電氣性能報告模板tes10t96測試報告

1、項目名稱 Norflash 測試報告密級：B密級：B項目名稱Nor_flash 測試報告<這里用一句話說明一下這個文檔的目的>評審者字體使用時刪除1）文檔提交評審時需要給評審者預留足夠的評審時間。需要哪些人評審依據(jù)項目的范圍由項目團隊界定。2）在本文檔的撰寫過程中，需要與相關利益人交流（清勿到開始評審與的相關利益人進行交流，這樣效率低，而且評審效果也比較差），請將撰寫過程列在附件里面。流修訂第 118 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以頁 共拷貝日期修訂版本修改者修改描述部門/專業(yè)組評審者評審日期主送對象抄送對象項目名稱 Norflash 測試報告密級：B目錄目錄21.2.測試匯總表

2、3測試環(huán)境和條件32.1 測性質32.22.32.4試樣（DUT）3儀器和輔助3測試、時間和地點33.4.測試依據(jù)和參考標準3測試模型及配置44.1 DUT 配置44.2 實驗儀器配置45. CPU 端電平測試45.1 測試結果45.2 測試步驟55.3 檢測點和判據(jù)65.4 測試. 66.Nor_flash 端電平測試76.1 測試結果76.2 測試步驟86.36.4檢測點和判據(jù)9測試97.Nor_flash 讀操作時序測試117.1 測試結果117.2 測試步驟117.3 檢測點和7.4 測試判據(jù)12. 128.Nor_flash 寫操作時序測試148.1 測試結果148.2 測試步驟14

3、8.3 檢測點和判據(jù)158.4 測試159. 測試. 1810. 測試發(fā)現(xiàn)的和分析18第 2 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝項目名稱 Norflash測試報告密級：B1. 測試匯總表2. 測試環(huán)境和條件2.1 測性質如：樣機例試、bug回歸等2.2試樣（DUT）2.3儀器和輔助2.4測試、時間和地點3. 測試依據(jù)和參考標準第 3 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝測試項執(zhí)行人開始時間結束時間環(huán)境溫度環(huán)境濕度測試地點Cpu 端電平測試Nor_flash 端電平測試Nor_flash 讀時序測試Nor_flash 寫時序測試名稱型號規(guī)格說明數(shù)量示波器探頭萬用表型

4、號硬件版本版本（boot、CTL、Main）測試程序版本生產(chǎn)序列號測試項目結果（Pass/Fail）測試審核Cpu 端電平測試Nor_flash 端電平測試Nor_flash 讀時序測試Nor_flash 寫時序測試項目名稱 Norflash 測試報告密級：B4. 測試模型及配置4.1 DUT 配置硬件配置為：M7606-CM IIIV1.0樣機配置為：Boot：10.2.45514Ctrl: RGNOS 10.3.00(3),Main：無Hardware_test：31117Release(50932)4.2實驗儀器配置5. CPU 端電平測試5.1 測試結果第 4 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)

5、銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝測試項目規(guī)格結果Pass / FailCPU 端信號電平FLASH 發(fā)出信號的FLASH 發(fā)出信號的 DC 電測試項目示波器測試模板萬用表Cpu 端電平測試電阻檔-在試樣上電之前測試示波器地和試樣地之間的電阻值； AC 電壓檔-在試樣上電之后測試示波器地和試樣地之間的 AC 電壓值。Nor_flash 端電平測試電阻檔-在試樣上電之前測試示波器地和試樣地之間的電阻值； AC 電壓檔-在試樣上電之后測試示波器地和試樣地之間的 AC 電壓值。Nor_flash 讀時序測試電阻檔-在試樣上電之前測試示波器地和試樣地之間的電阻值； AC 電壓檔-在試樣上電之后測試示波器地和試

