電子測量與儀器課件第六章元器件測量與儀器2

1、第6章 電子元器件測量與儀器 1RLR圖圖6.1 實際電阻器的等效電路實際電阻器的等效電路(a)(b)RCSCCRCP圖圖6.2 實際電容器的等效電路實際電容器的等效電路Dx=tan=RCS/XC=CRCS Dx=tan= XC/RCP =1/CRCPQ=XL/RLS=L/RLSQ=RLP/XL= RLP/L集中參數(shù)元件的等效集中參數(shù)元件的等效第6章 電子元器件測量與儀器 26.4 諧振法測量集中參數(shù)元件諧振法測量集中參數(shù)元件 諧振法又稱諧振法又稱Q表法，是以表法，是以LC諧振回路諧振特性為基礎而進諧振回路諧振特性為基礎而進行測量的方法。在高頻段，諧振法受雜散耦合等的影響較小，行測量的方法。在

2、高頻段，諧振法受雜散耦合等的影響較小，且比較符合電感、電容的實際工作情況，因此，諧振法高頻段且比較符合電感、電容的實際工作情況，因此，諧振法高頻段測量結果比較可靠，是測量高頻元件的常用方法。測量結果比較可靠，是測量高頻元件的常用方法。6.4.1 Q表的組成及工作原理表的組成及工作原理 諧振法構成的測量儀器稱為諧振法構成的測量儀器稱為Q表，適合在高頻狀態(tài)下測量表，適合在高頻狀態(tài)下測量電容量、電感量、電容損耗因數(shù)、諧振回路或電感品質的因數(shù)。電容量、電感量、電容損耗因數(shù)、諧振回路或電感品質的因數(shù)。它由測量回路、信號源、耦合回路及它由測量回路、信號源、耦合回路及Q值電壓表等部分組成，值電壓表等部分組成

3、，圖圖6.16為為Q表工作原理圖，設測量回路電流有效值、總電感、表工作原理圖，設測量回路電流有效值、總電感、總電容為總電容為I、L、C。第6章 電子元器件測量與儀器 3信號源信號源耦合回路耦合回路Q值值電壓電壓表表LxR+Us測量回路測量回路圖圖6.16 Q表工作原理圖表工作原理圖CxuAR2R11234CsIoI第6章 電子元器件測量與儀器 4測量回路，即測量回路，即LC諧振回路，它由電感、電容及回路等效諧振回路，它由電感、電容及回路等效損耗電阻損耗電阻R組成。組成。Q表就是根據(jù)該回路的諧振特性來測量的。表就是根據(jù)該回路的諧振特性來測量的。如果測量回路處于諧振狀態(tài)，則存在如下關系：如果測量回

4、路處于諧振狀態(tài)，則存在如下關系： （6-9） I=Us/R=UL/XL=UC/XC Q=XL/R=XC/R Q=UC/Us=UL/UsLCff210s 120CLLC201第6章 電子元器件測量與儀器 56.4.2 測量電感測量電感諧振法測量電感，除了依據(jù)式（諧振法測量電感，除了依據(jù)式（6-9）直接測量（直接法）直接測量（直接法）外，還包括串聯(lián)替代法和并聯(lián)替代法。外，還包括串聯(lián)替代法和并聯(lián)替代法。1. 串聯(lián)替代法串聯(lián)替代法 ( 適合測量小電感適合測量小電感)如圖如圖6.17所示，圖中信號源與測量回路之間采用的互感所示，圖中信號源與測量回路之間采用的互感耦合方式為松耦合，否則，信號源內阻將嚴重影

5、響測量回路耦合方式為松耦合，否則，信號源內阻將嚴重影響測量回路的諧振特性而產(chǎn)生諧振點誤判。其測量步驟如下：的諧振特性而產(chǎn)生諧振點誤判。其測量步驟如下：將將1、2端短接，調節(jié)端短接，調節(jié)Cs到較大電容到較大電容C1位置，調節(jié)信號位置，調節(jié)信號Lx圖圖6.17 串聯(lián)替代法測量電感原理圖串聯(lián)替代法測量電感原理圖M1234CsL信號源V第6章 電子元器件測量與儀器 6源頻率，使回路諧振，設諧振頻率為源頻率，使回路諧振，設諧振頻率為f0，此時滿足：，此時滿足： （6-10） 去掉去掉1、2之間的短路線，之間的短路線，將將Lx接入回路，保持信號源頻率接入回路，保持信號源頻率f0不變，調節(jié)不變，調節(jié)Cs至至

