無損檢測二級考試

1、第三部分 超聲波檢測一.是非題：246題二.選擇題：256題三.問答題： 70題四.計算題： 56題一是非題 （在題后括弧內，正確的畫 ，錯誤的畫×）1.1 由于機械波是由機械振動產生的，所以超聲波不是機械波。 （ ）1.2 只要有作機械振動的波源就能產生機械波。 ( )1.3 振動是波動的根源，波動是振動狀態(tài)的傳播。 ( )1.4 介質中質點的振動方向與波的傳播方向互相垂直的波稱為縱波。 ( )1.5 當介質質點受到交變剪切應力作用時,產生切變形變，從而形成橫波。 ( )1.6 液體介質中只能傳播縱波和表面波，不能傳播橫波。 ( )1.7 根據(jù)介質質點的振動方向相對于波的傳播方向的

2、不同，波的波形可分為縱波、橫波、表面波和板波等。 ( )1.8 不同的固體介質，彈性模量越大，密度越大，則聲速越大 ( )1.9 同一時刻,介質中振動相位相同的所有質點所聯(lián)成的面稱為波前。 ( )1.10 實際應用超聲波探頭中的波源近似于活塞波振動，當距離波源的距離足夠大時，活塞波類似于柱面波。 ( )1.11 超聲波檢測中廣泛采用的是脈沖波，其特點是波源振動持續(xù)時間很長，且間歇輻射。 ( )1.12 次聲波、聲波、超聲波都是在彈性介質中傳播的機械波，在介質中的傳播速度相同，他們的主要區(qū)別主要在于頻率不同。 ( )1.13 同種波型的超聲波，在同一介質中傳播時，頻率越低，其波長越長。 ( )1

3、.14 分貝值差表示反射波幅度相互關系，在確定基準波高后，可以直接用儀器的衰減器讀數(shù)表示缺陷波相對波高。 ( )1.15 一般固體中的聲速隨介質溫度升高而降低。 ( )1.16 超聲波在同一介質中橫波比縱波檢測分辨力高，但對于材料的穿透能力差。 ( )1.17 超聲波在同一固體材料中，傳播縱波、橫波時聲阻抗都相同。 ( )1.18 超聲場中任一點的聲壓與該處質點傳播速度之比稱為聲阻抗。 ( )1.19 固體介質的密度越小，聲速越大，則它的聲阻抗越大。 ( )1.20 在普通鋼焊縫檢測中，母材與填充金屬聲阻抗相差很小，若沒有任何缺陷，是不會產生界面回波的。 ( )1.21 波的疊加原理說明,幾列

4、波在同一介質中傳播并相遇時,可以合成一個波繼續(xù)傳播。( )1.22 超聲波垂直入射到光滑平界面時，聲強反射率等于聲強透過率，兩者之和等于 1 。 ( )1.23 超聲波垂直入射到光滑平界面時，界面一側的總聲壓等于另一側的總聲壓，說明能量守恒。 ( )1.24 超聲波垂直入射到光滑平界面時，在任何情況下，透射波聲壓總是小于入射波聲壓。 ( )1.25 超聲波垂直入射到光滑平界面時，其聲壓反射率或透過率僅與界面兩種介質的聲阻抗有關 。 ( )1.26 超聲波垂直入射到Z2>Z1的光滑平界面時,若聲壓透射率大于1 ,說明界面有增強聲壓的作用。 ( )1.27 聲壓往復透射率高低直接影響檢測靈敏

5、度高低，往復透射率高,檢測靈敏度高,( )1.28 超聲波垂直入射到光滑平界面時，聲壓往復透過率大于聲強透過率。 ( )1.29 超聲波垂直入射到光滑平界面時,界面兩側介質聲阻抗相差愈小，聲壓往復透射率愈低。 ( )1.30 當鋼中氣隙(如裂紋)厚度一定時,超聲波頻率增加,反射波高也隨著增加。 ( )1.31 當超聲波聲束以一定角度傾斜入射到不同介質的界面上,產生同類型的反射和折射波，這種現(xiàn)象就是波形轉換。 ( )1.32 超聲波傾斜入射到界面時，界面上入射聲束的折射角等于反射角。 ( )1.33 超聲波傾斜入射到界面在第一臨界角時，第二介質中只有折射橫波。 ( )1.34 只有當?shù)谝唤橘|為液

