元器件鑒定檢驗(yàn)工作程序和常用可靠性試驗(yàn)方法vsee

元器件鑒定檢驗(yàn)工作程序和

常用可靠性試驗(yàn)方法介紹主要內(nèi)容鑒定檢驗(yàn)基本流程直接檢驗(yàn)監(jiān)督檢驗(yàn)

二次檢驗(yàn)常用可靠性檢驗(yàn)方法介紹

一、鑒定檢驗(yàn)基本流程直接檢驗(yàn)制定檢驗(yàn)計(jì)劃編寫檢驗(yàn)綱要準(zhǔn)備申請(qǐng)受理送樣檢驗(yàn)出具報(bào)告檢驗(yàn)結(jié)束二次檢驗(yàn)不合格直接檢驗(yàn)

直接檢驗(yàn)申請(qǐng)資料：協(xié)議書檢驗(yàn)申請(qǐng)單關(guān)鍵原材料清單產(chǎn)品實(shí)物照片（正面、側(cè)面、背面（3張）)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖篩選合格的工藝記錄鑒定檢驗(yàn)樣品監(jiān)督檢驗(yàn)編寫檢驗(yàn)綱要檢驗(yàn)綱要報(bào)批準(zhǔn)備申請(qǐng)受理檢驗(yàn)實(shí)施出具報(bào)告檢驗(yàn)結(jié)束二次檢驗(yàn)不合格監(jiān)督檢驗(yàn)

協(xié)議書軍用電子元器件產(chǎn)品鑒定檢驗(yàn)申請(qǐng)表檢驗(yàn)綱要和檢驗(yàn)流程卡產(chǎn)品實(shí)物照片3張（正面、背面、側(cè)面全貌和標(biāo)志要清晰）產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖批次的工藝和篩選記錄鑒定檢驗(yàn)日程安排表封存的樣品母體及專用工裝夾具申請(qǐng)監(jiān)督檢驗(yàn)所需資料：現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)的流程首次會(huì)議日程計(jì)劃抽樣現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)外協(xié)試驗(yàn)檢驗(yàn)記錄整理末次會(huì)議監(jiān)督檢驗(yàn)檢驗(yàn)綱要樣品對(duì)照表檢驗(yàn)流程卡檢驗(yàn)記錄（包括外協(xié)）檢測(cè)儀器計(jì)量證書（包括外協(xié)）關(guān)鍵原材料清單首末次會(huì)議記錄保密協(xié)議監(jiān)督檢驗(yàn)結(jié)束后交付的資料二次檢驗(yàn)用戶參與二次檢驗(yàn)方案簽訂檢驗(yàn)服務(wù)合同結(jié)果不合格申請(qǐng)二次檢驗(yàn)整改：失效分析報(bào)告糾正措施報(bào)告驗(yàn)證試驗(yàn)報(bào)告

單項(xiàng)加倍加嚴(yán)、單組加倍加嚴(yán)全項(xiàng)新鑒定批完成首次檢測(cè)

監(jiān)督督檢檢驗(yàn)驗(yàn)重重點(diǎn)點(diǎn)要要素素鑒定定檢檢驗(yàn)驗(yàn)方方案案檢驗(yàn)驗(yàn)實(shí)實(shí)施施單單位位檢驗(yàn)驗(yàn)方方法法和和流流程程使用用的的儀儀器器設(shè)設(shè)備備清清單單檢驗(yàn)驗(yàn)周周期期外協(xié)協(xié)項(xiàng)項(xiàng)目目質(zhì)量量等等級(jí)級(jí)要要求求檢驗(yàn)驗(yàn)項(xiàng)項(xiàng)目目、、檢檢驗(yàn)驗(yàn)順順序序和和檢檢驗(yàn)驗(yàn)樣樣品品數(shù)數(shù)量量應(yīng)應(yīng)符符合合詳詳細(xì)細(xì)規(guī)規(guī)范范中中鑒鑒定定驗(yàn)驗(yàn)程程序序的的規(guī)規(guī)定定。。