千分尺校準(zhǔn)教程50張幻燈片

1、千分尺千分尺檢定規(guī)程（JJG21-2019）千分尺的檢定或校準(zhǔn)一、范圍 本規(guī)程適用于分度值為0.01mm，測(cè)量上限至500mm的外徑千分尺;測(cè)量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力為0.001mm，0.0001mm，測(cè)量上限至500mm的數(shù)顯外徑千分尺的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)。二、概述千分尺是由尺架、測(cè)砧、測(cè)微螺桿、測(cè)力裝置、鎖緊裝置和讀數(shù)裝置等組成。如圖所示：二、概述二、概述二、概述二、概述二、概述三、計(jì)量性能要求 1、測(cè)微螺桿的軸向串動(dòng)和徑向擺動(dòng) 測(cè)微螺桿的軸向串動(dòng)和徑向擺動(dòng)均不大于0.01mm。 2、測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移 測(cè)砧與測(cè)微螺桿 測(cè)量面的相對(duì)偏移量應(yīng)不超

2、過(guò)表1規(guī)定。表1 測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量 mm三、計(jì)量性能要求三、計(jì)量性能要求 3、測(cè)力 千分尺的測(cè)力（系指測(cè)量面與球面接觸時(shí)所作用的力）應(yīng)為（510）N。 4、刻線寬度及寬度差 微分筒刻線寬度為（0.080.20）mm，固定套管上的刻線與微分筒上的刻線的寬度差均應(yīng)不大于0.03mm。帶刻度盤的刻線寬度為（0.200.30）mm，其寬度差應(yīng)不大于0.05mm三、計(jì)量性能要求 5、指針與刻度盤的相對(duì)位置 板厚千分尺刻度盤上的指針末端應(yīng)蓋住刻線盤短刻線長(zhǎng)度的30%80%，指針末端上表面至 刻線度盤表面的距離應(yīng)不大于0.7mm。指針末端與刻度盤刻線的寬度應(yīng)一致，差值應(yīng)不大于0.05mm。

3、6、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離 微分筒錐面棱邊至固定套管刻線表面的距離應(yīng)不大于0.4mm。 三、計(jì)量性能要求 7、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對(duì)位置 當(dāng)測(cè)量下限調(diào)整正確后，微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對(duì)準(zhǔn)時(shí)，微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應(yīng)相切，若不相切，壓線不大于0.05mm，離線不大于0.1mm。 三、計(jì)量性能要求 8、測(cè)量面的平面度 外徑千分尺測(cè)量面的平面度度應(yīng)補(bǔ)大于0.6m。壁厚千分尺、板厚千分尺測(cè)量面的平面度應(yīng)不大于1.5 m。數(shù)顯外徑千分尺測(cè)量面平面度應(yīng)不大于0.3 m。 9、數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性 數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性不大于1 m。三

4、、計(jì)量性能要求 10、數(shù)顯外徑千分尺任意位置時(shí)數(shù)值漂移應(yīng)不大于1 m/h。 11 、兩測(cè)量面的平面度 外徑千分尺鎖緊裝置緊固與松開時(shí)，千分尺兩工作面的平行度均應(yīng)不超過(guò)表2規(guī)定。三、計(jì)量性能要求 表2外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩側(cè)量面的平面度測(cè)量范圍/mm最大允許誤差/m兩測(cè)量面的平行度/m025，25 504250 75，75 10053100 125，125 15064150 175，175 20075200 225，225 25086250 275，275 30097300 325，325 350109350 375，375 40011400 425，425 4501211450 47

5、5，475 50013三、計(jì)量性能要求 板厚千分尺兩測(cè)面的平行度應(yīng)不超過(guò)4m 數(shù)顯外徑千分尺兩測(cè)面的平行度應(yīng)不超過(guò)表3規(guī)定。三、計(jì)量性能要求 表3數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩測(cè)量面的平面度56300 325，325 350350 375，375 40067400 425，425 450450 475，475 50045250 275，275 3003.54200 225，225 25034150 175，175 2002.53100 125，125 1502.0350 75，75 1001.520 25，25 50兩測(cè)量面的平行度/m最大允許誤差/m測(cè)量范圍/mm三、計(jì)量性能要求 12

