測(cè)井曲線基本原理及其應(yīng)用

1、測(cè)井曲線基本原理及其應(yīng)用測(cè)井曲線基本原理及其應(yīng)用一 國(guó)產(chǎn)測(cè)井系列 1、 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井曲線25m底部梯度視電阻率曲線。地層對(duì)比，劃分儲(chǔ)集層，基本反映地層真電組率?；謴?fù)地層剖面。自然電位（SP）曲線。地層對(duì)比，了解地層的物性，了解儲(chǔ)集層的泥質(zhì)含量。 2、 組合測(cè)井曲線（橫向測(cè)井） 石油,石化,化工,化學(xué),標(biāo)準(zhǔn),勘探,油藏,采油,測(cè)井,煉制,儲(chǔ)運(yùn),工藝,設(shè)備,環(huán)境,污水處理含油氣層（目的層）井段的詳細(xì)測(cè)井項(xiàng)目。 雙側(cè)向測(cè)井（三側(cè)向測(cè)井）曲線。深雙側(cè)向測(cè)井曲線，測(cè)量地層的真電組率（RT），試雙側(cè)向測(cè)井曲線，測(cè)量地層的侵入帶電阻率（RS）。0 5m電位曲線。測(cè)量地層的侵入帶電阻率。0.45m底部梯率曲線，測(cè)

2、量地層的侵入帶電阻率，主要做為井壁取蕊的深度跟蹤曲線。 補(bǔ)償聲波測(cè)井曲線。測(cè)量聲波在地層中的傳輸速度。測(cè)時(shí)是聲波時(shí)差曲線（AC） 自然電位（SP）曲線。井徑曲線（CALP）。測(cè)量實(shí)際井眼的井徑值。微電極測(cè)井曲線。微梯度（RML），微電位（RMN），了解地層的滲透性。 感應(yīng)測(cè)井曲線。由深雙側(cè)向曲線計(jì)算平滑畫出。L/RD*1000=COND。地層對(duì)比用。 套管井測(cè)井曲線自然伽瑪測(cè)井曲線（GR）。劃分儲(chǔ)集層，了解泥質(zhì)含量，劃分巖性。中子伽瑪測(cè)井曲線（NGR）劃分儲(chǔ)集層，了解巖性粗細(xì)，確定氣層。校正套管節(jié)箍的深度。 套管節(jié)箍曲線。確定射孔的深度。 固井質(zhì)量檢查（聲波幅度測(cè)井曲線） 二、3700測(cè)井系列

3、 1、 組合測(cè)井;雙側(cè)向測(cè)井曲線。深雙側(cè)向測(cè)井曲線，反映地層的真電阻率（RD）。淺雙側(cè)向測(cè)井曲線，反映侵入帶電阻率（RS）。微側(cè)向測(cè)井曲線。反映沖洗帶電阻率（RX0）。 補(bǔ)償聲波測(cè)井曲線（AC），測(cè)量地層的聲波傳播速度，單位長(zhǎng)度地層價(jià)質(zhì)聲波傳播所需的時(shí)間（MS/M）。反映地層的致密程度。 補(bǔ)償密度測(cè)井曲線（DEN），測(cè)量地層的體積密度（g/cm3），反映地層的總孔隙度。 補(bǔ)償中子測(cè)井曲線（CN）。測(cè)量地層的含氫量，反映地層的含氫指數(shù)（地層的孔隙度%） 自然電位曲線（SP） 自然伽瑪測(cè)蟛曲線（GR），測(cè)量地層的天然放射性總量。劃分巖性，反映泥質(zhì)含量多少。 井徑測(cè)井曲線，測(cè)量井眼直徑，反映實(shí)際井徑

4、大砂眼（CM）。2、 特殊測(cè)井項(xiàng)目地層傾角測(cè)井。測(cè)量九條曲線，反映地層真傾角。 自然伽瑪能譜測(cè)井。共測(cè)五條曲線，反映地層的巖性和鈾釷鉀含量。 重復(fù)地層測(cè)試器（MFT）。一次下井可以測(cè)量多點(diǎn)的地層壓力，并能取兩個(gè)地層流體樣。三、國(guó)產(chǎn)測(cè)井曲線的主要圖件幾個(gè)基本概念： 深度比例：圖的單位長(zhǎng)度代表的同單位的實(shí)際長(zhǎng)度，或深度軸長(zhǎng)度與實(shí)際長(zhǎng)度的比例系數(shù)。如，1：500；1：200等。 橫向比例：每厘米（或每格）代表的測(cè)井曲線值。如，5，m/cm,5mv/cm等。基線：測(cè)井值為0的線。基線位置：0值線的位置。左右刻度值：某種曲線圖框左右邊界的最低最高值。第二比例：一般橫向比例的第二比例，是第一比例的5倍。如

