科技考古-文物的微觀結構分析技術_第1頁
科技考古-文物的微觀結構分析技術_第2頁
科技考古-文物的微觀結構分析技術_第3頁
科技考古-文物的微觀結構分析技術_第4頁
科技考古-文物的微觀結構分析技術_第5頁
已閱讀5頁,還剩67頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

第三章文物的微觀結構分析技術

通過對文物微觀結構的觀察,能夠為人們提供直觀的結構信息,所以文物的微觀結構的觀察和分析是文物研究中常用的、不可或缺的方法和手段之一。一、光學顯微鏡1、體視顯微鏡2、偏光顯微鏡3、金相顯微鏡二、電子顯微鏡1、掃描電子顯微鏡2、透射電子顯微鏡一、光學顯微鏡1、體視顯微鏡:主要用來檢查肉眼不能清晰確認或觀察的顯微特征。SMZ1500型體視顯微鏡泰克體視顯微鏡

通常體視顯微鏡由物鏡、目鏡、鏡筒、載物臺和一個附加的照明燈等部分構成,一些較好的顯微鏡還配有照相系統(tǒng),可獲得被觀察物體的顯微放大照片。體視顯微鏡可通過旋轉物鏡調節(jié)放大倍數,放大倍數一般為幾十到幾百倍不等。光學顯微鏡的原理青銅表面的白色晶體青銅器表面的紅、藍、綠銹青銅器表面的紋飾偽銹綠漆耀州窯青瓷釉面的氣泡宋代鈞窯正面底面過渡的顯微照片2、偏光顯微鏡:偏光顯微鏡是依據波動光學的原理,觀察和精密測定標本細節(jié),或透明物體改變光束的物理參數,以此判別物質結構的一種顯微鏡。偏光顯微法是通過分辨晶體的顏色、形狀、大小、折射率和消光性等光學性質來鑒別顏料的。型號為Axioskop40的偏光顯微鏡單折射性與雙折射性:光線通過某一物質時,如光的性質和進路不因照射方向而改變,這種物質在光學上就具有“各向同性”,又稱單折射體,如普通氣體、液體以及非結晶性固體;若光線通過另一物質時,光的速度、折射率、吸收性和偏振、振幅等因照射方向而有不同,這種物質在光學上則具有“各向異性”,又稱雙折射體,如晶體、纖維等。光的偏振現象:光波根據振動的特點,可分為自然光與偏振光。自然光的振動特點是在垂直光波傳導軸上具有許多振動面,各平面上振動的振幅分布相同;自然光經過反射、折射、雙折射及吸收等作用,可得到只在一個方向上振動的光波,這種光波則稱為“偏光”或“偏振光”。

偏光顯微鏡的成像原理與常規(guī)光學顯微鏡基本相似,所不同的是在光路中插入兩個偏光鏡。一個在載物臺下方,稱為下偏光鏡,用來產生偏光,故又稱起偏鏡;另一個在載物臺上方的鏡筒內,稱為上偏光鏡,它被用來檢查偏光的存在,故又稱檢偏鏡。凡裝有兩個偏光鏡,而且使偏振光振動方向互相垂直的一對偏光鏡稱為正交偏光鏡。起偏鏡的作用使入射光分解成振動方向互相垂直的兩條線偏振光,其中一條被全反射,另一條則入射。正交偏光鏡間無樣品或有各向同性(立方晶體)的樣品時,視域完全黑暗。當有各向異性樣品時,光波入射時發(fā)生雙折射,再通過偏振光的相互干涉獲得結晶物的襯度。

將待測樣品清洗、干燥后,選擇合適截面,用金剛石刀片切割成厚約5mm的薄片,粘貼到玻璃載片上,再經粗細不同的磨料拋光,制成厚約0.03mm的光薄片,置于偏光顯微鏡下進行觀察,以識別樣品的礦物組成。樣品偏光鏡片的制備和觀察:單偏光狀態(tài)下的古陶器巖相照片SMZ1500型體視顯微鏡DMLS/P偏光顯微鏡案例介紹我國古代北方白瓷的微觀結構研究1.樣品及觀察儀器邢窯X17x2.5體式顯微鏡下X3胎20x10(正交光)X140x10(單偏光)X140x10(正交光)2.觀察結果定窯D117x2.5(體式顯微鏡下)D13胎40x10(單偏光)D1340x10(單偏光)鞏窯GYXB17x2.5(體式顯微鏡下)GYXB44x10(單偏光)GYXB3化妝土20x10(正交光)GYXB3胎20x10(正交光)3.結論1、與邢窯和鞏窯不同,定窯白瓷沒有明顯的鈣長石析晶層。邢窯白瓷析晶層中的晶體形態(tài)為板柱狀,緊鄰析晶層的釉層處發(fā)育有大量毛發(fā)狀鈣長石叢生晶體,而鞏窯白瓷析晶層中的晶體形態(tài)為短針狀,僅有少量毛發(fā)狀的鈣長石晶體延伸至釉層內。析晶層晶體形態(tài)的差異,暗示著制瓷原料,特別是釉料配方和燒制工藝的不同。2、唐代早期的鞏窯白瓷,因胎色較深或胎料粗糙,均施有一層化妝土。