6、體時，才會有第三臨界角。 ( )1.35 當橫波傾斜入射到固/固截面時,縱波反射角為900時所對應的橫波入射角稱為第三臨界角。 此時第一介質中沒有反射橫波。( )1.36 橫波傾斜入射到鋼水界面，水中既無折射橫波，又無折射縱波。 ( )1.37 為使工件中只有單一的橫波，斜探頭入射角應選擇為第一臨界角或第二臨界角。( )1.38 超聲波入射到 C1 C2 的凸曲面時（從入射方向看），其折射波發(fā)散。 ( )1.39 以有機玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機玻璃/水界面為凸曲面。 ( )1.40 超聲波的擴散衰減主要取決于波陣面的形狀，與傳播介質的性質無關。 ( )1.41 引起超聲波衰減的主要原因

7、波速擴散、晶粒散射、介質吸收。 ( )1.42 超聲平面波不存在材質衰減。 ( )1.43 對同一介質而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。 ( )1.44 在同一介質中，傳播縱波、橫波時的聲阻抗不一樣。 ( )1.45 超聲波入射到C1C2的凸界面時，其透射波聚集。 ( )1.46 超聲波垂直入射到光滑平界面時，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。 ( )2.1 超聲場近場區(qū)內聲壓分布不均勻、起伏變化是由于波的干涉造成的。 ( )2.2 超聲場近場區(qū)內的缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。 ( )2.3 聲源輻射的超聲能量,總是聲束中心線上的聲壓最高。 ( )2.4 超聲波的半擴散角大，超聲能量集中，聲束的指向性

8、好，檢測靈敏度高，對缺陷定位準確。 ( × )2.5 超聲場可分為近場區(qū)和遠場區(qū)，波源軸線上最后一個聲壓極大值的位置至波源的距離稱為超聲場的近場區(qū)長度。 ( )2.6 因為近場區(qū)內處于聲壓極小值處的較大缺陷回波可能較低,而處于聲壓極大值處的較小的缺陷回波可能較高， 應盡可能避免在近場區(qū)檢測。 ( )2.7 超聲頻率不變，晶片面積越大,超聲的近場長度越短。 ( )2.8 超聲場遠場區(qū)聲壓隨距離增加單調減小是由于介質衰減的結果。 ( )2.9 在其他條件相同時，橫波聲束的指向性比縱波好，橫波的能量更集中一些，因橫波波波長比縱波短。 ( )2.10 同頻率的探頭其擴散角與探頭晶片尺寸成反比

9、，近場區(qū)長度與晶片面積成正比。( ) 2.11 橫波斜探頭聲場假想聲源的面積大于實際聲源面積。 ( )2.12 檢測時采用低頻是為了改善聲束指向性，提高檢測靈敏度。 ( )2.13 因為超聲波存在擴散衰減，所以，檢測時應盡可能在進場區(qū)進行。 ( )2.14 在實際超聲波檢測中，測定探頭聲速軸線偏離與橫波探頭的K值應規(guī)定在2N以外進行測定。 ( )2.15 當其他條件一定時，若超聲波頻率增加，則近場區(qū)長度和半擴散角都增加。 ( )2.16 橫波探頭晶片尺寸一定，K值增大時，近場區(qū)長度減小。 ( )2.17 超聲波的能量主要集中在20以內的錐形區(qū)域，此區(qū)域稱為主聲束。 ( )2.18 一般聲束指向