檢驗(yàn)驗(yàn)綱綱要要監(jiān)督督檢檢驗(yàn)驗(yàn)重重點(diǎn)點(diǎn)要要素素鑒定定檢檢驗(yàn)驗(yàn)樣樣品品的的抽抽樣樣母母體體，，X品（（一一個(gè)個(gè)批批次次）），，X譜（（三三個(gè)個(gè)連連續(xù)續(xù)批批）），，一一般般為為鑒鑒定定檢檢驗(yàn)驗(yàn)所所需需樣樣品品數(shù)數(shù)的的2倍，，不不包包含含規(guī)規(guī)定定數(shù)數(shù)量量的的備備份份樣樣品品和和追追加加樣樣品品；；不符符合合上上述述要要求求的的應(yīng)應(yīng)進(jìn)進(jìn)行行評(píng)評(píng)審審，，并并在在檢檢驗(yàn)驗(yàn)綱綱要要中中予予以以說說明明；；檢驗(yàn)驗(yàn)樣樣品品由由鑒鑒定定檢檢驗(yàn)驗(yàn)機(jī)機(jī)構(gòu)構(gòu)派派人人到到研研制制方方現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)場(chǎng)準(zhǔn)準(zhǔn)備備的的母母體體中中隨隨機(jī)機(jī)抽抽取取，，剩剩余余樣樣品品封封存存。。抽樣樣監(jiān)督督檢檢驗(yàn)驗(yàn)重重點(diǎn)點(diǎn)要要素素鑒定定檢檢驗(yàn)驗(yàn)實(shí)實(shí)施施單單位位根根據(jù)據(jù)確確認(rèn)認(rèn)的的檢檢驗(yàn)驗(yàn)綱綱要要編編制制檢驗(yàn)驗(yàn)流流程程卡卡的的內(nèi)內(nèi)容容應(yīng)應(yīng)完完整整，，流流程程清清晰晰正正確確，，具具有有可可操操作作性。。鑒鑒定定檢檢驗(yàn)驗(yàn)必必須須嚴(yán)嚴(yán)格格按按照照檢檢驗(yàn)驗(yàn)綱綱要要和和流流程程卡卡的的要要求求進(jìn)進(jìn)行。。檢驗(yàn)驗(yàn)流流程程卡卡檢測(cè)測(cè)設(shè)設(shè)備備計(jì)計(jì)量量證證書書鑒定定檢檢驗(yàn)驗(yàn)機(jī)機(jī)構(gòu)構(gòu)和和檢檢驗(yàn)驗(yàn)實(shí)實(shí)施施單單位位應(yīng)應(yīng)保保證證檢檢驗(yàn)驗(yàn)所所需需的的儀儀器器設(shè)設(shè)備備齊齊全全，，功功能能及及精精度度滿滿足足標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)要要求求并并計(jì)計(jì)量量鑒鑒定定合合格格，，檢檢驗(yàn)驗(yàn)在在有有效效期期內(nèi)內(nèi)；；監(jiān)督督檢檢驗(yàn)驗(yàn)重重點(diǎn)點(diǎn)要要素素檢驗(yàn)驗(yàn)原原始始記記錄錄一一般般包包括括測(cè)測(cè)試試原原始始記記錄錄及及試試驗(yàn)驗(yàn)原原始始記記錄錄，，采采用用統(tǒng)統(tǒng)一一規(guī)規(guī)范范的的格格式式具具體體要要求求如如下下：：a)檢驗(yàn)驗(yàn)原原始始記記錄錄要要求求信信息息齊齊全全、、正正確確，，至至少少應(yīng)應(yīng)包包含含：：檢檢驗(yàn)驗(yàn)樣樣品品信信息息、、環(huán)環(huán)境境條條件件、、所所用用儀儀器器設(shè)設(shè)備備、、檢檢驗(yàn)驗(yàn)項(xiàng)項(xiàng)目目、、詳詳細(xì)細(xì)具具體體的的試試驗(yàn)驗(yàn)測(cè)測(cè)試試））方方法法和和條條件件、、技技術(shù)術(shù)要要求求、、檢檢驗(yàn)驗(yàn)結(jié)結(jié)果果等等。。