3、定窯白瓷胎內發(fā)育有大量莫來石針狀晶體,其胎質細膩、致密,未熔晶粒甚少,而邢窯和鞏窯白瓷胎內皆有淺黃色殘留云母礦物。4、邢窯、定窯和鞏窯白瓷的色度存在細微差異,這些差異與瓷釉、過渡層的顯微結構以及瓷胎或化妝土的顏色也有一定聯系。白瓷外觀顏色是釉色與胎或化妝土色、析晶層漫反射作用的疊加結果。3、金相顯微鏡:金相顯微鏡是研究金屬顯微組織的最基本的儀器之一。金相分析始于20世紀60年代,它是指通過對金屬文物顯微組織的分析,來研究金屬文物中合金生成,冶煉,澆鑄以及加工工藝等信息。

金相顯微鏡的基本原理與偏光顯微鏡相似,所不同的是金相顯微鏡增加了入射光附件,可通過垂直的入射光束照射到樣品表面,觀察樣品的微觀形態(tài)。

青銅、鐵器、金銀等合金文物因制作加工工藝不同,其金相結構也不同。金相分析利用此特征對金屬文物進行切片,在金相顯微鏡下,樣品的內部組織如晶粒、晶粒邊界裂縫成分析出等現象向考古學家提供樣品在制作時的冷熱處理信息,將樣品的金相與已知的鑄造金相比較來判斷樣品是鑄造還是鑄件經加工而成。鑲樣

手磨預磨機切割金相樣品的分析步驟:浸蝕金相顯微鏡觀察拋光三維視頻顯微系統(tǒng)法門寺出土絲織品觀察安康紫陽北五省會館壁畫顏料剖面觀察新疆東天山北麓出土陶器剖面觀察古代金屬表面銹蝕現狀觀察新疆巴里坤東黑溝遺址出土石器微痕觀察新疆巴里坤東黑溝遺址出土石磨盤淀粉粒觀察古代字畫觀察元青花瓷片3D效果古代青銅泡3D效果圖二、電子顯微鏡1、掃描電子顯微鏡掃描電子顯微鏡的原理與成像:

由電子槍發(fā)射一定能量的電子,以其交叉斑作為電子源,經二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束斑直徑的微細電子束,在掃描線圈驅動下,于試樣表面按一定時間、空間順序作柵網式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用,產生二次電子發(fā)射(以及其它物理信號),二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號,經視頻放大后輸入到顯像管柵極,調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度,得到反映試樣表面形貌的二次電子像。

常用的掃描電子顯微鏡的結構系統(tǒng)如圖所示,主要由五部分組成,分別是電子光學系統(tǒng)、掃描系統(tǒng)、信號檢測系統(tǒng)、顯示系統(tǒng)、電源和真空系統(tǒng)。樣品的要求:①樣品必須是固體(塊狀、粉示狀均可),樣品表面要干凈,如含水的樣品須先進脫水處理,并要防止樣品因脫水而變形,表面污染的則要清洗。②樣品的尺寸以能放入樣品臺上為宜,太大的要切割取樣。③樣品要有良好的導電性,對于導電性差的樣品如陶瓷、植物、編織品等,在電子束作用下會產生電荷堆積,影響入射電子束斑和樣品發(fā)射的二次電子運動軌跡,使圖像質量下降。因此這類試樣在觀察前要噴鍍導電層進行處理,通常采用二次電子發(fā)射系數較高的金銀或碳膜做導電層,膜厚控制在20nm左右。掃描電子顯微鏡具有許多的優(yōu)點:(a)試樣的制備簡單,可以觀察試樣表面形貌,或在其表面蒸鍍或濺射上一層導電薄膜,并不改變原有的形貌特征;(b)放大倍數在幾十倍到幾十萬倍的范圍內可連續(xù)調節(jié),圖像的清晰度高;(c)掃描電鏡的景深長,視野大,成像的立體感強,可以直接觀察到粗糙表面上起伏不平的微細結構;(d)分辨力高。普通人眼為0.1-0.2mm,光學顯微鏡為0.1×10-3-0.2×10-3mm,掃描電鏡的分辨率可達到10nm以下;(e)由于掃描電鏡的試樣室空間大,可以較方便地配備拉伸、彎曲、加熱等試樣座,便于對試樣進行動態(tài)分析;可以與X能譜微區(qū)分析及電子衍射等儀器結合,在觀察微觀形貌的同時,對其化學成分和晶體結構等進行綜合分析。掃描電子顯微鏡的應用