6、 示值誤差 外徑千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超過(guò)表2規(guī)定。 壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超過(guò)8m。 數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超過(guò)表3規(guī)定 對(duì)于測(cè)量上限大于150mm的千分尺可只檢測(cè)微頭示值誤差，測(cè)微頭各點(diǎn)相對(duì)零點(diǎn)的示值最大允許誤差不超過(guò)3m。三、計(jì)量性能要求 13 數(shù)顯外徑千分尺細(xì)分誤差數(shù)顯外徑千分尺數(shù)顯裝置的細(xì)分誤差應(yīng)不超過(guò)2m。 14 校對(duì)用的量桿 14.1外徑千分尺校對(duì)用的量桿 外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量應(yīng)不超過(guò)表4規(guī)定。三、計(jì)量性能要求 表4 外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量校對(duì)量桿標(biāo)稱尺寸/mm尺寸偏差/m變動(dòng)量/m25，50217531

7、.5100321254215042.517552.520053.5225，2506 3.5275，30073.5325，350，375，40094425，450，475115三、計(jì)量性能要求 14.2 數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量 數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量應(yīng)不超過(guò)表5規(guī)定。三、計(jì)量性能要求 表5 數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量標(biāo)稱尺寸/mm尺寸偏差/m變動(dòng)量/m25，501.251751.5110021125，150，1752.51.5200，225，2503.51.5275，30042325，350，375，4004.52.5425，450，47553四、通用技術(shù)要求

8、 1 外觀 1.1 千分尺及其校對(duì)用的量桿不應(yīng)有碰傷、腐蝕，帶礠或其他缺陷，標(biāo)尺刻線應(yīng)清晰、均勻，數(shù)顯外徑千分尺數(shù)字顯示應(yīng)清晰、完整。 1.2 千分尺應(yīng)附有調(diào)整零位工具，測(cè)量上限大于或等于25mm的千分尺應(yīng)附有校對(duì)用的量桿。千分尺應(yīng)具有測(cè)力裝置、隔熱裝置和鎖緊裝置。校對(duì)量桿應(yīng)有隔熱裝置。四、通用技術(shù)要求 1.3 千分尺上應(yīng)標(biāo)有分度值、測(cè)量范圍、制造廠名（或廠標(biāo)）及出廠編號(hào)。 1.4 后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)的千分尺及其校對(duì)用的量桿不應(yīng)有影響使用準(zhǔn)確度的外觀缺陷。四、通用技術(shù)要求 2 各部分的相互作用 2.1 微分筒轉(zhuǎn)動(dòng)和測(cè)微螺桿的移動(dòng)應(yīng)平穩(wěn)無(wú)卡滯現(xiàn)象。 2.2 可調(diào)或可換測(cè)砧的調(diào)整或裝卸應(yīng)順暢，作

9、用要可靠，調(diào)零和緊鎖裝置的作用應(yīng)切實(shí)有效。 2.3 帶有表盤的千分尺，表針移動(dòng)應(yīng)靈活、無(wú)卡滯現(xiàn)象。 2.4數(shù)顯外徑千分尺各工作按鈕應(yīng)靈活可靠。五、計(jì)量器具控制 計(jì)量器具控制包括首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢定。 1 檢定條件 1.1環(huán)境條件 檢定千分尺的室內(nèi)溫度和被檢千分尺在室內(nèi)平衡溫度的時(shí)間均應(yīng)符合表6規(guī)定。室內(nèi)濕度不大于70%RH五、計(jì)量器具控制表6 室內(nèi)溫度及被檢千分尺在室內(nèi)平衡溫度的時(shí)間受檢千分尺名稱受檢千分尺測(cè)量范圍/mm室內(nèi)溫度對(duì)20的允許偏差/平衡溫度的時(shí)間/h千分尺 校對(duì)用的 量桿 外徑、板厚、壁厚100532100 5004 23數(shù)顯100313100 200214200 50

10、0115五、計(jì)量器具控制 1.2 檢定設(shè)備 主要檢定設(shè)備見表7。 2 檢定項(xiàng)目 檢定項(xiàng)目見表7。五、計(jì)量器具控制 3 檢定方法 3.1 外觀 目力觀察。 3.2 各部分的相互作用 手動(dòng)試驗(yàn)和目力觀察。 3.3 測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng) 一般情況下用手感檢驗(yàn)測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)。有異議時(shí)，可按下列方法檢定。五、計(jì)量器具控制 3.3.1 測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)，用杠桿千分表檢定。檢定時(shí)，杠桿千分表與測(cè)微螺桿測(cè)量面接觸，沿測(cè)微螺桿軸向方向分表返加力3N5N，如圖7所示。桿杠千分表示值變化，即為軸向竄動(dòng)量。 3.3.2 測(cè)微螺桿的徑向擺動(dòng)亦用杠桿千分表檢定。檢定時(shí)，將測(cè)微螺桿伸出尺架10mm后

