標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12560-1999 半導(dǎo)體器件 分立器件分規(guī)范》相比于其前版《GB/T 12560-1990》,主要在以下幾個方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:

  1. 適用范圍擴(kuò)展:1999版標(biāo)準(zhǔn)可能對分立半導(dǎo)體器件的種類或應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行了拓寬,納入了更多新型或高性能的器件類型,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和市場需求的變化。

  2. 性能參數(shù)修訂:針對半導(dǎo)體分立器件的關(guān)鍵性能指標(biāo),如最大工作電壓、最大電流、頻率特性、溫度特性等,1999版標(biāo)準(zhǔn)可能根據(jù)技術(shù)發(fā)展情況對其測試方法、允許偏差范圍或要求等級進(jìn)行了修訂,以更準(zhǔn)確地反映當(dāng)前技術(shù)水平和保證器件的可靠性。

  3. 測試方法優(yōu)化:為了提高測試的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,新版本可能引入了新的測試設(shè)備、技術(shù)和程序,或者對原有測試方法進(jìn)行了細(xì)化和改進(jìn),確保測試結(jié)果的一致性和科學(xué)性。

  4. 質(zhì)量與可靠性要求提升:隨著半導(dǎo)體行業(yè)對產(chǎn)品質(zhì)量和長期可靠性的重視增強(qiáng),1999版標(biāo)準(zhǔn)可能提高了對器件的失效率、壽命、環(huán)境適應(yīng)性等方面的要求,增加了相關(guān)檢驗(yàn)項(xiàng)目或標(biāo)準(zhǔn),以滿足更高標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用需求。

  5. 安全與環(huán)保規(guī)定:考慮到環(huán)境保護(hù)和用戶安全,新版本標(biāo)準(zhǔn)可能加入了關(guān)于限制有害物質(zhì)使用、提高電磁兼容性、以及器件廢棄處理等方面的規(guī)定,符合國際上日益嚴(yán)格的環(huán)保和安全法規(guī)趨勢。

  6. 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)與表述:為便于理解和執(zhí)行,1999版標(biāo)準(zhǔn)在文檔結(jié)構(gòu)、條款編排、術(shù)語定義及表述清晰度上也可能有所改進(jìn),使其更加條理化和易于國際接軌。

這些變動旨在跟進(jìn)行業(yè)技術(shù)進(jìn)步,提高產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),促進(jìn)半導(dǎo)體分立器件領(lǐng)域的健康發(fā)展。


如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1999-08-02 頒布
  • 2000-03-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 12560-1999半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范_第1頁
GB/T 12560-1999半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范_第2頁
GB/T 12560-1999半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范_第3頁
GB/T 12560-1999半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范_第4頁
GB/T 12560-1999半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范_第5頁
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束,剩余15頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 12560-1999半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12560—1999idtIEC747-11:1985QC750100半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范SemiconductordevicesSectionalspecificationfordiscretedevices1999-08-02發(fā)布2000-03-01實(shí)施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T12560-1999前言IEC前言1范圍總則2.1引用標(biāo)準(zhǔn)2.2,溫度的推薦值(優(yōu)選值)2.3電壓和電流的推薦值(優(yōu)選值)2.4引出端識別2.5型號的色標(biāo)2.6與制造過程有關(guān)的定義3質(zhì)量評定程序3.1初始制造階段3.2結(jié)構(gòu)相似器件3.3結(jié)構(gòu)相似性程序3.4鑒定批準(zhǔn)的檢驗(yàn)要求3.5質(zhì)量一致性檢驗(yàn)3.6D組檢驗(yàn)·3.7選?……·3.8油樣要求4試驗(yàn)和測試方法