檢驗(yàn)驗(yàn)原原始始記記錄錄一一律律用用黑黑色色墨墨水水書書寫寫，，數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)清清晰晰，，計(jì)算算正正確確并并符符合合修修約約要要求求，，數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)及及記記錄錄更更改改符符合合規(guī)規(guī)定定并并蓋蓋章章。。c)檢驗(yàn)驗(yàn)原原始始記記錄錄須須相相關(guān)關(guān)試試驗(yàn)驗(yàn)、、測(cè)測(cè)試試、、監(jiān)監(jiān)督督人人員員簽簽名名。。d)檢驗(yàn)驗(yàn)原原始始記記錄錄按按檢檢驗(yàn)驗(yàn)綱綱要要分分組組順順序序匯匯總總裝裝訂訂成成冊(cè)冊(cè)，，封面面蓋蓋章章，，不不編編頁頁碼碼。。檢驗(yàn)驗(yàn)記記錄錄二、、常常用用可可靠靠性性試試驗(yàn)驗(yàn)方方法法介介紹紹常用用參參考考標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)總規(guī)規(guī)范范：：GJB597A－96半導(dǎo)導(dǎo)體體集集成成電電路路總總規(guī)規(guī)范范GJB33A－97半導(dǎo)導(dǎo)體體分分立立器器件件總總規(guī)規(guī)范范SJ20642-97半導(dǎo)導(dǎo)體體光光電電模模塊塊總總規(guī)規(guī)范范實(shí)驗(yàn)驗(yàn)方方法法GJB128A-97半導(dǎo)導(dǎo)體體分分立立器器件件試試驗(yàn)驗(yàn)方方法法GJB548B－2005微電電子子試試驗(yàn)驗(yàn)方方法法和和程程序序可靠靠性性試試驗(yàn)驗(yàn)的的目目的的目的的測(cè)試試元元器器件件在在規(guī)規(guī)定定的的時(shí)時(shí)間間內(nèi)內(nèi)和和規(guī)規(guī)定定的的條條件件下下，，完完成規(guī)規(guī)定定功功能能的的能能力力．．篩選選（批批次次全全檢檢））質(zhì)量量一一致致性性檢檢驗(yàn)驗(yàn)：：（全全檢檢或或抽抽檢檢））A組：：電電參參數(shù)數(shù)測(cè)測(cè)試試（（每每批批））B組：：機(jī)機(jī)械械、、環(huán)環(huán)境境試試驗(yàn)驗(yàn)（（每每批批））C組：：與與芯芯片片有有關(guān)關(guān)的的檢檢驗(yàn)驗(yàn)（（周周期期））D組：：與與封封裝裝有有關(guān)關(guān)的的檢檢驗(yàn)驗(yàn)（（周周期期））篩選選(GJB597A-96)內(nèi)部部目目檢檢溫度度循循環(huán)環(huán)（（或或熱熱沖沖擊擊））恒定定加加速速度度粒子子碰碰撞撞噪噪聲聲（（PIND)編序序列列號(hào)號(hào)中間間電電參參數(shù)數(shù)測(cè)測(cè)試試?yán)蠠挓掚妳?shù)數(shù)測(cè)測(cè)試試（規(guī)規(guī)定定PDA)密封封（（粗粗檢檢漏漏和和細(xì)細(xì)檢檢漏漏））最終終電電測(cè)測(cè)試試外部部目目檢檢可靠靠性性試試驗(yàn)驗(yàn)的的分分類類（（GJB548B)耐濕濕鹽霧霧溫度度循循環(huán)環(huán)穩(wěn)定定性性烘烘培培熱沖沖擊擊穩(wěn)態(tài)態(tài)壽壽命命高溫溫壽壽命命低溫溫壽壽命命老煉煉密封封內(nèi)部部水水氣氣含含量量電離離輻輻射射試試驗(yàn)驗(yàn)物理理尺尺寸寸