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文檔簡介
1、單個正態(tài)總體 均值的檢驗兩個正態(tài)總體均值差的檢驗小結(jié) 布置作業(yè)第二節(jié) 正態(tài)總體均值的假設(shè)檢驗 1. 已知,關(guān)于 的檢驗(u檢驗) 在上一小節(jié)中已討論過正態(tài)總體 , 當 已知時關(guān)于 的檢驗問題.在這些檢驗問題中,我們都是利用 在為真時服從 分布的統(tǒng)計量 來確定拒絕域。這種檢驗法常稱為 u 檢驗法。一、單個總體 均值 的檢驗下面還將給出一個有用的結(jié)果:我們看到,如將例2中需要檢驗的問題寫成以下的形式,看來更為合理:取顯著性水平為 ,現(xiàn)在來求這個問題的拒絕域.因為 中的 全部都比 中的要小,從直觀上看,較合理的檢驗法應(yīng)是:若觀測值 與 的差 過分大,即 , 則我們拒絕 而接受 ,因此拒絕域的形式為
2、(k 待定).由標準正態(tài)分布的分布函數(shù) 的單調(diào)性得到P拒絕 為真 即即得 ,從而得檢驗問題 的拒絕域為所以要控制 P拒絕 為真 ,只需令 這與上節(jié)得到的檢驗問題 的拒絕域是一致的。比較正態(tài)總體 在方差 已知時,對均值 的兩種檢驗問題 和 我們看到盡管兩者原假設(shè) 的形式不同,實際意義也不一樣,但對于相同的顯著性水平它們的拒絕域是相同的。因此遇到形如 的檢驗問題,可歸結(jié)為 來討論。對于下面將要討論的有關(guān)正態(tài)總體的參數(shù)的檢驗也有類似的結(jié)果。 2. 未知,關(guān)于 的檢驗(t檢驗) 設(shè)總體 ,其中 未知,我們來求檢驗問題 的拒絕域(顯著性水平為 )。 設(shè) 是來自正態(tài)總體X 的樣本, 由于 未知,現(xiàn)在不能利
3、用 來確定拒絕 域了。 注意到 是 的無偏估計,我們用 s 來代替 ,采用 作為檢驗統(tǒng)計量。當 過分大時就拒絕 , 拒絕域的 形式為已知當 為真時, ,故由P 拒絕 為真 , 得 , 即拒絕域為 對于正態(tài)總體 ,當 未知時,關(guān)于 的單邊檢驗得拒絕域在課本P153-154附表中已給出。上述利用 t 統(tǒng)計量得出的檢驗法稱為 t 檢驗法。在實際中,正態(tài)總體的方差常為未知,所以我們常用t 檢驗法來檢驗關(guān)于正態(tài)總體均值的檢驗問題。例1 某種電子元件的壽命 X(以小時計)服從正態(tài)分布, 均未知?,F(xiàn)測得16只元件的壽命如下: 159 280 101 212 224 379 179 264 222 362 1
4、68 250 149 260 485 170問是否有理由認為元件的平均壽命大于225(小時)?解: 按題意需檢驗取 。由表8.1知檢驗問題的拒絕域為現(xiàn)在n=16, 又算得即得t不落在拒絕域,故接受 ,即認為元件的平均壽命不大于225小時。二.兩個正態(tài)總體均值差的檢驗(t 檢驗) 我們還可以用t檢驗法檢驗具有相同方差的兩個正態(tài)總體均值差的假設(shè)。設(shè) 是來自正態(tài)總體 的樣本, 是來自正態(tài)總體 的樣本且設(shè)兩樣本獨立。又分別記它們的樣本均值為 ,記樣本方差為 。設(shè) 均為未知,要特別引起注意的是,在這里假設(shè)兩總體的方差是相等的。 現(xiàn)在來求檢驗問題:( 為已知常數(shù))的拒絕域,取顯著性水平為 引用下述 t 統(tǒng)
5、計量作為檢驗統(tǒng)計量:其中 當 為真時,已知 與單個總體 的 t 檢驗法相仿,其拒絕域的形式為 P拒絕 為真 可得 于是得拒絕域為關(guān)于均值差的其它兩個檢驗問題的拒絕域在書附表中給出。常用的是 的情況。 當兩種正態(tài)總體的方差均為已知時,我們可用u檢驗法來檢驗兩正態(tài)總體均值差的假設(shè)問題。 例2 在平爐進行一項試驗以確定改變操作方法的 建議是否會增加鋼的得率,試驗是在同一只平爐上進行的。每煉一爐鋼時除操作方法外,其它條件都盡可能做到相同。先用標準方法煉一爐,然后用建議的新方法煉一爐,以后交替進行,各煉了10爐,其得率分別為 標準方法 78.1 72.4 76.2 74.3 77.4 78.4 76.0 75.5 76.7 77.3 新方法 79.1 81.0 77.3 79.1 80.0 79.1 79.1 77.3 80.2 82.1 設(shè)這兩個樣本相互獨立,且分別來自正態(tài)總體 和 , 均未知。問建議的新操作方法能否提高得率?(取 ) 解:需要檢驗假設(shè)分別求出標準方法和新方法的樣本均值和樣本方差如下:又, 故拒絕域為現(xiàn)在由于樣本觀察值t-4.295-1.7341,所以拒絕 ,即認為建
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