福祿克網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品DTX介紹課件

DTX培訓(xùn)DTX培訓(xùn)關(guān)于認(rèn)證和驗(yàn)證銅纜弱電線路數(shù)字查線儀雙絞線線序儀(含音頻發(fā)生器）弱電線路綜合布線線纜測試認(rèn)證級OTDR多模光纜認(rèn)證測試儀多功能光纜測試工具200-400X光纜端接面放大鏡光纜DTX系列銅纜，光纜認(rèn)證測試儀關(guān)于認(rèn)證和驗(yàn)證銅纜弱電線路雙絞線線序儀弱電線路認(rèn)證級多模光纜數(shù)據(jù)鏈路模型由發(fā)送器，傳輸介質(zhì)及接收器構(gòu)成整個(gè)系統(tǒng)目標(biāo)：所有元件匹配以確?？煽康貍鬏斝盘枏陌l(fā)送器發(fā)出的強(qiáng)度/特性通過介質(zhì)傳輸時(shí)的可靠性接收器捕捉以及信號解碼的能力Transmitter發(fā)送器Receiver接收器Transmission

Medium傳輸介質(zhì)數(shù)據(jù)鏈路模型由發(fā)送器，傳輸介質(zhì)及接收器構(gòu)成整個(gè)系統(tǒng)Trans水平布線–永久鏈路PermanentLink

測試結(jié)果不包括跳線的指標(biāo)LinkEnd跳線插座面板跳線WORKAREAPatchPanel水平電纜FLOORDISTRIBUTORLinkEndCPCP:ConsolidationPoint水平布線–永久鏈路PermanentLink測試水平布線–通道鏈路Channel包括兩端的兩個(gè)轉(zhuǎn)換跳線USER’SPATCHCORDPATCHPANEL水平電纜TelecomOutletUSER’SPATCHCORDFLOORDISTRIBUTORWORKAREAChannelEndChannelEndCPCP:ConsolidationPoint水平布線–通道鏈路Channel包括兩端的兩個(gè)轉(zhuǎn)換跳線U從另一種角度看測試模型的差別永久鏈路終點(diǎn)永久鏈路終點(diǎn)

包含可選的固定連接點(diǎn)OK通道終點(diǎn)通道起點(diǎn)不包含測試跳線C1C2(PP)CPTO(cross-connect)通道C2(PP)CPTO永久鏈路從另一種角度看測試模型的差別永久鏈永久鏈現(xiàn)場測試方式現(xiàn)場測試方式為什么進(jìn)行現(xiàn)場測試？安裝的電纜系統(tǒng)是否符合當(dāng)前或?qū)砭W(wǎng)絡(luò)傳輸性能的標(biāo)準(zhǔn)受下列因素影響

元件的性能電纜連接元件施工工藝電磁干擾EMI線纜路由線纜位置為什么進(jìn)行現(xiàn)場測試？安裝的電纜系統(tǒng)是否符合當(dāng)前或?qū)砭W(wǎng)絡(luò)傳輸局域網(wǎng)布線系統(tǒng)的電氣特性端到端連通性特性阻抗(電阻,電容,電感)衰減近端串?dāng)_/回波損耗（內(nèi)部噪聲）噪聲(寬帶和脈沖)長度(信號傳輸速度)信號平衡性局域網(wǎng)布線系統(tǒng)的電氣特性端到端連通性現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)接線圖WireMap端端連通性開路(open)短路(short)錯(cuò)對(cross)反接(reverse)串繞(split)其它...接線圖WireMap端端連通性正確接線4545T568AT568B正確接線44T568AT568B開路開路短路短路跨接/錯(cuò)對跨接/錯(cuò)對反接/交叉反接/交叉串繞會引起很大的串?dāng)_串繞會引起很大的串?dāng)_接線故障的定位與線序有關(guān)的故障：錯(cuò)對，反接，跨接等通過測試結(jié)果屏幕直接發(fā)現(xiàn)問題與阻抗有關(guān)的故障：開路，短路等使用HDTDR定位與串?dāng)_有關(guān)的故障：串繞使用HDTDX定位接線故障的定位與線序有關(guān)的故障：錯(cuò)對，反接，跨接等通過測試結(jié)現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度

PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

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PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)長度Length時(shí)域反射TDRScanPulse開路發(fā)射脈沖反射脈沖ScanPulseScanPulse短路端接設(shè)備發(fā)射脈沖發(fā)射脈沖反射脈沖(沒有反射)長度Length時(shí)域反射TDRScanPulse開路發(fā)射脈額定傳輸速度NVPNominalVelocityofPropagation（NVP）信號在電纜中傳輸?shù)乃俣扰c光在真空中的速度的比值（以百分比表示）通常NVP的取值在69%左右NVP=信號在電纜中的傳輸速度光在真空中的速度X100%額定傳輸速度NVPNominalVelocityofP長度測量的報(bào)告鏈路長度的測量長度為繞線的長度（并非物理距離）繞對之間長度可能有細(xì)微差別（對絞絞距的差別）測試限允許的最大長度測量誤差為10％計(jì)算最短的電氣時(shí)延長度的標(biāo)準(zhǔn)為100米（通道）和90米（永久鏈路）不要安裝超過100米的站點(diǎn)特殊情況要有記錄長度測量的報(bào)告鏈路長度的測量長度測試實(shí)例（一）選用的是TIA永久鏈路標(biāo)準(zhǔn)，在長度測試中，出現(xiàn)如下屏幕，為什么測試總結(jié)果都是通過的？