6、樣地之間的 AC 電壓值。Nor_flash 寫時序測試電阻檔-在試樣上電之前測試示波器地和試樣地之間的電阻值； AC 電壓檔-在試樣上電之后測試示波器地和試樣地之間的 AC 電壓值。項目名稱 Norflash 測試報告密級：B5.2 測試步驟1)按照測試準備.doc文檔進試前的準備：測試準備.doc2）將 PP007SDA6050 的通道 1，將 PP007SDA6050 的通道 2，將 PP005 插入 SDA6050 的通道 3，通道 3 的探頭對應數(shù)據(jù)信號，通道 1 和 2 和信號的對應沒有要求；3）打開 SDA6050 示波器，并調用測試模板：Cpu_Nor_flash_dianpi

7、ng_test.lss； 4）安裝 Hardware_test 測試程序，并進入 Hardware_test 測試程序界面； 5）按照預先選擇的測試點，進行信號測試；6）在 Hardware_test 下，用 nor_rd 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100 發(fā)起對 Nor_flash 的讀操作，并確認讀操作7） 點擊示波器的 clear 按鈕將示波器清屏；8） DC 電平測試：由于 Local_bus 地址線和數(shù)據(jù)線復用，不能使用統(tǒng)計的方式，必須采用逐個抓取的方式，將地址信號和數(shù)據(jù)信號區(qū) 來，CE#和 OE#都為低電平區(qū)域為 CPU

8、 的輸入數(shù)據(jù)信號，用 TOP 和 base 值計算 DC 電平值。9） 保存 DC 電平測試波形；10） 點擊示波器的 clear 按鈕將示波器清屏；11） 過沖測試：Local_bus 地址線和數(shù)據(jù)線，用數(shù)據(jù)信號觸發(fā)出過沖盡量嚴重的信號， 用游標卡出數(shù)據(jù)信號在 3.465V 處的時間寬度，保存波形；如果過沖沒有超過 3.465V， 那么將光標放在 3.465V 處，保存波形；CE#和 OE#都為低電平區(qū)域為 CPU 的輸入數(shù)據(jù)信號。12） 點擊示波器的 clear 按鈕將示波器清屏；13） 下沖測試：Local_bus 地址線和數(shù)據(jù)線，用數(shù)據(jù)信號觸發(fā)出下沖盡量嚴重的信號， 用游標卡出數(shù)據(jù)信號

9、在-0.3V 處的時間寬度，保存波形；如果下沖沒有低于-0.3V， 那么將光標放在-0.3V 處，保存波形；CE#和 OE#都為低電平區(qū)域為 CPU 的輸入數(shù)據(jù)信號。14） 按照步驟7）到 13）完成所有信號測試；15）拍攝 1 張體現(xiàn)如下信息：(命名為：（被測信號名）.jpg；如 LAD1.jpg)第 5 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝測試DC 電平需要滿足MPC8313 的輸入指標要求平滿足 MPC8313 的輸入指標要求FLASH 發(fā)出信號的上 下 沖 需 要 滿 足MPC8313 的輸入指標要求FLASH 發(fā)出信號的上下沖滿足 MPC8313 的輸入指標要求變更說明

10、變更無無結論和說明： 無項目名稱 Norflash 測試報告密級：B 數(shù)據(jù)信號對應探頭的點觸位置靠近 CPU 端，CE#和 OE#對應探頭的點觸位置靠近 Nor_flash 端； 大致體現(xiàn)出示波器上的顯示波形;測試完成！5.3 檢測點和判據(jù)5.4 測試5.4.1 測試指標指標參見測試表5.4.2 測試表格數(shù)據(jù)線按照 1：2 的比例進試。 1.8.1.1 DC 測試_表格表（1.8.1.1）DC 測試_表格Note(1):Vih 和 Vil 這兩個參數(shù)都達標，則填入：PASS；否則填入：FAIL。第 6 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝數(shù) 據(jù)信號測 試點參考信號參 考信 號測

