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文檔簡介
1、電腦主機箱高壓氣管接口探棒接口排線TR-518FE測試主機壓床控制接口EMERGENCYSTOP 按鈕TEST按鈕 RETEST按鈕ACCEPTDOWN按鈕REJECTABORT按鈕 A調(diào)壓而凡 B壓力表 E光電開關(guān) C凝結(jié)排泄栓 D阻擋器F1上沖程可調(diào)式端點位置緩沖之調(diào)整螺絲G1上沖程可調(diào)式流量控制閥之調(diào)整螺絲H手動上升和手動下壓按鈕G2下沖程可調(diào)式流量控制閥之調(diào)整螺絲F2下沖程可調(diào)式端點位置緩沖之調(diào)整螺絲 AC板DC板控制電路板高壓量測電路板SWB如果選真空式壓床,則要設(shè)定是否啟動定位感測器。本選項是依據(jù)治具上是否安裝定位感測器而設(shè)定。如果沒有安裝,必需選擇關(guān)閉;如果有安裝,則應(yīng)選擇啟動設(shè)
2、定使用單壓床或雙壓床如果使用雙壓床,則要輸入多少測試針歸第一壓床使用,其餘的測試針就屬於第二壓床使用開始測試前的延遲時間如果設(shè)定真空式壓床,並且不使用定位感測器,則要設(shè)定開始測試前的延遲時間,單位是千分之一秒2.2.1.1 治具設(shè)定治具設(shè)定選擇是否有安裝網(wǎng)路及資料庫伺服器。若選擇無安裝網(wǎng)路,本項其他設(shè)定不允許輸入設(shè)定用來存取資料的目錄在網(wǎng)路上的工作路徑,如果不確定有何路徑可用,可以選擇來查看。如果沒有看到網(wǎng)路伺服器,則代表網(wǎng)路並未連線。請先退出TR-518FE系統(tǒng),將網(wǎng)路連線後再重新進行TR-518FE的網(wǎng)路型態(tài)設(shè)定設(shè)定是否將不良報表傳送到網(wǎng)路。若選擇“否”,僅將索引檔(*.IDX)和日報表檔
3、(*.DAY)傳送到網(wǎng)路。若選擇“是”,請在以下三個選項逐一設(shè)定該檔案是否傳送到網(wǎng)路設(shè)定ICT將資料傳送到網(wǎng)路的頻率由於網(wǎng)路上可能有很多ICT,因此每一臺都要有自己的代碼。在此設(shè)定本機的代碼編號如果待測板有使用條碼,則在此設(shè)定條碼長度。在測試時,條碼可用Bar Code Reader或鍵盤輸入。如果待測板未使用條碼,則將此欄設(shè)為0選擇在統(tǒng)計報告中將IC空銲不良視為零件不良或是開路不良選擇統(tǒng)計是以每日為基礎(chǔ)還是以每批生產(chǎn)為基礎(chǔ)如果選擇以每日為基礎(chǔ),可在此設(shè)定每日各工作班次的起迄時間,以便了解各班次的表現(xiàn)。如果無班次時間設(shè)定,可在報告時程1設(shè)定 00:00 To 23:59如果設(shè)定統(tǒng)計是以每批生產(chǎn)
4、為基礎(chǔ),則在此輸入批次號碼統(tǒng)計結(jié)果的二種設(shè)定當連續(xù)幾次測試都出現(xiàn)相同不良時,系統(tǒng)會顯示連續(xù)測試不良視窗,提醒操作員向ICT管理人員反應(yīng)在測試程式過程中測試時間是否包含SWB切換和壓床反應(yīng)時間多聯(lián)片自動SKIP 功能是否開啟選擇印表機型號選擇印表機型號若印表機型號選擇若印表機型號選擇“250 VFI”或或“900 VFI”時,需設(shè)定其所使用時,需設(shè)定其所使用 RS-232連接埠為連接埠為“COM1”或或“COM2”顯示此待測板為單片電路板或多聯(lián)片電路板如是多聯(lián)片需設(shè)定顯示此待測板為單片電路板或多聯(lián)片電路板如是多聯(lián)片需設(shè)定片數(shù)片數(shù)測試順序標準為測試順序標準為開路開路-短路短路-零件零件-IC開路開