長度測試實(shí)例（一）選用的是TIA永久鏈路標(biāo)準(zhǔn)，在長度測試中，長度測試實(shí)例（二）使用ISO/IEC11801:2002標(biāo)準(zhǔn)測試一條鏈路，其中長度的結(jié)果出現(xiàn)如下屏幕，既無通過與失敗的判斷，也沒有極限值，請問怎樣解釋？長度測試實(shí)例（二）使用ISO/IEC11801:2002標(biāo)長度故障的定位技術(shù)——TDR在長度測試和TDR測試中可以發(fā)現(xiàn)阻抗異常問題反射表示在被測的鏈路中有阻抗的改變儀器可報(bào)告異常的距離(位置)長度故障的定位技術(shù)——TDR在長度測試和TDR測試中可以發(fā)現(xiàn)現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)PropagationDelay傳輸時(shí)延信號在發(fā)送端發(fā)出后到達(dá)接收端所需要的時(shí)間最大555nsToavoid‘latecollisions’onanEthernetNetwork,thesignalneedstoarrivewithinacertaintimePropagationDelay傳輸時(shí)延信號在發(fā)送端發(fā)出后PropagationDelay傳輸時(shí)延傳輸時(shí)延測試結(jié)果PropagationDelay傳輸時(shí)延傳輸時(shí)延測試結(jié)果練習(xí)測試傳輸時(shí)延旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇傳輸時(shí)延按TEST鍵觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果與極限值練習(xí)測試傳輸時(shí)延旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)DelaySkew時(shí)延偏離由于不同線對間的絞結(jié)率的微小差別會造成傳輸時(shí)延的偏差最大50nsDelaySkew時(shí)延偏離由于不同線對間的絞結(jié)率的微小差DelaySkew時(shí)延偏離時(shí)延偏離測試結(jié)果DelaySkew時(shí)延偏離時(shí)延偏離測試結(jié)果練習(xí)測試時(shí)延偏離旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇時(shí)延偏離按TEST鍵觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果與極限值練習(xí)測試時(shí)延偏離旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減

RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減能量有損失InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減是頻率的函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)極限值衰減實(shí)測結(jié)果衰減是頻率的函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)極限值衰減實(shí)測結(jié)果衰減故障的原因原因電纜材料的電氣特性和結(jié)構(gòu)不恰當(dāng)?shù)亩私幼杩共黄ヅ涞姆瓷溆绊戇^量衰減會使電纜鏈路傳輸數(shù)據(jù)不可靠衰減故障的原因原因衰減故障的定位不可能直接對衰減進(jìn)行故障定位輔助手段：測試長度是否超長直流環(huán)路電阻阻抗是否匹配衰減故障的定位不可能直接對衰減進(jìn)行故障定位練習(xí)測試衰減旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇插入損耗按TEST觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果曲線結(jié)果練習(xí)測試衰減旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

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PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)回波損耗ReturnLoss回波損耗——由于阻抗不連續(xù)/不匹配所造成的反射測量整個(gè)頻率范圍內(nèi)信號反射的強(qiáng)度產(chǎn)生原因是特性阻抗之間的偏離線纜在生產(chǎn)過程中的變化連接器件安裝R/2R/2R源端的輸入信號源端的反射信號負(fù)載端的反射信號負(fù)載端的信號衰減鏈路回波損耗ReturnLoss回波損耗——由于阻抗不連續(xù)/不回波損耗回波損耗(dB):是反射回來的信號強(qiáng)度。發(fā)送(1Volt)反射(0.1Volt)回波損耗=20dB回波損耗發(fā)送反射回波損耗=20dB回波損耗的影響預(yù)期的信號=從另一端發(fā)來經(jīng)過衰減的信號噪聲=同一線對上反射回來的信號發(fā)送端輸出發(fā)送端輸出接收端輸入接收端輸入站點(diǎn)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備接收器接收器信號信號反射信號回波損耗的影響預(yù)期的信號=從另一端發(fā)來經(jīng)過衰減的信號發(fā)送回波損耗的故障定位接收到的在不同位置發(fā)生的發(fā)射信號的時(shí)間是不同的回波損耗的故障定位接收到的在不同位置發(fā)生的發(fā)射信號的時(shí)間是不回波損耗的故障定位——HDTDR回波損耗的故障定位——HDTDR練習(xí)測試回波損耗旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇回波損耗按TEST觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果曲線結(jié)果練習(xí)測試回波損耗旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)串?dāng)_串?dāng)_是測量來自其它線對泄漏過來的信號串?dāng)_串?dāng)_是測量來自其它線對泄漏過來的信號NEXT近端串?dāng)_NEXT是測量來自其它線對泄漏過來的信號NEXT是在信號發(fā)送端(近端)進(jìn)行測量NEXT近端串?dāng)_NEXT是測量來自其它線對泄漏過來的信號近端串?dāng)_的影響類似噪聲干擾干擾信號可能足夠大從而：破壞原來的信號錯(cuò)誤地被識別為信號影響站點(diǎn)間歇地鎖死網(wǎng)絡(luò)的連接完全失敗近端串?dāng)_的影響類似噪聲干擾近端串?dāng)_與噪聲近端串?dāng)_是線纜系統(tǒng)內(nèi)部產(chǎn)生的噪聲噪聲源必須用其它設(shè)備查找并排除近端串?dāng)_與噪聲近端串?dāng)_是線纜系統(tǒng)內(nèi)部產(chǎn)生的噪聲線對間的近端串?dāng)_測量共計(jì)6種組合ABACADBCBDCDABCD線對間的近端串?dāng)_測量ABCDNEXT是頻率的復(fù)雜函數(shù)NEXT實(shí)測曲線極限值NEXT是頻率的復(fù)雜函數(shù)NEXT實(shí)測曲線極限值測量NEXT從近端（主機(jī)端）檢查問題：問題靠近主機(jī)端1236

