標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 12085.12-1989 是一項(xiàng)中國國家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 污染》。這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)和光學(xué)儀器在進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)時(shí),評(píng)估其對(duì)污染敏感度及耐受性的具體測(cè)試方法。以下是該標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容概述:

  1. 適用范圍:標(biāo)準(zhǔn)適用于各種光學(xué)元件、組件以及整機(jī)光學(xué)儀器,用于評(píng)價(jià)這些產(chǎn)品在使用或存儲(chǔ)過程中,因空氣中的塵埃、煙霧、化學(xué)氣體等污染物引起的性能變化。

  2. 污染源定義:標(biāo)準(zhǔn)明確了污染可能來源于自然環(huán)境中的灰塵、工業(yè)排放的煙霧、腐蝕性氣體等,并區(qū)分了固態(tài)污染(如灰塵)和氣態(tài)污染(如酸性氣體)。

  3. 試驗(yàn)條件與方法

    • 試驗(yàn)環(huán)境:規(guī)定了進(jìn)行污染試驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)室條件,包括溫濕度控制、空氣凈化水平等,確保試驗(yàn)結(jié)果的可比性和重復(fù)性。
    • 污染源制備:詳細(xì)說明了如何制備模擬實(shí)際環(huán)境中可能遇到的各種污染源,比如使用特定粒徑分布的粉塵或配制特定濃度的氣體混合物。
    • 試驗(yàn)程序:包括污染暴露時(shí)間、污染程度的控制、以及試驗(yàn)期間和試驗(yàn)后的檢測(cè)項(xiàng)目和方法,如光學(xué)性能測(cè)試、外觀檢查等。
  4. 評(píng)價(jià)指標(biāo):標(biāo)準(zhǔn)提供了一套評(píng)價(jià)體系,用于判斷光學(xué)產(chǎn)品在受污染后性能下降的程度,包括透光率變化、分辨率降低、表面沉積物的性質(zhì)及其去除難易度等。

  5. 試驗(yàn)報(bào)告:要求試驗(yàn)結(jié)束后,應(yīng)編制詳細(xì)的試驗(yàn)報(bào)告,記錄試驗(yàn)條件、方法、結(jié)果及分析,以便于產(chǎn)品質(zhì)量控制和改進(jìn)。

  6. 安全與防護(hù):雖然此部分內(nèi)容可能不是標(biāo)準(zhǔn)的核心,但通常會(huì)提及在進(jìn)行污染試驗(yàn)時(shí)需采取的安全措施和對(duì)試驗(yàn)人員及設(shè)備的保護(hù)要求。


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  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
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GB/T 12085.12-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法污染-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡(jiǎn)介

UDC681.7.08N30中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB12085.12-89光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法污染Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Contamination1989-12-29發(fā)布1990-08-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法污GB12085.12-89中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼:100045電話:63787337637874471990年12月第一版2005年9月電子版制作書號(hào):155066·1-24279版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話:(010)68533533

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法GB12085.12-89污染Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Contamination!主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了污雜試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學(xué)物質(zhì)!》(以下稱試劑)同光學(xué)儀器的接觸。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于作為正常的生產(chǎn)控制。注:1)不包括放射性元素和同位素及危險(xiǎn)性化學(xué)物質(zhì)如2.2-二氯二乙硫2試驗(yàn)?zāi)康难芯績(jī)x器,,尤其是儀器的表面、涂層或合成材料短時(shí)間內(nèi)暴露在試劑中的抵抗能力。武驗(yàn)通常只用于在使用期有可能遭受污染的儀器選擇材料或元件時(shí)參考。引用標(biāo)準(zhǔn)GB12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法:術(shù)語、試驗(yàn)范圍武驗(yàn)條件試驗(yàn)應(yīng)在GB12085.1規(guī)定的大氣環(huán)境條件下進(jìn)行。4.1過樣除有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求整臺(tái)儀器或部件試驗(yàn)外,試驗(yàn)應(yīng)采用代表性樣品作試樣。非金屬涂層試驗(yàn)的基片用代表性

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