GB/T12560-1999前本規(guī)范是根據(jù)國際電工委員會IEC747-11《半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范》第一版(1985)及其兩份修訂單(1991年11月第一次修訂,1996年5月第二次修訂)對GB/T12560—1990進(jìn)行修訂的。本規(guī)范等同采用該國際標(biāo)準(zhǔn)。本規(guī)范與前版的主要差別是在標(biāo)準(zhǔn)文本前面增加了目次,以便查閱;增加了前言與IEC前言。2增加了2.6"與制造過程有關(guān)的定義",給出了“生產(chǎn)線"和“生產(chǎn)批”的定義。增加了3.3“結(jié)構(gòu)相似性程序",規(guī)定了結(jié)構(gòu)相似性的原則、應(yīng)用條件、一般規(guī)則和對應(yīng)各項(xiàng)試驗(yàn)的判別規(guī)則。標(biāo)準(zhǔn)中的條款號以及表的編號作了相應(yīng)的修改。4增加了3.4.1“小批量程序",規(guī)定了批量小于200只器件的檢驗(yàn)批的抽樣要求和授子鑒定批準(zhǔn)時應(yīng)滿足的附加要求5對表3中B5分組和表4中C5分組試驗(yàn)內(nèi)容作了修改,對不同封裝的器件應(yīng)經(jīng)受的試驗(yàn)項(xiàng)目與條件分別做了規(guī)定、6對表4中C7分組“穩(wěn)態(tài)濕熱”試驗(yàn)作了修改,對不同封裝的器件分別做了規(guī)定"7對第4章中引用的IEC標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)和測試方法按最新版本的IEC標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)作了修改和補(bǔ)充,并補(bǔ)充了IEC747-4(1991年第一版,1993年第一次修訂)半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第四部分:微波二極管和晶體管》中列出的部分微波二極管電參數(shù)的試驗(yàn)和測試方法以及相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)中的試驗(yàn)和測試方法。這些方法在IEC747-11中尚未列入,本規(guī)范對這些方法的引用代號未做編排本規(guī)范與IEC747-11的主要差別是:本規(guī)范2.6.1注中的“晶片加工”,IEC747-11為“擴(kuò)散”本規(guī)范引用的國家標(biāo)準(zhǔn)及其對應(yīng)的國際標(biāo)準(zhǔn)如下:IC標(biāo)準(zhǔn)8半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第1部分:總則GB/T17573-1998TEC747-1:1993半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范GB/T4589.1-1989TEC747-10:1984GB/T4937-1995半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法TEC749:1984本規(guī)范引用的國際標(biāo)準(zhǔn):IECQQC001002《程序規(guī)則》本規(guī)范自實(shí)施之日起,代替GB/T12560一1990《半導(dǎo)體器件分分立器件分規(guī)范》本規(guī)范由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本規(guī)范由全國半導(dǎo)體分立器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口,本規(guī)范由南京電子器件研究所負(fù)責(zé)起草。本規(guī)范主要起草人:黃玉英、金鎮(zhèn)鈴、趙英本規(guī)范首次發(fā)布時間:1990年12月6日。

GB/T12560-1999IEC的言1)IEC(國際電工委員會)在技術(shù)問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議是由對這些間題特別關(guān)切的國家委員會參加的技術(shù)委員會制定的,對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。2)這些決議或協(xié)議,以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國際上使用.并在此意義上為各國家委員會所認(rèn)可。3)為了促進(jìn)國際間的統(tǒng)一,IEC希望各國家委員會,在本國條件許可的情況下,采用IC標(biāo)準(zhǔn)的文本作為其國家標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)之間的差異,應(yīng)盡可能地在國家標(biāo)準(zhǔn)中指出。本標(biāo)準(zhǔn)由國際電工委員會第47技術(shù)委員會(半導(dǎo)體器件)制定。本標(biāo)準(zhǔn)是半導(dǎo)體分立器件(不包括光電子器件)分規(guī)范,屬于IEC電子元器件質(zhì)量評定體系范睦本標(biāo)準(zhǔn)文本以下列文件為依據(jù):6個月法表決報告47(C0)89547(C0938表決批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)資料可在上表所列的表決報告中套閥本標(biāo)準(zhǔn)封面上的QC號為國際電工委員會電子元器件質(zhì)量評定體系(IECQ)的規(guī)范號

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件分立器件分規(guī)范GB/T12560-1999idtIEC747-11:1985750100Semiconductordevices代替GB/T12560—1990Sectionalspecificationfordiscretedevices圍本規(guī)范適用于除光電子器件之外的半導(dǎo)體分立器件,2總則本規(guī)范應(yīng)與有關(guān)的總規(guī)范一同使用。本規(guī)范給出了有關(guān)評定半導(dǎo)體器件所需的質(zhì)量評定程序、檢驗(yàn)要求、篩選序列、抽樣要求、試驗(yàn)和測試方法的細(xì)節(jié)。2.1引用標(biāo)準(zhǔn)GB/T4589.1—1989半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范2.2溫度的推薦值(優(yōu)選值)見GB/T17573第W篇,第5章2.3電壓和電流的推薦值(優(yōu)選值)見GB/T17573第M篇,第6章2.4引出端識別2.4.1二極管用下述方法之一清晰地表示二極管的極性1)整流二極管圖形符號,箭頭指向陰極端。2)按下述色標(biāo):-A20外形(IEC191-2《半導(dǎo)體器件的機(jī)械標(biāo)準(zhǔn)化第2部分尺寸》,GB/T7581《半導(dǎo)體分立器件外形尺寸》中的D2-04A)和更小外形的二極管;用一條明顯的色帶或一色點(diǎn)在這些二極管的陰極端進(jìn)行標(biāo)志。但當(dāng)用色帶識別型號時,可采用將第一條色帶寬度加倍的方法來識別陰極端。如果二極管的管殼比A1B(IEC191-2,GB/T7581的D2-03B)還小,其陰極端色標(biāo)有可能與型號標(biāo)志混滑時,則后者應(yīng)予省略。-比A20外形更大的二極管:陰極端應(yīng)使用紅色。2.4.2品體管應(yīng)在詳細(xì)規(guī)范中規(guī)定引出端的識別2.4.3閘流晶體管(

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打印),因數(shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論