第1期LED道路照明現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)數(shù)據(jù)

1、第1期LED道路照明現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)數(shù)據(jù) 芯片測(cè)試結(jié)果分析一測(cè)試說(shuō)明 第二輪發(fā)布器件數(shù)據(jù)由國(guó)家半導(dǎo)體器件質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心（中電科第十三所）測(cè)試提供，發(fā)布的數(shù)據(jù)均為2009年8月-9月測(cè)試結(jié)果。所測(cè)器件均為國(guó)產(chǎn)化外延芯片封裝，測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)為 SJ/T 2355-2005半導(dǎo)體發(fā)光器件測(cè)試方法。二相關(guān)概念界定1.光效 光效也稱(chēng)為光源的發(fā)光效率或者光源的功率因素，表征從光源中射出的光通量與光源所消耗的電功率之比。即=/E。其中為光效，為光源輻射的光能量，E為光源的功率。2.色溫Tc 光源的光輻射所呈現(xiàn)的顏色與在某一溫度下黑體輻射的顏色相同時(shí)，稱(chēng)黑體的溫度（）為光源的色溫度。對(duì)于相對(duì)光譜功率分布偏離黑體相對(duì)光

2、譜功率分布較遠(yuǎn)的光源，用色度坐標(biāo)與其最靠近的黑體溫度來(lái)表示該光源的相關(guān)色溫()。3.顯色性 用日光標(biāo)準(zhǔn)（參照光源），將人工光源（待測(cè)光源）與其比較，顯示同色觀測(cè)結(jié)果的性能叫做該人工光源的顯色性。顯色性指數(shù)最高為100。顯色性指數(shù)的高低，就表示物體在待測(cè)光源下"變色"和"失真"的程度。.4.光衰 經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的點(diǎn)亮后,LED光強(qiáng)會(huì)比原來(lái)的光強(qiáng)要低,而低了的部分就是LED的光衰.本測(cè)試是在70的條件下，以700mA的直流電連續(xù)點(diǎn)亮LED 48小時(shí)來(lái)對(duì)比其點(diǎn)亮前后的光強(qiáng)。5.熱阻 物體對(duì)熱量傳導(dǎo)的阻礙效果。熱阻的單位為/W，即物體持續(xù)傳熱功率為1W時(shí)，導(dǎo)熱路徑

3、兩端的溫差。熱阻值一般常用或是R表示，/W數(shù)值越低，表示芯片中的熱量向外界傳導(dǎo)越快。因此，降低了芯片中PN結(jié)的溫度有利于LED壽命的延長(zhǎng)。三.測(cè)試數(shù)據(jù)分析 本輪發(fā)布數(shù)據(jù)包括：350mA 大功率白光LED結(jié)果（老化前） 350mA 大功率白光LED結(jié)果（老化后） 350mA 大功率白光LED老化前結(jié)果如圖1、圖2所示。從圖1可以看出目前國(guó)產(chǎn)化大功率白光LED的光效主要集中在70-100lm/w，占到60%，部分器件光效達(dá)到100lm/w以上，表明國(guó)產(chǎn)芯片水平進(jìn)步很大。從圖2中可以看出器件色溫基本集中在5000-6000K左右，顯色指數(shù)集中在65-75，還需進(jìn)一步改進(jìn)，提高器件光學(xué)性能。圖1. 3

4、50mA 大功率白光LED老化前光效分布圖圖2. 350mA大功率白光LED老化前光效、顯色指數(shù)、色溫對(duì)應(yīng)圖 350mA 大功率白光LED老化后結(jié)果如圖3、圖4、圖5所示。從圖3可以看出，老化后器件光效有所下降，100lm/W以上的器件比例由老化前的6.5%下降到2.8%，部分老化前在80-100lm/W的器件光效降到70-80lm/W。老化前后光效分布對(duì)比見(jiàn)圖4所示。圖5給出了老化后光效、顯色指數(shù)、色溫對(duì)應(yīng)圖，可以發(fā)現(xiàn)老化后顯色指數(shù)變化不大，仍然集中在65-75，但部分器件色溫偏差較大，達(dá)到7000以上。圖3. 350mA 大功率白光LED老化后光效分布圖圖4. 老化前后光效分布對(duì)比圖5.

5、350mA大功率白光LED老化后光效、顯色指數(shù)、色溫對(duì)應(yīng)圖 350mA大功率白光LED老化后光衰和熱阻分布見(jiàn)圖6、圖7所示。圖6中，光衰在3%以下的器件占到16%，5%以下的器件占到32%，同時(shí)有28%的器件光衰達(dá)到10%以上，表明國(guó)產(chǎn)器件的可靠性問(wèn)題仍然很?chē)?yán)重。圖7中，熱阻在9K/W以下的器件只占到48%，散熱性能有待進(jìn)一步提高。圖6. 350mA大功率白光LED老化后光衰分布圖圖7. 350mA大功率白光LED老化后光衰分布圖 綜上所述，目前大功率芯片存在高光效低顯色指數(shù)的問(wèn)題，下一步研究的重點(diǎn)應(yīng)在提高光效的同時(shí)保證品質(zhì)。國(guó)產(chǎn)芯片水平進(jìn)步較大，與國(guó)際差距減小。但光衰和熱阻還需進(jìn)一步改進(jìn)，提高LED器件的可靠性。測(cè)得的LED器件性能分散性較大，表明國(guó)內(nèi)外延芯片和封裝企業(yè)水平參差不齊，應(yīng)盡快建立公共檢測(cè)平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)范應(yīng)用市場(chǎng)，部分具有核心競(jìng)爭(zhēng)力的國(guó)內(nèi)企業(yè)有望大規(guī)模進(jìn)入應(yīng)用市場(chǎng)。檢驗(yàn)技術(shù)范圍：1.抽樣檢驗(yàn)：以“MIL-STD-105E”即“AQL”標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)?；蚩腿酥付?biāo)準(zhǔn)。2.產(chǎn)品外觀：尺寸、顏色、造型、結(jié)構(gòu)、做工等。3.產(chǎn)品性能：（實(shí)際操作）4.產(chǎn)品