單板硬件調(diào)試報(bào)告

XXX有限公司文檔中心產(chǎn)品版本密級(jí)產(chǎn)品名稱：共21頁XX單板硬件調(diào)試和單元測(cè)試報(bào)告（僅供內(nèi)部使用）擬制:日期：yyyy-mm-dd審核：日期：yyyy-mm-dd審核：日期：yyyy-mm-dd批準(zhǔn)：日期：yyyy-mm-dd****日期版本描述作者2001-06-081.00初稿完成作者名yyyy-mm-1.01>KXXX作者名yyyy-mm-1.02>KXXX作者名??????yyyy-mm-2.00>KXXX作者名TOC\o"1-5"\h\z1概述6基本情況介紹6單板模塊劃分6調(diào)試測(cè)試組網(wǎng)圖6調(diào)試時(shí)間、地點(diǎn)及人員62調(diào)試測(cè)試用例記錄6功能部分調(diào)試6模塊16調(diào)試用例16調(diào)試用例26模塊26問題列表7信號(hào)質(zhì)量測(cè)試用例7電源8測(cè)試數(shù)據(jù)8測(cè)試波形及分析8問題列表8邏輯信號(hào)9測(cè)試結(jié)果9測(cè)試波形及分析9問題列表9時(shí)鐘信號(hào)10測(cè)試結(jié)果10實(shí)測(cè)波形及分析10問題列表10時(shí)序測(cè)試用例10CPU接口部分時(shí)序11測(cè)試結(jié)果11測(cè)試時(shí)序及分析11業(yè)務(wù)接口部分時(shí)序11測(cè)試結(jié)果11測(cè)試時(shí)序及分析12問題列表12失效器件原因分析123調(diào)試測(cè)試總結(jié)12調(diào)試測(cè)試結(jié)果12遺留問題報(bào)告13調(diào)試測(cè)試經(jīng)驗(yàn)總結(jié)144其他145評(píng)審報(bào)告14表目錄表1有問題信號(hào)記錄表格9表2有問題信號(hào)記錄表格10表3有問題信號(hào)記錄表格10表4時(shí)序測(cè)試遺留問題12表5調(diào)試測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)一12表6調(diào)試測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)二12表7調(diào)試測(cè)試問題列表13表8信號(hào)質(zhì)量遺留問題統(tǒng)計(jì)表13表9時(shí)序遺留問題統(tǒng)計(jì)表13表10功能遺留問題統(tǒng)計(jì)表13圖目錄圖1XX圖文檔名稱關(guān)鍵詞：調(diào)試測(cè)試、計(jì)劃、其它關(guān)鍵詞摘要：縮略語清單：對(duì)本文所用縮略語進(jìn)行說明，要求提供每個(gè)縮略語的英文全名和中文解釋。概述（本章節(jié)內(nèi)容在計(jì)劃模板中都有體現(xiàn)，在確保內(nèi)容沒有改變的情況下，可以直接拷貝）基本情況介紹簡(jiǎn)單介紹產(chǎn)品，并說明單板正式名稱和Cb版本號(hào)。單板模塊劃分從調(diào)試測(cè)試的角度簡(jiǎn)要說明單板硬件功能模塊的劃分情況，以及各個(gè)模塊的功能和相互關(guān)系。調(diào)試測(cè)試組網(wǎng)圖簡(jiǎn)單描述調(diào)試測(cè)試的組網(wǎng)圖?？梢耘湟圆鍒D進(jìn)行說明。調(diào)試時(shí)間、地點(diǎn)及人員描述本次調(diào)試的時(shí)間，地點(diǎn)和開發(fā)調(diào)試人員。2調(diào)試測(cè)試用例記錄功能部分調(diào)試模塊1調(diào)試用例1調(diào)試用例編號(hào)：AAA-UT-CCC-NNN調(diào)試項(xiàng)目：可以用模塊名或者調(diào)試大項(xiàng)命名調(diào)試子項(xiàng)目：具體的調(diào)試描述檢查點(diǎn)、應(yīng)達(dá)到的要求、指標(biāo)和預(yù)期結(jié)果:執(zhí)行中的其他說明：調(diào)試人員：I時(shí)間：實(shí)測(cè)結(jié)果：差異說明:說明以下差異及每個(gè)差異的原因：被測(cè)對(duì)象與其規(guī)格說明、總體詳細(xì)設(shè)計(jì)文檔之間的任何差異;實(shí)際調(diào)試活動(dòng)與調(diào)試計(jì)劃之間的任何差異。