6、C2使回路重新諧振，此時滿足：使回路重新諧振，此時滿足：（6-11） 求解式（求解式（6-10）和式（）和式（6-11）組成的方程組，得：）組成的方程組，得： 2. 并聯(lián)替代法并聯(lián)替代法 并聯(lián)替代法適合測量大電感，始終將圖并聯(lián)替代法適合測量大電感，始終將圖6.17中中1、2兩端兩端120241CfLLx圖6.17 串聯(lián)替代法測量電感原理圖M1234CsL信號源V2202x41CfLL2120221x4CCfCCL第6章 電子元器件測量與儀器 7短接。其測量步驟如下：短接。其測量步驟如下： 不接入不接入Lx，調小可變電容，調小可變電容Cs為為C1，調節(jié)信號源頻率使，調節(jié)信號源頻率使回路諧振，設諧

7、振頻率為回路諧振，設諧振頻率為f0，此時滿足：，此時滿足： （6-12） 將將Lx接至接至3、4端，保持信號源頻率端，保持信號源頻率f0不變，調節(jié)不變，調節(jié)Cs至至C2使回路重新諧振，此時滿足：使回路重新諧振，此時滿足：（6-13） 求解式（求解式（6-12）和式（）和式（6-13）組成的方程組，得：）組成的方程組，得： 6.4.3 測量電容測量電容 諧振法測量電容，一般采用串聯(lián)替代法和并聯(lián)替代法。諧振法測量電容，一般采用串聯(lián)替代法和并聯(lián)替代法。120241CfL2202x411CfLL)(4112202xCCfL第6章 電子元器件測量與儀器 8替代法可以有效地消除分布電容或引線電感所造成的影

8、響。替代法可以有效地消除分布電容或引線電感所造成的影響。 1. 串聯(lián)替代法串聯(lián)替代法 串聯(lián)替代法適合測量大電容，如圖串聯(lián)替代法適合測量大電容，如圖6.17所示。其測量步所示。其測量步驟如下：驟如下： 將將1、2端短接，調小可變電容端短接，調小可變電容Cs為為C1，調節(jié)信號源頻，調節(jié)信號源頻率使測量回路諧振，設諧振頻率為率使測量回路諧振，設諧振頻率為f0。 去掉短路線，將被測電容去掉短路線，將被測電容Cx接至接至1、2端，保持信號源端，保持信號源頻率頻率f0不變，調節(jié)不變，調節(jié)Cs至至C2使測量回路重新諧振。使測量回路重新諧振。 上述兩步，測量回路中的電感以及前后兩次的諧振頻上述兩步，測量回路中

9、的電感以及前后兩次的諧振頻率未變，因此，前后兩次測量回路的等效電容值是相等的，率未變，因此，前后兩次測量回路的等效電容值是相等的，即即2x2x1CCCCC第6章 電子元器件測量與儀器 92. 并聯(lián)替代法并聯(lián)替代法并聯(lián)替代法適合測量小電容，如圖并聯(lián)替代法適合測量小電容，如圖6.17所示，圖中所示，圖中1、2端始終短接或接入一標準電感，其測量步驟如下：端始終短接或接入一標準電感，其測量步驟如下：1）不接入被測電容）不接入被測電容Cx，調大可變電容，調大可變電容Cs為為C1，調節(jié)信號，調節(jié)信號源頻率使測量回路諧振，設諧振頻率為源頻率使測量回路諧振，設諧振頻率為f0。2）將被測電容接至）將被測電容接至

