射線(xiàn)檢測(cè)換證工藝部分講義

射線(xiàn)檢測(cè)

換證工藝部分

二零一五年三月

12015年RT換證理論課程表備注：1.以《射線(xiàn)檢測(cè)》為主；2.授課時(shí)間：上午8:30~12:00下午2:30~6:002授課老師介紹：

宋德超

（RT·UT·MT·PT-III級(jí)）

3教材

本課程主要采用“全國(guó)考委會(huì)統(tǒng)編教材《射線(xiàn)檢測(cè)》和JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)合實(shí)際工作中工藝要求編制4主要講解內(nèi)容：本課程主要講解射線(xiàn)檢測(cè)工藝條件選擇，編制工藝的要求：質(zhì)量影響因素、能量、射線(xiàn)源、焦距、透照方式、透照張數(shù)、長(zhǎng)度計(jì)算、曝光曲線(xiàn)、曝光量選擇及修正、焊縫透照常規(guī)、暗室處理等。針對(duì)本次考試的重點(diǎn)、關(guān)鍵，按照考規(guī)的具體要求，進(jìn)行有針對(duì)性的復(fù)習(xí)。課堂上主要針對(duì)培訓(xùn)教材中的重點(diǎn)、要點(diǎn)、難點(diǎn)問(wèn)題進(jìn)行講解，并答疑。5無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程定義：是按照本單位的受檢對(duì)象，依據(jù)現(xiàn)行檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，合理的選擇器材和方法，在滿(mǎn)足設(shè)計(jì)和法規(guī)、監(jiān)察標(biāo)準(zhǔn)的情況下，正確完成檢測(cè)工作的書(shū)面文件，并作為質(zhì)保手冊(cè)的支持性文件，是各單位檢測(cè)工作必須遵守的文件，只有這樣才能保證檢測(cè)工作的統(tǒng)一性和可靠性。6

無(wú)損檢測(cè)工藝的分類(lèi)：1、通用工藝規(guī)程2、專(zhuān)用工藝（專(zhuān)用工藝規(guī)程和工藝卡）

7通用工藝規(guī)程通用工藝規(guī)程應(yīng)滿(mǎn)足相關(guān)法規(guī)、規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)的技術(shù)文件和單位的技術(shù)質(zhì)量管理規(guī)定，根據(jù)本單位的特點(diǎn)、設(shè)備技術(shù)條件、檢測(cè)人員條件編制，應(yīng)覆蓋本單位產(chǎn)品或檢測(cè)對(duì)象的范圍，其規(guī)定應(yīng)明確、具有可操作性，內(nèi)容應(yīng)全面、詳細(xì)、有可選擇性。無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)和本單位的技術(shù)質(zhì)量管理規(guī)定。本單位無(wú)損檢測(cè)工作和所實(shí)施的技術(shù)工藝均應(yīng)符合通用工藝規(guī)程要求。8通用工藝規(guī)程應(yīng)包括以下內(nèi)容

a）適用范圍；b）引用標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī)；c）檢測(cè)人員資格；d）檢測(cè)設(shè)備、器材和材料；e）檢測(cè)表面制備；f）檢測(cè)時(shí)機(jī)；g）檢測(cè)工藝和檢測(cè)技術(shù)；h）檢測(cè)結(jié)果的評(píng)定和質(zhì)量等級(jí)分類(lèi)；i）檢測(cè)記錄、報(bào)告和資料存檔。j）編制（級(jí)別）、審核（級(jí)別）和批準(zhǔn)人；k）制定日期。9專(zhuān)用工藝規(guī)程（工藝卡）針對(duì)本單位某一具體產(chǎn)品或產(chǎn)品上部件，根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)的技術(shù)文件、設(shè)計(jì)圖紙和檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求編制的技術(shù)規(guī)則，提出具體檢測(cè)參數(shù)和技術(shù)措施的工藝性文件，其檢測(cè)參數(shù)規(guī)定得更具體，它是通用工藝規(guī)程的補(bǔ)充。檢測(cè)人員在實(shí)施檢測(cè)時(shí)應(yīng)按工藝卡進(jìn)行操作。10是在通用工藝規(guī)程和設(shè)計(jì)文件及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的基礎(chǔ)上編制針對(duì)射線(xiàn)透照工序提出具體參數(shù)和技術(shù)措施的規(guī)定性工藝文件。工藝卡適用對(duì)象可能是某一具體產(chǎn)品，或產(chǎn)品上的某一部件，或部件上的某一具體結(jié)構(gòu)。檢測(cè)人員在實(shí)施檢測(cè)時(shí)應(yīng)按工藝卡進(jìn)行操作。

