標準解讀

GB/T 12085.6-1989 是一項中國國家標準，全稱為《光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵試驗》。該標準規(guī)定了對光學和光學儀器進行砂塵環(huán)境試驗的方法、條件、程序及試驗設(shè)備的要求，旨在評估這些設(shè)備在沙塵環(huán)境下工作的可靠性和適應(yīng)性。

標準內(nèi)容概覽：

  1. 適用范圍：明確了本標準適用于各類光學和光學儀器，包括但不限于相機、望遠鏡、瞄準器、投影設(shè)備等，在模擬自然或特定砂塵條件下的性能測試。

  2. 術(shù)語定義：對試驗中涉及的關(guān)鍵術(shù)語進行了定義，確保試驗執(zhí)行過程中的語言統(tǒng)一和理解準確。

  3. 試驗條件：詳細描述了砂塵試驗的環(huán)境參數(shù)，如砂塵的種類、粒度分布、濃度、試驗溫度、濕度等，以模擬實際可能遇到的不同砂塵環(huán)境。

  4. 試驗設(shè)備：規(guī)定了進行砂塵試驗所必需的設(shè)備類型、構(gòu)造、操作原理及性能要求，確保試驗結(jié)果的可重復性和準確性。

  5. 試驗程序：步驟化說明了從樣品預處理、試驗布置、砂塵施加到試驗終止的全過程，包括試驗持續(xù)時間、樣品放置方式、砂塵噴射的方式與強度等。

  6. 評價方法：提供了試驗后對光學儀器性能檢測和評價的標準和方法，如光學性能下降程度、機械結(jié)構(gòu)完整性、電氣功能受影響情況等。

  7. 試驗報告：要求記錄并報告試驗的詳細信息，包括試驗條件、所用設(shè)備、試驗過程、觀察結(jié)果及最終結(jié)論，以便于數(shù)據(jù)追溯和分析。

重要性：

遵循此標準進行的砂塵試驗，有助于制造商和研發(fā)機構(gòu)了解其產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)，進而優(yōu)化設(shè)計、提升產(chǎn)品質(zhì)量和增強市場競爭力。同時，也為用戶選購適合特定使用環(huán)境的光學儀器提供了參考依據(jù)。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 12085.6-2010
  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 12085.6-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法砂塵_第1頁
GB/T 12085.6-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法砂塵_第2頁
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GB/T 12085.6-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法砂塵-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC681.7.08N30中華人民共和國國家標準GB12085.6—89光學和光學儀器環(huán)境試驗方法砂塵Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Dust1989-12-29發(fā)布1990-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準光學和光學儀器環(huán)境試驗方法GB12085.6-89小Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Dust主題內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了砂塵試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本標準適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。2試驗?zāi)康难芯吭嚇拥墓鈱W、熱學、力學、化學和電學等特性受到砂塵影響的變化程度，特別是研究運動部件（如滑動面、軸承、接觸器、控制裝置、齒輪）的故障或不能允許的表面磨損。本試驗不用來確定對粗粒砂塵的耐磨性。3引用標準GB12085.1光學和光學儀器環(huán)境試驗方法術(shù)語、試驗范圍試驗條件暴露期間，光學表面應(yīng)用各種措施防止砂塵的影響，如防塵罩。若試樣在暴露時光學表面不必罩蓋，則應(yīng)在有關(guān)標準中加以說明。試驗箱（室）應(yīng)具有一定的空間以保證試樣的占有面積不大于試驗箱（室）橫截面積（與空氣流動方向垂直的面積）的50%，體積不超過試驗箱（室）有效體積的50%。物砂塵應(yīng)由邊緣銳利的微粒組成，其中SiO。按重量應(yīng)不少于97%。微粒尺寸分布和分析用的金屬絲篩網(wǎng)應(yīng)符合表1的規(guī)定。表1細砂塵顆粒尺寸分布按重最的百分比，%（允許偏差±2%）顆杜尺寸，m加篩網(wǎng)網(wǎng)格尺寸，n0.1~0.141400.071~0.10.045-0.071<0.045每次試驗應(yīng)使用新的砂塵。試樣應(yīng)盡可能放在試驗箱（室）中心附近，如多個

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