掃描電鏡可以對樣品進行圖像觀察和晶體結構分析。掃描電鏡可以研究古陶瓷的表面形狀、晶粒大小及相互結合的狀況以及內氣孔的形狀分布,玻璃化程度并進而推斷燒結溫度;研究金屬文物的微觀結構和金屬文物腐蝕的原因;還可以為古代植物、石器工具、獸骨頭和牙齒、古代衣物提供詳細的立體圖像等等。但實際工作中,考古工作者常常將之與其他方法相結合,互相驗證,一般掃描電鏡與電子微探針共用,或者與X射線衍射,原子吸收,質譜等手段配合。案例介紹一陜西鳳翔豆腐村出土春秋時期銅構件金相結構的初步分析實驗編號考古學或博物館編號取樣部位F9總0068器身側F10總0065尖角F11總0067器身側F12總0066器身側F13總0069尖角金相顯微鏡掃描電子顯微鏡觀察儀器

a)b)

c)d)圖1a)F9銅構件取樣位置圖;b)光學顯微鏡拍攝腐蝕后的金相組織照片;c)樣品背散射電子像;d)樣品的SEM-EDAX分析區(qū)域:A區(qū)域為α相,元素質量百分含量為90.39%Cu、8.49%Sn、0.17%C、0.96%O;B區(qū)域為Pb顆粒,含0.25%C、0.33%O、96.15%Pb、3.27%Cu;C區(qū)域為Cu2O顆粒,含91.09%Cu、8.76%O、0.15%C。

a)b)

c)d)圖2a)F10銅構件取樣位置圖;b)光學顯微鏡拍攝腐蝕后的金相組織照片;c)樣品背散射電子像;d)樣品的SEM-EDAX分析區(qū)域:A區(qū)域為α相,元素質量百分含量為94.33%Cu、5.51%Sn、0.16%C;B區(qū)域為Pb顆粒,含0.30%C、9.87%O、89.83%Pb。

a)b)

c)d)圖3a)F11銅構件取樣位置圖;b)光學顯微鏡拍攝腐蝕后的金相組織照片;c)樣品背散射電子像;d)樣品的SEM-EDAX分析區(qū)域:A區(qū)域為α相,元素質量百分含量為90.17%Cu、8.29%Sn、0.21%C、1.33%As;B區(qū)域為Pb顆粒,含0.51%C、11.42%O、85.53%Pb、1.17%Cu、1.36%Al;C區(qū)域為CuS顆粒,含0.50%C、20.12%S、79.38%Cu。

a)b)

c)d)圖4a)F12銅構件取樣位置圖;b)光學顯微鏡拍攝腐蝕后的金相組織照片;c)樣品背散射電子像;d)樣品的SEM-EDAX分析區(qū)域:A區(qū)域為α相,元素質量百分含量為91.05%Cu、8.78%Sn、0.17%C;B區(qū)為(α+δ)共析體,含73.13%Cu、0.13%C、26.73%Sn;C區(qū)域為Pb顆粒,含0.32%C、9.05%O、1.45%Al、87.56%Pb、1.61%Cu;D區(qū)域為Cu2O顆粒,含90.81%Cu、9.04%O、0.15%C。

a)b)

c)d)圖5a)F13銅構件取樣位置圖;b)光學顯微鏡拍攝腐蝕后的金相組織照片;c)樣品背散射電子像;d)樣品的SEM-EDAX分析區(qū)域:A區(qū)域為α相,元素質量百分含量為75.63%Cu、16.85%Sn、0.16%C、3.26%O、0.59%As、3.51%Pb;B區(qū)Cu2O顆粒,含88.86%Cu、0.13%C、8.99%O、2.03%Pb;C區(qū)域為Pb顆粒,含0.27%C、5.62%O、0.92%Al、81.94%Pb、11.26%Cu。結論金相分析顯示構件主要為鑄造組織形態(tài),但有些采用了退火工藝,形成了等軸晶,如F9。有些可能是經過退火處理,如F10和F11,形成了很大顆粒的鉛。還有一些為典型的鑄造狀態(tài),存在偏析組織,如F12。掃描電鏡能譜儀分析顯示,建筑構件含銅量在73~83%之間,含錫量在10~18%之間,含鉛量為1~10%,為鉛錫銅三元合金。案例介紹二2、透射電子顯微鏡彈性散射電子非彈性散射電子背散射電子透射電子二次電子特征X射線Auger電子吸收電子Cherenkov輻射高能電子與樣品的作用透射電子顯微鏡原理和成像:透射電子顯微鏡是以波長很短的電子束做照明源,用電磁透鏡聚焦成像的一種具有高分辨、高放大倍數的電子光學儀器。透射電子顯微鏡由電子光學系統(tǒng),真空系統(tǒng)和供電控制系統(tǒng)三大部分組成。透射

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論