因為設(shè)計中疏忽或者不了解的錯誤隱患而導(dǎo)致的本課程

13601139543010-88754188（總機(jī)）china@，40-0809-0304電路系統(tǒng)可靠性設(shè)計，比拼的不是誰的設(shè)計更高明，而是誰的設(shè)計更少犯錯誤，因為系統(tǒng)的故障往往是因為設(shè)計中疏忽或者不了解的錯誤隱患而導(dǎo)致的。本課程采用逆向思維方式，從設(shè)計的負(fù)面角度入手，總結(jié)剖析了設(shè)計師易犯的錯誤點，以期在設(shè)計中能提前加以預(yù)防。漏洞堵住了，跑冒滴漏自然不再發(fā)生。課程特點：案例教學(xué)、深入淺出、實踐結(jié)合理論推理適用對象：電路工程師、測試工程師、系統(tǒng)工程師、技術(shù)經(jīng)理主辦單位：講師介紹：武曄卿電子工程碩士，研究領(lǐng)域：電子產(chǎn)品可靠性技術(shù)。曾任航天二院總體設(shè)計所主任設(shè)計師，機(jī)電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。對電子產(chǎn)品系統(tǒng)設(shè)計、可靠性設(shè)計有較深入研究，曾在學(xué)術(shù)會議及多家技術(shù)刊物發(fā)表專業(yè)文章，并出版專著《嵌入式系統(tǒng)可靠性設(shè)計技術(shù)與案例解析》。曾為航天、中電、中科院、航空、醫(yī)療電子、通信、安防、電力電子、分析儀器、工業(yè)控制、消費(fèi)類電子等多個行業(yè)上百家客戶提供電路設(shè)計可靠性審核、培訓(xùn)輔導(dǎo)等服務(wù)。專注于電路可靠性設(shè)計、器件失效機(jī)理分析、工程計算、技術(shù)方法論的研究。大綱：1、分析方法1.1、工程計算和容差分析方法1.2、環(huán)境應(yīng)力分析1.3、人機(jī)交互分析1.4、關(guān)聯(lián)設(shè)備互動分析1.5、過渡過程應(yīng)力1.6、負(fù)載波動分析1.7、單一故障分析1.8、可靠性預(yù)計分析1.9、判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)2、分析要點2.1、防護(hù)器件（保險絲、TV、壓敏電阻、氣體放電管、NTC電阻和PTC電阻）參數(shù)計算器件選型電路結(jié)構(gòu)形式分析故障機(jī)理和失效分析判定方法2.2、放大電路（運(yùn)放電路、放大器IC）阻抗匹配計算精度分配計算電路形式選型分析器件參數(shù)選型和容差分析計算放大電路常見問題點和應(yīng)對措施2.3、接口電路（光耦隔離電路、CAN總線、485總線、模擬信號傳輸接口電路、濾波）應(yīng)力分析器件等效電路特性分析電路結(jié)構(gòu)形式分析器件參數(shù)選型計算2.4、復(fù)位電路復(fù)位工作時序分析復(fù)位電路特性要求復(fù)位電路結(jié)構(gòu)形式復(fù)位電路參數(shù)選型計算復(fù)位電路常見問題點和解決措施2.5、MCU（振蕩電路、存儲介質(zhì)、軟件設(shè)計、MCU選型）器件失效機(jī)理防護(hù)設(shè)計規(guī)范2.6、數(shù)字信號處理電路（阻抗匹配、信號調(diào)理）阻抗匹配計算信號調(diào)理電路分析（走線方式、防護(hù)器件、及濾波器件對信號質(zhì)量的影響）2.7、驅(qū)動電路（開關(guān)電路、阻性負(fù)載/感性負(fù)載/容性負(fù)載的影響）開關(guān)類器件的控制特性（繼電器、MOSFET、IGBT）負(fù)載類型對控制特性的要求開關(guān)器件的失效機(jī)理對控制方法的要求2.8、顯示和鍵盤顯示處理方式顯示抗擾方法鍵盤容錯性機(jī)制和抗擾設(shè)計2.9、線纜接插件線纜與接插件參數(shù)分析線纜接插件結(jié)構(gòu)特性線纜接插件失效機(jī)理選型計算2.10、接地處理接地器件的特性接地常見問題和故障機(jī)理安全接地、外殼地、浮地屏蔽地、數(shù)字地、模擬地、功率地、高頻接地、防雷接地的綜合處理方法2.11、PCB布局布線PCB板選材PCB工藝PCB布局DFT設(shè)計板卡熱設(shè)計2.12、結(jié)構(gòu)和電氣結(jié)合的可靠性問題結(jié)構(gòu)電磁兼容（噴涂工藝、連接方法、