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1、TP4057高品質(zhì)500mA電流單節(jié)鋰 電充電板TP4057高品質(zhì)500mA電流單節(jié)鋰電充電板 電池反接不會燒片,適合DIY萬能充 18650鋰電池專用充電器獨(dú)家轉(zhuǎn)燈芯片精度為0.5%(4.18V-4.22V之間)更高精度更好保護(hù)電池,延長電池使 用壽命。直插LED最短一腿為綠色插入板子左上角G孔,即可確定順序。VIN -5V輸入正極GND -5V輸入負(fù)極Bat+ 接電池正極-接電池負(fù)極板載紅綠貼片LED,充電時(shí)紅燈亮,充滿后綠燈亮,沒接電池時(shí)綠燈亮。反接電池雙燈自動全滅,以提示電池接錯(cuò)。去掉電池自動恢復(fù)。prog電阻 電流 TOC o 1-5 h z 20k50mA10k100mA5k200

2、mA3k300mA2k400mA1.6k500mA其他阻值可以參照上表規(guī)律折算權(quán)威芯片及成品檢測,完美質(zhì)量控制。用料奢華,輸出端10u電容。完美可靠性保護(hù)。更加適合玩家DIY。性能:輸入電壓:4.5-9V充電截止電壓4.2V (轉(zhuǎn)燈芯片正負(fù)0.5% 4.18-4.22之間) 輸出最大充電電流單顆500mA (可定制更改100-500mA之間)三段式充電,電池在低于2.9V時(shí),涓流預(yù)充電,充電電流50mA左右。電池在2.9V-4.05V恒流充電電池高于4.05V恒壓充電,充電電流不斷減小。充電必備知識:1,測試電流的電流表只能串接在充電板的5V輸入端。充電電流最好是電池容量的0.37C,就是容量

3、的0.37倍,比如1000mAH的電池充 電電流400這樣就夠了。過大充電速度快效果就差,沖完了電池電壓掉的就多!充電連接導(dǎo)線不能過細(xì)過長。這樣連接電阻大。太細(xì)的話沖完了電池電壓掉的就多。與電池連接最好接觸良好。不然沖完了電池電壓掉的就多。5,如果5V的輸入電壓偏高,比如5.2甚至5.5,會造成充電電流不足500mA,這是正 常的。小封裝的芯片散熱性不如大封裝。電壓高了芯片發(fā)熱會自動減小充電電流,不至芯片 燒毀。測試須知:1、空載測試,由于輸出端接了 100k的上拉電阻,所以在無電池狀態(tài)下,輸出電壓在4.5 以上,根據(jù)電源電壓變化。接100k電阻主要為了電池反接后的立即自動回復(fù)。玩家也可以 自

4、行卸掉,卸掉的板子無電池狀態(tài)就是綠燈亮,紅燈閃,空載電壓4.1V左右跳動。此時(shí) 4.1V是給電容不停充電的中間態(tài)的跳動電壓。并不是充電關(guān)斷電壓,充電截止電壓是 4.2V0.5% 精度。2、如果玩家想串接電流表測試電流,請一定串聯(lián)在輸入電源端,不能串聯(lián)在電池端。原因: 電流表有檢測電阻,20A檔也有個(gè)小歐姆,假設(shè)為1歐姆,1A的電流上去就是1V壓降, 電流表分了 1V,極大干擾電池充電,電流就小了,充電狀態(tài)也不穩(wěn)定了。同理,玩家在處理連接測試的時(shí)候,請注意良好的連接以減小連接內(nèi)阻帶來的測試偏差。3、玩家測試充電完成轉(zhuǎn)燈后的值過低原因:芯片判斷充電完成電壓是在有充電電流的情況 下采樣的電池電壓,電

5、池內(nèi)阻,引線內(nèi)阻都會加大這個(gè)采樣值,所以轉(zhuǎn)燈后,再測電池一般 會回落10mV左右。個(gè)別玩家連接內(nèi)阻過大,會引起電池電壓回落過大。請玩家以充電即 將結(jié)束,而沒有轉(zhuǎn)燈的時(shí)候檢測電池電壓作為芯片充電關(guān)斷電壓才是合理的。具體簡單的方法可以在充電結(jié)束轉(zhuǎn)燈完成后,萬用表電壓檔連接電池,重新插拔電源端,芯片會重新充電循環(huán)一次,在轉(zhuǎn)燈前看電池電壓。充電芯片在電池電壓較高情況下上電池不充電情況說明充電管理芯片都具備充電的電池充滿后電壓回落至4.05V自動再啟動之功能。這一功能的 設(shè)計(jì)是為了始終保證電池的較高的充電飽和電壓。由于實(shí)際應(yīng)用中,芯片連接電池的BAT 管腳接一 10u電容。在無電池接入的情況下,芯片自動把這個(gè)BAT端的小電容看做一個(gè)微 小的電池進(jìn)行充電工作(電池和電容都是容性負(fù)載,特性相同)。這樣會使得芯片的工作狀 態(tài)進(jìn)入自動再充電狀態(tài)。由于此狀態(tài)是比較BAT端電位是否低于4.05V,而不是關(guān)斷電壓 4.2V,這就造成當(dāng)客戶連接一個(gè)比較滿的電池高于4.05V的電池時(shí),芯片不作出充電動作。 去掉BAT管腳的10u電容可以解決這一問題,客戶可以簡單測試驗(yàn)證,但是這個(gè)電容是為 了芯片的可靠性,濾除上下電毛刺尖峰的作用,所以實(shí)際生產(chǎn)使用中

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