10、角越小，則主聲束越窄，聲能量越集中，從而可以提高對缺陷的分辨能力以及準確判斷缺陷的位置。 ( )2.19 在超聲場的未擴散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波近似看成平面波，其平均聲壓不變。 ( )2.20 頻率、晶片尺寸等條件相同時，在同一介質中，橫波聲束指向性比縱波差。 ( )2.21 其它條件相同時，鋼中橫波聲場近場長度隨探頭的折射角增大而減小。 ( )2.22 縱波聲場存在近場區(qū)，橫波聲場不存在近場區(qū)。 ( )2.23 超聲波的聲束指向性不僅與頻率有關，而且與波形有關。 ( )2.24 面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場的近場區(qū)場區(qū)相同 ( )2.25 面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片，

11、聲束指向性也相同 ( )2.26 在同樣的檢測條件下，當自然缺陷的反射回波，與某人工規(guī)則反射體的反射回波等高時，則該人工規(guī)則反射體的尺寸，就是此自然缺陷的實際尺寸。 ( )2.27 短橫孔是長度明顯小于聲束截面積的橫孔，其孔徑和長度一定，波高與距離的變化規(guī)律與平底孔相同。 ( )2.28 檢測條件一定，平底孔的波高與其面積成正比，與距離成反比。( )2.29 長橫孔是長度大于聲束截面積的橫孔，其孔徑一定，距離增加一倍其回波下降9dB. ( )2.30 對軸類工件作外圓徑向縱波檢測時，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平底回波聲壓反射規(guī)律不同。 ( )2.31 當 X 3 N 時，超聲波在內孔檢測圓柱

12、體,其回波聲壓小于同距離大平底回波聲壓。( )2.32 實用 AVG 曲線只適用于特定的探頭,使用時不需要進行歸一化處理。 ( )2.33 在通用AVG曲線上,可直接查得缺陷的實際聲程和當量尺寸。 ( )2.34 通用AVG曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離,適用于不同規(guī)格的探頭。( )3.1超聲波探傷儀的A型顯示、B型顯示、C型顯示都屬于波形顯示。 ( )3.2 超聲波儀器的C型顯示能顯示工件中缺陷在探測方向上的面積投影，但不能顯示其深度。 ()3.3 探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件檢測面上掃查的電路。 ( )3.4調節(jié)超聲波探傷儀“延遲”旋鈕時，掃描線上回波信號間的距離也將隨

13、之改變。 ( )3.5 調節(jié)超聲波探傷儀“深度細調”旋鈕時，可連續(xù)精確的調節(jié)時基線代表的檢測范圍,以對缺陷準確定位。 ( ) 3.6 衰減器是用來調節(jié)檢測靈敏度的，衰減器讀數(shù)按衰減方式標出的，讀數(shù)越大，靈敏度越高。( )3.7調節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時，抑制越大，儀器動態(tài)范圍越大。( )3.8脈沖重復頻率的調節(jié)與被探工件厚度有關，對厚度大的工件，應采用較低的重復頻率。( )3.9所謂數(shù)字式超聲波探傷儀主要是指發(fā)射，接受電路的參數(shù)控制和接收信號的處理、顯示均采用數(shù)字化方式的儀器。 ( )3.10數(shù)字式超聲波探傷與模擬式超聲波探傷儀最根本的區(qū)別是，探頭接收的超聲信號需經數(shù)/模轉換，將數(shù)字信號轉換為模

14、擬信號，處理后顯示出來。 ( )3.11 在數(shù)字式超聲波探傷儀中,脈沖重復頻率又稱為采樣頻率。 ( )3.12超聲波探頭中的關鍵部件是晶片，它的作用是電能和聲能的互換。 ( )3.13 超聲波探頭發(fā)射超聲波時產生正壓電效應，接收超聲波時產生逆壓電效應。 ( )3.14 壓電材料中，單晶材料發(fā)射靈敏度較高，多晶材料接受靈敏度較高。 ( )3.15超聲波探頭所使用晶片的壓電效應不受溫度的影響。( )3.16 焊接接頭超聲波檢測用斜探頭，當楔塊底面后部磨損較大時，其折射角將變大。( )3.17雙晶直探頭由于延遲塊的存在，避免了始脈沖引起的盲區(qū)問題，可以檢測近表面缺陷和進行薄板檢測。 ( )3.18