11、試點Vih 指標(V)Vil 指標(V)Vih 測試值(V)Vil 測試值 (V)PASS/FAIL（1）LAD1CE#/OE#2.1，3.6-0.3,0.8LAD4CE#/OE#同上同上LAD6CE#/OE#同上同上LAD7CE#/OE#同上同上檢驗點判據(jù)是否（Y/N）備注防靜電是否已經(jīng)帶上靜電環(huán)？接地試樣地和示波器地是否接觸充分？數(shù)據(jù)信號測試點測試點是否靠近 CPU 端？抓取的波形抓取的波形是否是對Nor_flash 讀操作的波形？信號質量差的信號（過沖大，有臺階）信號質量差的信號是否已經(jīng)加入到 flash 讀操作的時序測試中？電平測試指標當前被測 CPU，電平指標是否已經(jīng)更新？項目名稱

12、Norflash 測試報告密級：B 1.8.1.2 過沖/下沖測試_表格表（1.8.1.2）過沖下沖測試_表格Note(1):過沖和下沖這兩個參數(shù)都達標，則填入：PASS；否則填入：FAIL。5.4.3波形6. Nor_flash 端電平測試6.1 測試結果第 7 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝測試項目規(guī)格結果Pass / FailNor_flash 端電平測試CPU 發(fā)出信號的 DC 電 平 需 要 滿 足FLASH 的輸入指標要求CPU 發(fā)出信號的DC 電平滿足 FLASH 的輸入指標要求CPU 發(fā)出信號的上下沖需要滿足 FLASH 的輸入指標要求CPU 發(fā)出信號的上下

13、沖滿足 FLASH 的輸入指標要求變更說明變更備注：波形數(shù) 據(jù)信號測試點參考信號參考信號測試點過沖指標下沖指標過沖 測試值下沖測試值PASS/FAIL（1）LAD1CE#/OE #過沖：-,3.96V下沖:-0.7,-V3.465V 處的過沖寬度:-, 3 ns-0.3V 處的下沖寬度: -, 3 nsLAD4CE#/OE #同上同上同上同上LAD6CE#/OE #同上同上同上同上LAD7CE#/OE #同上同上同上同上項目名稱 Norflash 測試報告密級：B6.2 測試步驟1）按照測試準備.doc文檔進試前的準備：測試準備.doc2）將 PP009SDA6050 的通道 1，將 PP00

14、7SDA6050 的通道 2，將 PP005 插入 SDA6050 的通道 3，通道 3 的探頭對應數(shù)據(jù)信號，通道 1 和 2 和信號的對應沒有要求；3）打開 SDA6050 示波器，并調用測試模板：Nor_flash_cpu_dianping_6050.lss； 4）安裝 Hardware_test 測試程序，并進入 Hardware_test 測試程序界面； 5）按照預先選擇的測試點，進行信號測試；6） 在 Hardware_test 下，用 nor_wr 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100 發(fā)起對 Nor_flash 的寫操作,

15、測試除 OE#外的所有信號；7） 點擊示波器的 clear 按鈕將示波器清屏；8） DC 電平測試：Flash 端數(shù)據(jù)測試：由于 Local_bus 地址線和數(shù)據(jù)線復用，不能使用統(tǒng)計的方式，必須采用逐個抓取的方式，將地址信號和數(shù)據(jù)信號區(qū)信號均為低電平區(qū)域，為寫操作數(shù)據(jù)；來，在 CE 信號和 laleFlash 端地址測試：在 CE 信號為低電平，從 lale 信號為高電平開始，為發(fā)給flash 的地址；Flash 端信號測試：在 CE 信號為低電平區(qū)域，為發(fā)給 flash 的信號；9） 保存 DC 電平測試波形；10） 點擊示波器的 clear 按鈕將示波器清屏；11）上沖測試：用數(shù)據(jù)/地址/

16、信號觸發(fā)出過沖盡量嚴重的信號；如果過沖超過 5.3V，用游標卡出數(shù)據(jù)信號在 5.3V 處的時間寬度，保存波形；如果過沖小于 5.3V，但是上沖較大，保存的波形需要清晰地體現(xiàn)出過沖的寬度（超過 3.6V 的寬度）和上沖的最大值；12）點擊示波器的 clear 按鈕將示波器清屏；13）下沖測試：用數(shù)據(jù)/地址/信號觸發(fā)出下沖盡量嚴重的信號；如果下沖小于-2V，用游標卡出信號在-2V 處的時間寬度，保存波形；如果下沖大于-2V，但是下沖比較大，保存的波形需要清晰地體現(xiàn)出下沖的寬度（超過-0.5V 的寬度）和下沖的最小值；14） 按照步驟7）到 13）完成除 OE#外的所有待測信號測試；15） 在 Ha