5、路-高壓測試高壓測試,以滑鼠左鍵點選小方格可設(shè)定是否進行該項測試以滑鼠左鍵點選小方格可設(shè)定是否進行該項測試在測試中,測試統(tǒng)計資料隨時更新並保留在記憶體。為避免在測試中,測試統(tǒng)計資料隨時更新並保留在記憶體。為避免不正常關(guān)機時會喪失測試統(tǒng)計資料,可設(shè)定每測幾片電路板不正常關(guān)機時會喪失測試統(tǒng)計資料,可設(shè)定每測幾片電路板後將統(tǒng)計資料存檔於硬碟。通常設(shè)定值在後將統(tǒng)計資料存檔於硬碟。通常設(shè)定值在20到到100之間。設(shè)之間。設(shè)定值為定值為0表示不進行自動存檔;但在正常關(guān)機時,統(tǒng)計資料表示不進行自動存檔;但在正常關(guān)機時,統(tǒng)計資料會在關(guān)機時存檔於硬碟會在關(guān)機時存檔於硬碟在測試時可能會發(fā)生待測板與治具的接觸不良,
6、造成測試時產(chǎn)在測試時可能會發(fā)生待測板與治具的接觸不良,造成測試時產(chǎn)生開路生開路/零件測試結(jié)果不良。此時可以設(shè)定讓壓床上升後再下壓,零件測試結(jié)果不良。此時可以設(shè)定讓壓床上升後再下壓,然後針對原先測試不良的部分重測。如果設(shè)定然後針對原先測試不良的部分重測。如果設(shè)定0,則表示不重測。,則表示不重測。系統(tǒng)可容許的最大設(shè)定值是系統(tǒng)可容許的最大設(shè)定值是5。當設(shè)定此一功能時請?zhí)貏e注意操。當設(shè)定此一功能時請?zhí)貏e注意操作安全。因為壓床的上升與下壓是全自動進行,如果作業(yè)員不作安全。因為壓床的上升與下壓是全自動進行,如果作業(yè)員不了解設(shè)定,壓床一上升就伸手取機板,則當壓床下壓時可能會了解設(shè)定,壓床一上升就伸手取機板,
7、則當壓床下壓時可能會發(fā)生危險。請確實告知操作員發(fā)生危險。請確實告知操作員當待測板本身有短當待測板本身有短/開路不良時,可能會使相關(guān)聯(lián)的零件測試也開路不良時,可能會使相關(guān)聯(lián)的零件測試也產(chǎn)生測試不良。因此可設(shè)定系統(tǒng)一旦發(fā)現(xiàn)有短產(chǎn)生測試不良。因此可設(shè)定系統(tǒng)一旦發(fā)現(xiàn)有短/開路不良時就結(jié)開路不良時就結(jié)束該待測板的測試束該待測板的測試短路測試量測標準可分為三短路測試量測標準可分為三類類 :1. 5,25,552. 15,55,853. 5,20,80請輸入治具上第請輸入治具上第1支測試針編號支測試針編號請輸入治具上最後請輸入治具上最後1支測試針編號,以便在開支測試針編號,以便在開/短路短路測試時,系統(tǒng)有所
8、遵循。如果此一部份設(shè)定錯誤,測試時,系統(tǒng)有所遵循。如果此一部份設(shè)定錯誤,則系統(tǒng)可能在開則系統(tǒng)可能在開/短路測試時浪費太多的時間在原本短路測試時浪費太多的時間在原本沒有用到的測試針號碼;或是原本應(yīng)該要測的測試沒有用到的測試針號碼;或是原本應(yīng)該要測的測試針被遺漏而沒有測到針被遺漏而沒有測到鍵入的針號在開鍵入的針號在開/短路測試時會被刪略,短路測試時會被刪略,但在零件測試時仍會執(zhí)行但在零件測試時仍會執(zhí)行當測試不良時,不良報告可以選擇自動由印當測試不良時,不良報告可以選擇自動由印表機列印出來,或是由操作員按下鍵盤上的表機列印出來,或是由操作員按下鍵盤上的F12 啟動印表機進行列印啟動印表機進行列印當待