恒定定加加速速度度可焊焊性性外部部目目檢檢內(nèi)部部目目檢檢鍵合合強(qiáng)強(qiáng)度度芯片片剪剪切切強(qiáng)強(qiáng)度度隨機(jī)機(jī)振振動(dòng)動(dòng)掃頻頻振振動(dòng)動(dòng)機(jī)械械沖沖擊擊粒子子碰碰撞撞噪噪聲聲環(huán)境境試試驗(yàn)驗(yàn)（（34項(xiàng)））機(jī)械械試試驗(yàn)驗(yàn)（（35項(xiàng)））可靠靠性性試試驗(yàn)驗(yàn)的的分分類類內(nèi)部部目目檢檢及及機(jī)機(jī)械械檢檢查查可焊焊性性試試驗(yàn)驗(yàn)?zāi)蜐駶褚€線牢牢固固性性試試驗(yàn)驗(yàn)鹽霧霧試試驗(yàn)驗(yàn)芯片片剪剪切切強(qiáng)強(qiáng)度度試試驗(yàn)驗(yàn)掃頻頻振振動(dòng)動(dòng)內(nèi)部部水水氣氣試試驗(yàn)驗(yàn)內(nèi)部部目目檢檢與與機(jī)機(jī)械械檢檢驗(yàn)驗(yàn)輻照照試試驗(yàn)驗(yàn)穩(wěn)態(tài)態(tài)壽壽命命密封封外部部目目檢檢內(nèi)部部目目檢檢（（封封帽帽前前））老煉煉粒子子碰碰撞撞噪噪聲聲物理理尺尺寸寸低氣氣壓壓試試驗(yàn)驗(yàn)高溫溫壽壽命命低溫溫壽壽命命溫度度循循環(huán)環(huán)破壞壞性性試試驗(yàn)驗(yàn)非破破壞壞性性試試驗(yàn)驗(yàn)環(huán)境境試試驗(yàn)驗(yàn)溫度度試試驗(yàn)驗(yàn)低溫溫試試驗(yàn)驗(yàn)：：檢驗(yàn)驗(yàn)在在規(guī)規(guī)定定的的低低溫溫條條件件下下，，器器件件滿滿足足工工作作或或儲(chǔ)儲(chǔ)存存要要求求的的適適應(yīng)應(yīng)能能力力。。（（低低溫溫工工作作測(cè)測(cè)試試在在工工作作溫溫度度下下限限溫溫度度做做試試驗(yàn)驗(yàn)，，低低溫溫貯貯存存在在貯貯存存溫溫度度下下限限做做試試驗(yàn)驗(yàn)））。。高溫試試驗(yàn)：：檢驗(yàn)在在規(guī)定定的高高溫條條件下下，器器件滿滿足工工作或或儲(chǔ)存存要求求的適適應(yīng)能能力。。（高高溫工工作測(cè)測(cè)試在在工作作溫度度上限限溫度度做試試驗(yàn)，，高溫溫貯存存在貯貯存溫溫度上上限做做試驗(yàn)驗(yàn)）。。溫度試試驗(yàn)?zāi)康模海簻y(cè)定器器件承承受極極端高高溫和和極端端低溫溫的能能力，，以及及極端端高低低溫變變化對(duì)對(duì)器件件的影影響所需設(shè)設(shè)備：：高低溫溫實(shí)驗(yàn)驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)方方法：：兩箱法法單單箱法法溫度循循環(huán)溫度試試驗(yàn)計(jì)時(shí)：：轉(zhuǎn)換時(shí)時(shí)間（（≤≤1min)樣品從從一個(gè)個(gè)極端端溫度度轉(zhuǎn)移移到另另一個(gè)個(gè)極端端溫度度所經(jīng)經(jīng)歷的的時(shí)間間保持時(shí)時(shí)間（（≥≥10min)樣品到到達(dá)極極端溫溫度（（＜15min)后停留的的時(shí)間間循環(huán)次次數(shù)：：大于10次中斷處處理：：由于電電源或或設(shè)備備故障障，允允許中中斷試試驗(yàn)，，但是是如果果中斷斷次數(shù)數(shù)超過規(guī)規(guī)定的的循環(huán)環(huán)總次次數(shù)的的10％時(shí)，，必須須重新新開始始。