17、rdware_test 下，用 nor_rd 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100發(fā)起對 Nor_flash 的讀操作；16） 按照步驟7）到 13）測試 OE#信號電平和過沖；17）拍攝 1 張體現(xiàn)如下信息：(命名為：（被測信號名）.jpg；如 LAD1.jpg)需要體現(xiàn)出：被測信號和參考信號對應的探頭，點觸位置靠近 flash 端；第 8 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝無無結論和說明： 無項目名稱 Norflash測試報告密級：B 需要大致體現(xiàn)出示波器上的顯示波形測試完成！6.3 檢測點和判據(jù)6.4 測試6.4.

18、1 測試指標指標參見測試表6.4.2 測試表格數(shù)據(jù)線按照 1：2 的比例進信號全測。試；地址線按照 1：2 的比例進試， 2.8.1.1 DC 測試_表格表（2.8.1.1）DC 測試_表格第 9 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝數(shù)據(jù)信號測試點參考信號參考信號測試點Vih 指標(V)Vil 指標(V)Vih 測試值(V)（1）Vil 測試值(V)（2）PASS/FAIL（3）Q1CE# 和LALE2.31 ，3.6-0.5,0.8Q3同上同上同上Q5同上同上同上Q7同上同上同上A1CE#同上同上A2CE#同上同上A7CE#同上同上A8CE#同上同上A10CE#同上同上A11C

19、E#同上同上A13CE#同上同上檢驗點判據(jù)是否（Y/N）備注防靜電是否已經(jīng)帶上靜電環(huán)？接地試樣地和示波器地是否接觸充分？數(shù)據(jù)信號測試點測試點是否靠近 FLASH 端？信號質量差的信號（過沖大，有臺階）信號質量差的信號是否已經(jīng)加入到 flash 讀操作的時序測試中？電平測試指標當前被測 FLASH，電平指標是否已經(jīng)更新？項目名稱 Norflash 測試報告密級：BNote:（1） ：此參數(shù)情況，則（2） ：此參數(shù)Top 函數(shù)值，Top 函數(shù)可能會統(tǒng)計到類似 max=3.438V，min=0.079V為-,3.438V；Base 函數(shù)值；（3）：Vih 和 Vil 這兩個參數(shù)都達標，則填入：PAS

20、S；否則填入：FAIL。2.8.1.2 過沖/下沖測試_表格表（2.8.1.2）過沖下沖測試_表格Note(1):上沖下沖指標都達標，則填入：PASS；否則填入：FAIL。6.4.3波形第 10頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝備注：數(shù) 據(jù)信號測試點參考信號參考信號測試點過沖指標下沖指標過沖測試值下沖測試值PASS/FAIL（1）Q1CE#和LALE5.3V 處的過 沖 寬度 :-, 20ns-2V 處的下沖寬度: -, 20nsQ3同上同上同上Q5同上同上同上Q7同上同上同上A1CE#同上同上A2CE#同上同上A7CE#同上同上A8CE#同上同上A10CE#同上同上A11CE

21、#同上同上A13CE#同上同上A14CE#同上同上A15CE#同上同上A17CE#同上同上OE#CE#同上同上WE#CE#同上同上CE#/同上同上A14CE#同上同上A15CE#同上同上A17CE#同上同上OE#CE#同上同上WE#CE#同上同上CE#/同上同上項目名稱 Norflash測試報告密級：B7. Nor_flash 讀操作時序測試7.1 測試結果7.2 測試步驟1）按照測試準備.doc文檔進試前的準備：測試準備.doc2）將 PP009SDA6050 的通道 1，將 PP007SDA6050 的通道 2，將 PP005 插沒有要求；入 SDA6050 的通道 3，通道和被測信號的對