9、測板有很多不良時,例如有許多缺件,則當待測板有很多不良時,例如有許多缺件,則印出的不良報告會很長??上拗屏杏〉拈L度,印出的不良報告會很長??上拗屏杏〉拈L度,容許的設(shè)定值是在容許的設(shè)定值是在1與與120之間之間當有開路當有開路/短路測試不良時,系統(tǒng)提供三種列印短路測試不良時,系統(tǒng)提供三種列印模式:模式:(1) 列印測試點號碼列印測試點號碼(2) 列印測試點號碼、列印測試點號碼、位置及相連零件名稱位置及相連零件名稱(3) 列印測試點號碼及並聯(lián)列印測試點號碼及並聯(lián)零件名稱零件名稱可將待測板畫分為許多小格,每個零件可設(shè)定其位可將待測板畫分為許多小格,每個零件可設(shè)定其位置,在編輯測試程式或測試時方便尋找
10、特定零件。置,在編輯測試程式或測試時方便尋找特定零件。不良零件位置圖橫列數(shù)不良零件位置圖橫列數(shù):設(shè)定待測板要區(qū)分為多少橫設(shè)定待測板要區(qū)分為多少橫列。最大的設(shè)定值是列。最大的設(shè)定值是8。由上到下或由下到上由上到下或由下到上:橫行的編碼是使用數(shù)字。在橫行的編碼是使用數(shù)字。在此可調(diào)整此可調(diào)整1234的順序是由上到下或由下到上。的順序是由上到下或由下到上。不良零件位置圖縱行數(shù)不良零件位置圖縱行數(shù):設(shè)定待測板要區(qū)分為多少設(shè)定待測板要區(qū)分為多少縱行。最大的設(shè)定值是縱行。最大的設(shè)定值是8。由左到右或由右到左由左到右或由右到左:橫列的編碼是使用英文字。橫列的編碼是使用英文字。在此可調(diào)整在此可調(diào)整ABCD的順序
11、是由左到右或由右到左的順序是由左到右或由右到左當有選購自動蓋章設(shè)備時,可選擇測試良品當有選購自動蓋章設(shè)備時,可選擇測試良品蓋章或測試不良蓋章。如果沒有選購自動蓋蓋章或測試不良蓋章。如果沒有選購自動蓋章設(shè)備,則應(yīng)選擇不蓋章章設(shè)備,則應(yīng)選擇不蓋章設(shè)定是否要執(zhí)行外接測試功能。設(shè)定是否要執(zhí)行外接測試功能??稍O(shè)定需可設(shè)定需ICT測試為良品時才進行外接測試功能或不考慮測試為良品時才進行外接測試功能或不考慮ICT測試結(jié)果一律進行外接測試功能。一般若要執(zhí)行動態(tài)測試結(jié)果一律進行外接測試功能。一般若要執(zhí)行動態(tài)測試時需測試時需ICT測試為良品時才可執(zhí)行動態(tài)測試測試為良品時才可執(zhí)行動態(tài)測試執(zhí)行外接功能測試結(jié)束後外接測
12、試儀器需通知本系統(tǒng)其外接測執(zhí)行外接功能測試結(jié)束後外接測試儀器需通知本系統(tǒng)其外接測試已完成。但若外接功能測試發(fā)生問題時,本系統(tǒng)可以在特定試已完成。但若外接功能測試發(fā)生問題時,本系統(tǒng)可以在特定的的Time Out時間內(nèi)自動結(jié)束外接功能測試,以免系統(tǒng)暫停時間內(nèi)自動結(jié)束外接功能測試,以免系統(tǒng)暫停編輯資料區(qū)編輯資料區(qū)測試值圖表測試值圖表:位於左下角。橫軸座標位於左下角。橫軸座標為次數(shù)座標為次數(shù)座標(1-500),縱軸座標是量測值縱軸座標是量測值座標座標,以標準值為中心以標準值為中心,上限值在最上上限值在最上方方,下限值在最下方下限值在最下方.紫色點表示測試紫色點表示測試值值,當連續(xù)測試某一步驟時紫色點即