10、3、4端，保持信號源頻率端，保持信號源頻率f0不變，調不變，調節(jié)節(jié)Cs至至C2使測量回路重新諧振。使測量回路重新諧振。3）上述兩步，測量回路中的電感以及前后兩次的諧振頻）上述兩步，測量回路中的電感以及前后兩次的諧振頻率未變，因此，前后兩次測量回路的等效電容值是相等的，率未變，因此，前后兩次測量回路的等效電容值是相等的，即即 C1=C2+Cx Cx=C1C2第6章 電子元器件測量與儀器 106.4.4 Q表實例及使用方法表實例及使用方法圖6.18為QBG-3型Q表面板結構圖，它的使用方法如下：圖6.18 QBG-3型Q表面板圖主調電容度盤Cx接線柱Lx接線柱開定位零位校直Q值范圍Q值零位校直Q1

11、定位表Q值定位細調定位粗調波段開關頻率旋鈕pFL. f對照表微調CL第6章 電子元器件測量與儀器 111. 測量準備測量準備2. 電感線圈電感線圈Q值的測量值的測量將被測線圈接到將被測線圈接到Lx接線柱上；接線柱上；1)調節(jié)頻率旋鈕及波段開關至測量所需的頻率點；選擇調節(jié)頻率旋鈕及波段開關至測量所需的頻率點；選擇合適的合適的Q值擋級；調節(jié)值擋級；調節(jié)“定位零位校直定位零位校直”旋鈕使定位表指示旋鈕使定位表指示為零，調節(jié)定位粗調及定位細調旋鈕使定位表指針指到為零，調節(jié)定位粗調及定位細調旋鈕使定位表指針指到“Q1”處；處；2)調整主調電容度盤遠離諧振點，再調節(jié)調整主調電容度盤遠離諧振點，再調節(jié)“Q值

12、零位校直值零位校直”使使Q值表指針指在零點上，最后調解主調電容度盤和微調旋值表指針指在零點上，最后調解主調電容度盤和微調旋鈕使回路諧振（鈕使回路諧振（Q值表指示最大），則值表指示最大），則Q值表的示值即為被測值表的示值即為被測線圈的線圈的Q值。值。第6章 電子元器件測量與儀器 123. 電感量的測量電感量的測量首先估計一下被測線圈的電感量，按照表首先估計一下被測線圈的電感量，按照表6-2選出對應頻選出對應頻率，再調節(jié)波段開關及頻率旋鈕使信號源頻率達到所需頻率率，再調節(jié)波段開關及頻率旋鈕使信號源頻率達到所需頻率值；將值；將“微調微調”置于零點，調節(jié)主調電容度盤使置于零點，調節(jié)主調電容度盤使Q值表

13、指示值表指示最大。此時，被測線圈的電感量等于主調電容度盤上讀出的最大。此時，被測線圈的電感量等于主調電容度盤上讀出的電感值乘以電感值乘以L、f、倍率對照表中的倍率。、倍率對照表中的倍率。表表6-2 L、f、倍率對照表、倍率對照表電感倍率頻率0.11H0.125.2MHz1.010H17.95MHz10100H102.52MHz0.11.0mH0.1795kHz1.010mH1252kHz10100mH1079.5kHz第6章 電子元器件測量與儀器 134. 線圈分布電容的測量線圈分布電容的測量1)將主調電容度盤調至某一適當電容值上（一般為將主調電容度盤調至某一適當電容值上（一般為200pF），

14、記為），記為C1；2)再調節(jié)波段開關及頻率旋鈕使再調節(jié)波段開關及頻率旋鈕使Q值表指示最大，即找到值表指示最大，即找到諧振點諧振點f1；3)重新調節(jié)波段開關、頻率旋鈕使信號源頻率為重新調節(jié)波段開關、頻率旋鈕使信號源頻率為f1的兩倍，的兩倍， 4)然后調節(jié)主調電容度盤使然后調節(jié)主調電容度盤使Q值表指示最大，記為值表指示最大，記為C2。則分布。則分布電容量電容量C0可由下式計算：可由下式計算：C0=(C14C2)/3第6章 電子元器件測量與儀器 145. 電容量的測量電容量的測量被測電容量大小不同，其測量方法也不同。有兩種情況：被測電容量大小不同，其測量方法也不同。有兩種情況：（1）小于）小于460