近端 遠(yuǎn)端1236發(fā)送線對接收線對100100測量NEXT從近端（主機(jī)端）檢查問題：問題靠近主機(jī)端1近測量NEXT從遠(yuǎn)端（智能遠(yuǎn)端）檢查問題：問題靠近遠(yuǎn)端結(jié)論：由于受到衰減的影響，NEXT必須進(jìn)行雙向測試近端 遠(yuǎn)端1236發(fā)送線對接收線對100100測量NEXT從遠(yuǎn)端（智能遠(yuǎn)端）檢查問題：問題靠近遠(yuǎn)端近端 NEXT故障的定位使用HDTDX技術(shù)定位NEXT的具體位置本例中問題主要在連接器處，有位置標(biāo)記NEXT故障的定位使用HDTDX技術(shù)定位NEXT的具體位置練習(xí)測試NEXT旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇NEXT按TEST觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果曲線結(jié)果練習(xí)測試NEXT旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)綜合近端串?dāng)_PSNEXT綜合近端串?dāng)_是一對線感應(yīng)到的所有其它繞對對其的近端串?dāng)_的總和電纜工作站Hub通訊出口配線架綜合近端串?dāng)_PSNEXT綜合近端串?dāng)_是一對線感應(yīng)到的所有其“綜合的概念”一對線感應(yīng)到其他三對的串?dāng)_影響“綜合的概念”一對線感應(yīng)到其他三對的串?dāng)_影響綜合近端串?dāng)_PSNEXT綜合近端串?dāng)_是一個(gè)計(jì)算值通常適用于2對或2對以上的線對同時(shí)在同一方向上傳輸數(shù)據(jù)（例如1000Base-T）4dB原則同樣適用需要雙向測試綜合近端串?dāng)_PSNEXT綜合近端串?dāng)_是一個(gè)計(jì)算值綜合近端串?dāng)_PSNEXTPSNEXT實(shí)測曲線極限值綜合近端串?dāng)_PSNEXTPSNEXT實(shí)測曲線極限值現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)ACR-N：衰減近端串?dāng)_比與原來的ACR參數(shù)定義相似先測得近端串?dāng)_值NEXT然后測試衰減值(IL)由此計(jì)算衰減近端串?dāng)_比(即信噪比)近端串?dāng)_值NEXT減去衰減值IL(dB)這是局域網(wǎng)信噪比(S/N)的另一種表示方式，即兩個(gè)以上的信號朝同一方向傳輸時(shí)的情況信噪比(例如:1000Base-T)ACR-N：衰減近端串?dāng)_比與原來的ACR參數(shù)定義相似ACR-N=傳統(tǒng)的信噪比信號：來自另一端的經(jīng)過衰減的有用信號噪聲：NEXT+外部噪聲（此處忽略）發(fā)送(Output)接收(Input)站點(diǎn)發(fā)送(Output)接收(Input)局域網(wǎng)設(shè)備信號信號外部噪聲NEXTACR-N=傳統(tǒng)的信噪比信號：來自另一端的經(jīng)過衰減的有用信號ACR-N衰減近端串?dāng)_比我們需要衰減過的信號（藍(lán)色，粉色）比NEXT（灰色）多發(fā)送端輸出接收端輸入站點(diǎn)發(fā)送端輸出接收端輸入網(wǎng)絡(luò)設(shè)備信號（從本地至遠(yuǎn)端）信號從遠(yuǎn)端至本地）看看這里和那里！NEXT（本地）NEXT（遠(yuǎn)端）ACR-N衰減近端串?dāng)_比我們需要衰減過的信號（藍(lán)色，粉色）ACR-N的故障定位在ISO標(biāo)準(zhǔn)中是必測值（左圖，有通過/失敗判斷）TIA標(biāo)準(zhǔn)中僅作為參考（右圖，無通過/失敗判斷）ACR-N的故障定位練習(xí)測試ACR-N旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇ACR-N按TEST觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果曲線結(jié)果練習(xí)測試ACR-N旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比一對線感應(yīng)到其他線對的ACR-N的總和PSACR-N是一個(gè)計(jì)算值通常適用于2對或2對以上的線對同時(shí)在同一方向上傳輸數(shù)據(jù)（例如1000Base-T）PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比一對線感應(yīng)到其他線對的AC現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)ACR-F：衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比與ACR參數(shù)的定義相似先測得遠(yuǎn)端串?dāng)_值FEXT這類似于測試近端串?dāng)_值NEXT然后測試衰減值(IL)由此計(jì)算衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比ACR-F(即信噪比)遠(yuǎn)端串?dāng)_值FEXT減去衰減值IL(dB)這是局域網(wǎng)信噪比(S/N)的另一種表示方式，即兩個(gè)以上的信號朝同一方向傳輸時(shí)的情況信噪比(例如:1000Base-T)ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比=ELFEXT等效遠(yuǎn)端串?dāng)_ACR-F：衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比與ACR參數(shù)的定義相似ACR-F衰ACR-F遠(yuǎn)端衰減串?dāng)_比不同線對同向傳輸信號時(shí)相互干擾(遠(yuǎn)端串?dāng)_FEXT)接收信號：經(jīng)過鏈路的衰減后強(qiáng)度變?nèi)醯摹坝杏眯盘枴苯邮赵肼暎骸癋EXT噪聲”+“外部噪聲(此處忽略不計(jì))”發(fā)送端輸出發(fā)送端輸出接收輸入端接收端輸入站點(diǎn)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備“有用信號”FEXT(噪聲)外部噪聲(忽略不計(jì))“有用信號”ACR-F遠(yuǎn)端衰減串?dāng)_比不同線對同向傳輸信號時(shí)相互干擾(遠(yuǎn)端衰減過的有用信號(藍(lán)色、粉色)比FEXT信號強(qiáng)才能正確接收識別信號、FEXT交混發(fā)送端輸出輸入端接收站點(diǎn)發(fā)送端輸出輸入端接收網(wǎng)絡(luò)設(shè)備信號(衰減)信號(衰減)FEXTFEXTACR-F遠(yuǎn)端衰減串?dāng)_比衰減過的有用信號(藍(lán)色、粉色)比FEXT信號強(qiáng)才能正確接收識FEXT發(fā)生在離發(fā)送端較近的位置ACR-F遠(yuǎn)端衰減串?dāng)_比–故障定位FEXT發(fā)生在離發(fā)送端較近的位置ACR-F遠(yuǎn)端衰減串?dāng)_比–FEXT發(fā)生在離發(fā)送端較遠(yuǎn)的位置兩個(gè)FEXT信號幾乎在同時(shí)到達(dá)ACR-F遠(yuǎn)端衰減串?dāng)_比–故障定位FEXT發(fā)生在離發(fā)送端較遠(yuǎn)的位置兩個(gè)FEXT信號ACR-F遠(yuǎn)時(shí)間差別非常?。