失效判判據(jù)：：外殼、、引線線、或或封口口有無無缺陷陷或損損壞，，標(biāo)志志是否否清晰晰，以以及其他他規(guī)定定的參參數(shù)是是否合合格。。溫度循循環(huán)溫度試試驗(yàn)?zāi)康模海簷z驗(yàn)電電子元元器件件在遇遇到溫溫度劇劇變時(shí)時(shí)其抵抵抗和和適應(yīng)應(yīng)能力力的試驗(yàn)。。轉(zhuǎn)換換時(shí)間間小于于10s.判據(jù)：：主要檢檢驗(yàn)襯襯底開開裂、、絕緣緣體位位移、、引線線焊接接、封封裝等等缺陷。注意：：必須在在規(guī)定定的沖沖擊溫溫度上上下限限溫度度點(diǎn)進(jìn)進(jìn)行規(guī)規(guī)定的的沖擊擊次數(shù)，屬屬于非非破壞壞性的的檢測(cè)測(cè)，篩篩選時(shí)時(shí)為100％檢驗(yàn)驗(yàn)，質(zhì)質(zhì)量一一致性檢檢測(cè)時(shí)時(shí)也可可抽樣樣檢測(cè)測(cè)。在在篩選選檢測(cè)測(cè)中，，不合合格品品必須剔除除。熱沖擊擊試驗(yàn)驗(yàn)：密封目的：：確定具具有空空腔的的電子子器件件封裝裝的氣氣密性性，密密封不不良會(huì)會(huì)導(dǎo)致致環(huán)境境氛侵侵入器器件內(nèi)內(nèi)部引引起電電性能能不穩(wěn)穩(wěn)定或或腐蝕蝕開路路所需設(shè)設(shè)備：：氦質(zhì)譜譜細(xì)檢檢漏（（用于于檢查查1Pa.cm3/s—10-4Pa.cm3/s的漏率））氟油或或乙二二醇粗粗檢漏漏（用用于檢檢查大大于1Pa.cm3/s的漏率率）失效判判據(jù)：：細(xì)檢：：測(cè)定漏漏率粗檢：：從同一一位置置出來來的一一連串串氣泡泡或兩兩個(gè)以以上大大氣泡泡試驗(yàn)順順序：：先細(xì)檢檢后后粗檢檢試驗(yàn)過過程需需加壓壓耐濕目的：：用加速速的方方式評(píng)評(píng)估元元器件件及所所用材材料在在炎熱熱高濕濕（典典型熱熱帶環(huán)環(huán)境））下抗抗退化化效應(yīng)應(yīng)的能能力，，本實(shí)實(shí)驗(yàn)可可以可可靠的的指出出哪些些元器器件不不可以以在熱熱帶條條件下下使用用。為為破壞壞性試試驗(yàn)。。所需設(shè)設(shè)備：：溫濕箱箱試驗(yàn)程程序干燥－－升溫溫－保保持－－降溫溫－升升溫－－保持持－降降溫循環(huán)10次低溫子子循環(huán)環(huán)(至少5次）耐濕濕度控控制：：80％－100％試驗(yàn)時(shí)時(shí)間：：10天左右右失效判判據(jù)：：標(biāo)志脫脫落、、褪色色、模模糊鍍層腐腐蝕或或封裝裝零件件腐蝕蝕透引線脫脫落，，折斷斷或局局部分分離因腐蝕蝕導(dǎo)致致的引引線之之間或或引線線與外外殼搭搭接輻照試試驗(yàn)：：射線對(duì)對(duì)物質(zhì)質(zhì)的最最基本本作用用是電電離作作用，，電離離作用用與物物質(zhì)從從射線線吸收收的能能量有有關(guān)對(duì)對(duì)于定定量的的射線線，物物質(zhì)質(zhì)質(zhì)量越越小，，吸收收越密密集，，影響響越大大。其關(guān)系系式如如下：：射線劑劑量＝＝物質(zhì)質(zhì)吸收收能量量/物質(zhì)的的質(zhì)量量。輻照試試驗(yàn)：：目的：：試驗(yàn)時(shí)時(shí)，高高能粒粒子進(jìn)進(jìn)入器器件，，使其其微觀觀結(jié)構(gòu)構(gòu)變化化，產(chǎn)產(chǎn)生附附加電電荷或或電流流甚至至缺陷陷，導(dǎo)導(dǎo)致器器件參參數(shù)退退化、、鎖定定、翻翻轉(zhuǎn)或或產(chǎn)生生浪涌涌電流流燒壞壞失效效。