11專(zhuān)用工藝規(guī)程（工藝卡）應(yīng)包括以下內(nèi)容

工藝卡編號(hào)；工件情況：名稱(chēng)、編號(hào)、圖號(hào)、材質(zhì)、規(guī)格、焊接種類(lèi)、檢測(cè)比例、評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)、方法等級(jí)、合格級(jí)別等；檢測(cè)設(shè)備與器材：設(shè)備種類(lèi)、型號(hào)、規(guī)格尺寸、檢測(cè)附件和檢測(cè)材料；檢測(cè)工藝參數(shù)：設(shè)備種類(lèi)型號(hào)、透照方式、檢測(cè)部位、焦距、焊縫編號(hào)、透照張數(shù)、管電壓、管電流、曝光時(shí)間、膠片種類(lèi)、增感方式、像質(zhì)計(jì)、黑度等檢測(cè)技術(shù)要求：執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)和驗(yàn)收級(jí)別；檢測(cè)程序；注意事項(xiàng)和輔助措施檢測(cè)部位示意圖；編制人（資格）和審核人（資格）、編制日期等；12專(zhuān)用工藝規(guī)程和工藝卡的區(qū)別專(zhuān)用工藝規(guī)程：針對(duì)某一產(chǎn)品編制的，綜合檢測(cè)方法的檢測(cè)工藝，往往包括設(shè)計(jì)要求、檢測(cè)步驟、工藝控制措施、方法、工藝參數(shù)、技術(shù)要求等。如球形儲(chǔ)罐的無(wú)損檢測(cè)、工藝卡：針對(duì)某一產(chǎn)品編制的，單一檢測(cè)方法的檢測(cè)工藝，以卡片的形式存在，如某一壓力容器的焊縫射線(xiàn)檢測(cè)13工藝的編制、審核及批準(zhǔn)應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定

《特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》Ⅱ級(jí)人員可編制一般的無(wú)損檢測(cè)程序，按照無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程或在Ⅲ級(jí)人員指導(dǎo)下編寫(xiě)工藝卡，并按無(wú)損檢測(cè)工藝獨(dú)立進(jìn)行檢測(cè)操作，評(píng)定檢測(cè)結(jié)果，簽發(fā)檢測(cè)報(bào)告。Ⅲ級(jí)人員可根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)編制無(wú)損檢測(cè)工藝，審核或簽發(fā)檢測(cè)報(bào)告，協(xié)調(diào)Ⅱ級(jí)人員對(duì)檢測(cè)結(jié)論的技術(shù)爭(zhēng)議。141：射線(xiàn)檢測(cè)工藝射線(xiàn)照相工藝是：為達(dá)到一定要求對(duì)射線(xiàn)透照過(guò)程規(guī)定的方法、程序、技術(shù)參數(shù)和技術(shù)措施，也指說(shuō)明上述方法、程序、參數(shù)和措施的書(shū)面文件。15工藝卡參數(shù)包括的幾個(gè)方面：1、工件情況：名稱(chēng)、圖號(hào)、材質(zhì)、規(guī)格、坡口及焊接、探傷比例、法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)方法等級(jí)、合格級(jí)別。2、透照工藝條件（靈敏度、檢測(cè)設(shè)備、幾何條件、工藝參數(shù)等）3、注意事項(xiàng)及輔助措施（散射線(xiàn)屏蔽、補(bǔ)償、雙膠片技術(shù)等）4、示意圖（布片圖、透照方法示意圖）5、編制、審核簽名及資格、日期等16