13、成當連續(xù)測試某一步驟時紫色點即成量測曲線量測曲線(最多顯示最多顯示500次次)。若超過。若超過500次時量測曲線向右移動次時量測曲線向右移動下拉菜單下拉菜單使用者可儲存在短路學(xué)習(xí)功能所得到的使用者可儲存在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點資料。當使用者離開本視窗時,短路點資料。當使用者離開本視窗時,系統(tǒng)亦會詢問是否儲存短路點資料系統(tǒng)亦會詢問是否儲存短路點資料表示這些針點同屬于一個短路群表示這些針點同屬于一個短路群在短路群中插入一個新的腳位,初值為在短路群中插入一個新的腳位,初值為1刪除游標所在的腳位刪除游標所在的腳位插入一個新的短路群,初值為插入一個新的短路群,初值為1刪除游標所在的短路群刪除游標所在
14、的短路群顯示每個顯示每個 IC 腳位對應(yīng)的測試針腳位對應(yīng)的測試針號碼,使用者可以直接輸入每個號碼,使用者可以直接輸入每個IC腳位的對應(yīng)測試針號碼或者腳位的對應(yīng)測試針號碼或者用探棒自動輸入用探棒自動輸入IC腳位的對應(yīng)腳位的對應(yīng)測試針號碼。將空的電路板放在測試針號碼。將空的電路板放在治具上,壓床壓下後,以探棒直治具上,壓床壓下後,以探棒直接接觸游標所在位置的接接觸游標所在位置的IC腳後腳後該該IC腳的測試針號碼會自動輸腳的測試針號碼會自動輸入到螢?zāi)簧稀H魷y試針編號以紅入到螢?zāi)簧?。若測試針編號以紅色顯示,表示該點為電源腳;若色顯示,表示該點為電源腳;若測試針編號以綠色顯示,表示該測試針編號以綠色顯示
15、,表示該點為接地腳點為接地腳設(shè)定開始及結(jié)束編號,列印目標區(qū)內(nèi)的設(shè)定開始及結(jié)束編號,列印目標區(qū)內(nèi)的測試點資料測試點資料將測試點的資料存到硬碟中。將測試點的資料存到硬碟中。系統(tǒng)自動產(chǎn)生測試點資料和該測試點系統(tǒng)自動產(chǎn)生測試點資料和該測試點包含的測試步驟包含的測試步驟.當有一個以上的零件當有一個以上的零件相連時相連時,系統(tǒng)會優(yōu)先選擇系統(tǒng)會優(yōu)先選擇IC腳位。腳位。將系統(tǒng)自動產(chǎn)生的資料清除。將系統(tǒng)自動產(chǎn)生的資料清除。在自動產(chǎn)生測試點資料時在自動產(chǎn)生測試點資料時,當有一個以當有一個以上的零件相連時上的零件相連時,系統(tǒng)會優(yōu)先選擇系統(tǒng)會優(yōu)先選擇IC腳腳位位.使用者可以選取測試點資料中的相使用者可以選取測試點資料
16、中的相連零件連零件設(shè)定測試針編號設(shè)定測試針編號學(xué)習(xí)結(jié)果學(xué)習(xí)結(jié)果短路測試功能是根據(jù)在短路學(xué)習(xí)功能短路測試功能是根據(jù)在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點資料執(zhí)行短路測試。所得到的短路點資料執(zhí)行短路測試??稍诖蓑炞C學(xué)習(xí)短路所得到的短路點可在此驗證學(xué)習(xí)短路所得到的短路點資料是否正確。測試結(jié)果會顯示在視資料是否正確。測試結(jié)果會顯示在視中。中。開路測試功能是根據(jù)在短路學(xué)習(xí)功能所開路測試功能是根據(jù)在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點測試資料執(zhí)行開路測試。得到的短路點測試資料執(zhí)行開路測試??稍诖蓑炞C短路學(xué)習(xí)所得到的短路點資可在此驗證短路學(xué)習(xí)所得到的短路點資料是否正確。測試結(jié)果會顯示在視中。料是否正確。測試結(jié)果會顯示在視中。學(xué)