11、，使杠桿千分表接觸測(cè)微螺桿端部，再沿杠桿千分表測(cè)量方向加力2N3N，然后在相反方向加同樣大小的力，此時(shí)杠桿千分表示值的變化即為徑向擺動(dòng)。徑向擺動(dòng)的檢定應(yīng)在測(cè)微螺桿相互垂直的兩個(gè)方向進(jìn)行。五、計(jì)量器具控制 3.4 測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移 一般情況下目力觀察千分尺測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移，(025)mm的千分尺可使兩測(cè)量面直接接觸觀察其偏移量，測(cè)量上限大于25mm的千分尺可借助校對(duì)量桿進(jìn)行檢定。如有異議時(shí)，可按下列方法進(jìn)行檢定。五、計(jì)量器具控制 測(cè)量范圍為（025）mm的用塞尺比較；測(cè)量上限大于25mm的外徑千分尺用專用檢具測(cè)出偏移量。 在平板上用杠桿百分表檢定；對(duì)于測(cè)量范圍大于30

12、0mm的千分尺用百分表檢定。檢定時(shí)借助千斤頂放置在平板上(圖9),調(diào)整千斤頂使千分尺的測(cè)微螺桿與平板工作面平行，然后用百分表測(cè)出測(cè)砧與測(cè)微螺桿在這一方位上的偏移量，然后將尺架側(cè)轉(zhuǎn)90，按上述方法測(cè)出測(cè)砧與測(cè)微螺桿在另一方位上的偏移量。測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量按下式求得：= 五、計(jì)量器具控制 3.5 測(cè)力 用分度值不大于0.2N的專用測(cè)力計(jì)檢定。檢定時(shí)，使測(cè)量面與測(cè)力計(jì)的球工作面接觸后進(jìn)行。 3.6 刻線寬度及寬度差 在工具顯微鏡上檢定。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至任意抽檢3條刻線。此項(xiàng)檢定也可采用滿足不確定度要求的其他方法。 五、計(jì)量器具控制 3.7 指針與刻線的相對(duì)位置 指針末端與刻

13、度盤短刻線的相對(duì)位置可用目力估計(jì)。指針末端上表面至刻度盤表面的距離應(yīng)用塞尺進(jìn)行檢定。上述檢定應(yīng)在刻度盤上均勻分布的3各位置上進(jìn)行。指針末端與刻度盤的刻線的寬度差在工具顯微鏡上檢定。此項(xiàng)檢定也可采用滿足不確定度要求的其他方法。五、計(jì)量器具控制 3.8 微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離 在工具顯微鏡上檢定。也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻線表面上用比較法檢定，檢定時(shí)在微分筒轉(zhuǎn)動(dòng)一周內(nèi)不少于3各位置上進(jìn)行。 3.9 微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對(duì)位置 當(dāng)測(cè)量下限調(diào)整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套管任意毫米刻線的右邊緣相切時(shí)，讀取微分筒的零刻線與固定套管縱向刻線的偏移量。五

14、、計(jì)量器具控制 3.10 測(cè)量面的平面度 對(duì)于新制的和修理后的千分尺，用二級(jí)平晶以光波干涉法檢定，將平面平晶的測(cè)量面與千分尺測(cè)量面研合，調(diào)整平晶使測(cè)量面上的干涉環(huán)或干涉帶的數(shù)目盡可能少。外徑千分尺測(cè)量面不應(yīng)出現(xiàn)2條以上，壁厚千分尺，板厚千分尺不應(yīng)出現(xiàn)5條以上，數(shù)顯千分尺不應(yīng)出現(xiàn)1條以上相同顏色的干涉環(huán)或干涉帶。 對(duì)于后續(xù)檢定的可用刀口尺用光隙法檢定 在距測(cè)量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平面度忽略不計(jì)。五、計(jì)量器具控制 3.11 數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性 在相同測(cè)量條件下重復(fù)測(cè)量5次分別讀數(shù)。示值重復(fù)性以最大與最小讀數(shù)的差值確定。 3.12 數(shù)顯外徑千分尺任意位置時(shí)數(shù)值漂移 在測(cè)量范圍內(nèi)的任意位置

