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文檔簡介

1、超聲波檢測通用工藝規(guī)程主題內容及適用范圍11本規(guī)程規(guī)定了超聲波檢測的人員、設備、器材、檢測技術、質量分級和檢測記錄報告的基本要求。12本規(guī)程適用于鋼制壓力管道元件鋼板、鍛件和焊接接頭的超聲波檢測。2引用標準 壓力管道元件安全技術監(jiān)察規(guī)程 GB1502011 壓力管道元件 JB/T4730.32005 承壓設備無損檢測第三部分:超聲檢測 JB/T79131995 超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法 JB/T92142010 無損檢測 A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法 JB/T100611999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀的通用技術條件 JB/T100621999 超聲探傷用探頭性

2、能測試方法 JB/T84282006 無損檢測 超聲檢測用試塊3一般要求3.1超聲檢測人員 超聲檢測人員應按照特種設備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求取得超聲檢測資格。取得級資格的人員只能從事初探工作,取得級資格的人員方能復探和出超聲檢測報告,編制超聲波檢測工藝。3.2檢測設備3.2.1超聲檢測設備均應具有產(chǎn)品質量合格證或合格的證明文件。3.2.2探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能3.2.2.1探傷儀采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀,其工作頻率范圍為0.5MHz10MHz,儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內呈線性顯示。探傷儀應具有80dB以上的連續(xù)可調衰減器,步進級每檔不大于2dB,精度為任意相鄰12

3、dB誤差在1dB以內,最大累計誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于5%,其余指標應符合JB/T10061的規(guī)定。3.2.2.2探頭3.2.2.2.1晶片面積一般不應大于500mm2,且任一邊長原則上不大于25mm。3.2.2.2.2單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應大于2,主聲束垂直方向不應有明顯雙峰。3.2.2.3超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能3.2.2.3.1在達到所探工件的最大檢測聲程時,其有效靈敏度余量應不小于10dB。3.2.2.3.2儀器與探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于10%。3.2.2.3.3儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準靈敏度下):對于頻率為5 MH

4、z的探頭,寬度不大于10mm;對于頻率為2.5MHz的探頭,寬度不大于15mm。3.2.2.3.4直探頭的遠場分辨力應不小于30dB,斜探頭的遠場分辨力應不小于6dB。3.2.2.3.5儀器和探頭的系統(tǒng)性能應按JB/T9241和JB/T10062的規(guī)定進行測試。3.3超聲檢測一般方法3.3.1檢測準備3.3.1.1檢測時機及抽檢率的選擇等應按相關法規(guī)、產(chǎn)品標準及有關技術文件的要求和原則進行。3.3.1.2檢測面的確定,應保證工件被檢部分均能得到充分檢查。3.3.1.3焊縫的表面質量應經(jīng)外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應予以清除,其表面粗糙度應符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不

5、得影響檢測結果的正確性和完整性,否則應做適當?shù)奶幚怼?掃查覆蓋率 為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區(qū)域,探頭的每次掃查覆蓋率應大于探頭直徑的15%。3.3.3探頭的移動速度 探頭的掃查速度不應超過150mm/s。3.3.4掃查靈敏度 掃查靈敏度通常不得低于基準靈敏度。3.3.5耦合劑 應采用透聲性好,且不損傷檢測表面的耦合劑,如機油、漿糊、甘油和水等。3.3.6靈敏度補償 a)耦合補償。在檢測和缺陷定量時,應對由表面粗糙度引起的耦合損失進行補償。 b)衰減補償。在檢測和缺陷定量時,應對材質衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。 c)曲面補償。對探測面是曲面的工件,應采用曲率

6、半徑與工件相同或相近的試塊,通過對比試驗進行曲率補償。3.4系統(tǒng)校準和復核3.4.1一般要求 校準應在標準試塊上進行,校準中應使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面,以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號。3.4.2儀器校準每隔3個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測定,測定方法按JB/T10061的規(guī)定進行。3.4.3新購探頭應有探頭性能參數(shù)說明書,新探頭使用前應進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測定。測定應按JB/T10062的有關規(guī)定進行,并滿足其要求。3.4.4檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定3.4.4.1使用儀器一斜探頭系統(tǒng),檢測前應測定前沿距離、K值和主聲束偏離,調節(jié)或復