ㄈQ于時(shí)延偏離），所以要直接的定位FEXT的故障是不可能的，或是不準(zhǔn)確的如果NEXT和FEXT都沒有通過測試，先用HDTDX定位并排除NEXT的故障如果NEXT沒有問題，只是FEXT不通過測試，請檢查連接器（線纜中的NEXT和FEXT是直接相關(guān)聯(lián)的，如果FEXT有問題而NEXT是正常的，問題就一定出在連接器上ACR-F遠(yuǎn)端衰減串?dāng)_比–故障定位時(shí)間差別非常?。ㄈQ于時(shí)延偏離），所以要直接的定位FEXT的練習(xí)測試ACR-F旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇ACR-F按TEST觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果曲線結(jié)果練習(xí)測試ACR-F旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比一對線感應(yīng)到其他線對的ACR-F的總和AttenuationFEXTPSACR-FACR-F(信號的分貝差)信號PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比一對線感應(yīng)到其他線對的ACPSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比PSACR-F實(shí)測曲線極限值PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比PSACR-F實(shí)測曲線極PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比PSACR-F是一個(gè)計(jì)算值通常適用于2對或2對以上的線對同時(shí)在同一方向上傳輸數(shù)據(jù)（例如1000Base-T）PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比PSACR-F是一個(gè)計(jì)算布線系統(tǒng)中的信號噪聲比影響高性能網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)闹匾蛩囟紒碜杂诓季€系統(tǒng)本身RL回波損耗ACR-N衰減近端串?dāng)_比ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比布線系統(tǒng)中的信號噪聲比影響高性能網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)闹匾蛩噩F(xiàn)場測試參數(shù)回顧WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場測試參數(shù)回顧WireMap接線圖（線序圖）測試結(jié)果分析測試結(jié)果分析測試報(bào)告中有關(guān)PASS/FAIL的規(guī)定PASS和PASS*都是標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可的通過FAIL和FAIL*都是需要修復(fù)并重新測試的測試結(jié)果評估結(jié)果所有測試都PassPASS一項(xiàng)或多項(xiàng)Pass*所有其它測試都通過PASS一項(xiàng)或多項(xiàng)Fail*其它所有測試都通過FAIL一項(xiàng)或多項(xiàng)測試是FailFAIL測試報(bào)告中有關(guān)PASS/FAIL的規(guī)定PASS和PASS*都最差余量與最差值標(biāo)準(zhǔn)要求同時(shí)報(bào)告最差余量與最差值余量：實(shí)際測試值與極限值的差值最差余量：在測試通過時(shí)全頻率量程范圍內(nèi)實(shí)際測試值與極限值最接近點(diǎn)處的差值，如測試不通過，就是差值的絕對值最大值最差值：全頻率量程范圍內(nèi)測量到的最差值最差余量與最差值標(biāo)準(zhǔn)要求同時(shí)報(bào)告最差余量與最差值最差余量與最差值：測試通過最差余量與最差值：測試通過最差余量與最差值：測試失敗最差余量與最差值：測試失敗測試儀器的精度測試結(jié)果中出現(xiàn)*，表示該結(jié)果處于測試儀器的精度范圍內(nèi)，測試儀無法準(zhǔn)確判斷測試儀的精度范圍也被稱作是“灰區(qū)”，精度越高，灰區(qū)越小，測試結(jié)果越可信+0.6dB和-0.4dB分別小于測試儀在各自頻點(diǎn)處的精度范圍內(nèi)測試儀器的精度測試結(jié)果中出現(xiàn)*，表示該結(jié)果處于測試儀器的精度更高的精度更少的誤判Fail*Pass*提高鏈路性能FailPass測試極限提高測試儀器的精度可有效減小“灰區(qū)”灰區(qū)更高的精度更少的誤判Fail*Pass*提高鏈路性能Fail測試儀的精度DTX系列電纜認(rèn)證測試儀達(dá)到并超越了IV級精度測試儀的精度DTX系列電纜認(rèn)證測試儀達(dá)到并超越了IV級精度CAT6ADTX-1800CAT6DTX-1200CAT6DTX-LTCAT5eDTX-CLTCAT6ADTX-1800故障診斷故障診斷HDTDX和HDTDRHDTDX：高精度時(shí)域串?dāng)_分析FLUKE網(wǎng)絡(luò)公司專利技術(shù)用于解決與NEXT有關(guān)的故障定位在一對線上發(fā)信號，在另一對線上測量時(shí)域內(nèi)的近端串?dāng)_幅值HDTDR：高精度時(shí)域反射分析通用技術(shù)用于解決與特性阻抗不匹配有關(guān)的故障定位在一對線上發(fā)信號，在同一對線上測量時(shí)域內(nèi)的反射值HDTDX和HDTDRHDTDX：高精度時(shí)域串?dāng)_分析HDTDX3,6-4,5線對間NEXT不合格，HDTDX顯示在3米處NEXT不合格HDTDX3,6-4,5線對間NEXT不合格，HDTDX顯示HDTDR3,6線對回波損耗不合格，HDTDR顯示在23.2米處特性阻抗有不連續(xù)現(xiàn)象HDTDR3,6線對回波損耗不合格，HDTDR顯示在23.2綜合布線——光纜的測試綜合布線——光纜的測試有關(guān)光纜的基礎(chǔ)知識有關(guān)光纜的基礎(chǔ)知識光纜的優(yōu)勢高帶寬低損耗為未來留有余量抗干擾安全輕低價(jià)格(長距離)光纜的優(yōu)勢高帶寬光纜的橫截面多模(MM)單模(SM)Cladding輔層Coating表層Core核心規(guī)格： 62.5/125