15、鎖緊測(cè)微螺桿，觀察1h內(nèi)顯示值的變化不超過(guò)規(guī)定值。五、計(jì)量器具控制 3.13 量測(cè)量面的平行度 測(cè)量上限至100mm千分尺兩測(cè)量面的平行度用4塊厚度差為1/4測(cè)微螺桿螺距的平行平晶檢定，也可用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等量塊檢定，外徑、板厚千分尺用5等量塊檢定。測(cè)量上限大于100mm的千分尺兩測(cè)量面的平行度用鋼球檢具檢定。 兩測(cè)量面的平行度也可用其他相應(yīng)準(zhǔn)確度的儀器檢定。五、計(jì)量器具控制 使用平行平晶檢定時(shí)，依次將4塊厚度差為1/4螺距的平行平晶放入兩測(cè)量面間，使量測(cè)量面與平行平晶接觸，轉(zhuǎn)動(dòng)棘輪機(jī)構(gòu)，并輕輕轉(zhuǎn)動(dòng)平晶，使兩測(cè)量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目減至最少。分別讀取量測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)，取兩

16、測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)目之和與所用光的波長(zhǎng)值的計(jì)算結(jié)果作為兩測(cè)量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上速程序分別進(jìn)行檢定，取其中最大值作為受檢千分尺的兩測(cè)量面平行度測(cè)量結(jié)果。五、計(jì)量器具控制 使用量塊檢定時(shí)，采用其尺寸差為1/4螺距的4塊量塊進(jìn)行。每個(gè)量塊以其同一部位放入測(cè)量面間的4個(gè)位置上分別在微分筒上讀數(shù)，并求出其差值。以四組差值中最大值作為被檢千分尺兩測(cè)量面的平行度。 五、計(jì)量器具控制 3.14 示值誤差 外徑、壁厚、板厚千分尺示值誤差用5等專用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等專用量塊檢定。各種千分尺的受檢點(diǎn)應(yīng)均勻分布于測(cè)量范圍的5點(diǎn)上，如表8中所示。得出千分尺示值與相應(yīng)量塊尺寸的差值，

17、各點(diǎn)上的示值誤差均不超過(guò)表2或表3最大允許誤差的要求。五、計(jì)量器具控制 測(cè)量上限大于100mm的千分尺，將專用量塊依次研合在相當(dāng)于千分尺測(cè)量范圍下限的5等量塊上依稀進(jìn)行檢定。各點(diǎn)上的示值誤差均不應(yīng)超過(guò)表2或表3中的規(guī)定。對(duì)于測(cè)量范圍大于25mm的千分尺應(yīng)以相應(yīng)的千分尺測(cè)量下限的量塊對(duì)零。五、計(jì)量器具控制 表8 各種千分尺受檢點(diǎn)測(cè)量范圍/mm受檢點(diǎn)尺寸/mm0102.12 4.25 6.37 8.50 100153.12 6.24 9.37 12.50 150255.12 10.25 15.37 20.5 25或5.12 10.24 15.36 21.5 25大于25A+5.12 A+10.25

18、 A+15.37 A+20.5 A+25或A+5.12 A+10.24 A+15.36 A+21.5 A+25注:表中A為千分尺的測(cè)量下限。五、計(jì)量器具控制 對(duì)于測(cè)量上限大于150mm的千分尺在平面度、平行度、測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移等計(jì)量性能均滿足要求情況下，可以只檢定測(cè)微頭的示值誤差。用專用量塊借助專用檢具按（025）mm的千分尺受檢點(diǎn)檢定。 3.15 數(shù)顯千分尺細(xì)分誤差 在測(cè)量范圍任意位置上，沿測(cè)量方向轉(zhuǎn)動(dòng)微分筒，每間隔0.04mm檢定一次，共檢定12點(diǎn)，分別讀出各受檢點(diǎn)數(shù)顯裝置的顯示值與微分筒讀數(shù)值之差。其最大差值應(yīng)符合要求。對(duì)于沒有微分筒的數(shù)顯千分尺，可用量塊檢定。 五、計(jì)量器具控制 3.16 校對(duì)用量桿 外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸及變動(dòng)量在光學(xué)計(jì)或測(cè)長(zhǎng)機(jī)上采用4等量塊以比較法進(jìn)行檢定。數(shù)顯千分尺校對(duì)用量桿的