5、：一比例為5M/cm；二比例則為25m/cm。 1 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井曲線圖 2 5米底部梯度曲線。以其極大值和極小值劃分地層界面。它的極大值或最佳值基本反映地層的真電阻率（如圖）自然電位曲線。以半幅點(diǎn)劃分地層界面。一般砂巖層為負(fù)異常。泥巖為相對(duì)零電位值。 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井曲線圖，主要為2。5粘梯度和自然電位兩條曲線。用于劃分巖層恢復(fù)地質(zhì)錄井剖面，進(jìn)行井間的地層對(duì)比，粗略的判斷油氣水層。 3、 回放測(cè)井曲線圖（組合測(cè)井曲線）深淺雙側(cè)向測(cè)井曲線。深雙側(cè)向曲線的極度大值反映地層的真電阻率（RT），淺雙側(cè)向的極大值反映浸入帶電阻率（RS）。以深淺雙側(cè)向曲線異常的根部（異常幅度的1/3處）劃分地層界面。0 5米電位曲線

6、。以半幅點(diǎn)劃分儲(chǔ)集層，反映侵入帶的電阻率。 聲波時(shí)差曲線。主要反映地層的致密程度，即反映儲(chǔ)集層的孔滲性，是判斷儲(chǔ)層物性好壞的主要曲線。用于計(jì)算地層的孔隙度。橫向比例為50（MS/M）/CM。 自然電位曲線。主要反映地層的滲透性。 感應(yīng)測(cè)井曲線（電導(dǎo)率曲線）。主要用于地層對(duì)比。電導(dǎo)率是電阻率的倒數(shù)（1/R），因此電阻率愈低，電導(dǎo)率值愈高。 測(cè)井曲線圖主要有以上6條測(cè)井曲線。由于感應(yīng)測(cè)井曲線是深雙側(cè)向電阻率曲線的倒數(shù)，實(shí)際只有5條測(cè)井曲線。與回放測(cè)井曲線圖對(duì)應(yīng)，用單孔隙度解釋程序處理了一張?zhí)幚沓晒麍D，這里略去。4、 綜合測(cè)井曲線圖（又稱小綜合）將微電極曲線0.45米梯度曲線和井徑曲線劃在一張窄圖上

7、，稱為“小綜合測(cè)井曲線圖”。小綜合圖與回放測(cè)井曲線圖配合，能更詳細(xì)的分析測(cè)井資料判斷油氣水層。 微電極曲張，共有微電位和微梯度兩條曲線。在儲(chǔ)集層上，微電位的電阻率值高于微梯度顯示正差異。儲(chǔ)集層的物性愈好，正差異均勻，二者的數(shù)值也較低。即微電極曲線在好的儲(chǔ)集層上顯示“低均正”的曲線差異特征。 5、 放射性測(cè)井曲線圖 中子伽瑪曲線。反映地層的含氫量多少，即反映地層的含氫特性。反映儲(chǔ)層的含氣特性。間接分析儲(chǔ)層的顆粒大砂眼。用于校正節(jié)箍曲線的深度。自然伽瑪曲線。反映儲(chǔ)層的泥質(zhì)含量，判斷巖性，劃分儲(chǔ)集層。 節(jié)箍曲線。用于確定射孔的深度。6、 固井質(zhì)量檢查圖聲波幅度測(cè)井曲線。幅度值小于泥漿井段幅度的20%

8、，固井質(zhì)量良好，幅度在20%-30%之間，固井質(zhì)量中等。幅度大于30%?？傊?，國(guó)產(chǎn)測(cè)井系列主要有以上5種測(cè)井曲線圖件，另外還有測(cè)井資料數(shù)字處理成果圖和測(cè)井解釋成果表等圖表。四、3700測(cè)井曲線的主要圖件幾個(gè)基本概念：對(duì)數(shù)刻度：測(cè)井曲線圖的橫軸采用對(duì)數(shù)刻度，每個(gè)階（模數(shù)）成10倍增加。) 算數(shù)刻度：測(cè)井曲線圖的橫軸采用算數(shù)刻度，每厘米（格）代表一個(gè)固定值。1、 測(cè)井曲線圖（寬的回放曲線圖）從左至右依次的如下測(cè)井曲線。 井徑曲線：橫向比例為1英寸/格。用英制來表示井徑的大小。 自然電位曲線。深雙側(cè)向曲線。長(zhǎng)虛線。 雙側(cè)向曲線。點(diǎn)虛線。微側(cè)向曲線。實(shí)線。 這三條曲線的橫軸采用對(duì)數(shù)刻度，畫在同一刻度值