7、核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.4.2使用儀器一直探頭系統(tǒng),檢測前應測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力,調節(jié)或復核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.5檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復核 遇有下述情況應對系統(tǒng)進行復核a)校準后的探頭、耦合劑和儀器調節(jié)旋鈕發(fā)生改變時;b)檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時;c)連續(xù)工作4h以上時;d)工作結束時。3.4.6檢測結束前儀器和探頭系統(tǒng)的復核 a)每次檢測結束前,應對掃描量程自行復核。如果任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%,則掃描量程應重新調整,并對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢。 b)每次檢測結束前,應對掃查靈敏度進行復核。一般對距離一

8、波幅曲線的校核不應少于3點。如曲線上任何一點幅度下降2dB,則應對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢;如幅度上升2dB,則應對所有的記錄信號進行重新評定。3.4.7 校準、復核的有關注意事項校準、復核和對儀器進行線性檢測時,任何影響儀器線性的控制器(如抑制或濾波開關等)都放在“關”的位置或處于最低水平上。3.5 試塊3.5.1 標準試塊3.5.1.1 標準試塊是指本規(guī)程規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準和檢測校準的試塊,本規(guī)程采用標準試塊有:鋼板用標準試塊:CB, CB;鍛件用標準試塊:CS, CS, CS;焊接接頭用標準試塊:CSK-A, CSK-A。4. 承壓設備用鋼板超聲檢測和質量分級4.

9、1 范圍本條適用于板厚為6mm250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設備用板材的超聲檢測和質量分級。奧氏體板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測也可參照本條執(zhí)行。4.2 探頭選用探頭的選用應按表1的規(guī)定進行。表1 壓力管道元件用板材超聲檢測探頭選用板厚mm采用探頭公稱頻率MHz探頭晶片尺寸620雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm22040單晶直探頭51420mm40250單晶直探頭2.52025mm4.3 標準試塊用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm鋼板時,采用CB標準試塊。用單直探頭檢測厚度大于20 60mm的鋼板時,采用CB標準試塊。試塊厚度應與被檢鋼板厚度相近。4.4 基準靈敏度4

10、.4.1 板厚不大于20mm時采用的CB試塊將工件等厚部位第一次底波高度調整到滿刻度的50%,再提高10dB作為基準靈敏度。4.4.2 板厚大于20mm時,應將CB試塊5平底孔第一次反射波高調整到滿刻度的50%作為基準靈敏度。4.4.3 板厚不小于探頭的3倍近場區(qū)時,也可取鋼板無缺陷完好部件的第一次底波來校準靈敏度,其結果應與4.4.2的要求相一致。4.5 檢測方法4.5.1 檢測面可選鋼板的任一軋制表面進行檢測。當檢測人員認為需要或設計圖樣要求時,也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進行檢測。4.5.2 耦合方式耦合方式采用直接接觸法。4.5.3 掃查方式探頭沿垂直于鋼板壓延方向,間距不大于10

11、0mm的平行線進行掃查。在鋼板剖口預定線兩側各50mm內應作100%掃查。4.6 缺陷的測定與記錄4.6.1 在檢測過程中,發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷:缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于滿刻度的50%,即F150%;當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳˙1波高未達到滿刻度,此時,缺陷第一次反射波(F1)波高與底面第一次反射波(B1)波高之比大于或等于50%,即B1100%,而F1/B150%;底面第一次反射波(B1)波高低于滿刻度的50%,即B150%。4.6.2 缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法:檢出缺陷后,應在它的周圍繼續(xù)進行檢測,以確定缺陷的范圍。用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時,探頭

12、的移動方向應與探頭的隔聲層相垂直,并使缺陷波下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%。此時,探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心點即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時,移動探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50%。此時,探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。確定4.6.1 c)中缺陷的邊界范圍或指示長度時,移動探頭(單直探頭或雙直探頭)

13、使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心點即為缺陷的邊界點。當板厚較薄,確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時,基準靈敏度應以相應的第二次反射波來校準。4.7 缺陷的評定方法4.7.1 缺陷指示長度的評定規(guī)則單個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。若單個缺陷的指示長度小于40mm時,可不作記錄。4.7.2單個缺陷指示面積的評定規(guī)則一個缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個指示面積。多個缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度(取其較大值)時,以各缺陷面積之和作為單個缺陷指示面積。指示面積不計的單個缺陷見表2。表

