但具體選擇何種平均品位方法尚須結(jié)合其他條件。參加編制級(jí)頻率圖的試樣為有用礦體內(nèi)參加平均品位計(jì)算的或邊界品位以上的全部普通試樣。有益元素的含量分級(jí)根據(jù)具體情況而定，一般采用等間距的分級(jí)。統(tǒng)計(jì)每一分 級(jí)內(nèi)的試樣個(gè)數(shù)，進(jìn)行編制。（四）不同組份的相關(guān)關(guān)系圖這是一種分別以不同組份的含量分級(jí)為縱、橫坐標(biāo)的統(tǒng)計(jì)圖。以礦體內(nèi)全部試樣或有 代表性的或主要地段的試樣的不同組份的含量，求出每個(gè)試樣的投影點(diǎn)。參加制圖的試樣，有組合試樣、全分析樣及普通試樣，根據(jù)制圖目的及試驗(yàn)項(xiàng)目選擇。注明參加統(tǒng)計(jì)的試樣 個(gè)數(shù)。如相關(guān)關(guān)系不很明顯，可在各點(diǎn)分布范圍內(nèi)的適中位置畫出直線、甚至折線。借以 闡明不同組份