CS鍛件探傷教學課件第一部分探傷方法

1、任務三 鍛件探傷能力要點：能力要點：聲速調(diào)節(jié)聲速調(diào)節(jié)AVGAVG曲線繪制曲線繪制直探頭鑄鍛件缺陷探傷直探頭鑄鍛件缺陷探傷項目三：焊接接頭超聲檢測知識要點：知識要點：探傷條件選擇探傷條件選擇AVGAVG曲線曲線學習任務安排學習任務安排1.掌握縱波平底孔AVG曲線的測繪方法。2.會用直探頭對鍛件進行缺陷探傷，并對其進行定位。3.初步了解直探頭探傷缺陷定量。學習任務目標學習任務目標會使用數(shù)字式超聲波探傷儀對鍛件進行探傷。資訊資料建議資訊資料建議1.學生手里資料：教學方案實施，學生工作頁，學生課業(yè)，評分標準2.書3、網(wǎng)站中國工業(yè)檢測網(wǎng)http:/ American Society for Nondes

2、tructive Testing (NDT)美國無損檢測學會/British Institute of Non-Destructive Testing 英國無損檢測學會/European Federation for Non-Destructive Testing無損檢測歐洲聯(lián)盟/教材：許利民無損檢測及技能訓練長沙：中南大學出版社，2010參考書籍： 1 馬世輝，李小棒無損檢測北京：機械工業(yè)出版社，2013 2 李家偉，陳積懋無損檢測手冊北京：機械工業(yè)出版社，2002 3 趙熹華，焊

3、接檢驗，北京：機械工業(yè)出版社，2003 4 聞立言，焊接生產(chǎn)檢測，北京：機械工業(yè)出版社, 1997 5 王自明無損檢測綜合知識北京：機械工業(yè)出版社，2004 6 中國機械工程學會焊接分會焊接詞典（第三版）北京：機械工業(yè)出版社，2008 7 中國標準出版社無損檢測常用標準匯編北京：中國標準出版社，2006 8 國防科技工業(yè)無損檢測人員資格鑒定與認證培訓教材編審委員會無損檢測綜合知識. 北京：機械工業(yè)出版社，2005 9 夏紀真無損檢測導論廣州：中山大學出版社，2010 10 邵澤波，劉興德無損檢測北京：化學工業(yè)出版社，2011 11 王仲生無損檢測診斷現(xiàn)場實用技術北京：機械工業(yè)出版社，2002

4、5 本任務重點：本任務重點：AVG缺陷繪制及其應用，鍛件缺陷探傷。 本任務難點：本任務難點：1. VAG曲線制作。2. 缺陷探傷定位、定量。 學習方法建議：學習方法建議：通過查看數(shù)字式超聲波探傷儀的使用說明書進行操作；掌握鍛件缺陷探傷缺陷定量，對于缺陷定量了解就行不要求掌握。 鍛件的鍛造過程鍛件的鍛造過程 ：加熱、形變、成型和冷加熱、形變、成型和冷卻卻 鍛件中常見的主要缺陷有：鍛件中常見的主要缺陷有： （1）鑄造）鑄造（原材料）（原材料）缺陷：縮孔、疏松、缺陷：縮孔、疏松、夾雜、裂紋；夾雜、裂紋； （2）鍛造缺陷：折疊、白點、裂紋；）鍛造缺陷：折疊、白點、裂紋； （3）熱處理缺陷：裂紋。）熱處

5、理缺陷：裂紋。焊接方法與設備第1部分探傷方法2022-3-27按探傷時間分類按探傷時間分類: :鍛件探傷可分為原材料探傷和制造過程鍛件探傷可分為原材料探傷和制造過程中的探傷，中的探傷，產(chǎn)品檢驗產(chǎn)品檢驗及及在役檢驗在役檢驗。在役檢驗的目的是監(jiān)督運行后可能產(chǎn)生在役檢驗的目的是監(jiān)督運行后可能產(chǎn)生或發(fā)展的缺陷，主要是疲勞裂紋?；虬l(fā)展的缺陷，主要是疲勞裂紋。為了得到最好的檢測效果，應盡可能使為了得到最好的檢測效果，應盡可能使超聲波聲束與鍛造流線方向垂直。超聲波聲束與鍛造流線方向垂直。A A、直探頭徑向探測為主直探頭徑向探測為主； B B、直探頭軸向；、直探頭軸向； C C、斜探頭周向；、斜探頭周向； D

6、 D、斜探頭軸向。、斜探頭軸向。ABCD1 1、軸類鍛件、軸類鍛件周向檢測應順、逆時針二個周向檢測應順、逆時針二個方向探。軸向檢測應正、反方向探。軸向檢測應正、反二個方向檢測可探測鍛件全二個方向檢測可探測鍛件全體。體。 A A、直探頭端面為主直探頭端面為主； B B、直探頭側面；、直探頭側面； C C、厚度、厚度T400mmT400mm，直，直探頭兩端面。探頭兩端面。 AB2 2、餅類、碗類鍛件、餅類、碗類鍛件 具有平行平面鍛件和餅型具有平行平面鍛件和餅型鍛件采用縱波在兩個平行鍛件采用縱波在兩個平行面探測，當厚度較大時也面探測，當厚度較大時也可在鍛件厚度方向側面探可在鍛件厚度方向側面探測測 碗型鍛件探頭可置于碗形碗型鍛件探頭可置于碗形鍛件內(nèi)部或外部探測。鍛件內(nèi)部或外部探測。 （1 1）直探頭探測：用直探頭從簡體外圓面面探測。外圓探）直探頭探測：用直探頭從簡體外圓面面探測。外圓探測的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線平等的周向缺陷。端面探測的目的測的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線平等的周向缺陷。端面探測的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的橫向缺陷。是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的橫向缺陷。（2 2）