9、的圖格內(nèi)。從0.2-2000.m刻度了四階，即0.2-2,2-20,20-200,200-2000 等。每階的模數(shù)值為128道。電阻率值超過2000時(shí)，返回原0.2-2的道位但刻度成為2000-2000，便畫下了高于2000.m的電阻率值。 這三條曲線依次反映，徑向地層深部未受泥漿侵入影響部分的地層真電阻率RT，泥漿濾液侵入帶電阻率RS和泥漿濾液沖洗帶電阻本RX0。RT反映儲(chǔ)層的含油性，RS反映儲(chǔ)層的殘余油含量，RX0反映油的可動(dòng)性。 聲波時(shí)差曲線。點(diǎn)虛線。反映地層的細(xì)密程度，儲(chǔ)集層的孔隙度大小。 補(bǔ)償中子曲線。長(zhǎng)虛線，反映地層的含氫量多少，儲(chǔ)集層的孔隙度大小。補(bǔ)償密度曲線。實(shí)線，反映地層的體

10、積密度，儲(chǔ)集層的孔隙度大小。以上三條曲線主要反映儲(chǔ)集層的孔隙度大小。又稱為三孔隙度曲線。自然伽瑪曲線。反映地層的泥質(zhì)含量，確定地層的巖性。以上九條曲線是3700測(cè)井正常測(cè)量的9條線。與其對(duì)應(yīng)用泥質(zhì)砂巖粘土分析解釋程序CLASS處理一張?zhí)幚沓晒麍D，這里從略。2、 地層傾角測(cè)井處理成果圖從略。3、 碳氧比測(cè)井解釋成果圖從略。 4、 地層壓力解釋成果圖從略。五、判斷油氣水層 1、 電阻率測(cè)井曲線反映儲(chǔ)集層含油氣性的機(jī)理巖石顆粒（石英、長(zhǎng)石等不導(dǎo)電，油氣也不導(dǎo)電，它們的電阻率接近無窮大。地層水靠離子導(dǎo)電，砂層中的泥質(zhì)具有附加導(dǎo)電性，隨地層水礦化度增加，地層水的電阻率減小。砂巖層孔隙中飽和有地層水，砂巖

11、層就具有導(dǎo)電性，地層水礦化度愈高，砂巖層的電阻率愈低。砂巖層孔隙中同時(shí)飽和有油氣和水時(shí)，隨含油氣飽和度增加，砂巖層的電阻率RT增加，含油氣飽和度與砂巖層電阻率之間有如下實(shí)驗(yàn)關(guān)系：SW=a?b?Rw/m?RT S0=1-SWSW-含水飽和度 S0-含油飽和度RT-地層電阻率 RW-地層水電阻率b-比例系數(shù) m-膠結(jié)指數(shù)n-飽和度指數(shù)由以上分析可知，同一砂巖層含油氣時(shí)電阻率高，含地層水時(shí)電阻率低。含油氣飽和度愈高，砂巖層電阻率愈高；含水飽和度愈高，砂巖層電阻率愈低。含水飽和度100%則為純水層，其電阻率稱為純水層電阻率。2、 測(cè)井資料解釋具有多解性 利用測(cè)井資料判斷儲(chǔ)集層的含油氣性具有多解性。巖層

12、孔澤性變化，顆粒度化，膠結(jié)物變化以及地層水變化者可以引起電阻率變化。因此，準(zhǔn)確的判斷儲(chǔ)集層的含油氣性，必須利用多種測(cè)井資料，結(jié)合地質(zhì)錄井資料和鄰井試油結(jié)果進(jìn)行綜合分析。 3、 目視法判斷油氣水層 利用國(guó)產(chǎn)測(cè)井系列的回放測(cè)井曲線圖等圖件，或者利用3700測(cè)井曲線圖，可以簡(jiǎn)捷快速地判斷油氣水層，并且有相當(dāng)高的可靠性。 第一步，利用深雙側(cè)向曲線（參考0.5米電位和淺雙側(cè)向曲線）在測(cè)量井段找出高電阻率異常層。在一定測(cè)量井段內(nèi)（如：東營(yíng)、沙一、沙二或沙三等），受地質(zhì)條件控制水層電阻率變化較小，在油氣層上其電阻率會(huì)成倍或成數(shù)倍增高，形成明顯的高電阻率異常。 第二步，利用自然電位（自然伽瑪），聲波時(shí)差和微電