（核心直徑62.5m） 核心較大 規(guī)格： 8.3/125

（核心直徑8.3m） 核心較小光纜的橫截面多模(MM)單模(SM)CladdingCoat光纜類型多模（MM）光纜內(nèi)光以多路徑（模式）傳輸單模（SM）光纜內(nèi)光以單一路徑（模式）傳輸光纜類型多模（MM）光纜內(nèi)光以多路徑（模式）傳輸單模和多模光纜單模光纜核心直徑小，光以一種模式無散射傳輸高帶寬，使用激光光源，長距離傳輸（可達(dá)50公里）在1310nm和1550nm波長下測量多模光纜核心直徑大，光以多路徑或多模式傳輸?shù)蛶?，通常使用LED光源，短距離鏈路，通常在 一個(gè)建筑物內(nèi)（小于100米）在850nm或1300nm波長下測量單模和多模光纜單模光纜光譜頻率(Hz)UV可見光(380-750nm)X-RaysIRAMRadio波長(m)101210810141010101610181UHFVHF10610-310-9常用的光波長(660,850,1300,1310,和1550nm)光譜頻率(Hz)UV可見光X-RaysIRAM波長(m)常見的光纜連接器的類型SC（SubscriberConnector）MT-RJVF45OPTIJACKFDDI(FiberDistributedDataInterface)ST（StraightTip）LC(LucentConnector）FC（FiberConnector)常見的光纜連接器的類型SC（SubscriberConne光纜的接合機(jī)械式快速一般不需特殊設(shè)備新技術(shù)和連接器改善了接合的損耗(小于0.1dB)應(yīng)急，少量熔結(jié)需要特殊設(shè)備極低的損耗(小于0.05dB)長距離鏈路的唯一方法光纜的接合機(jī)械式光源LED發(fā)光二極管波長通常為660nm，850nm或1300nm窄的光譜(50nm)低功率相對便宜激光光源波長通常為1310nm或1550nm極窄的光譜(小于10nm)大功率價(jià)格昂貴光源LED發(fā)光二極管激光產(chǎn)品的級別ClassI －無危險(xiǎn)ClassIIa －觀看時(shí)間小于1000秒則安全ClassII －長期觀看有危險(xiǎn)ClassIIIa －直接觀看有嚴(yán)重危害ClassIIIb －直接輻射對眼睛和皮膚有嚴(yán)重傷害ClassIV －直接觀看或散射對眼睛和皮膚有嚴(yán)重傷害激光產(chǎn)品的級別ClassI －無危險(xiǎn)光纜的測試標(biāo)準(zhǔn)光纜的測試標(biāo)準(zhǔn)光纜鏈路的損耗如果損耗過高，抵達(dá)接收端的信號過小而使通訊不可靠檢測安裝鏈路的損耗以確?？煽總鬏敼饫|越長，連接點(diǎn)和接合點(diǎn)越多則損耗越大如果有損壞的光纜，連接頭等則損耗大于正常情況光纜鏈路的損耗如果損耗過高，抵達(dá)接收端的信號過小而使通訊不可TIATSB140標(biāo)準(zhǔn)已于2004年2月批準(zhǔn)對光纜定義了兩個(gè)級別（Tier）的測試：Tier1：測試長度與衰減使用光損耗測試儀或VFL驗(yàn)證極性Tier2：Tier1再加上OTDR曲線證明光纜的安裝沒有造成性能下降的問題(例如彎曲，連接頭，熔接問題)TIATSB140標(biāo)準(zhǔn)已于2004年2月批準(zhǔn)測試?yán)樱篛TDR130m7m80mTRMCXXX測試?yán)樱篛TDR130m7m80mTRMCXXXOTDR的事故表130m7m80m總衰減Totalloss=1.39+0.76(線纜)=

2.15dB其中一個(gè)插座有質(zhì)量問題，這是Tier1級別測試所不能發(fā)現(xiàn)的問題OTDR的事故表130m7m80m總衰減Total

光功率計(jì)

光源光纜鏈路的損耗光纜接合損耗連接光纜的損耗幾乎為零光纜損耗連接器損耗光纜損耗連接器損耗連接光纜的損耗幾乎為零光功率計(jì)光源光纜鏈路的損耗光纜接合損耗連接光纜的光纜損損耗(衰減)測試光功率損耗或衰減測量通過光纜后能量的損耗包括光纜的通斷dBLoss光源功率計(jì)損耗(衰減)測試光功率損耗或衰減dBLoss光源功率計(jì)光纜故障的原因光纜熔接不良(有空氣)光纜斷裂或受到擠壓接頭處拋光不良接頭處接觸不良光纜過長核心直徑不匹配填充物直徑不匹配彎曲過度(彎曲半徑過小)光纜故障的原因光纜熔接不良(有空氣)連接不潔凈的損耗低損耗光纜的大敵是不潔凈的連接灰塵阻礙光傳輸手指的油污影響光傳輸不潔凈光纜連接器可擴(kuò)散至其它連接器每次連接時(shí)要清潔使用光纜檢測器(FiberScope)檢查連接頭表面的清潔度連接不潔凈的損耗低損耗光纜的大敵是不潔凈的連接耦合損耗——核心直徑不匹配光纜接合，連接以及測試儀器的接口的損耗截面不匹配間隙損耗軸心不匹配角度不匹配耦合損耗——核心直徑不匹配光纜接合，連接以及測試儀器的接口的光纜的彎曲光纜對彎曲非常敏感如果彎曲半徑大于2倍的光纜外徑，大部分光保留在光纜核心內(nèi)單模光纜比多模光纜更敏感光纜的彎曲光纜對彎曲非常敏感或TIATSB140–相關(guān)測試儀器Tier1 &Tier2或TIATSB140–相關(guān)測試儀器Tier1 &TDTX-FTM光纜測試模塊DTX系列的光纜認(rèn)證測試模塊雙光源/雙向測試模塊集成可視故障定位儀(VFL)符合TIATSB140標(biāo)準(zhǔn)的Tier1測試要求DTX-FTM光纜測試模塊DTX系列的光纜認(rèn)證測試模塊現(xiàn)有兩種類型的模塊DTX-MFM2多模光纜模塊波長為：850nm/1300nm雙向測試能力LED光源集成VFL

DTX-SFM2單模光纜模塊波長為1310nm/1550nm雙向測試能力激光光源集成VFL

DTX-FTM現(xiàn)有兩種類型的模塊DTX-FTM多模光纜卷軸改善了使用LED光源時(shí)多模光功率和損耗測量的重復(fù)精度和穩(wěn)定性確保了您的測量符合TIA/EIA-568-B.3標(biāo)準(zhǔn)多模光纜卷軸改善了使用LED光源時(shí)多模光功率和損耗測量的重復(fù)損耗測試–測試設(shè)置損耗測試–測試設(shè)置損耗測試–測試設(shè)置損耗測試–測試設(shè)置DTX-FTM–可視故障定位儀DTX-FTM集成了可視故障定位儀(VFL)兩種工作模式：連續(xù)光波或閃爍可用于檢查光纜斷點(diǎn)或在配線架上查找光纜DTX-FTM–可視故障定位儀DTX-FTM集成了可視OptiFiber認(rèn)證級OTDRTier2的測試認(rèn)證級損耗測量通道圖——光纜鏈路連接圖OTDR曲線1米分辨率光纜端接面潔凈度視頻檢測探頭專業(yè)的測試報(bào)告OptiFiber認(rèn)證級OTDRTier2的測試光纜端接面潔凈度檢測光纜檢測表光纜端接面潔凈度檢測光纜檢測表LinkWare

