集成電路工藝復(fù)習(xí)_第1頁(yè)
集成電路工藝復(fù)習(xí)_第2頁(yè)
集成電路工藝復(fù)習(xí)_第3頁(yè)
集成電路工藝復(fù)習(xí)_第4頁(yè)
集成電路工藝復(fù)習(xí)_第5頁(yè)
已閱讀5頁(yè),還剩7頁(yè)未讀 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

preparation(硅片準(zhǔn)備)

(硅片制造)

(硅片測(cè)試和揀選)

(裝配和封裝)

test(終測(cè))

不同晶向的硅片,它的化學(xué)、電學(xué)、和機(jī)械性質(zhì)都不同,這會(huì)影響最終的器

雙極集成電路通常用(111)晶面或<111>晶向。

氧化方式及其化學(xué)反應(yīng)式:①干氧氧化:Si+O2

硅的氧化溫度:750

Na+、K+離子,來(lái)源于工藝中的化學(xué)試劑、器皿和各

As)。

④硅片晶向:<111>硅單晶的氧化速率比<100>稍快

通常的退火溫度:>950℃,時(shí)間:30

RTP,在較短的時(shí)間(10

注入;⑨超淺結(jié)注入;⑩絕緣體上的硅(SOI)中的氧注入。

④輕摻雜漏區(qū)(LDD)注入:減小最大電場(chǎng),增強(qiáng)抗擊穿和熱載流子能力。

數(shù)值孔徑(NA)

sin

透鏡半徑m 透鏡焦長(zhǎng)

分辨率(R)

0.6~0.8;λ為光源的波長(zhǎng);NA

焦深(DOF)

0.1%,因而需要較多的氣體以產(chǎn)生足

系統(tǒng)(APCVD)體)。

系統(tǒng)(LPCVD)

Poly-Si

Poly-Si

Poly-Si

Poly-Si

多晶電阻及橋聯(lián);③PIP

Al)更高的可靠性;⑤在陡峭的結(jié)構(gòu)上沉

缺點(diǎn):濺射速率低,

在純鋁和硅的界面加熱合金化過(guò)程中(450~500℃)

TiSi2、CoSi2

Polish)是通過(guò)化學(xué)反應(yīng)和機(jī)械研磨相結(jié)合的方法對(duì)表面起伏的硅

3.0μm

阱區(qū)→N

隔離工藝:墊氧氧化→氮化硅沉積→光刻有源區(qū)→光刻

管源漏區(qū)→NMOS

管源漏區(qū)→PMOS

⑤金屬互連的形成:BPSG

沉積→回流/增密→光刻接觸孔→濺射

0.18μm

工藝;⑤側(cè)墻形成工藝;⑥源/漏(S/D)注入工藝;⑦接觸形成工藝

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫(kù)網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論