通通過各各種輻輻照效效應(yīng)試試驗(yàn)，，可確確定器器件的的致命命損傷傷劑量量、失失效規(guī)規(guī)律及及失效效機(jī)理理，從從而在在材料料、結(jié)結(jié)構(gòu)、、工藝藝和線線路上上進(jìn)行行抗輻輻射的的設(shè)計(jì)計(jì)改進(jìn)進(jìn)。試試驗(yàn)方方案要要依據(jù)據(jù)不同同的產(chǎn)產(chǎn)品和和不同同的試試驗(yàn)?zāi)磕康?，，選擇擇輻照照的總總劑量量或劑劑量率率及輻輻照時(shí)時(shí)間，，否則則由于于輻照照過低低或過過量而而得不不到尋尋求的的閾值值或損損壞樣樣品。。輻照試試驗(yàn)：：中子輻輻照試試驗(yàn)在核反反應(yīng)堆堆中進(jìn)進(jìn)行，，測(cè)測(cè)量半半導(dǎo)體體器件件在中中子環(huán)環(huán)境的的性能能退化化的敏敏感性性，是是一種種破壞壞性試試驗(yàn)，，主要要檢測(cè)測(cè)半導(dǎo)導(dǎo)體器器件關(guān)關(guān)鍵參參數(shù)和和中子子注入入的關(guān)關(guān)系總劑劑量量輻輻照照試試驗(yàn)驗(yàn)總劑劑量量輻輻照照試試驗(yàn)驗(yàn)采采用用鈷鈷60放射射源源以以穩(wěn)穩(wěn)態(tài)態(tài)形形式式對(duì)對(duì)器器件件進(jìn)進(jìn)行行輻輻照照。。為為破破壞壞性性試試驗(yàn)驗(yàn)。。主主要要用用來來判判定定低低劑劑量量率率電電離離輻輻射射對(duì)對(duì)器器件件的的作作用用。。輻照照試試驗(yàn)驗(yàn)：：試驗(yàn)驗(yàn)程程序序和和方方法法：：①按按規(guī)規(guī)范范要要求求，，選選定定輻輻照照類類型型、、劑劑量量或或劑劑量量率率及及輻輻照照時(shí)時(shí)間間。。②記記錄錄試試驗(yàn)驗(yàn)前前器器件件相相關(guān)關(guān)電電性性能能參參數(shù)數(shù)。。③進(jìn)進(jìn)行行輻輻照照試試驗(yàn)驗(yàn)。。④測(cè)測(cè)試試輻輻照照試試驗(yàn)驗(yàn)后后器器件件的的相相關(guān)關(guān)電電性性能能參參數(shù)數(shù)。。⑤比比對(duì)對(duì)試試驗(yàn)驗(yàn)前前后后器器件件的的相相關(guān)關(guān)電電性性能能參參數(shù)數(shù)值值，，若若值值差差超超過過允允值值為為失失效效。。機(jī)械械試試驗(yàn)驗(yàn)恒定定加加速速度度：：目的的：：檢查查在在規(guī)規(guī)定定的的離離心心加加速速度度作作用用下下的的適適應(yīng)應(yīng)能能力力或或評(píng)評(píng)定定其其結(jié)結(jié)構(gòu)構(gòu)的的牢牢靠靠性性。。為為非非破破壞壞性性檢檢測(cè)測(cè)，，篩篩選選時(shí)時(shí)為為100％檢檢驗(yàn)驗(yàn)，，質(zhì)質(zhì)量量一一致致性性檢檢測(cè)測(cè)時(shí)時(shí)也也可可抽抽樣樣檢檢測(cè)測(cè)。。在在篩篩選選檢檢測(cè)測(cè)中中，，不不合合格格必必須須剔剔除除。。所需需設(shè)設(shè)備備：：離心心機(jī)機(jī)合格格判判據(jù)據(jù)：：器件件無無損損壞壞，，標(biāo)標(biāo)識(shí)識(shí)清清楚楚，，其其他他參參數(shù)數(shù)測(cè)測(cè)試試機(jī)械械沖沖擊擊：：目的的：：檢查查在在規(guī)規(guī)定定的的沖沖擊擊條條件件下下受受到到機(jī)機(jī)械械沖沖擊擊時(shí)時(shí)的的適適應(yīng)應(yīng)性性或或評(píng)評(píng)定定其其結(jié)結(jié)構(gòu)構(gòu)的的牢牢靠靠性性。。