調(diào)試測(cè)試是否通過：(OK,POK,NG,NT)1.1.1.1調(diào)試用例2模塊2問題列表1.2信號(hào)質(zhì)量測(cè)試用例信號(hào)質(zhì)量測(cè)試要保證全面性，即單板上的每個(gè)信號(hào)都要保證測(cè)試到，為了保證測(cè)試不遺漏，可以先將單板按照功能模塊劃分，并列舉出每個(gè)功能模塊中的器件，每個(gè)器件涉及到的信號(hào)再按照實(shí)現(xiàn)的功能分類，要列出每類信號(hào)的的判斷標(biāo)準(zhǔn)，隨后給出測(cè)試記錄的表格。功能模塊的劃分可以為：電源模塊、時(shí)鐘模塊、交叉模塊、業(yè)務(wù)處理模塊、接口模塊、CPU控制模塊、主備倒換模塊等等，或者參照前面“2.單板硬件功能模塊劃分”。對(duì)于不同的模塊，包含或涉及到不同類型的信號(hào)，芯片對(duì)不同信號(hào)的質(zhì)量要求是不一樣的，例如對(duì)電源的質(zhì)量要求是幅度、上電時(shí)間、上電順序、紋波等；對(duì)時(shí)鐘信號(hào)的質(zhì)量要求是邊沿單調(diào)性、上升時(shí)間、下降時(shí)間、占空比、上沖、下沖、回沖、時(shí)鐘頻率、抖動(dòng)等；對(duì)控制信號(hào)的質(zhì)量要求則是電平幅度、有效寬度、上沖、下沖、回沖等；對(duì)業(yè)務(wù)信號(hào)的質(zhì)量要求則是電平幅度、上沖、下沖、回沖、眼圖等。信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試點(diǎn)要選在信號(hào)的終端。在表格中結(jié)果判斷一欄中，注明（POKNG、NT/其中：OK:測(cè)試結(jié)果全部正確POK:測(cè)試結(jié)果大部分正確NG:測(cè)試結(jié)果不通過NT：由于各種原因本次無法測(cè)試以下的測(cè)試結(jié)果記錄中，對(duì)測(cè)試通過的信號(hào)，只要求提供其列表；測(cè)試不通過的信號(hào)，要求提供測(cè)試波形記錄、原因分析、解決措施和解決計(jì)劃。以下提供的表格為通用的信號(hào)質(zhì)量規(guī)范要求和一些通用的電平信號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)，可作為信號(hào)質(zhì)量判斷的標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)需要參考器件手冊(cè)；以下給出的標(biāo)準(zhǔn)與芯片要求不符的，以芯片要求為準(zhǔn)，并要求在芯片的測(cè)試實(shí)測(cè)記錄前，列出其特殊要求。信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)特性信號(hào)類型VCCVOHVIHVTTTL、ABT52.421.5LVTTL、LVT、LVC、ALVC、LV3.32.421.5CMOS54.443.52.5PECL54.193.873.7LVPECL3.32.422.062GTL1.20.860.8GTL+1.51.051ETL52.41.61.5BTL（低電平為1V）2.11.621.55********1.1.1.11.1.1.1測(cè)試結(jié)果1.1.11.1.1電源通用信號(hào)規(guī)范信號(hào)類型正向過沖負(fù)向過沖正向回沖負(fù)向回沖正向毛刺負(fù)向毛刺邊沿特性①實(shí)測(cè)丫加要工PECL<0.2V<0.2V>3.87V<3.52V<3.52V>3.87V必須單調(diào)>3.87TTL<1V<1V>2.4V<0.8V<0.8V>2.4V必須單調(diào)>3VTTL(3V)<0.6V<0.6V>2.4V<0.8V<0.8V>2.4V必須單調(diào)>2.8VCMOS<1V<1V>3.5V<1.5V<1.5V>3.5V必須單調(diào)>3.5VGTL+<0.4V<0.4V>1.2V<0.3V<0.3V>1.2V必須單調(diào)>1.4VGTL<0.3V<0.3V>0.95V<0.25V<0.25V>0.95V必須單調(diào)>1.15V①邊沿特性：對(duì)通用信號(hào)中的控制信號(hào)一般要求邊沿必須單調(diào)；對(duì)數(shù)據(jù)、地址等信號(hào)可結(jié)合時(shí)序的測(cè)試結(jié)果來作相應(yīng)的要求。