15、pF電容的測量電容的測量可以采用并聯(lián)替代法來測量。從可以采用并聯(lián)替代法來測量。從Q表附件中選取一只電表附件中選取一只電感量大于感量大于1mH的標準電感接至的標準電感接至 Lx接線柱，將接線柱，將“微調微調”調到零，調到零，主調電容度盤調至最大（主調電容度盤調至最大（500pF），記為），記為C1；然后調節(jié)；然后調節(jié)“定為定為零位校直零位校直”和和“Q值零位校直值零位校直”旋鈕使定位表及旋鈕使定位表及Q值表指示為值表指示為零，再調節(jié)定位粗調及定位細調旋鈕使定位表指針指在零，再調節(jié)定位粗調及定位細調旋鈕使定位表指針指在“Q1”處；最后調節(jié)頻率旋鈕及波段開關，使處；最后調節(jié)頻率旋鈕及波段開關，使Q值

16、表指示最值表指示最大。將被測電容接至大。將被測電容接至Cx接線柱，重調主調電容度盤使接線柱，重調主調電容度盤使Q值表值表指示最大，此時度盤讀數(shù)為指示最大，此時度盤讀數(shù)為C2，則被測電容，則被測電容Cx等于：等于： Cx=C1-C2第6章 電子元器件測量與儀器 156. 電容損耗因數(shù)的測量電容損耗因數(shù)的測量 首先將主調電容度盤調至首先將主調電容度盤調至500pF，記為，記為C1，將大于，將大于1mH的的標準電感接至標準電感接至Lx接線柱，調節(jié)波段開關及頻率旋鈕使接線柱，調節(jié)波段開關及頻率旋鈕使Q值表指值表指示最大，設它的讀數(shù)為示最大，設它的讀數(shù)為Q1；然后將被測電容并接于；然后將被測電容并接于C

17、x接線柱接線柱上，調小主調電容度盤至某值，設為上，調小主調電容度盤至某值，設為C2，重調信號源頻率使，重調信號源頻率使Q值表再次指示最大，設讀數(shù)為值表再次指示最大，設讀數(shù)為Q2，則損耗因數(shù)，則損耗因數(shù)Dx為：為：7.注意事項注意事項使用使用Q表測量過程中應注意，被測元件不能直接放在儀器頂板表測量過程中應注意，被測元件不能直接放在儀器頂板上，要加一塊高頻損耗小的如聚乙烯之類的襯墊板；被測元上，要加一塊高頻損耗小的如聚乙烯之類的襯墊板；被測元件接線要短且接觸良好；被測元件的屏蔽罩要接到低電位接件接線要短且接觸良好；被測元件的屏蔽罩要接到低電位接線柱上。線柱上。2121x121CCCQQQQD第6章

18、 電子元器件測量與儀器 166.5 晶體管特性圖示儀及應用晶體管特性圖示儀及應用-元器件測試元器件測試1、采用圖示法在熒光屏上直接顯示各種晶體管、場效應管、采用圖示法在熒光屏上直接顯示各種晶體管、場效應管等的特性曲線，等的特性曲線，2、并據(jù)此測算出元器件各項參數(shù)的儀器，例如測量、并據(jù)此測算出元器件各項參數(shù)的儀器，例如測量PNP和和NPN型三極管的輸入特性、輸出特性、電流放大特性；各種反向型三極管的輸入特性、輸出特性、電流放大特性；各種反向飽和電流、擊穿電壓，各類晶體二極管的正反向特性等飽和電流、擊穿電壓，各類晶體二極管的正反向特性等 晶體晶體管特性圖示儀特點：管特性圖示儀特點：1、具有用途廣泛

19、、直接顯示、使用方便、操作簡單等優(yōu)點。、具有用途廣泛、直接顯示、使用方便、操作簡單等優(yōu)點。2、尤其在晶體管各種極限參數(shù)和擊穿特性的觀測時，采用、尤其在晶體管各種極限參數(shù)和擊穿特性的觀測時，采用瞬時電壓和瞬時電流能使被測晶體管只承受瞬時過載而不會造成瞬時電壓和瞬時電流能使被測晶體管只承受瞬時過載而不會造成損壞。損壞。3、不能用于測量晶體管的高頻參數(shù)、不能用于測量晶體管的高頻參數(shù)。第6章 電子元器件測量與儀器 176.5.1 晶體管特性圖示儀的組成晶體管特性圖示儀的組成 圖圖6.19是共發(fā)射極是共發(fā)射極NPN型三極管輸出特性曲線及其逐點型三極管輸出特性曲線及其逐點測量法示意圖。測量法示意圖。 晶體