14、2 鋼板質量分級等級單個缺陷指示長度mm單個缺陷指示面積cm2在任一1m1m檢測面積內存在的缺陷面積百分比%以下單個缺陷指示面積不計cm28025391005051512010010251501001025超過級者注:級鋼板主要用于與承壓設備有關的支承件和結構件的制造安裝。4.7.3 缺陷面積百分比的評定規(guī)則在任一1m1m檢測面積內,按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于1m1m,可按比例折算。4.8鋼板質量等級4.8.1鋼板質量分級見表2。4.8.2在坡口預定線兩側各50mm(板厚大于100mm時,以板厚的一半為準)內,缺陷的指示長度大于或等于50mm時,應評為V級。4.8.3在檢測過

15、程中,檢測人員如確認鋼板中有白點、裂紋等危害性缺陷存在時,應評為V級。5承壓設備用鋼鍛件超聲檢測和質量分級5.1范圍 本條適用于承壓設備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和質量分級。 本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測,也不適用于內外徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測。5.2探頭 雙晶直探頭的公稱頻率應選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2;單晶直探頭的公稱頻率應選用2MHz5MHz,探頭晶片一般為1425。5.3試塊5.3.1單晶直探頭標準試塊,工件檢測距離大于等于45時,采用CSI試塊。5.3.2雙晶直探頭試塊 工件檢測距離小于45時,應采用CS試塊。5.3.3檢測

16、面是曲面時,應采用CS標準試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失。5.4檢測時機 檢測原則上安排在熱處理后,孔、臺等結構機加工前進行,檢測面的表面粗糙度Ra6.3m。5.5檢測方法5.5.1一般原則 鍛件應進行縱波檢測,對筒形和環(huán)形鍛件還應增加橫波檢測。5.5.2縱波檢測 a)原則上應從兩個相互垂直的方向進行檢測,盡可能的檢測到鍛件的全體積。主要檢測方向如圖1所示。其他形狀的鍛件也可參照執(zhí)行; b)鍛件厚度超過400時,應從相對兩端面進行100%的掃查。5.5.3橫波檢測 鋼鍛件橫波檢測應按JB47302005附錄C(規(guī)范性附錄)的要求進行。56靈敏度的確定561單晶直探頭基準靈敏度的確定 當

17、被檢測部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)長度,且探測面與底面平行時,原則上可采用底波計算法確定基準靈敏度。對由于幾何形狀所限,不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場區(qū)時,可直接采用CSI標準試塊確定基準靈敏度。562雙晶直探頭基準靈敏度的確定 使用CS試塊,依次測試一組不同檢測距離的3平底孔(至少三個)。調節(jié)衰減器,作出雙晶直探頭的距離一波幅曲線,并以此作為基準靈敏度。563掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的2平底孔當量直徑。57缺陷當量的確定571被檢缺陷的深度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)時,采用AGV曲線及計算法確定缺陷當量。對于三倍近場區(qū)內的缺陷,可采用單晶直探頭或雙晶直探頭的距離一波

18、幅曲線來確定缺陷當量。也可用其它等效方法來確定。572計算缺陷當量時,若材質衰減系數(shù)超過4dB/m,應考慮修正。58缺陷記錄581記錄當量直徑超過4時的單個缺陷的波幅和位置。582密集區(qū)缺陷:記錄密集區(qū)缺陷中最大當量缺陷的位置和缺陷分布。餅形鍛件應記錄大于等于4當量直徑的缺陷密集區(qū),其他鍛件應記錄大于或等于3當量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以5050的方塊作為最小量度單位,其邊界可由6dB法決定。583底波降低量應按表3的要求記錄。表3由缺陷引起底波降低量的質量分級 dB等級底波降低量BG/BF88141420202626注:本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。59質量分級591單個缺陷

19、的質量分級見表4。592缺陷引起的底波降低量的質量分級見表3。 表4單個缺陷的質量分級 mm等級缺陷當量直徑44+(0dB8dB)4+(8dB12dB)4+(12dB16dB)4+16dB593缺陷密集區(qū)質量分級見表5。表5密集區(qū)缺陷的質量分級等級密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比,%005510102020594表3、表4和表5的等級應作為獨立的等級分別使用。595當缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時,鍛件的質量等級為級。6鋼制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測和質量分級。61適用范圍 本條規(guī)定了鋼制承壓設備對接焊接接頭的超聲檢測和質量分級。 本條適用于母材厚度為8mm400mm全熔化焊對接焊接接頭的超