22、應3）打開 SDA6050 示波器，并調用測試模板：Nor_flash_read_timing_6050.lss； 4）安裝 Hardware_test 測試程序，并進入 Hardware_test 測試程序界面； 5）按照預先選擇的測試點，進行信號測試；6） 在 Hardware_test 下，用 nor_rd 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100 發(fā)起對 Nor_flash 的讀操作；7） 點擊示波器的 clear 按鈕將示波器清屏；8）按照 Nor_flash 測試指標中的說明，進試，時序值用游標卡出；9）保存時序測試波形，波形需

23、要能清楚的體現(xiàn)時序；10）拍攝 1 張體現(xiàn)如下信息：(命名為：（被測信號名）.jpg；如 LAD1.jpg)需要體現(xiàn)出：數(shù)據(jù)信號對應探頭的點觸位置靠近 CPU 端，CE#和 OE#對應探頭的點觸位置靠近 Nor_flash 端； 需要大致體現(xiàn)出示波器上的顯示波形。測試完成！第 11 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝測試項目規(guī)格結果Pass / FailNor_flash 讀操作時序測試Nor_flash 輸出的時序需要滿足 CPU 的輸入時序要求Nor_flash 輸出的時序滿足CPU 的輸入時序要求變更說明變更無無結論和說明： 無波形項目名稱 Norflash 測試報告密級

24、：B7.3 檢測點和判據(jù)7.4 測試7.4.1 測試參數(shù)說明讀操作測試參數(shù)說明如下：表（3.8.1）測試參數(shù)說明表（3.8.1）測試參數(shù)說明第 12 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝參數(shù)測試說明Value1測試值 Value1 為讀操作時，地址信號有效到地址信號無效的時間間隔，這是 Nor_flash 讀操作的輸入指標要求。對于地址和數(shù)據(jù)復用的 CPU（如 8313，8548 等），TRC 是 LALE兩次有效的時間間隔；對于地址和數(shù)據(jù)不復用的CPU（8241，8248 等），則需通過測試發(fā)送給flash 地址信號得出 TRC 參數(shù)值。Value2輸入給 CPU 的數(shù)據(jù)信號有

25、效，到 LCLK 的上升沿的時間間隔，其中這個 LCLK 的上升沿為：最靠近OE#上升沿的LCLK 上升沿。Value3LCLK 的上升沿到輸入給CPU 的數(shù)據(jù)信號無效的時間間隔，其中這個 LCLK 的上升沿為：最靠近OE#上升沿的LCLK 上升沿。Value4復位信號跳變?yōu)楦唠娖?，到讀操作之間的時間間隔。Value5復位信號有效的寬度。圖（8.3）復位時序描述指標說明tRCValue1nsSetup timeValue2nsHold timeValue3nstRHValue4ustRPValue5ns檢驗點判據(jù)是否（Y/N）防靜電是否已經(jīng)帶上靜電環(huán)？接地試樣地和示波器地是否接觸充分？數(shù)據(jù)信號

26、測試點測試點是否靠近 CPU 端？抓取的波形是否對 Nor_flash 的讀操作波形時序指標當前被測 CPU，時序指標是否已經(jīng)更新？項目名稱 Norflash 測試報告密級：B表（3.8.1）測試說明7.4.2 測試表格數(shù)據(jù)線按照 1：2 的比例進試；測試前請確認 local_bus 的工作時鐘，并填寫：Tlclk 的值。第 13 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝測 試指標被測信號測試點參考信號參考信號測試點要求值實測值Pass/failTrcLale/建 立時間LAD1LAD4LAD5LAD6保 持時間LAD1LAD4LAD5LAD6tRHRESET#tRPRESET#參數(shù)

