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IC產(chǎn)業(yè)鏈的分工設(shè)計(jì)制造目前微電子產(chǎn)業(yè)已逐漸演變?yōu)樵O(shè)計(jì),制造和封裝三個(gè)相對(duì)獨(dú)立的產(chǎn)業(yè)。IC制作InitialoxSisubstrateInitialoxSisubstratePRDiffmodulePHOTOmoduleETCHmoduleInioxSisubPRThinfilmmoduleInioxSisubDiff,PHOTO,ETCH,T/FICcrosssectionWATWaferSortingChipCutting初始晶片(primarywafer)BondingPackagingFinalTestIC制造過(guò)程IC內(nèi)部結(jié)構(gòu)導(dǎo)電電路絕緣層硅底材元件結(jié)構(gòu)內(nèi)連導(dǎo)線(xiàn)架構(gòu)FieldOxideFieldOxideSource/DrainRegionsGateOxideNPN雙極型晶體管(三極管)MOS結(jié)構(gòu)0.1晶片制備1、材料提純(硅棒提純)2、晶體生長(zhǎng)(晶棒制備)3、切割(切成晶片)4、研磨(機(jī)械磨片、化學(xué)機(jī)械拋光CMP)5、晶片評(píng)估(檢查)0.1.1材料提純(硅棒提純)提純?cè)恚蝴}水結(jié)冰后,冰中鹽的含量較低==〉在液態(tài)硅(熔區(qū))中,雜質(zhì)濃度大些提純方法:區(qū)域精煉法0.1.3切割(切成晶片)鋸切頭尾→檢查定向性和電阻率等→切割晶片晶片厚約50μm0.2掩模板制備特殊的石英玻璃上,涂敷一層能吸收紫外線(xiàn)的鉻層(氧化鉻或氧化鐵),再用光刻法制造光刻主要步驟涂膠曝光顯影顯影蝕刻光刻工藝0.3晶片加工主要步驟:氧化開(kāi)窗摻雜金屬膜形成摻雜沉積鈍化0.3.1氧化氧化膜(SiO2、SiNH)的作用:保護(hù):如,鈍化層(密度高、非常硬)摻雜阻擋:阻擋擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)選擇性摻雜絕緣:如,隔離氧化層介質(zhì):電容介質(zhì)、MOS的絕緣柵晶片不變形:與Si晶片的熱膨脹系數(shù)很接近,在高溫氧化、摻雜、擴(kuò)散等公益中,晶片不會(huì)因熱脹冷縮而產(chǎn)生彎曲氧化氧化方法:濺射法、真空蒸發(fā)法、CVD、熱氧化法等例:干氧化法:Si+O2=SiO2(均勻性好)濕氧化法:Si+O2=SiO2(生長(zhǎng)速度快)
Si+2H2O=SiO2+H20.3.3摻雜(擴(kuò)散)擴(kuò)散原理雜質(zhì)原子在高溫(1000-1200度)下從硅晶片表面的高濃度區(qū)向襯底內(nèi)部的低濃度區(qū)逐漸擴(kuò)散。擴(kuò)散濃度與溫度有關(guān):(1000-1200度擴(kuò)散快)0.3.4擴(kuò)散擴(kuò)散步驟:1、預(yù)擴(kuò)散(淀積)恒定表面源擴(kuò)散(擴(kuò)散過(guò)程中,硅片的表面雜質(zhì)濃度不變),溫度低,時(shí)間短,擴(kuò)散淺:控制擴(kuò)散雜質(zhì)的數(shù)量。2、主擴(kuò)散有限表面源擴(kuò)散(擴(kuò)散過(guò)程中,硅片的表面雜質(zhì)源不補(bǔ)充),溫度高,時(shí)間長(zhǎng),擴(kuò)散深:控制擴(kuò)散雜質(zhì)的表面濃度和擴(kuò)散深度、或暴露表面的氧化。擴(kuò)散擴(kuò)散分類(lèi)及設(shè)備:按照雜質(zhì)在室溫下的形態(tài)分為:液態(tài)源擴(kuò)散、氣態(tài)源擴(kuò)散、固態(tài)源擴(kuò)散0.3.5.1薄膜淀積薄膜:小于1um,要求:厚度均勻、高純度、可控組分、臺(tái)階覆蓋好、附著性好、電學(xué)性能好薄膜淀積方法:1、物理氣相淀積(PVD)2、化學(xué)氣相淀積(CVD:APCVD、LPCVD、PECVD)薄膜淀積——物理氣相淀積(PVD)PVD:利用某種物理過(guò)程,例如蒸發(fā)或?yàn)R射現(xiàn)象,實(shí)現(xiàn)物質(zhì)轉(zhuǎn)移,即原子或分子從原料表面逸出,形成粒子射入到硅片表面,凝結(jié)形成固態(tài)薄膜。1、真空蒸發(fā)PVD2、濺射PVD真空蒸發(fā)PVD濺射鍍鋁膜薄膜淀積——化學(xué)氣相淀積(CVD)CVD:利用含有薄膜元素的反應(yīng)劑在襯底表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng),從而在襯底表面淀積薄膜。常用方法:1、外延生長(zhǎng)2、熱CVD(包括:常壓CVD=APCVD、低壓CVD=HPCVD)3、等離子CVD(=PECVD)CVD原理示意圖0.3.5.2金屬化、多
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