通用時(shí)鐘信號(hào)規(guī)范*信號(hào)類型占空比上升單調(diào)性上升時(shí)間下降單調(diào)性下降時(shí)間抖動(dòng)特性PECL40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)力士士1待^定0建議：對(duì)于存在指標(biāo)規(guī)定的信號(hào)，應(yīng)滿足指標(biāo)；無指標(biāo)規(guī)定或無法明確界定的情況下，應(yīng)滿足可靠性要求。TTL40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)TTL(3V)40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)CMOS40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)GTL+40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)*：通用時(shí)鐘信號(hào)規(guī)范描述了時(shí)鐘信號(hào)要特殊關(guān)注的特性，測(cè)試中要注意，時(shí)鐘信號(hào)必須同時(shí)滿足信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)特性和通用信號(hào)規(guī)范。

1.1.1.1測(cè)試數(shù)據(jù)幅度允許變化范圍丫31推薦電源電壓*紋波地線噪要求指標(biāo)±5%±5%±12%實(shí)測(cè)值*:單電源工作的不分VCC1、VCC2等測(cè)試波形及分析在此粘貼上測(cè)試的所有波形，實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨(dú)的附件提供。問題列表在此需要提供有問題信號(hào)的波形、問題產(chǎn)生的原因分析、改進(jìn)措施和修改計(jì)劃。也可以用表格形式記錄，在問題描述欄中說明是信號(hào)的哪個(gè)特性不滿足要求，具體波形見圖。參考表格如下：旬有問題信號(hào)記錄表格信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名測(cè)試點(diǎn)問題描述原因分析改進(jìn)措施是否填寫了缺陷跟蹤電子流1.1.1邏輯信號(hào)****接口模塊U1：信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名測(cè)試點(diǎn)（管腳）結(jié)果判斷備注如：CLKU1-1OK可以在此填寫為了產(chǎn)生這些信采取了什么樣的的激勵(lì)方式或方法U2：信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名測(cè)試點(diǎn)（管腳）結(jié)果判斷備注如：CLKU1-1OK可以在此填寫為了

產(chǎn)生這些信采取了什么樣的的激勵(lì)方式或方法U3：。。。。。。業(yè)務(wù)處理模塊XXX模塊測(cè)試波形及分析在此粘貼上測(cè)試的所有波形、實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨(dú)的附件提供。問題列表在此需要提供有問題信號(hào)的波形、問題產(chǎn)生的原因分析、改進(jìn)措施和修改計(jì)劃。也可以用表格形式記錄，在問題描述欄中說明是信號(hào)的哪個(gè)特性不滿足要求，具體波形見圖。參考表格如下：旬有問題信號(hào)記錄表格信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名測(cè)試點(diǎn)問題描述原因分析改進(jìn)措施是否填寫了缺陷跟蹤電子流1.1.1時(shí)鐘信號(hào)1.1.1.1測(cè)試結(jié)果信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名測(cè)試點(diǎn)（管腳）結(jié)果判斷備注如：CLKU1-1OK可以在此填寫為了產(chǎn)生這些信號(hào)，采取了什么樣的的激勵(lì)方式或方法1.1.1.1實(shí)測(cè)波形及分析在此粘貼上測(cè)試的所有波形、實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨(dú)的附件提供。