20、管特性儀的測量為動態(tài)測量法，逐晶體管特性儀的測量為動態(tài)測量法，逐點測量法是晶體管特性圖示儀的測量原理基礎。點測量法是晶體管特性圖示儀的測量原理基礎。VAVARBRCECEBIB0=0IB1IB2IB3IB4uCE(t)iC(t)0(b)(a)圖圖6.19 晶體三極管輸出特性曲線及逐點測量法示意圖晶體三極管輸出特性曲線及逐點測量法示意圖第6章 電子元器件測量與儀器 18晶體管特性圖示儀應具備以下功能：晶體管特性圖示儀應具備以下功能：能夠提供測試過程所需的各種基極電流能夠提供測試過程所需的各種基極電流IB。每一個固定每一個固定IB期間，集電極電壓期間，集電極電壓EC應作相應改變。應作相應改變。能夠

21、及時取出各組能夠及時取出各組uCE及及iC值送顯示電路。值送顯示電路。晶體管特性圖示儀主要由階梯波發(fā)生器、集電極掃描信晶體管特性圖示儀主要由階梯波發(fā)生器、集電極掃描信號源、測試變換電路、控制電路、號源、測試變換電路、控制電路、X-Y方式示波器等部分組方式示波器等部分組成，如圖成，如圖6.20所示。所示。第6章 電子元器件測量與儀器 19uCE(t)iC(t)uCE(t)IBtt t1t2 t3 t4 t51234 t1 t2(a)(b)(c)(d)圖6.21 晶體管特性圖示儀各點波形121221圖6-22 脈沖階梯波第6章 電子元器件測量與儀器 206.5.2 階梯波信號源階梯波信號源阻容移相

22、器整流器脈沖形成級階梯波形成級階梯波放大器開關電路圖圖6.24 階梯波信號源組成框圖階梯波信號源組成框圖 + 運放SC2+UC2C1+VD1VD2UoUi+圖圖6.25 密勒積分型階梯波形成電路密勒積分型階梯波形成電路UA+第6章 電子元器件測量與儀器 216.5.3 晶體管特性圖示儀的使用晶體管特性圖示儀的使用 1. XJ4810型晶體管特性圖示儀的面板結構型晶體管特性圖示儀的面板結構 第6章 電子元器件測量與儀器 22XJ4810型半導體管特性圖示儀+10V 50V 100V 500V AC集電極電源峰值電壓%功耗限制電阻電容平衡輔助電容平衡增益拉出0.1YXmAICuAIRuAA外接UC

23、E外接UBE電流/度電壓/度顯示變換校準階梯信號級/簇調零010k1M串聯(lián)電阻VuAmA電壓電流/級+重復關單簇按101增益U圖圖6.26 XJ4810型半導體圖示儀面板圖型半導體圖示儀面板圖拉電源開第6章 電子元器件測量與儀器 23（1）電源及示波管控制部分）電源及示波管控制部分電源及示波管控制部分開關旋鈕包括：聚焦、輔助聚焦、電源及示波管控制部分開關旋鈕包括：聚焦、輔助聚焦、輝度及電源開關，各自的使用方法與示波器相似。輝度及電源開關，各自的使用方法與示波器相似。（2）集電極電源）集電極電源1）“峰值電壓范圍峰值電壓范圍”選擇開關選擇開關“峰值電壓范圍峰值電壓范圍”選擇開關用于選擇集電極電源

24、最大值。選擇開關用于選擇集電極電源最大值。其中其中AC擋能使集電極電源變?yōu)殡p向掃描，使屏幕同時顯示出擋能使集電極電源變?yōu)殡p向掃描，使屏幕同時顯示出被測二極管的正、反方向特性曲線。當電壓由低擋換向高擋被測二極管的正、反方向特性曲線。當電壓由低擋換向高擋時，應先將時，應先將“峰值電壓峰值電壓%”旋鈕旋至旋鈕旋至0。2）“峰值電壓峰值電壓%”旋鈕旋鈕調節(jié)調節(jié)“峰值電壓峰值電壓%”旋鈕使集電極電源在確定的峰值電壓旋鈕使集電極電源在確定的峰值電壓范圍內連續(xù)變化。范圍內連續(xù)變化。第6章 電子元器件測量與儀器 243）“+、”極性按鍵開關極性按鍵開關按下按下“+、”極性按鍵開關時集電極電源極性為負，彈極性按