17、習(xí)進度比率學(xué)習(xí)進度比率可修改在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點資料可修改在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點資料.編輯編輯IC腳位資料腳位資料進入編輯器編輯學(xué)習(xí)到的進入編輯器編輯學(xué)習(xí)到的測試程式測試程式.學(xué)習(xí)過程得到的學(xué)習(xí)過程得到的測試程式可能無法完全正確測試程式可能無法完全正確,可利用編輯器逕行修改可利用編輯器逕行修改刪除在學(xué)習(xí)功能下得到的刪除在學(xué)習(xí)功能下得到的IC保護二極體測試程式保護二極體測試程式顯示在學(xué)習(xí)中所得到的顯示在學(xué)習(xí)中所得到的 IC 保護二極體測試資料。保護二極體測試資料。例如顯示例如顯示Step_191:U2_1_14 表示測試程式的步驟表示測試程式的步驟191是是IC保護二極體測試步驟,
18、保護二極體測試步驟,U2 的第的第1腳與第腳與第14腳之間有保護二極體。又如腳之間有保護二極體。又如Step_192:U2_10_14 U3_8_14表示測試程式的步驟表示測試程式的步驟192是是IC保護二極體測保護二極體測試步驟,而且試步驟,而且 U2 的第的第10腳、第腳、第14腳與腳與 U3 的第的第8腳、腳、第第14腳有相同的測試針號碼。此時只測試腳有相同的測試針號碼。此時只測試 U2 的第的第10腳與第腳與第14腳之間是否有保護二極體存在,以節(jié)省腳之間是否有保護二極體存在,以節(jié)省測試時間。測試時間。Step_193顯示為顯示為U2_12_14/,/表示此表示此IC保護二極體與其他保護
19、二極體與其他IC有並聯(lián)之狀況有並聯(lián)之狀況學(xué) 習(xí) 逕 程學(xué) 習(xí) 逕 程訊息說明訊息說明學(xué)習(xí)學(xué)習(xí)進度進度學(xué)習(xí)後的測試學(xué)習(xí)後的測試資料資料編輯編輯 IC 腳位資料腳位資料進入編輯器編輯學(xué)習(xí)到的測試程進入編輯器編輯學(xué)習(xí)到的測試程式。學(xué)習(xí)過程所得到的測試程式式。學(xué)習(xí)過程所得到的測試程式可能無法完全正確,使用者在完可能無法完全正確,使用者在完成學(xué)習(xí)後,可在編輯器檢查所學(xué)成學(xué)習(xí)後,可在編輯器檢查所學(xué)習(xí)到的測試程式。若有某顆習(xí)到的測試程式。若有某顆 IC所所屬腳位學(xué)習(xí)到的測試值很多都低屬腳位學(xué)習(xí)到的測試值很多都低於於30fF,則表示學(xué)習(xí)到的資料有,則表示學(xué)習(xí)到的資料有問題,請檢查對應(yīng)之探測棒是否問題,請檢查對