1.1.1.2問題列表在此需要提供有問題信號(hào)的波形、問題產(chǎn)生的原因分析、改進(jìn)措施和修改計(jì)劃。也可以用表格形式記錄，在問題描述欄中說明是信號(hào)的哪個(gè)特性不滿足要求，具體波形見圖。參考表格如下：旬有問題信號(hào)記錄表格信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名測(cè)試點(diǎn)問題描述原因分析改進(jìn)措施是否填寫了缺陷跟蹤電子流1時(shí)序測(cè)試用例時(shí)序測(cè)試包括貢PU的讀寫時(shí)序、存儲(chǔ)器的操作時(shí)序、業(yè)務(wù)處理器件的數(shù)據(jù)輸入輸出時(shí)序等。具體應(yīng)按單板實(shí)際設(shè)計(jì)進(jìn)行劃分。在時(shí)序測(cè)試之前要列出涉及到時(shí)序要求的器:如U3，U4……；然后可按照器件分別來記錄時(shí)序測(cè)試結(jié)果，在記錄每個(gè)器件的測(cè)試結(jié)果之前，與信號(hào)質(zhì)量測(cè)試類似，也要先列出器件對(duì)時(shí)序的要求。表中標(biāo)識(shí)符應(yīng)與器件手冊(cè)對(duì)應(yīng)。在表格中結(jié)果判斷一欄中，注瞅POK、NG、NT，其中：****1.1.1.11.1.1.1測(cè)試時(shí)序及分析OK:測(cè)試結(jié)果全部正確POK:測(cè)試結(jié)果大部分正確NG:測(cè)試結(jié)果有較大的錯(cuò)誤NT:由于各種原因本次無法測(cè)試CPU接口部分時(shí)序測(cè)試結(jié)果(下面表形式供參考使用，也可直接分別給出設(shè)計(jì)要求和實(shí)際測(cè)試得到的時(shí)序圖，但必須明確給出測(cè)試結(jié)論和修改措施、計(jì)劃)參數(shù)標(biāo)識(shí)符最小值要求(ns)最大值要求(ns)實(shí)測(cè)值(ns)結(jié)論改進(jìn)措施修改計(jì)劃命令(/CS,/RAS，/CAS,/WE,DQM)的建立時(shí)間tCS修改計(jì)劃中需寫明本板解決、下一板解決或給出明確的修改完成日期。命令(/CS,/RAS，/CAS,/WE,DQM)的保持時(shí)間tCH地址建立時(shí)間tAS地址保持時(shí)間tAH數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)建立時(shí)間tDS數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)保持時(shí)間tDH********1.1.21.1.2問題列表在此粘貼上測(cè)試的所有波形、實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨(dú)的附件提供。業(yè)務(wù)接口部分時(shí)序測(cè)試結(jié)果（下面表形式供參考使用，也可分別直接給出設(shè)計(jì)要求和實(shí)際測(cè)試得到的時(shí)序圖，但必須明確給出測(cè)試結(jié)論和修改措施、計(jì)劃）參數(shù)標(biāo)識(shí)符最小值要求（相）最大值要求（門$）實(shí)測(cè)值（ns）結(jié)論改進(jìn)措施修改計(jì)劃時(shí)鐘周期tCK修改計(jì)劃中需寫明本板解決、下一板解決或給出明確的修改完成日期。數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)建立時(shí)間tDS數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)保持時(shí)間tDH幀建立時(shí)間幀保持時(shí)間1.1.1.1測(cè)試時(shí)序及分析在此粘貼上測(cè)試的所有波形、實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨(dú)的附件提供。

