關于介質損耗測試

1、關于介質損耗的一些基本概念1、介質損耗什么是介質損耗：絕緣材料在電場作用下，由于介質電導和介質極化的滯后效應，在其內部引起的能量損耗。也叫介質損失，簡稱介損。2、介質損耗角S在交變電場作用下，電介質內流過的電流相量和電壓相量之間的夾角（功率因數角）的余角（6）。簡稱介損角3、介質損耗正切值tgS又稱介質損耗因數，是指介質損耗角正切值，簡稱介損角正切。介質損耗因數的定義如下如果取得試品的電流相量,和電壓相量仃，則可以得到如下相量圖:介質損耗因數儂5尸被測試品的有功功率P被測試品的無功功率QKIO。%IR士Ic觸電阻R,純電容。總電流可以分解為電容電流Ic和電阻電流IR合成，因此:介質損耗因數（t

2、g6）=上工100%X100H=-K100%UlrIr這正是損失角6=（90。-）的正切值。因此現(xiàn)在的數字化儀器從本質上講，是通過測量6或者得到介損因數。測量介損對判斷電氣設備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。絕緣能力的下降直接反映為介損增大。進一步就可以分析絕緣下降的原因，如：絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質等等。測量介損的同時，也能得到試品的電容量。如果多個電容屏中的一個或幾個發(fā)生短路、斷路，電容量就有明顯的變化，因此電容量也是一個重要參數。4、功率因數cos功率因數是功率因數角的余弦值，意義為被測試品的總視在功率S中有功功率P所占的比重功率因數的定義如下：有的介損測試儀習慣顯示功率

3、因數（PF:cos），而不是介質損耗因數（DF:tg6）。一般cos=tg-1=5.573*V=+Ba=1334A這剛好是低頻部分的相位和幅度，干擾被完全抑制。變頻測量時，儀器需要知道的唯一信息是干擾頻率。因為儀器供電頻率就是干擾頻率，整個電網的頻率是一樣的。儀器在測量中可以動態(tài)實時跟蹤干擾頻率，將數字濾波器的吸收點時刻調整到干擾頻率上。而干擾信號的幅值和相位變化對這種測量是沒有影響的。梟用55E工測量時的數字濾波特性用 AI-6000D 做不拆高壓引線的 CVT 自激法測量試驗及電位(泛華電子)測C2時，高壓線芯線和屏蔽、CX線芯線和屏蔽都是低壓。三、為什么先測量C13,再測量C2大家知道，

4、C13電容量較小，約2萬pF;C2電容量較大，至少4萬pF;CN為50pF標準電容器。測量C13時，C2和內CN串連用AI-6000D做CVT自激法測量非常方便，可按下圖接線。如果C1是單節(jié)電容，母線不能接地；如果C1是多節(jié)電容，高壓引線可不拆，母線也可接地,C11和C12可用常規(guī)正反接線測量,C13和C2用自激法測量。、接線方法如下圖:母線Ak6000D0-芯線和屏蔽高壓線I內Cn橋體Cx、測量過程及電位接地低壓CVT自激法測量中，儀器先測量C13,然后自動倒線測量C2,并自動校準分壓影響測C13時，高壓線芯線和屏蔽帶高壓,CX線芯線和屏蔽都是低壓當作標準電容器，根據電容串聯(lián)公式C串=(C2CN)/(C2+CN),由于C2CN,C串CN,這樣C2對測量結果影響較小，可忽略不計。反之，如果先測C13,因C13容量較小，和內CN串連后，會把C13的介損加進去，造成標準臂介損增大，引起C2介損減小，造成測量誤差四、自激法時高壓線拖地會引起介損增大自激法時高壓線應懸空不能接觸地面，否則其對地附加介損會引起介損增大，可用細電纜連接高壓插座與RC串聯(lián)模型，使6點的電壓UN超前變成UN,相應的IN變成IN,Ix相位不變，造成6