工藝條件：在工藝過(guò)程是指工藝過(guò)程中的有關(guān)參變量及其組合

。透照工藝條件包括設(shè)備器材條件、透照幾何條件、工藝參數(shù)條件和工藝措施條件等。17⑤像質(zhì)計(jì)：用于評(píng)價(jià)射線(xiàn)照相靈敏度與被檢工件或焊縫厚度一定百分比關(guān)系的人工結(jié)構(gòu).如金屬絲、孔、槽等，又叫透度計(jì)。由此得到的靈敏度叫像質(zhì)計(jì)靈敏度。注意：像質(zhì)計(jì)靈敏度不等于自然缺陷靈敏度，但能間接反應(yīng)射線(xiàn)照相對(duì)最小自然缺陷的檢出能力。182、射線(xiàn)照相靈敏度的影響因素

①射線(xiàn)照相對(duì)比度D②射線(xiàn)照相不清晰度U③射線(xiàn)照相顆粒度σD

三大因素綜合結(jié)果

19D、U和σD就是影像質(zhì)量的基本因素，也就是說(shuō)，射線(xiàn)照片上影像的質(zhì)量由射線(xiàn)照相影像的對(duì)比度、不清晰度、顆粒度三大因素決定，將直接影響射線(xiàn)檢測(cè)靈敏度。20①射線(xiàn)照相對(duì)比度D取決于：1、厚度差T2、射線(xiàn)的能量3、散射比4、膠片類(lèi)型5、顯影條件6、底片黑度21膠片對(duì)比度影響因素（1）不同類(lèi)型的膠片具有不同的梯度（G）非增感型的G比增感型的G大非增感型中不同類(lèi)型膠片的G也不一樣22（2）膠片梯度隨黑度的增加而增加（黑度下限的限制和上限）（3）顯影條件的變化（配方、時(shí)間、溫度、活度）射線(xiàn)照相對(duì)比度影響因素=主因?qū)Ρ榷扔绊懸蛩?膠片對(duì)比度影響因素23對(duì)一個(gè)特定的缺陷，要得到高的射線(xiàn)照相對(duì)比度，綜合起來(lái)，主要是：1）選用適宜的透照布置，使得該缺陷在透照方向具有較大的厚度差T；2）選用可能的較低能量的射線(xiàn)透照—提高線(xiàn)衰減系數(shù)；3）采取各種措施，減少到達(dá)膠片的散射線(xiàn)強(qiáng)度—降低散射比；4）選用質(zhì)量?jī)?yōu)良的膠片，采用良好的暗室處理技術(shù)—獲得較高的梯度。24②射線(xiàn)照相不清晰度在實(shí)際射線(xiàn)照相檢測(cè)中，構(gòu)成不清晰度主要有兩個(gè)因素：1、由射線(xiàn)源幾何尺寸引起的幾何不清晰度。2、電子在膠片乳劑中散射引起的固有不清晰度。25（1）射線(xiàn)照相不清晰度

（2）幾何不清晰度

Ug=df

×b/（F－b）或Ugmax=df×

L2/L1（3）固有不清晰度0.79

Ui=0.0013（KV）26幾何不清晰度：當(dāng)透照一定厚度的物體時(shí)，按照幾何投影（射線(xiàn)直線(xiàn)傳播）成像原理，所成的像總要有一定的半影區(qū)，即邊界擴(kuò)展區(qū)，這就是幾何不清晰度。主要通過(guò)改變焦距控制幾何不清晰度。

Ug=df

×b/（F－b）或Ugmax=df×L2/L127幾何不清晰度形成示意圖

28通常在標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的射線(xiàn)照相必須滿(mǎn)足的Ug，是指工件中可能產(chǎn)生的Ugmax，相當(dāng)于射線(xiàn)源側(cè)表面缺陷或源側(cè)的像質(zhì)計(jì)金屬絲產(chǎn)生的Ug。Ugmax=df

×

L2

/（F－L2）或Ugmax=

df

×L2

/L129幾何不清晰度取決于

(1)焦點(diǎn)尺寸df(2)焦點(diǎn)至工件表面距離L1(3)工件表面至膠片距離L2JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定射線(xiàn)源至工件表面的距離應(yīng)滿(mǎn)足以下要求：

2/31/3-A級(jí)射線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)：f≥7.5d.b或Ug=2/15L22/31/3-AB級(jí)射線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)：f≥10d.b