13、極等曲線，檢查高電阻率異常層是否是滲透性儲(chǔ)集層。在滲透層上，SP為負(fù)異常，聲波時(shí)差與水層的時(shí)差相當(dāng)，微電極曲線為“低均正”差異。非滲透性致密層（玄武巖等）也能形成高電阻率異常。 第三步，分析高電阻率異常滲透性層的曲線變化，深雙側(cè)向電阻率高對(duì)應(yīng)聲波時(shí)差高值，電阻率低對(duì)應(yīng)時(shí)差低值是明顯的啟油氣特征?！案唠娮璐髸r(shí)差”是判斷含油氣的精髓。含油氣愈飽滿，大時(shí)差對(duì)應(yīng)的電阻愈高。對(duì)含水層，大時(shí)差則對(duì)應(yīng)低電阻率，小時(shí)差對(duì)應(yīng)高電阻率。 第四步，檢查徑向電阻率變化。在油氣層一般為減阻侵入。即：深雙側(cè)向電阻率淺雙側(cè)向電阻率（0.5米電位）微側(cè)向電阻率，具有正差異。在水層（當(dāng)?shù)貙铀V化度泥漿濾液礦化度時(shí)）則為增阻侵入

14、，具有負(fù)差異。減阻侵入一定程度反映了油氣的可動(dòng)性。第五步，進(jìn)一步落實(shí)油氣層，檢查井壁取蕊，巖屑錄井，氣測(cè)資料等。與油氣層上下的純水層比較。參考鄰井試油結(jié)果，油氣動(dòng)用情況等。 氣層與油層都同樣形成了高電阻率異常，對(duì)于淺部氣層（2500m以淺）有以下幾個(gè)特征。 A、 電阻率可以比油層低些，但對(duì)高壓氣層電阻率不低。B、 含氫量較油層低。補(bǔ)償中子（中子伽瑪）顯示高值異常，即顯示為低孔隙度特征。 C、 聲波時(shí)差值大于油水層值，甚至發(fā)生周波踴躍（時(shí)差成50MS的倍數(shù)增大）。六、測(cè)井曲線對(duì)比根據(jù)碎屑巖的沉積規(guī)律，泥巖、油頁巖、鈣片頁巖和粉砂質(zhì)泥巖等沉積環(huán)境穩(wěn)定，分布范圍廣，可以作為一類對(duì)比標(biāo)志層。粉細(xì)砂巖泥

15、巖互層，粉細(xì)砂巖碳質(zhì)泥巖層可以作為二類對(duì)比標(biāo)志層，玄武巖、煤系地層可以作為附助對(duì)標(biāo)志層。 1、 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井曲線對(duì)比（1/500）選2.5米曲線值最低，有一定厚度大感動(dòng)5米），曲線光滑平直的線段作標(biāo)志層。 從已知層段到未知層段，從淺部館陶對(duì)比下去，從深部已知層位對(duì)比上來，用標(biāo)志層將對(duì)比井段卡住，無明顯標(biāo)志層時(shí)，對(duì)比大段落的泥巖粉細(xì)砂巖互層段（曲線呈鋸齒狀或低幅度變化）。 石油,石化,化工,化學(xué),標(biāo)準(zhǔn),勘探,油藏,采油,測(cè)井,煉制,儲(chǔ)運(yùn),工藝,設(shè)備,環(huán)境,污水處理在同一油田開發(fā)區(qū)塊，油氣水層可以對(duì)比，砂層厚度形態(tài)有變化。在同一段塊同一盤上，對(duì)比曲線形態(tài)將基本一至。 對(duì)比井段的地層缺失，則有正斷層的斷點(diǎn)通過該井。對(duì)比井段的一組地層發(fā)生重復(fù)，則有逆斷點(diǎn)通過該井。在同一斷塊上的井，在同一盤上的井其一類對(duì)比標(biāo)志層的深度，反應(yīng)