20、聲檢測。母材厚度為6mm8mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測應按照JB/T4730.32005附錄G(規(guī)范性附錄)的規(guī)定進行。 本條不適用于鑄鋼對接焊接接頭、外徑小于159mm的鋼管環(huán)向對接焊接接頭、內徑小于或等于200mm的管座角焊縫的超聲檢測,也不適用于外徑小于250mm或內外徑之比小于80%的縱向對接焊接接頭超聲檢測。62超聲檢測技術等級621超聲檢測技術等級選擇超聲檢測技術等級分為A、B、C三個檢測級別。超聲檢測技術等級選擇應符合有關規(guī)范、標準及設計圖樣規(guī)定。622不同檢測技術等級的要求6221 A級僅適用于母材厚度8mm46mm的對接焊接接頭,采用一種K值探頭采用直波法和一次反射波法

21、在對接焊接接頭的單面單側進行檢測。一般不要求進行橫向缺陷的檢測。6222 B級檢測 a)母材厚度8mm46mm時,一般用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面雙側進行檢測。 b)母材厚度大于46mm120mm時,一般用一種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側進行檢測,如受幾何條件限制,也可在焊接接頭的雙面單側或單面雙側采用兩種K值探頭進行檢測。 c)應進行橫向缺陷的檢測。檢測時,可在焊接接頭兩側邊緣使探頭與焊接接頭中心線成1020作兩個方向的斜平行掃查,見圖2。如焊接接頭余高磨平,探頭應在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查,見圖3。6223 C級檢測:采用C級檢測

22、時應將焊接接頭的余高磨平,對焊接接頭兩側斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用直探頭進行檢測,檢測方法見6.4.4。 a)母材厚度846時,一般用兩種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面雙側進行檢測。兩種探頭的折射角相差不小于10,其中一個折射角應為45, b)母材厚度大于46120時,一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側進行檢測。兩種探頭的折射角相差應不小于10。對于單側坡口角度小于5的窄間隙焊縫,如有可能應增加對檢測與坡口表面平行缺陷有效的檢測方法。 c)應進行橫向缺陷的檢測。檢測時,將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查,見圖3。63試塊631采用的標準試

23、塊為CSKA、CSKA。632檢測曲面工件時,如檢測曲率半徑RW2/4時,(W為探頭接觸面寬度,環(huán)縫檢測時為探頭寬度,縱縫檢測時為探頭長度),應采用與檢測面曲率相同的對比試塊,反射孔的位置可參照標準試塊確定。試塊寬度b一般應滿足: b2S/Do(1) 式中:b試塊寬度,; 超聲波波長,; S聲程,; Do聲源有效直徑,。64檢測準備641檢測面 a)檢測區(qū)的寬度應是焊縫本身,再加上焊縫兩側各相當于母材厚度30%的一段區(qū)域,這個區(qū)域最小為5,最大為10,見圖4。 b)探頭移動區(qū)應清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質。檢測表面應平整,便于探頭的掃查,其表面粗糙度Ra應小于等于6.3m,一般應進行打磨

24、。1)采用一次反射法檢測時,探頭移動區(qū)大于或等于1.25P: P=2TK(1)或 P=2Ttan(2) 式中:P跨距,; T母材厚度,; K探頭K值; 探頭折射角()。2)采用直射法檢測時,探頭移動區(qū)應大于或等于0.75P。 c)去除余高的焊縫,應將余高打磨到與鄰近母材齊平。保留余高的焊縫,如果焊縫表面有較大的降起和凹陷等也應進行適當?shù)男弈?,并作圓滑過渡以免影響檢測結果的評定。642探頭K值 斜探頭的K值(角度)選取可參照表6的規(guī)定。條件允許時,應盡量采用較大K值探頭。表6推薦采用的斜探頭K值板厚T,K值6253.02.0(7260)25462.51.5(6856)461202.01.0(60