15、縱波雙晶直探頭檢測工件時，對位于菱形聲束會聚區(qū)內缺陷的檢測靈敏度高。 ( ) 3.19雙晶探頭只能用于縱波檢測。 ( )3.20聚集探頭根據(jù)焦點形狀不同分為點聚焦和線聚焦。 ( )3.21與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。 ( )3.22使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測范圍。 ( )3.23由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭只能進行縱波檢測。( )3.24水浸聚焦探頭檢測工件時，實際焦距比理論計算值大。 ( )3.25工件表面比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。 ( )3.26探頭的工作頻率是指探頭每秒鐘內發(fā)射超聲脈沖的次數(shù)。 ( )3.27標準試塊的材質、

16、形狀、尺寸及精度，使用單位可以根據(jù)自行確定。 ( )3.28 用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的鋼板時，應采用CB-標準試塊對檢測系統(tǒng)進行 校準。 ( )3.29 CS試塊是一種適用于檢測面為曲面的鍛件檢測標準試塊。 ( ) 3.30 CSK-A試塊上50 、44、40 三孔的臺階，可用來測定斜探頭的分辨力。 ( ) 3.31 CSK-A、CSK-A、 CSK-試塊主要用于制作橫波距離-波幅曲線、校準斜探頭的 K 值、橫波掃描速度和檢測靈敏度等。 ( )3.32 CSK-A試塊上的人工反射體是1×6 。 ( )3.33 斜探頭的入射點是指其主聲束軸線與檢測面的交點。 ( )3.34

17、 測定探頭的K值或s應在近場區(qū)內進行，因為近場內聲壓最高點在聲束軸線上，測試誤差小。 ( ) 3.35 斜探頭的K值常用CSK-A試塊上的50和1.5橫孔來測定。 ( )3.36測定組合靈敏度時，可先調節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平10%，再進行測試。 ( )3.37測定“始脈沖寬度”時，應將儀器的靈敏度調至最大。 ( )3.38 儀器的垂直線性是指儀器顯示屏上時基線顯示的水平刻度與實際聲程之間成正比的程度。 ( )3.39調節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會改變儀器的水平線性。 ( )3.40 靈敏度余量就是儀器與探頭的綜合靈敏度。 ( )3.41盲區(qū)是指從探測面到能發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，與儀器

18、的阻塞時間和始脈沖寬度有關。 ( )3.42 盲區(qū)內缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。 ( )3.43為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強度應盡量調得低一些。( )4.1 脈沖反射法可分為缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。 ( ) 4.2 多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。( )4.3液浸法檢測適用于表面粗糙的試件，探頭不易磨損，耦合穩(wěn)定，檢測結果重復性好，便于實現(xiàn)自動化檢測。 ( ) 4.4 縱波法實質上就是使用直探頭進行垂直入射檢測的方法。 ( )4.5 管材和焊接接頭的超聲檢測方法主要是垂直入射法，而橫波法是垂直入射法的一種有效的輔助檢測方法。 ( )4.6 手工超聲檢測法與自

19、動超聲檢測法相比具有檢測結果準確，重復性好的優(yōu)點。 ( )4.7 超聲檢測方法中的單探頭法和雙探頭法對于工件中缺陷的檢出效果是一樣的，兩者的區(qū)別主要在探頭的數(shù)量。 ( )4.8 儀器水平線性的好壞直接影響到對缺陷當量大小的判斷。 ( )4.9 超聲檢測前應根據(jù)被檢對象的形狀、對超聲波的衰減和檢測技術要求等來選擇探頭。 ( )4.10探頭的選擇包括探頭的型式、頻率、晶片尺寸、靈敏度余量和斜探頭K值等。（ )4.11一般根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來選擇探頭的型式，使聲束軸線盡量與缺陷平行。 ( )4.12 實際檢測中，檢測面積大的工件時，為了提高檢測效率宜采用小晶片探頭。 (