25、鍵開關時集電極電源極性為負，彈起時為正。起時為正。4）“電容平衡電容平衡”、“輔助電容平衡輔助電容平衡”旋鈕旋鈕當當Y軸為較高電流靈敏度時，調節(jié)軸為較高電流靈敏度時，調節(jié)“電容平衡電容平衡”、“輔輔助電容平衡助電容平衡”旋鈕兩旋鈕使儀器內部容性電流最小，使熒光旋鈕兩旋鈕使儀器內部容性電流最小，使熒光屏上的水平線基本重疊為一條。一般情況下無需調節(jié)。屏上的水平線基本重疊為一條。一般情況下無需調節(jié)。5）“功耗限制電阻功耗限制電阻”旋鈕旋鈕“功耗限制電阻功耗限制電阻”旋鈕用于改變集電極回路電阻的大小。旋鈕用于改變集電極回路電阻的大小。測量被測管的正向特性時應置于低電阻擋，測量反向特性時測量被測管的正向

26、特性時應置于低電阻擋，測量反向特性時應置于高阻擋。應置于高阻擋。 （3）Y軸部分軸部分第6章 電子元器件測量與儀器 251）“電流電流/度度”旋鈕旋鈕“電流電流/度度”旋鈕是測量二極管反向漏電流旋鈕是測量二極管反向漏電流IR及三極管集及三極管集電電極電流極電流IC的量程開關。當開關置于的量程開關。當開關置于“ ”（該擋稱為（該擋稱為基極電流或基極源電壓）位置時，可使屏幕基極電流或基極源電壓）位置時，可使屏幕Y軸代表基極電軸代表基極電流或電壓；當開關置于流或電壓；當開關置于“外接外接”時，時，Y軸系統(tǒng)處于外接收狀軸系統(tǒng)處于外接收狀態(tài)，外輸入端位于儀器左側面。態(tài)，外輸入端位于儀器左側面。2）“移位

27、移位”旋鈕旋鈕“移位移位”旋鈕可進行垂直移位外，還兼作倍率開關，當旋鈕可進行垂直移位外，還兼作倍率開關，當旋鈕拉出時，指示燈亮，旋鈕拉出時，指示燈亮，Y軸偏轉因數(shù)縮小為原來的軸偏轉因數(shù)縮小為原來的1/10。3）“增益增益”電位器電位器“增益增益”電位器用于調整電位器用于調整Y軸放大器的總增益，即軸放大器的總增益，即Y軸偏軸偏轉因數(shù)。一般情況下無需經(jīng)常調整。轉因數(shù)。一般情況下無需經(jīng)常調整。 第6章 電子元器件測量與儀器 26（4）X軸部分軸部分1）“電壓電壓/度度”旋鈕旋鈕 “電壓電壓/度度”旋鈕是集電極電壓旋鈕是集電極電壓UCE及基極電壓及基極電壓UBE的量程的量程開關。當開關置于開關。當開關

28、置于“”“”位置時，可使屏幕位置時，可使屏幕X軸代表基極電流軸代表基極電流或電壓；當開關置于或電壓；當開關置于“外接外接”時，時，X軸系統(tǒng)處于外接收狀態(tài)，軸系統(tǒng)處于外接收狀態(tài)，外輸入端位于儀器左側面。外輸入端位于儀器左側面。2）“增益增益”電位器電位器“增益增益”電位器用于調整電位器用于調整X軸放大器的總增益，即軸放大器的總增益，即X軸偏軸偏轉因數(shù)。一般情況下無需經(jīng)常調整。轉因數(shù)。一般情況下無需經(jīng)常調整。（5）顯示部分）顯示部分1）“變換變換”選擇開關選擇開關第6章 電子元器件測量與儀器 27“變換變換”選擇開關用于同時變換集電極電源及階梯信號的選擇開關用于同時變換集電極電源及階梯信號的極性，