27、參數(shù)值Tlclk30nsTRC 測試對于地址和數(shù)據(jù)復用的CPU（如 8313，8548 等），這個參數(shù)值是 LALE 兩次有效的時間間隔；對于地址和數(shù)據(jù)不復用的 CPU（8241，8248 等），則需通過測試給flash地址信號得出TRC 參數(shù)值；讀操作時序測試當 CE 信號和OE 信號為低電平，此時數(shù)據(jù)線的信號為 CPU 的輸入信號，測試相對于 OE信號無效前一個時鐘的數(shù)據(jù)線建立保持時間。如果測試值大于一個操作時鐘，則按一個操作時鐘進行；復位相關測試按照圖（3.8.1）復位時序進試；測試電平輸入給 flash 信號的高電平點為：2.1V，低電平點為：0.8V。項目名稱 Norflash測試報

28、告密級：B7.4.3波形8. Nor_flash 寫操作時序測試8.1 測試結果8.2 測試步驟1）按照測試準備.doc文檔進試前的準備：測試準備.doc2）將 PP009SDA6050 的通道 1，將 PP007SDA6050 的通道 2，將 PP005 插沒有要求；入 SDA6050 的通道 3，通道和被測信號的對應3）打開 SDA6050 示波器，并調用測試模板：Nor_flash_write_timing_6050.lss； 4）安裝 Hardware_test 測試程序，并進入 Hardware_test 測試程序界面； 5）按照預先選擇的測試點，進行信號測試；6） 在 Hardwa

29、re_test 下，用 nor_wr 0x00150000 0x0015ffff 0x5a5a5a5a 0xa5a5a5a5 100 發(fā)起對 Nor_flash 的寫操作7） 點擊示波器的 clear 按鈕將示波器清屏；第 14 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝測試項目規(guī)格結果Pass / FailNor_flash 寫操作時序測試Cpu 發(fā)出的寫操作時序 需 要 滿 足Nor_flash 的輸入時序要求Cpu 發(fā)出的寫操作時序滿足 Nor_flash 的輸入時序要求變更說明變更無無結論和說明： 無備注波形項目名稱 Norflash 測試報告密級：B8）按照 Nor_flas

30、h 測試指標中的說明，進試，時序值用游標卡出；9）保存時序測試波形，波形需要能清楚的體現(xiàn)時序；10）拍攝 1 張體現(xiàn)如下信息：(命名為：時序名稱.jpg，比如：Tas.jpg)需要體現(xiàn)出：被測信號和參考信號對應的探頭，點觸位置靠近 flash 端； 需要大致體現(xiàn)出示波器上的顯示波形。測試完成！8.3 檢測點和判據(jù)8.4 測試8.4.1 測試參數(shù)說明表(8.4.1)Nor_flash 寫操作時序表（8.4.1）S29AL016D70 寫操作參數(shù)第 15頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝描述實測值tWCValue1nsS29AL016D70 寫操作時序（WE# controlled

31、）檢驗點判據(jù)是否（Y/N）防靜電是否已經(jīng)帶上靜電環(huán)？接地試樣地和示波器地是否接觸充分？數(shù)據(jù)信號測試點測試點是否靠近 CPU 端抓取的波形需要是對 Nor_flash 的讀操作波形項目名稱 Norflash 測試報告密級：B表（8.4.1）測試參數(shù)說明表（8.4.1）測試說明8.4.2 測試表格數(shù)據(jù)線按照 1：4 的比例進信號全測試；地址線按照 1：8 的比例進試，第 16 頁 共 18 頁福建星網(wǎng)銳捷本公司同意，嚴禁以拷貝測試指標測試信號測 試點參考信號參考信號測試點指標實測值PASS/FAILtWCLaletCS（WE# control）WE#tCH（WE# control）WE#tWP（WE# control）WE#對于內(nèi)存和 flash 不共用地址線和數(shù)據(jù)線和信號的被測（如 8313、8533、8548、8572 等）TWCLALE 兩次有效的時間間隔測試數(shù)據(jù)信號需要的參考信號為：CE#和 lale，在 CE#信號和 lale 信號均為低電平區(qū)域，為寫操作數(shù)據(jù)；測試地址信號需要的參考信號為：CE#，在 CE#信號為低電平，為發(fā)給 fla