20、) 4.13 檢測小型工件時，為了提高缺陷定位定量精度宜選用小晶片探頭。 （ ) 4.14超聲耦合是指超聲波在檢測面上的聲強透射率。 （ )4.15曲面工件檢測時，檢測面曲率半徑越小，耦合效果越好。 ( )4.16 對于表面不太平整,曲率較大的工件,為了減小耦合損失,宜選用大晶片探頭 。 ( )4.17 超聲檢測前，探傷儀校準的主要內容是儀器的掃描速度和檢測系統(tǒng)的水平線性校準。( )4.18 橫波掃查速度的校準方法有兩種：水平調節(jié)法和深度調節(jié)法。 ( )4.19模擬式超聲波探傷儀橫波檢測較厚工件焊縫常用深度調節(jié)法進行校準。（ )4.20 按水平距離校準橫波掃描速度必須在CSK-A試塊上進行。

21、( )4.21 數(shù)字超聲檢測系統(tǒng)校準實際上就是探頭入射零點的校準和K值測量。 （ )4.22 檢測靈敏度意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲檢測的靈敏度越高越好。 ( )4.23靈敏度的基本要素是基準反射體的幾何尺寸、基準反射體的最大探測距離、基準反射體的基準反射波高。 （ )4.24 在超聲檢測中，校準檢測靈敏度的常用方法有波高比較法和曲線對比法。兩者相比，波高比較法實際應用很方便，定量快速、準確。 ( )4.25 鍛件利用試塊法校準靈敏度主要應用于無底波、厚度尺寸小于3N的工件檢測。（ )4.26 用底波法校準靈敏度時，如底面粗糙或粘有水跡，將會使底波降低，這樣利用底波校準的靈敏度將會降低，缺

22、陷定量將會偏小。 ( )4.27 基準靈敏度和定量靈敏度是一回事， ( )4.28 在焊接接頭的超聲檢測中通常初始檢測采用掃查靈敏度進行粗掃查，這個掃查靈敏度不得低于定量線靈敏度。 ( )4.29 實際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應將檢測靈敏度降低。 ( )4.30 在選擇掃查方式時，應保證工件的整個檢測區(qū)域有足夠的聲束覆蓋，并使掃查過程中聲束盡量與缺陷垂直。 （ )4.31當工件內存在較大的內應力時，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化。（ )4.32 儀器及探頭的性能、耦合與衰減、工件幾何形狀和尺寸、缺陷自身及缺陷位置都影響缺陷的定量。 （ )4.33超聲波傾斜入射至缺陷表面時，缺

23、陷反射波高隨入射角的增大而減小。 （ ) 4.34在焊接接頭超聲檢測中,依據(jù)缺陷的靜態(tài)波形可準確地判斷缺陷性質。 ( )5.1 板材加工過程中產生的缺陷有分層、非金屬夾雜物、折疊、重皮、白點、裂紋等。( )5.2在板材超聲檢測中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，則說明板內一定有白點。 ( )5.3 在板材超聲檢測中，其耦合方式有直接接觸法和液浸法。 ( )5.4 為提高工作效率，應采用較大直徑的探頭對較薄的鋼板進行檢測。 ( )5.5由于板材在軋制過程中，缺陷往往沿壓延方向延伸，因此探頭移動方向應與壓延方向垂直。 ( )5.6 JB/T4730.32005標準規(guī)定,對板厚不大于20mm碳素鋼鋼板超聲波