29、以簡化極性，以簡化NPN型管與型管與PNP管轉測時的操作。管轉測時的操作。2）“”按鍵開關按鍵開關“”按鍵開關按下時，可使按鍵開關按下時，可使X、Y放大器的輸入端同時放大器的輸入端同時接地，以確定零基準點。接地，以確定零基準點。3）“校準校準”按鍵開關按鍵開關“校準校準”按鍵開關用于校準按鍵開關用于校準X軸及軸及Y軸放大器增益。開關軸放大器增益。開關按下時，在熒光屏有刻度的范圍內，亮點應自左下角準確地按下時，在熒光屏有刻度的范圍內，亮點應自左下角準確地跳至右上角，否則應調節(jié)跳至右上角，否則應調節(jié)X軸或軸或Y軸的增益電位器來校準。軸的增益電位器來校準。（6）階梯信號）階梯信號1）“電壓電壓電流電

30、流/級級”旋鈕旋鈕“電壓電流/級”旋鈕用于確定每級階梯的電壓值或電流第6章 電子元器件測量與儀器 28值。 2）“串聯(lián)電阻”開關 “串聯(lián)電阻”開關用于改變階梯信號與被測管輸入端之間所串接的電阻大小，但只有當電壓電流/級開關置于電壓擋時，本開關才起作用。 3）“級/簇”旋鈕 “級/簇”旋鈕用于調節(jié)階梯信號一個周期的級數(shù)，可在110級之間連續(xù)調節(jié)。 4）“調零”旋鈕 “調零”旋鈕用于調節(jié)階梯信號起始級電平，正常時該級為零電平。第6章 電子元器件測量與儀器 295）“+、”極性按鍵開關“+、”極性按鍵開關用于確定階梯信號的極性。6）“重復關”按鍵開關“重復關”按鍵開關彈起時，階梯信號重復出現(xiàn)，用作正

31、常測試；當開關按下時，階梯信號處于待觸發(fā)狀態(tài)。 7）“單簇按”開關“單簇按”開關與“重復關”按鍵開關配合使用。當階梯信號處于調節(jié)好的待觸發(fā)狀態(tài)時，按下該按鈕，指示燈亮，階梯信號出現(xiàn)一次，然后又回至待觸發(fā)狀態(tài)。（7）測試臺部分圖6.27為XJ4810型晶體管特性圖示儀測試臺面板圖，各第6章 電子元器件測量與儀器 30開關旋鈕的作用如下： 1）“左”、“右”按鍵開關 開關按下時，分別接通左、右邊的被測管。 2）“二簇”按鍵開關 “二簇”按鍵開關按下時，圖示儀自動交替接通左、右兩只被測管，此時可同時觀測到兩管的特性曲線，以便對它們進行比較。 3）“零電壓”、“零電流”按鈕 “零電壓”、“零電流”按鈕

32、按下時，分別將被測管的基極接地、基極開路，后者用于測量ICEO、BUCEO等參量。CBEIRCBEGCBEGCBECBECBE零電壓零電流左 二簇 右測試選擇圖6.27 XJ4810型晶體管特性圖示儀測試臺面板圖第6章 電子元器件測量與儀器 312. XJ4810型晶體管特性圖示儀的使用方法與注意事項型晶體管特性圖示儀的使用方法與注意事項（1）使用方法開啟電源，指示燈亮，預熱15min后使用。調節(jié)輝度、聚焦、輔助聚焦等旋鈕，使屏幕上的亮點或線條清晰。X、Y靈敏度校準。將峰值電壓%旋鈕選為0，屏幕上的亮點移至左下角，按下顯示部分中的校準按鍵開關，此時亮點應準確地跳至右上角。否則，應調節(jié)X軸或Y軸

