GB/T 12085.12-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第12部分：污染

ICS37020

N30.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1208512—2010

代替.

GB/T12085.12—1989

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法

第12部分污染

:

Opticsandopticalinstruments—Environmentaltestmethods—

Part12Contamination

:

(ISO9022-12:1994,MOD)

2011-01-14發(fā)布2011-05-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T1208512—2010

.

前言

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法分為以下個部分

GB/T12085《》16:

第部分術(shù)語試驗范圍

———1:、;

第部分低溫高溫濕熱

———2:、、;

第部分機(jī)械作用力

———3:;

第部分鹽霧

———4:;

第部分低溫低氣壓綜合試驗

———5:、;

第部分砂塵

———6:;

第部分滴水淋雨

———7:、;

第部分高壓低壓浸沒

———8:、、;

第部分太陽輻射

———9:;

第部分振動正弦與高溫低溫綜合試驗

———10:()、;

第部分長霉

———11:;

第部分污染

———12:;

第部分沖擊碰撞或自由跌落與高溫低溫綜合試驗

———13:、、;

第部分露霜冰

———14:、、;

第部分寬帶隨機(jī)振動數(shù)字控制與高溫低溫綜合試驗

———15:()、;

第部分彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗

———16:、。

本部分為的第部分

GB/T1208512。

本部分修改采用光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第部分污染

ISO9022-12:1994《12:》。

本部分與的主要差異如下

ISO9022-12:1994:

刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言

———;

根據(jù)第章及我國標(biāo)準(zhǔn)用語習(xí)慣作了重新編寫

———ISO9022-121;

國際標(biāo)準(zhǔn)本部分一詞改為本部分

———“”“”。

本部分代替光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法污染與

GB/T12085.12—1989《》,GB/T12085.12—

的主要差異為

1989:

合并了范圍與試驗?zāi)康?/p>

———;

增加了試驗程序的總則規(guī)定了相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的依據(jù)

———,;

增加了環(huán)境試驗的標(biāo)記名稱修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號的編寫

———,;

調(diào)整了附錄的標(biāo)準(zhǔn)編寫結(jié)構(gòu)

———A。

本部分的附錄為規(guī)范性附錄

A。

本部分由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本部分由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC103)。

本部分起草單位上海理工大學(xué)寧波永新光學(xué)股份有限公司

:、。

本部分主要起草人章慧賢馮瓊輝曾麗珠葉慧

:、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T12085.12—1989。

Ⅰ

GB/T1208512—2010

.

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法

第12部分污染

:

1范圍

本部分規(guī)定了污染試驗條件條件試驗試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記

、、。

本部分中所指的污染的含義是腐蝕性化學(xué)物質(zhì)1)以下稱試劑同光學(xué)儀器的接觸

“”()。

本部分適用于光學(xué)儀器裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件

、。

本部分不適用于作為正常的生產(chǎn)控制

。

本試驗?zāi)康氖茄芯績x器尤其是儀器的表面涂層或合成材料短時間內(nèi)暴露在試劑中的抵抗能力

,、。

試驗通常只用于在使用期有可能遭受污染的儀器選擇材料或元件時參考

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過的本部分的引用而成為本部分的條款凡是注日期的引用文

GB/T12085。

件其隨后所有的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本部分然而鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成

,(),,

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本

。,

部分

。

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第部分術(shù)語試驗范圍―

GB/T12085.11:、(GB/T12085.1

2010,ISO9022-1:1994,MOD)

3試驗條件

31總則

.

試驗應(yīng)在規(guī)定的大氣環(huán)境條件下進(jìn)行

GB/T12085.1。

在第章條件試驗中列出的試劑表示了不同的化學(xué)試劑種類

4。

32試樣

.

除有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求整臺儀器或部件試驗外試驗應(yīng)采用代表性樣品作試樣

,。

非金屬涂層試驗的基片用至少厚的代表性材料按圖中所示尺寸制作

1mm1。

注有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)也可以規(guī)定試片的長度為或

:140mm±2mm280mm±2mm。

待試涂層的結(jié)構(gòu)應(yīng)與儀器或儀器的部件所用涂層結(jié)構(gòu)相同

。

試樣施加涂層前的表面應(yīng)與所代表的儀器或部件的表面用同樣的方法制備涂層應(yīng)完全地覆蓋住

,

試樣的表面以至于能夠覆蓋特殊的邊角和孔的邊緣涂層的厚度應(yīng)與儀器或部件的涂層的厚度相同

,、。

偏差不超過試樣的標(biāo)記數(shù)字等應(yīng)在施加涂層前制作好制備好的試樣必須防止污染直到試

(5μm),、。