測試結(jié)果管理軟件LinkWare

測試結(jié)果管理軟件測試報(bào)告管理的新規(guī)格測試報(bào)告管理的新規(guī)格創(chuàng)建符合ANSI/EIA/TIA606-A標(biāo)準(zhǔn)的文件從測試儀中將測試結(jié)果導(dǎo)出至通用數(shù)據(jù)庫便捷的分類功能從其他測試報(bào)告中導(dǎo)入測試結(jié)果測試結(jié)果管理創(chuàng)建符合ANSI/EIA/TIA606-A標(biāo)準(zhǔn)的文件測LinkWare可以提供多種格式的測試報(bào)告：圖形，概覽和純文本等。靈活的測試報(bào)告LinkWare可以提供多種格式的測試報(bào)告：圖形，概覽和純DTX系列電纜測試儀介紹DTX系列電纜測試儀介紹DTX系列電纜認(rèn)證測試儀新一代銅纜和光纜認(rèn)證測試平臺快速的認(rèn)證測試（9秒鐘完成一條六類鏈路測試）測試帶寬高達(dá)900MHz（DTX-1800,DTX-1200為350MHz）IV級認(rèn)證測試精度彩色中文界面12小時(shí)電池使用時(shí)間雙光纜雙方向雙波長認(rèn)證測試，集成VFL可視故障定位儀DTX系列電纜認(rèn)證測試儀新一代銅纜和光纜認(rèn)證測試平臺FNET全面解決方案舉例：DTX-1800-MSOFNET全面解決方案舉例：DTX-1800-MSO謝謝！謝謝！演講完畢，謝謝觀看！演講完畢，謝謝觀看！DTX培訓(xùn)DTX培訓(xùn)關(guān)于認(rèn)證和驗(yàn)證銅纜弱電線路數(shù)字查線儀雙絞線線序儀(含音頻發(fā)生器）弱電線路綜合布線線纜測試認(rèn)證級OTDR多模光纜認(rèn)證測試儀多功能光纜測試工具200-400X光纜端接面放大鏡光纜DTX系列銅纜，光纜認(rèn)證測試儀關(guān)于認(rèn)證和驗(yàn)證銅纜弱電線路雙絞線線序儀弱電線路認(rèn)證級多模光纜數(shù)據(jù)鏈路模型由發(fā)送器，傳輸介質(zhì)及接收器構(gòu)成整個(gè)系統(tǒng)目標(biāo)：所有元件匹配以確?？煽康貍鬏斝盘枏陌l(fā)送器發(fā)出的強(qiáng)度/特性通過介質(zhì)傳輸時(shí)的可靠性接收器捕捉以及信號解碼的能力Transmitter發(fā)送器Receiver接收器Transmission

Medium傳輸介質(zhì)數(shù)據(jù)鏈路模型由發(fā)送器，傳輸介質(zhì)及接收器構(gòu)成整個(gè)系統(tǒng)Trans水平布線–永久鏈路PermanentLink

測試結(jié)果不包括跳線的指標(biāo)LinkEnd跳線插座面板跳線WORKAREAPatchPanel水平電纜FLOORDISTRIBUTORLinkEndCPCP:ConsolidationPoint水平布線–永久鏈路PermanentLink測試水平布線–通道鏈路Channel包括兩端的兩個(gè)轉(zhuǎn)換跳線USER’SPATCHCORDPATCHPANEL水平電纜TelecomOutletUSER’SPATCHCORDFLOORDISTRIBUTORWORKAREAChannelEndChannelEndCPCP:ConsolidationPoint水平布線–通道鏈路Channel包括兩端的兩個(gè)轉(zhuǎn)換跳線U從另一種角度看測試模型的差別永久鏈路終點(diǎn)永久鏈路終點(diǎn)

包含可選的固定連接點(diǎn)OK通道終點(diǎn)通道起點(diǎn)不包含測試跳線C1C2(PP)CPTO(cross-connect)通道C2(PP)CPTO永久鏈路從另一種角度看測試模型的差別永久鏈永久鏈現(xiàn)場測試方式現(xiàn)場測試方式為什么進(jìn)行現(xiàn)場測試？安裝的電纜系統(tǒng)是否符合當(dāng)前或?qū)砭W(wǎng)絡(luò)傳輸性能的標(biāo)準(zhǔn)受下列因素影響

元件的性能電纜連接元件施工工藝電磁干擾EMI線纜路由線纜位置為什么進(jìn)行現(xiàn)場測試？安裝的電纜系統(tǒng)是否符合當(dāng)前或?qū)砭W(wǎng)絡(luò)傳輸局域網(wǎng)布線系統(tǒng)的電氣特性端到端連通性特性阻抗(電阻,電容,電感)衰減近端串?dāng)_/回波損耗（內(nèi)部噪聲）噪聲(寬帶和脈沖)長度(信號傳輸速度)信號平衡性局域網(wǎng)布線系統(tǒng)的電氣特性端到端連通性現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)接線圖WireMap端端連通性開路(open)短路(short)錯(cuò)對(cross)反接(reverse)串繞(split)其它...接線圖WireMap端端連通性正確接線4545T568AT568B正確接線44T568AT568B開路開路短路短路跨接/錯(cuò)對跨接/錯(cuò)對反接/交叉反接/交叉串繞會引起很大的串?dāng)_串繞會引起很大的串?dāng)_接線故障的定位與線序有關(guān)的故障：錯(cuò)對，反接，跨接等通過測試結(jié)果屏幕直接發(fā)現(xiàn)問題與阻抗有關(guān)的故障：開路，短路等使用HDTDR定位與串?dāng)_有關(guān)的故障：串繞使用HDTDX定位接線故障的定位與線序有關(guān)的故障：錯(cuò)對，反接，跨接等通過測試結(jié)現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度

PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

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PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)長度Length時(shí)域反射TDRScanPulse開路發(fā)射脈沖反射脈沖ScanPulseScanPulse短路端接設(shè)備發(fā)射脈沖發(fā)射脈沖反射脈沖(沒有反射)長度Length時(shí)域反射TDRScanPulse開路發(fā)射脈額定傳輸速度NVPNominalVelocityofPropagation（NVP）信號在電纜中傳輸?shù)乃俣扰c光在真空中的速度的比值（以百分比表示）通常NVP的取值在69%左右NVP=信號在電纜中的傳輸速度光在真空中的速度X100%額定傳輸速度NVPNominalVelocityofP長度測量的報(bào)告鏈路長度的測量長度為繞線的長度（并非物理距離）繞對之間長度可能有細(xì)微差別（對絞絞距的差別）測試限允許的最大長度測量誤差為10％計(jì)算最短的電氣時(shí)延長度的標(biāo)準(zhǔn)為100米（通道）和90米（永久鏈路）不要安裝超過100米的站點(diǎn)特殊情況要有記錄長度測量的報(bào)告鏈路長度的測量長度測試實(shí)例（一）選用的是TIA永久鏈路標(biāo)準(zhǔn)，在長度測試中，出現(xiàn)如下屏幕，為什么測試總結(jié)果都是通過的？

長度測試實(shí)例（一）選用的是TIA永久鏈路標(biāo)準(zhǔn)，在長度測試中，長度測試實(shí)例（二）使用ISO/IEC11801:2002標(biāo)準(zhǔn)測試一條鏈路，其中長度的結(jié)果出現(xiàn)如下屏幕，既無通過與失敗的判斷，也沒有極限值，請問怎樣解釋？長度測試實(shí)例（二）使用ISO/IEC11801:2002標(biāo)長度故障的定位技術(shù)——TDR在長度測試和TDR測試中可以發(fā)現(xiàn)阻抗異常問題反射表示在被測的鏈路中有阻抗的改變儀器可報(bào)告異常的距離(位置)長度故障的定位技術(shù)——TDR在長度測試和TDR測試中可以發(fā)現(xiàn)現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

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PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)PropagationDelay傳輸時(shí)延信號在發(fā)送端發(fā)出后到達(dá)接收端所需要的時(shí)間最大555nsToavoid‘latecollisions’onanEthernetNetwork,thesignalneedstoarrivewithinacertaintimePropagationDelay傳輸時(shí)延信號在發(fā)送端發(fā)出后PropagationDelay傳輸時(shí)延傳輸時(shí)延測試結(jié)果PropagationDelay傳輸時(shí)延傳輸時(shí)延測試結(jié)果練習(xí)測試傳輸時(shí)延旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇傳輸時(shí)延按TEST鍵觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果與極限值練習(xí)測試傳輸時(shí)延旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)DelaySkew時(shí)延偏離由于不同線對間的絞結(jié)率的微小差別會造成傳輸時(shí)延的偏差最大50nsDelaySkew時(shí)延偏離由于不同線對間的絞結(jié)率的微小差DelaySkew時(shí)延偏離時(shí)延偏離測試結(jié)果DelaySkew時(shí)延偏離時(shí)延偏離測試結(jié)果練習(xí)測試時(shí)延偏離旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇時(shí)延偏離按TEST鍵觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果與極限值練習(xí)測試時(shí)延偏離旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減

RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減能量有損失InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減是頻率的函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)極限值衰減實(shí)測結(jié)果衰減是頻率的函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)極限值衰減實(shí)測結(jié)果衰減故障的原因原因電纜材料的電氣特性和結(jié)構(gòu)不恰當(dāng)?shù)亩私幼杩共黄ヅ涞姆瓷溆绊戇^量衰減會使電纜鏈路傳輸數(shù)據(jù)不可靠衰減故障的原因原因衰減故障的定位不可能直接對衰減進(jìn)行故障定位輔助手段：測試長度是否超長直流環(huán)路電阻阻抗是否匹配衰減故障的定位不可能直接對衰減進(jìn)行故障定位練習(xí)測試衰減旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇插入損耗按TEST觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果曲線結(jié)果練習(xí)測試衰減旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)回波損耗ReturnLoss回波損耗——由于阻抗不連續(xù)/不匹配所造成的反射測量整個(gè)頻率范圍內(nèi)信號反射的強(qiáng)度產(chǎn)生原因是特性阻抗之間的偏離線纜在生產(chǎn)過程中的變化連接器件安裝R/2R/2R源端的輸入信號源端的反射信號負(fù)載端的反射信號負(fù)載端的信號衰減鏈路回波損耗ReturnLoss回波損耗——由于阻抗不連續(xù)/不回波損耗回波損耗(dB):是反射回來的信號強(qiáng)度。發(fā)送(1Volt)反射(0.1Volt)回波損耗=20dB回波損耗發(fā)送反射回波損耗=20dB回波損耗的影響預(yù)期的信號=從另一端發(fā)來經(jīng)過衰減的信號噪聲=同一線對上反射回來的信號發(fā)送端輸出發(fā)送端輸出接收端輸入接收端輸入站點(diǎn)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備接收器接收器信號信號反射信號回波損耗的影響預(yù)期的信號=從另一端發(fā)來經(jīng)過衰減的信號發(fā)送回波損耗的故障定位接收到的在不同位置發(fā)生的發(fā)射信號的時(shí)間是不同的回波損耗的故障定位接收到的在不同位置發(fā)生的發(fā)射信號的時(shí)間是不回波損耗的故障定位——HDTDR回波損耗的故障定位——HDTDR練習(xí)測試回波損耗旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇回波損耗按TEST觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果曲線結(jié)果練習(xí)測試回波損耗旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)串?dāng)_串?dāng)_是測量來自其它線對泄漏過來的信號串?dāng)_串?dāng)_是測量來自其它線對泄漏過來的信號NEXT近端串?dāng)_NEXT是測量來自其它線對泄漏過來的信號NEXT是在信號發(fā)送端(近端)進(jìn)行測量NEXT近端串?dāng)_NEXT是測量來自其它線對泄漏過來的信號近端串?dāng)_的影響類似噪聲干擾干擾信號可能足夠大從而：破壞原來的信號錯(cuò)誤地被識別為信號影響站點(diǎn)間歇地鎖死網(wǎng)絡(luò)的連接完全失敗近端串?dāng)_的影響類似噪聲干擾近端串?dāng)_與噪聲近端串?dāng)_是線纜系統(tǒng)內(nèi)部產(chǎn)生的噪聲噪聲源必須用其它設(shè)備查找并排除近端串?dāng)_與噪聲近端串?dāng)_是線纜系統(tǒng)內(nèi)部產(chǎn)生的噪聲線對間的近端串?dāng)_測量共計(jì)6種組合ABACADBCBDCDABCD線對間的近端串?dāng)_測量ABCDNEXT是頻率的復(fù)雜函數(shù)NEXT實(shí)測曲線極限值NEXT是頻率的復(fù)雜函數(shù)NEXT實(shí)測曲線極限值測量NEXT從近端（主機(jī)端）檢查問題：問題靠近主機(jī)端1236