24、檢測時,用CBI試塊將工件等厚度部位第一次底波高度調整到滿刻度的50%,再提高14dB作為基準靈敏度。( )5.7 JB/T4730.32005標準規(guī)定，板厚大于 10 mm 到 40 mm鋼板的超聲檢測探頭，應選用探頭晶片尺寸為14 20 mm ，公稱頻率為 2.5 MHz的單晶直探頭。 ( )5.8鋼板常用的掃查方式為全面掃查、列線掃查、邊緣掃查、格子線掃查。( )5.9鋼板檢測時，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷。( )5.10 JB/ T4730.32005標準規(guī)定,對鋼板進行超聲檢測時，如發(fā)現(xiàn)缺陷指示面積小于 9 cm2，鋼板可評為級。 ( )5.11 JB/ T4730.32005標準

25、規(guī)定,鋼板進行橫波檢測時,對板厚超過50mm的鋼板,應在試塊的上下底面各加工一個尖角槽。 ( )5.12 JB/ T4730.32005標準規(guī)定,鋼板檢測時若單個缺陷的指示長度小于40mm時，可不作記錄。()5.13JB/ T4730.32005標準規(guī)定,若1m×1m鋼板中只有10mm長的一處裂紋,該鋼板可評定為級。 ( )5.14 利用雙晶直探頭確定缺陷邊界或指示長度時,探頭移動方向應與探頭分割面平行。( )5.15 復合鋼板超聲檢測時，可以從基板一側檢測,也可從復板一側檢測。 ( )5.16 復合鋼板超聲波檢測主要對象是檢測基板和復板層各自的缺陷。 ( )5.17 復合鋼鋼板缺陷

26、的等級評定主要是針對未貼合缺陷而言的。 ( )5.18 復合板進行沿鋼板寬度方向掃查時，間隔為100mm的平行線。( )5.19JB/T4730.32005標準規(guī)定，將探頭置于復合板完全結合部位,調節(jié)第一次底波高度為顯示屏滿刻度的80%，以此作為基準靈敏度。 ( )5.20 JB/T4730.32005標準規(guī)定，復合板檢測時，第一次底波低于示波屏滿刻度的5%，且未結合缺陷反射波大于20%時，該部位稱為未結合。 ( )5.21 無縫鋼管中常見缺陷有裂紋、折疊、分層等。 ( )5.22小徑管采用液浸法進行超聲檢測時，以橫向缺陷檢測為主。 ( )5.23 小徑管采用液浸法進行超聲檢測時, 水層距離應

27、根據(jù)聚焦探頭的焦距確定。 ( ) 5.24 20×1.5mm 的無縫鋼管可以按照 JB/T4730.32005標準進行超聲波檢測。( )5.25 JB/T4730.32005標準規(guī)定，無縫鋼管的超聲檢測時，每根鋼管應從管子兩端沿相反方向各檢測一次。 ( ) 6.1 鍛件缺陷主要有縮孔、疏松、夾雜、白點、折疊、裂紋等。( )6.2軸類鍛件，一般來說用縱波直探頭作軸向探測，檢測效果最佳。 ( )6.3 使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時，探頭應用正反兩個方向掃查。( )6.4對餅形鍛件采用縱波直探頭作徑向探測是最佳的檢測方法。 ( )6.5 對筒類鍛件采用縱波直探頭從端面檢測主要發(fā)現(xiàn)

28、與軸線平行的徑向缺陷。 ( )6.6 筒類鍛件為檢測與檢測面成一定傾角的徑向缺陷，應采用橫波斜探頭進行檢測。( )6.7鍛件的晶粒比較細小，單晶直探頭常采用頻率2.5MHz5MHz，雙晶直探頭常采用頻率5MHz。( )6.8 鍛件檢測時如出現(xiàn)“林狀回波”，應選用頻率較高的探頭，如5MHz探頭。 ( )6.9JB/T4730.32005標準規(guī)定，壓力容器用碳鋼和低合金鋼鍛件超聲波檢測時，若工件檢測距離小于 45 mm ，則應采用 CB標準試塊檢測。 ( )6.10模擬式超聲波探傷儀可利用已知尺寸的試塊或鍛件用始波和一次反射波進行掃描速度的校準。 ( )6.11鍛件超聲檢測時，波高比較法的檢測靈敏