20、應(yīng)之探測棒是否裝置正確,探測棒編號是否正確裝置正確,探測棒編號是否正確及探測棒是否與及探測棒是否與 IC 表面接觸不良表面接觸不良等問題。若在等問題。若在 IC空焊測試過程中空焊測試過程中有不穩(wěn)定或誤判之情形產(chǎn)生,可有不穩(wěn)定或誤判之情形產(chǎn)生,可適當放寬編輯適當放寬編輯IC腳位資料裏的上腳位資料裏的上下限百分比,再重新做一次學(xué)習(xí)。下限百分比,再重新做一次學(xué)習(xí)。刪除在學(xué)習(xí)功能下所得到的刪除在學(xué)習(xí)功能下所得到的 IC 空空焊測試程式焊測試程式顯示每個顯示每個 IC 的測試狀況,包含的測試狀況,包含 IC量測值狀態(tài)圖、量測值狀態(tài)圖、IC 腳位測試值分佈圖、可測率分析表、腳位測腳位測試值分佈圖、可測率分
21、析表、腳位測試資料等試資料等學(xué)習(xí)後的測試學(xué)習(xí)後的測試資料資料測試程序測試程序測試時間統(tǒng)計測試時間統(tǒng)計系統(tǒng)測試狀態(tài)及測系統(tǒng)測試狀態(tài)及測試結(jié)果試結(jié)果附屬功能附屬功能測試結(jié)果:藍色表示正常;紅色表示不良檢測報告0,1,2,3;開短路區(qū)間 5,25,550,0,1,3;開短路區(qū)間 15,55,85若非此二值,表示開短路檢測不良設(shè)定檢測編號當切換電路板檢測正常時,狀態(tài)欄顯示藍色 OK;切換電路板檢測不良時,狀態(tài)欄顯示紅色 Bad並顯示切換電路板的不良測試針號碼當檢測不到切換電路板時顯示N/AOK良品NG不良綠燈:良品紅燈:不良輸入所接DEBUGBOX的編號測試功能選擇量測模式選擇量測結(jié)果圖表顯示量測結(jié)果
22、數(shù)值顯示進入編輯器,使用者可編輯巨集指令的檔案。開啟巨集指令的檔案,將該檔案內(nèi)容放入命令盒,並在指令啟始處加入 BEGIN,指令結(jié)束處加入 END。執(zhí)行開啟的巨集指令檔案。儲存命令盒內(nèi)的巨集指令。使用者可先在命令盒內(nèi)輸入巨集指令,執(zhí)行的結(jié)果會一步一步顯示。再將這些巨集指令儲存於檔案內(nèi)供以後使用。64:64 Pins Switching Board128:128 Pins Switching BoardH32:HVM BoardV64:Punctional boardOT:HP Testjet Board檢測的測試針編號為 1 ,該針屬於第一塊切換電路板測試針1 的對應(yīng)位置32128顯示的編號為
23、第幾塊 IC空焊控制板的第幾個探測棒系統(tǒng)內(nèi)有幾個 IC空焊控制板,此治具上有多少個探測棒設(shè)定執(zhí)行穩(wěn)定度測試的測試步驟、測試次數(shù)和上下限百分比。以折線圖顯示量測值的變化狀況。若分佈曲線超過上下限百分比,表示此步驟之測試不穩(wěn),可增加重測次數(shù)或延遲時間。以文字表示量測值的變化狀況,並計算最大量測值及最小量測值 設(shè)定本報表統(tǒng)計日期區(qū)間每日良率分佈圖:以綠色柱狀圖顯示每日的良率百分比,使用者可以很容易的看出那一天的良率較低,作為改進製程的參考。柱狀圖自設(shè)定區(qū)間的啟始日開始顯示。在每日良率分佈圖中有一個黑色柱狀游標,其所對應(yīng)之特定日期的測試統(tǒng)計資料顯示。包含日期、測試次數(shù)、良品數(shù)、開路不良數(shù)、短路不良數(shù)和零件不良數(shù)等資料。利用“”和“”兩個按鍵可以移動游標,選擇欲顯示的特定日期,“” 顯示前一天的資料,“”顯示下一天的資料。單日不良率分佈圖內(nèi)不良率百分比的定義和單日測試資料統(tǒng)計內(nèi)不良率百分比的定義不同
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