電壓暫降短時(shí)中斷的電壓變化的抗擾度試驗(yàn)

1、電壓暫降短時(shí)中斷的電壓變化的抗擾度試驗(yàn)電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降短時(shí)中斷的電壓變化的抗擾度試驗(yàn)Electromagneticcompatibility-Testing and measurement techniques Voltage dips,interrruption and voltage variationsimmunitytestsGB/T17626.11-1999Idt IEC 61000-4-11:19941 范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了與低壓供電網(wǎng)連接的電子氣和電子設(shè)備對(duì)電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)方法和優(yōu)選的試驗(yàn)等級(jí)范圍.本標(biāo)準(zhǔn)適用于額定輸入電流每相不超過16A的電氣和

2、電子設(shè)備.本標(biāo)準(zhǔn)不適用于與直流網(wǎng)絡(luò)或400HZ交流網(wǎng)絡(luò)相連接的電氣和電子設(shè)備2. 引用標(biāo)準(zhǔn) GB/T4365-1995電磁兼容術(shù)語 GB/T17626.1-1998電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論 IEC68-1:1998環(huán)境試驗(yàn)第1部分總則和導(dǎo)則 IEC61000-2-1:1990電磁兼容性第二部分:第1部分 環(huán)境的描述公共供電網(wǎng)中低 頻傳導(dǎo)騷擾的信號(hào)傳輸?shù)碾姶怒h(huán)境 IEC61000-2-1:1990電磁兼容性第二部分:第2部分 低壓公共供電網(wǎng)中低 頻傳導(dǎo)騷擾的信號(hào)傳播的兼容性水平3. 概述 電壓暫降,短時(shí)中斷是由電網(wǎng),電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大變化引起的,在某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次

3、或更多次連續(xù)的暫降或中斷.電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的.4 定義4.1 基礎(chǔ)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)basic EMCstandard為達(dá)到EMC而給出的通用和基本的條件或規(guī)則的標(biāo)準(zhǔn),它們與所有的產(chǎn)品和系統(tǒng)有關(guān),并適用天所有產(chǎn)品和系統(tǒng),而且可作為有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)的參考文件.4.2 抗擾度immunity (to disturbance)裝置,設(shè)備或系統(tǒng)面臨電磁騷擾不降低運(yùn)行性能的能力4.3 電壓暫降 voltage dip在電氣某一點(diǎn)的電壓突然下降,經(jīng)歷半個(gè)周期到幾秒種的短暫持續(xù)期后恢復(fù)正常4.4 短時(shí)中斷shortinterrruption供電電壓消失一段時(shí)間,一般不超過1min,短

4、時(shí)中斷可以認(rèn)為是100%幅值的電壓暫降4.5 電壓變化 voltagebariation供電電壓逐漸變得高于或低于額定電壓,變化的持續(xù)時(shí)間相對(duì)于周期來說,可長(zhǎng)可短4.6故障 malfunction設(shè)備執(zhí)行預(yù)定功能能力的終止,或此設(shè)備執(zhí)行非預(yù)定功能.5 試驗(yàn)等級(jí)本標(biāo)準(zhǔn)以設(shè)備的額定電壓(Ut)作為規(guī)定電壓試驗(yàn)等級(jí)的基礎(chǔ)5.1 電壓暫降和短時(shí)中斷Ut和變化后的電壓之間的變化是突然發(fā)生的,電壓階躍能夠在電源電壓的任意相位開始和停止,采用以下的電壓試驗(yàn)等級(jí)(%Ut):0,40%,70%,對(duì)應(yīng)于從額定電壓暫降100%,60%和30%.優(yōu)先采用的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間列開下表中試驗(yàn)等級(jí),%Ut 電壓暫降和短時(shí)中

5、斷,%Ut 持續(xù)時(shí)間,(周期0100 0.5140 6051070 302550*說明:因?yàn)椴荒苜N表格,持續(xù)時(shí)間從0.5 到50是連續(xù)的,我所寫的0.5 1 并不只針對(duì)0%Ut,即每個(gè)等級(jí)都對(duì)應(yīng)那些周期,詳見原標(biāo)準(zhǔn)表格. 另: 1P=20ms50P=1s5.2 電壓變化這個(gè)試驗(yàn)認(rèn)為在額定電壓Ut和變化后的電壓之間有一個(gè)確定過渡過程.優(yōu)先采用的電壓變化所需時(shí)間和減小后的電壓維持時(shí)間下表中給出.電壓變化的速率應(yīng)該是常數(shù),但電壓可以是階躍變化的,階躍應(yīng)定位在過零附近,且不應(yīng)大于10%Ut.當(dāng)階躍在1%Ut以下,則可認(rèn)為電壓變化速率是常數(shù).電壓試驗(yàn)等級(jí)電壓降低需時(shí)間S降低后電壓維持時(shí)間S,電壓增加所需時(shí)間S40 220%120% 220%0220%120% 220%*10%有效