25、45)1204002.01.0(6045)643檢測頻率 檢測頻率一般為2MHz5MHz。644母材的檢測 對于C級檢測,斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域,應先用直探頭檢測,以便檢測是否有影響斜探頭檢測結果的分層或其他種類缺陷存在。該項檢測僅作記錄,不屬于對母材的驗收檢測。母材檢測的要點如下: a)檢測方法:接觸式脈沖反射法,采用頻率2MHz5MHz的直探頭,晶片直徑1025。b)檢測靈敏度:將無缺陷處第二次底波調節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。c)凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位,應在工件表面作出標記,并予以記錄。65距離波幅曲線的繪制651距離波幅曲線應按所用探頭和儀器在試塊上實測的數(shù)據(jù)

26、繪制而成,該曲線族由評定線、定量線和判廢線組成。評定線與定量線之間(包括評定線)為區(qū),定量線與判廢線之間(包括定量線)為區(qū),判廢線及其以上區(qū)域為區(qū),如圖5所示,如果距離一波幅曲線繪制在熒光屏上,則在檢測范圍內不低于熒光屏滿刻度的20%。652距離一波幅曲線的靈敏度選擇 a)壁厚為660的焊接接頭,其距離一波幅曲線靈敏度按表7的規(guī)定。表7 距離一波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚, 評定線定量線判廢線CSKA8151546461201612dB169dB166dB166dB163dB1616+2dB16+5dB16+10dBb)檢測橫向缺陷時,應將各線靈敏度均提高6dB。c)檢測面曲率半徑RW2/4時

27、,距離一波幅曲線的繪制應在與檢測面曲率相同的對比試塊上進行。d)掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度。66檢測方法661平板對接焊接接頭的超聲檢測 a)為檢測縱向缺陷,斜探頭應垂直于焊縫中心線放置在檢測面上,作鋸齒型掃查,見圖6。探頭前后移動的范圍應保證掃查到全部焊接接頭截面,在保持探頭垂直焊縫作前后移動時,還應作1015的左右轉動。不同檢測等級對縱向缺陷的檢測要求見6.2。b)不同檢測等級對橫向缺陷的檢測要求見6.2。 c)為觀察缺陷動狀波形和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號,確定缺陷的位置、方向和形狀,可采用前后、左右、轉角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式,見圖7。662曲面工件(工件直徑小于或等

28、于500)對接接頭的超聲檢測。 a)檢測面為曲面時,可盡量按平板對接焊接接頭的檢測方法進行檢測。對于受幾何形狀限制,無法檢測的部位應予以記錄。 b)縱縫檢測時,對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應小于10%。1)根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值,并考慮幾何臨界角的限制,確保聲束能掃查到整個焊接接頭。2)探頭接觸面修磨后,應注意探頭入射點和K值的變化,并用曲率試塊作實際測定。3)應注意熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異,必要時進行修正。 c)環(huán)縫檢測時,對比試塊的曲率半徑應為檢測面曲率半徑的0.91.5倍。663管座角焊縫的檢測 a)一般原則 在選

29、擇檢測面和探頭時,應考慮到各種類型缺陷的可能性,并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭結構中的主要缺陷。 b)檢測方式 根據(jù)結構形式,管座角焊縫的檢測有如下五種檢測方式,可選擇其中一種或幾種方式組合實施檢測。檢測方式的選擇應由合同雙方商定,并考慮主要檢測對象和幾何條件的限制。 在接管內壁采用直探頭檢測,見圖8位置1。在容器內壁采用直探頭檢測,見圖9位置1。在容器內壁采用斜探頭檢測,見圖8位置4。在接管外壁采用斜探頭檢測,見圖9位置2。在接管內壁采用斜探頭檢測,見圖8位置3和圖9位置3。在容器外壁采用斜探頭檢測,見圖8位置2。管座角焊縫以直探頭檢測為主,必要時應增加斜探頭檢測的內容。探頭頻率、尺寸應按5.2和6.4的規(guī)定進行,管座角焊縫斜探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表7的規(guī)定,直探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表8的規(guī)定。距離一波幅曲線的制作詳見6.5.1表8管座角焊縫直探頭距離一波幅曲線的靈敏度評定線定量線判廢線2平底孔3平底孔6平底孔67缺陷定量檢測671靈敏度應調到定量線靈敏度。672對所有反射波幅達到或超過定量線的缺陷,均應確定其位置、最大反射波幅和缺陷當量。673缺陷位置測定 缺陷位置測定以獲得缺陷最大反射波的位置為準。674缺陷最大反射波幅的測定

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