為為非非破破壞壞性性檢檢測(cè)測(cè)，，篩篩選選時(shí)時(shí)為為100％檢檢驗(yàn)驗(yàn)，，質(zhì)質(zhì)量量一一致致性性檢檢測(cè)測(cè)時(shí)時(shí)也也可可抽抽樣樣檢檢測(cè)測(cè)。。在在篩篩選選檢檢測(cè)測(cè)中中，，不不合合格格必必須須剔剔除除。。有有時(shí)時(shí)規(guī)規(guī)定定要要求求在在沖沖擊擊中中測(cè)測(cè)試試，，也也可可按按規(guī)規(guī)定定試試驗(yàn)驗(yàn)后后進(jìn)進(jìn)行行外外觀觀觀觀察察和和電電測(cè)測(cè)試試后后決決定定是是否否合合格格。。所需需設(shè)設(shè)備備：：沖擊擊振振動(dòng)動(dòng)臺(tái)臺(tái)（（提提供供500g－30000g的沖沖擊擊脈脈沖沖））合格格判判據(jù)據(jù)：：外殼殼，，引引線線的的損損壞壞，，標(biāo)標(biāo)記記的的模模糊糊或或者者其其他他附附加加的的參參數(shù)數(shù)測(cè)測(cè)試試機(jī)械械振振動(dòng)動(dòng)試試驗(yàn)驗(yàn)振動(dòng)動(dòng)疲疲勞勞試試驗(yàn)驗(yàn)：：檢查查器器件件管管殼殼、、引引線線焊焊接接、、管管芯芯鍵鍵合合、、襯襯底底等等是是否否符符合合規(guī)規(guī)定定要要求求。。電電子產(chǎn)產(chǎn)品品易易受受影影響響的的頻頻率率為為50Hz——2000Hz。長(zhǎng)長(zhǎng)期期振振動(dòng)動(dòng)會(huì)會(huì)使使器器件件產(chǎn)產(chǎn)生生疲疲勞勞失效效、、引引線線斷斷裂裂和和結(jié)結(jié)構(gòu)構(gòu)損損傷傷等等。。篩篩選選時(shí)時(shí)為為100％檢檢驗(yàn)驗(yàn)，，質(zhì)質(zhì)量量一一致致性性檢檢測(cè)時(shí)時(shí)也也可可抽抽樣樣檢檢測(cè)測(cè)。。在在篩篩選選檢檢測(cè)測(cè)中中，，不不合合格格必必須須剔剔除除。。隨機(jī)機(jī)振振動(dòng)動(dòng)試試驗(yàn)驗(yàn)：：考核核器器件件在在隨隨機(jī)機(jī)激激勵(lì)勵(lì)下下抵抵抗抗隨隨機(jī)機(jī)振振動(dòng)動(dòng)的的能能力力。。（（試試樣樣在在隨隨機(jī)機(jī)激激勵(lì)勵(lì)下下產(chǎn)產(chǎn)生隨隨機(jī)機(jī)振振動(dòng)動(dòng)，，由由試試驗(yàn)驗(yàn)設(shè)設(shè)備備顯顯示示出出試試樣樣的的響響應(yīng)應(yīng)功功率率譜譜密密度度。。如如果果試試樣樣的的響應(yīng)功率率譜密度度大于規(guī)規(guī)定的極極限值，，則試樣樣不合格格。）掃頻振動(dòng)動(dòng)試驗(yàn)：：尋找被考考核器件件的各階階固有頻頻率（也也是共振振頻率））及在這這個(gè)頻率率段的耐振能力力。（有有時(shí)規(guī)定定要求在在振動(dòng)中中測(cè)試，，也可按按規(guī)定試試驗(yàn)后進(jìn)進(jìn)行外觀觀察和和電測(cè)試試后決定定是否合合格。））鍵合強(qiáng)度度試驗(yàn)：：目的：檢查器件件內(nèi)引線線的鍵合合是否達(dá)達(dá)到規(guī)定定的要求求。避免免由于鍵鍵合虛接接（零克克點(diǎn)）和和鍵合強(qiáng)強(qiáng)度低于于規(guī)定要要求而導(dǎo)導(dǎo)致的失失效。