29、度校準方法有兩種，一種是試塊法，另一種是底波法。 ( )6.12 用底波法校準鍛件檢測靈敏度適用于鍛件被檢部位厚度小于3N 鍛件。 ( )6.13 用底波法校準鍛件檢測靈敏度與實際掃查在同一面上，可不用考慮表面耦合補償。( ) 6.14 用試塊法校準鍛件檢測靈敏度，當試塊表面形狀、粗糙度與鍛件不同時,要進行耦合補償。 ( )6.15 利用工件底波校準檢測靈敏度，由于是同材質，所以在對缺陷定量時不需考慮材質衰減。 ( ) 6.16 在鍛件檢測中,對于尺寸大于聲束截面的缺陷一般采用當量法定量。 ( )6.17 在鍛件檢測中, 對于尺寸小于聲束截面的缺陷一般采用測長法來測定缺陷的指示面積。( ) 6

30、.18 在鍛件檢測中,對于尺寸大于聲束截面的缺陷一般采用半波高度法測定缺陷的指示長度或面積。 ( )6.19 在鍛件檢測中,顯示屏上的反射波可分為單個、分散、密集、游動缺陷反射波及底面回波。( ) 6.20 鍛件超聲檢測中，當缺陷回波很高、并有多次重復反射,而底波嚴重下降甚至消失,說明鍛件中存在平行于檢測面的大面積缺陷。 ( )6.21 鍛件超聲檢測中，常見的非缺陷回波分為三角反射波、遲到波、密集缺陷反射波。 ( ) 6.22 JB/T4730.32005標準規(guī)定,檢測面是曲面時，應采用CS試塊來測定由于曲率不同引起的聲能損失。 ( )6.23 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測標準

31、規(guī)定，碳鋼和低合金鋼鍛件超聲檢測時，應記錄當量直徑超過3mm 的單個缺陷的波幅和位置。 ( )6.24 JB/T4730.32005 標準規(guī)定，碳鋼和低合金鋼各類鍛件超聲檢測時，應記錄大于或等于4 mm 當量直徑的缺陷密集區(qū)。 ( )6.25JB/T4730.32005標準規(guī)定，碳鋼和低合金鋼鍛件的缺陷等級評定包括單個缺陷的等級評定，缺陷引起的底波降低量等級評定和密集區(qū)缺陷等級評定。 ( )6.26 JB/T4730.32005標準規(guī)定，缺陷引起底波降低量劃分鍛件質量等級的方法不適用于近場區(qū)內的缺陷。 ( )6.27 JB/T4730.32005標準規(guī)定，在靠近缺陷處的無缺陷完好區(qū)內第一次底波

32、幅度 BG 與缺陷區(qū)域內的第一次底波幅度 BF 之比值 BG/BF （dB）稱為由缺陷引起的底波降低量。( ) 6.28鍛件檢測時，如缺陷被檢測人員判定為白點，則應按照密集缺陷評定鍛件等級。( )6.29 鑄件中主要缺陷有孔洞類缺陷、裂紋冷隔類缺陷、夾渣類缺陷以及成分類缺陷。( )6.30 在鑄件超聲檢測中,檢測靈敏度根據(jù)一組系列平底孔試塊測定的距離波幅曲線進行調節(jié)。 ( )7.1 焊接接頭中的氣孔是體積型缺陷，而裂紋、未熔合、未焊透、夾渣是面積型缺陷。 ( )7.2 超聲檢測時基掃描速度的調整方法可分為聲程顯示調整法、水平距離顯示調整法、深度顯示調整法。( )7.3 在顯示屏上繪制距離波幅曲