近端 遠(yuǎn)端1236發(fā)送線對接收線對100100測量NEXT從近端（主機(jī)端）檢查問題：問題靠近主機(jī)端1近測量NEXT從遠(yuǎn)端（智能遠(yuǎn)端）檢查問題：問題靠近遠(yuǎn)端結(jié)論：由于受到衰減的影響，NEXT必須進(jìn)行雙向測試近端 遠(yuǎn)端1236發(fā)送線對接收線對100100測量NEXT從遠(yuǎn)端（智能遠(yuǎn)端）檢查問題：問題靠近遠(yuǎn)端近端 NEXT故障的定位使用HDTDX技術(shù)定位NEXT的具體位置本例中問題主要在連接器處，有位置標(biāo)記NEXT故障的定位使用HDTDX技術(shù)定位NEXT的具體位置練習(xí)測試NEXT旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇NEXT按TEST觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果曲線結(jié)果練習(xí)測試NEXT旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)綜合近端串?dāng)_PSNEXT綜合近端串?dāng)_是一對線感應(yīng)到的所有其它繞對對其的近端串?dāng)_的總和電纜工作站Hub通訊出口配線架綜合近端串?dāng)_PSNEXT綜合近端串?dāng)_是一對線感應(yīng)到的所有其“綜合的概念”一對線感應(yīng)到其他三對的串?dāng)_影響“綜合的概念”一對線感應(yīng)到其他三對的串?dāng)_影響綜合近端串?dāng)_PSNEXT綜合近端串?dāng)_是一個(gè)計(jì)算值通常適用于2對或2對以上的線對同時(shí)在同一方向上傳輸數(shù)據(jù)（例如1000Base-T）4dB原則同樣適用需要雙向測試綜合近端串?dāng)_PSNEXT綜合近端串?dāng)_是一個(gè)計(jì)算值綜合近端串?dāng)_PSNEXTPSNEXT實(shí)測曲線極限值綜合近端串?dāng)_PSNEXTPSNEXT實(shí)測曲線極限值現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)ACR-N：衰減近端串?dāng)_比與原來的ACR參數(shù)定義相似先測得近端串?dāng)_值NEXT然后測試衰減值(IL)由此計(jì)算衰減近端串?dāng)_比(即信噪比)近端串?dāng)_值NEXT減去衰減值IL(dB)這是局域網(wǎng)信噪比(S/N)的另一種表示方式，即兩個(gè)以上的信號朝同一方向傳輸時(shí)的情況信噪比(例如:1000Base-T)ACR-N：衰減近端串?dāng)_比與原來的ACR參數(shù)定義相似ACR-N=傳統(tǒng)的信噪比信號：來自另一端的經(jīng)過衰減的有用信號噪聲：NEXT+外部噪聲（此處忽略）發(fā)送(Output)接收(Input)站點(diǎn)發(fā)送(Output)接收(Input)局域網(wǎng)設(shè)備信號信號外部噪聲NEXTACR-N=傳統(tǒng)的信噪比信號：來自另一端的經(jīng)過衰減的有用信號ACR-N衰減近端串?dāng)_比我們需要衰減過的信號（藍(lán)色，粉色）比NEXT（灰色）多發(fā)送端輸出接收端輸入站點(diǎn)發(fā)送端輸出接收端輸入網(wǎng)絡(luò)設(shè)備信號（從本地至遠(yuǎn)端）信號從遠(yuǎn)端至本地）看看這里和那里！NEXT（本地）NEXT（遠(yuǎn)端）ACR-N衰減近端串?dāng)_比我們需要衰減過的信號（藍(lán)色，粉色）ACR-N的故障定位在ISO標(biāo)準(zhǔn)中是必測值（左圖，有通過/失敗判斷）TIA標(biāo)準(zhǔn)中僅作為參考（右圖，無通過/失敗判斷）ACR-N的故障定位練習(xí)測試ACR-N旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST移動(dòng)光標(biāo)選擇ACR-N按TEST觀察測試結(jié)果數(shù)值結(jié)果曲線結(jié)果練習(xí)測試ACR-N旋鈕轉(zhuǎn)至SINGLETEST現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離InsertionLose插入損耗/Attenuation衰減 RL回波損耗（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）NEXT近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）PSNEXT綜合近端串?dāng)_（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

ACR-N衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）ACR-F衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）

PSACR-F綜合衰減遠(yuǎn)端串?dāng)_比（@主機(jī)、@遠(yuǎn)端）現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比一對線感應(yīng)到其他線對的ACR-N的總和PSACR-N是一個(gè)計(jì)算值通常適用于2對或2對以上的線對同時(shí)在同一方向上傳輸數(shù)據(jù)（例如1000Base-T）PSACR-N綜合衰減近端串?dāng)_比一對線感應(yīng)到其他線對的AC現(xiàn)場需要測試的參數(shù)所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)WireMap接線圖（線序圖）Resistance（環(huán)路）電阻Impedance阻抗Length長度 PropagationDelay傳輸時(shí)延DelaySkew時(shí)延偏離Insertio