將有問題的信號(hào)列舉出來，如果完全滿足情況，填寫“無”。旬時(shí)序測(cè)試遺留問題信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名測(cè)試點(diǎn)問題描述原因分析改進(jìn)措施是否填寫了缺陷跟蹤電子流1.1失效器件原因分析描述對(duì)關(guān)鍵器件的失效分析結(jié)果和可靠性改進(jìn)和預(yù)防措施。2調(diào)試測(cè)試總結(jié)調(diào)試測(cè)試結(jié)果對(duì)本次調(diào)試的項(xiàng)目進(jìn)行總結(jié)，包括完成總項(xiàng)數(shù)，通過多少項(xiàng)，失敗多少項(xiàng)，部分通過多少項(xiàng)及百分比等，詳細(xì)的調(diào)試項(xiàng)目通過情況清單應(yīng)放在附件部分，并在此處說明該附件的位置。此處的總結(jié)一般用以下表格進(jìn)行表現(xiàn)：旬調(diào)試測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)一計(jì)劃測(cè)試項(xiàng)新增測(cè)試項(xiàng)實(shí)際測(cè)試項(xiàng)計(jì)劃花費(fèi)時(shí)間（人時(shí)）實(shí)際花費(fèi)時(shí)間（人時(shí)）旬調(diào)試測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)二總項(xiàng)目數(shù)OK項(xiàng)POK項(xiàng)NG項(xiàng)NT項(xiàng)數(shù)目百分比其中：OK:測(cè)試結(jié)果全部正確POK:測(cè)試結(jié)果大部分正確NG:測(cè)試結(jié)果有較大的錯(cuò)誤NT:由于各種原因本次無法測(cè)試總結(jié)調(diào)試的結(jié)果，確定所有已解決了的問題，并對(duì)解決結(jié)果進(jìn)行總結(jié)，確定未解決的問題。為每個(gè)被測(cè)對(duì)象給出總結(jié)性的評(píng)價(jià)，包括其局限性，評(píng)價(jià)必須基于調(diào)試結(jié)果和被測(cè)對(duì)象的通過/失敗準(zhǔn)則。對(duì)失敗風(fēng)險(xiǎn)的估計(jì)應(yīng)包括在內(nèi)。總結(jié)主要的調(diào)試活動(dòng)和事件?？偨Y(jié)資源消耗數(shù)據(jù)，如總?cè)藛T、總機(jī)時(shí)，每個(gè)主要調(diào)試活動(dòng)花費(fèi)的時(shí)間。遺1留問題報(bào)告遺留問題是指調(diào)試過程中發(fā)生的并且在調(diào)試報(bào)告時(shí)仍沒有得到解決需要投下一除CB回歸測(cè)試驗(yàn)證的問題。建立遺留問題統(tǒng)計(jì)表格，可對(duì)遺留問題數(shù)和級(jí)別進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，包括問題總數(shù)，致命，嚴(yán)重，一般和提示問題的數(shù)目及百分比等，遺留問題統(tǒng)計(jì)一般可用以下表格描述，其中的字段可根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行設(shè)計(jì)和裁剪。旬調(diào)試測(cè)試問題列表總共發(fā)現(xiàn)問題總數(shù)致命問題總共發(fā)現(xiàn)問題總數(shù)致命問題嚴(yán)重問題一般問題提示問題問題分四個(gè)級(jí)別來定義，各級(jí)別含義如下：致命：引起系統(tǒng)死機(jī)或系統(tǒng)崩潰的問題嚴(yán)重：引起系統(tǒng)某一功能失效且不能簡(jiǎn)單恢復(fù)（如插拔單板）的問題一般：引起系統(tǒng)某一功能失效但可簡(jiǎn)單恢復(fù)或較難重現(xiàn)的問題提示：從操作或維護(hù)的角度發(fā)現(xiàn)的問題或建議旬信號(hào)質(zhì)量遺留問題統(tǒng)計(jì)表問題總數(shù)致命問題嚴(yán)重問題一般問題提示問題其他統(tǒng)計(jì)項(xiàng)數(shù)目百分比旬時(shí)序遺留問題統(tǒng)計(jì)表問題總數(shù)致命問題嚴(yán)重問題一般問題提示問題其他統(tǒng)計(jì)項(xiàng)數(shù)目百分比旬功能遺留問題統(tǒng)計(jì)表問題總數(shù)致命問題嚴(yán)重問題一般問題提示問題其他統(tǒng)計(jì)項(xiàng)數(shù)目百分比問題分四個(gè)級(jí)別來定義，各級(jí)別含義如下：致命：引起系統(tǒng)死機(jī)或系統(tǒng)崩潰的問題嚴(yán)重：