33、線時,在檢測范圍內不低于顯示屏滿刻度的20% 。( )7.4 在焊接接頭超聲檢測中，根據(jù)在試塊上測得的數(shù)據(jù)繪制而成的距離波幅曲線，若要計入表面補償3dB ，則應將三條線同時上移3dB 。 ( )7.5 在焊接接頭超聲檢測中，可以用降低檢測面光潔度要求，而用提高耦合補償量的方法來達到檢測目的。 ( )7.6 干擾回波的幅度及其數(shù)量不僅與回波源的形狀、大小、高低有關，而且還與檢測靈敏度的高低及選用的探頭K值大小有關。 ( )7.7 在焊接接頭超聲檢測中，探頭前端部可能堆積耦合劑而引起回波，若抹掉探頭前端部耦合劑則此波消失。 ( )7.8 無論遠距探頭一側，還是近距探頭一側，上、下焊角都會產生干擾回

34、波。 ( )7.9 在焊接接頭超聲檢測中，為了確定是否焊角干擾回波,可用手指沾上耦合劑敲打焊角位置。( ) 7.10 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測標準規(guī)定，鋼制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測檢測面曲率半徑RW2/4時,距離波幅曲線的繪制應在與檢測面曲率相同的對比試塊上進行。( ) 7.11 端點6dB 法適用于測長過程中缺陷波中只有一個高點的情況。 ( )7.12 在焊接接頭超聲檢測中，波幅在判廢線或判廢線以上的缺陷予以判廢和返修，因此無需測長。( ) 7.13 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測標準規(guī)定，鋼制對接焊接接頭超聲波檢測定量時，若相鄰兩缺陷在一條直線上，其間

35、距小于其中較小的缺陷長度時,應作為一條缺陷處理,以兩缺陷的指示長度之和作為其指示長度(間距不計入缺陷長度)。 ( )7.14 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測標準規(guī)定，為了防止缺陷漏檢，檢測焊縫中縱、橫向缺陷必須采用相同的掃查靈敏度。 ( )7.15 板厚為 20 mm的對接焊接接頭，采用 K =2 的探頭進行水平1:1掃描調節(jié)檢測時，若顯示屏上讀出缺陷的水平距離為50 mm，則缺陷深度為15 mm 。( )7.16 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測標準規(guī)定，鋼制對接焊接接頭超聲檢測中，最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺陷均應評為級。 ( )7.17 JB/T4730.

36、32005承壓設備無損檢測 標準規(guī)定,曲面工件縱向對接焊接接頭超聲檢測時，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲球半徑之差應小于 10 。 ( )7.18 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測 標準規(guī)定，曲面工件環(huán)向對接焊接接頭超聲檢測時時，對比試塊的曲率半徑應與檢測面曲率半徑一致。 ( )7.19 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測標準規(guī)定,對堆焊層檢測應從母材或堆焊層一側進行。如對檢測結果有懷疑時，也可從另一測進行補充檢驗。 （ )7.20 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測標準規(guī)定,對60×8的承壓設備管子和壓力管道環(huán)向對接焊接接頭超聲檢測可采用GS2型試塊。

37、 ( )7.21 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測標準適用于壁厚大于或等于6mm ，外徑為32mm159mm 或壁厚為4mm6mm ，外徑大于或等于159mm的承壓設備管子和壓力管道環(huán)向對接接頭的超聲檢測。 ( )7.22 JB/T4730.32005承壓設備無損檢測標準規(guī)定,對在用壓力管道環(huán)向焊縫對接接頭超聲檢測時，應根據(jù)在用工業(yè)管道定期檢驗規(guī)程等技術規(guī)程的要求對缺陷的超聲檢測結果進行記錄。( )7.23 JB/T4730.3 2005承壓設備無損檢測標準規(guī)定,超聲檢測技術等級分為 A 、B、C 三個檢測級別，超聲檢測技術等級選擇應符合制造、安裝、在用等有關規(guī)范、標準及設計圖樣規(guī)定。( ) 7.24 按照JB/T4730.32005承壓設備無損檢測規(guī)定，當采用兩種或兩種以上的檢測方法對承壓設備的同一部位進行檢測時,應按照各自的方法評定級別。 ( ) 7.25 超聲波焊縫橫波檢測時采用液態(tài)耦合劑，說明橫波可以通過液態(tài)介質薄層。 ( )7.26 焊縫檢