33、的增益電位器來校準。 階梯調零。當測試中要用到階梯信號時，必須先進行階梯調零，其過程如下：將階梯信號及集電極電源均置于“+”極性，“電壓/度”置于“1V/度”，“電流/度”置于“”，“電壓電第6章 電子元器件測量與儀器 32流/級”置于“0.05V/級”，“重復開關”置于重復，“級/簇”置于適中位置，“峰值電壓范圍”置于10V擋，調節(jié)“峰值電壓%”旋鈕使屏幕上的掃描線滿度，然后按下“”按鍵，觀察此時亮點在屏幕上的位置，再將按鍵復位，調節(jié)調零旋鈕使階梯波起始級處于亮點位置，這樣，階梯信號的零電平即被校準。 （2）注意事項 應特別注意階梯信號選擇、功耗限制電阻、峰值電阻范圍旋鈕的使用，如果使用不當

34、會損壞被測晶體管。 測試大功率晶體管和極限參數(shù)、過載參數(shù)時，應采用單簇階梯信號，以防過載損壞被測器件。 測試MOS型場效應管時，應特別注意不要使柵極懸空，以免感應電壓過高擊穿被測管。第6章 電子元器件測量與儀器 33測試完畢后，使儀器復位，以防下次使用時因疏忽而損壞被測器件。此時應將“峰值電壓范圍”置于（010V）擋，“峰值電壓調節(jié)”旋到零位，階梯信號選擇開關置于關擋，“功耗限制電阻”置于10k以上位置。6.5.4 晶體管特性圖示儀特性曲線測試舉例晶體管特性圖示儀特性曲線測試舉例晶體管特性圖示儀可直接測試晶體管各種組態(tài)的輸出、輸入特性以及各種參數(shù)的測量。這里僅介紹部分特性曲線的測試方法。1.

35、二極管特性曲線的測試二極管特性曲線的測試二極管特性曲線的測試原理如圖6.28所示。測試二極管時只需觀察流過二極管的電流與二極管兩端電壓之間的關系，不必使用階梯信號源。將二極管的正極和第6章 電子元器件測量與儀器 34負極分別插入C、E兩個接線端即可。測正向特性時加正極性掃描電壓，測反向特性時加負極性掃描電壓。集電極掃描電壓接至X軸，RF上的取樣電壓接至Y軸，則可顯示出相應的特性。為了能顯示出二極管的正反向特性，把未掃描時的亮點調至顯示屏的中心位置，扳動掃描電壓極性開關則可分別顯示出正反向特性曲線。新型的晶體管圖示儀，集電極掃描電壓有雙向掃描功能，可使正反向特性曲線同時顯示在熒光屏上。根據(jù)顯示出

36、Y放大器X放大器RCRFX偏轉板Y偏轉板VD圖6.28 二極管特性曲線測試原理圖第6章 電子元器件測量與儀器 35的特性曲線，依據(jù)定義可測量出二極管的各種參數(shù)，如整流二極管的正向壓降、反向電流，穩(wěn)壓管的穩(wěn)定電壓、動態(tài)電阻等。 2. 三極管特性曲線的測試三極管特性曲線的測試 （ 1）三極管輸出特性曲線測試 NPN型三極管輸出特性曲線測試原理如圖6.20所示。選擇集電極掃描電壓、基極階梯信號的極性及掃描電壓的峰值電壓范圍，Y軸作用開關置于“集電極電流”某合適擋位，X軸作用開關置于“集電極電壓”某合適擋位；基極接入階梯信號（連續(xù)或脈沖），“階梯選擇”置于階梯電流某合適位置，“功耗限制電阻”選取合適數(shù)值，插入被測三極管，加大集電極掃描電壓，即可顯示出三極管共射輸出特性曲線。第6章 電子元器件測量與儀器 36（2）三極管輸入特性曲線的測試三極管輸入特性曲線的測試原理如圖6.29所示。此時被測管的集電極仍接全波整流掃描電壓，基極接入連續(xù)階梯（或脈沖階梯）信號，二者極性由被測管管型確定，Y軸作用開關置于“基極電流或基極源電壓”，“X軸作用”置于“基極電壓”某合適擋位，階梯電流iB及掃描電壓uCE的調節(jié)方法同上。X放大Y 放大RBX偏轉板Y偏轉板圖6.29 晶體三極管輸入特性曲線測試原理圖放大器RCuBEiB第6章 電子元器件測量與儀器 37PNP型三極管特性曲線測試時