失效分析析：我所主要要產(chǎn)品的的本試驗(yàn)驗(yàn)失效的的器件多多為金絲絲頸縮點(diǎn)點(diǎn)、引線線損傷導(dǎo)導(dǎo)致的不不達(dá)標(biāo)或或通電熔熔斷，可可采取引引線斷面面顯微鏡鏡觀察確確定是機(jī)機(jī)械損傷傷（斷面面凸凹不不平）或或電燒熔熔（斷面面為球面面）來進(jìn)進(jìn)行失效效分析。。對(duì)引線線從芯片片金屬化化層（鋁鋁）壓焊焊點(diǎn)脫落落的失效效需進(jìn)行行電子探探針X射線能譜譜色散分分析來確確定金鋁鋁固相反反應(yīng)形成成的中間間化合物物成份和和失效原原因。對(duì)對(duì)直接連連金屬化化層從芯芯片上脫脫落的失失效則需需從金屬屬化鍍膜膜工藝去去分析失失效原因因。芯片剪切切強(qiáng)度試試驗(yàn)：目的：檢查芯片片粘附在在熱沉或或管座上上所使用用材料和和工藝的的完整性。粘附附不良（（有空洞洞等）會(huì)會(huì)導(dǎo)致散散熱不良良、導(dǎo)通通電阻超標(biāo)、電電特性退退化，甚甚至芯片片脫落引引起器件件開路。。芯片剪切切強(qiáng)度不不合格具具有批次次性。是是破壞性性的抽樣樣檢驗(yàn)。。對(duì)本試試驗(yàn)失效效的器件件可用顯顯微鏡或或掃描電電鏡對(duì)剪剪切解剖剖面進(jìn)行行形貌觀觀察和失失效分析析。謝謝歡迎各位位老師批批評(píng)指正正9、靜夜四無無鄰，荒居居舊業(yè)貧。。。12月-2212月-22Thursday,December29,202210、雨中黃葉葉樹，燈下下白頭人。。。03:51:0503:51:0503:5112/29/20223:51:05AM11、以以我我獨(dú)獨(dú)沈沈久久，，愧愧君君相相見見頻頻。。。。12月月-2203:51:0503:51Dec-2229-Dec-2212、故故人人江江海海別別，，幾幾度度隔隔山山川川。。。。03:51:0503:51:0503:51Thursday,December29,202213、乍見見翻疑疑夢(mèng)，，相悲悲各問問年。。。12月月-2212月月-2203:51:0503:51:05December29,202214、他鄉(xiāng)生生白發(fā)，，舊國(guó)見見青山。。。29十十二月20223:51:05上午午03:51:0512月-2215、比不了了得就不不比，得得不到的的就不要要。。。十二月223:51上午午12月-2203:51December29,202216、行動(dòng)出成成果，工作作出財(cái)富。。。2022/12/293:51:0503:51:0529December202217、做前前，能能夠環(huán)環(huán)視四四周；；做時(shí)時(shí)，你你只能能或者者最好好沿著著以腳腳為起起點(diǎn)的的射線線向前前。。。3:51:05上上午3:51上上午午03:51:0512月月-229、沒沒有有失失敗敗，，只只有有暫暫時(shí)時(shí)停停止止成成功功?。?。。12月月-2212月月-22Thursday,December29,202210、很很多多事事情情努努力力了了未未必必有有結(jié)結(jié)果果，，但但是是不不努努力力卻卻什什么么改改變變也也沒沒有有。。。。03:51:0503:51:0503:5112/29/20223:51:05AM11、成功功就是是日復(fù)復(fù)一日日那一一點(diǎn)點(diǎn)點(diǎn)小小小努力力的積積累。。。12月月-2203:51:0503:51Dec-2229-Dec-2212、世間成成事，不不求其絕絕對(duì)圓滿滿，留一一份不足足，可得得無限完完美。。。03:51:0503:51:0503:51Thursday,Dece