或Ug=1/10L22/31/3-B級(jí)射線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)：f≥15d.b或Ug=1/15L230為獲得較小的Ug值，則應(yīng)增大焦距F，由于射線(xiàn)強(qiáng)度與距離的平方成反比，在保證底片黑度D不變時(shí)，增大焦距F的同時(shí)就必須增加曝光量mA.min或提高管電壓KV值，因此，在工藝編制中應(yīng)綜合考慮。31③射線(xiàn)照相顆粒度σD顆粒性：指均勻曝光的射線(xiàn)底片上影像黑度分布不均勻的視角印象。隨射線(xiàn)能量的增加而增加，隨曝光量和底片黑度增加而減少。顆粒度：根據(jù)測(cè)微光密度計(jì)所測(cè)數(shù)據(jù)，按一定方法求得的底片黑度漲落客觀量值。限制了影像能夠記錄的細(xì)節(jié)最小尺寸，很小細(xì)節(jié)，在較大顆粒度影像中，將被掩蓋，不能形成自己的影像。32射線(xiàn)照相顆粒度取決于

1、膠片系統(tǒng)（型號(hào)、增感屏、沖洗條件）2、射線(xiàn)的質(zhì)（或λ、KV、MeV)3、曝光量（It）和底片黑度D333、射線(xiàn)源和能量的選擇射線(xiàn)源的選擇

選擇射線(xiàn)源的首要因素是射線(xiàn)源所發(fā)生的射線(xiàn)對(duì)被檢試件具有足夠的穿透力。a.對(duì)X射線(xiàn)來(lái)說(shuō)穿透力取決于管電壓。b.對(duì)γ射線(xiàn)來(lái)說(shuō)穿透力取決于放射源種類(lèi)。34選擇射線(xiàn)源的注意事項(xiàng)X射線(xiàn)和γ射線(xiàn)的照相靈敏度差異

40mm以下鋼厚度用Ir192γ射線(xiàn)透照所得像質(zhì)計(jì)靈敏度不如X射線(xiàn)所得像質(zhì)計(jì)靈敏度。但對(duì)40mm以上鋼厚度，則兩者得像質(zhì)計(jì)靈敏度大致相同。固有不清晰度和顆粒性（底片噪聲）Ir192與≤400kVX射線(xiàn)比較：固有不清晰度和底片噪聲，γ射線(xiàn)均大于X射線(xiàn)。35X射線(xiàn)機(jī)的特點(diǎn)體積較大，以便攜式、移動(dòng)式、固定式依次增大。基本費(fèi)用和維修費(fèi)用較大。能檢查40mm以上鋼厚度的大型X射線(xiàn)機(jī)成本很高，其發(fā)展傾向?yàn)橐苿?dòng)式而非便攜式。X射線(xiàn)能量可改變，因此，對(duì)各種厚度的試件均可使用最適宜的能量。X射線(xiàn)機(jī)可用開(kāi)關(guān)切斷，故較易實(shí)施射線(xiàn)防護(hù)。曝光試件一般為幾分鐘。所有X射線(xiàn)機(jī)均需電源，有些還需有水源。36γ射線(xiàn)源的特點(diǎn)射源曝光尺寸小，可用于X射線(xiàn)機(jī)管頭無(wú)法接近的現(xiàn)場(chǎng)。不需電源或水源。運(yùn)行費(fèi)用低。曝光時(shí)間長(zhǎng)，通常需幾十分鐘，或者幾小時(shí)。對(duì)薄鋼試件（如5mm以下），只有選擇合適的放射性同位素（如Yb169，Tm170）才能獲得較高的探傷靈敏度。37工藝編制時(shí)選擇射線(xiàn)源的原則

對(duì)輕質(zhì)合金和低密度材料，最常用是X射線(xiàn)。要透照厚度小于5mm的鋼，除非允許較低的探傷靈敏度，應(yīng)選用X射線(xiàn)。如要對(duì)大批量的工件實(shí)施射線(xiàn)照相，選擇X射線(xiàn)為好，因?yàn)槠毓鈺r(shí)間較短。對(duì)厚度大于150mm的鋼，即使用最大的γ射源，曝光時(shí)間也是很長(zhǎng)的，如工件批量大，宜用兆伏級(jí)高能X射線(xiàn)。38對(duì)厚度為50～150mm的鋼，用X射線(xiàn)和γ射線(xiàn)可得到幾乎相同的像質(zhì)計(jì)靈敏度，但裂紋檢出率還是有差異的。對(duì)厚度為5～50mm的鋼，用X射線(xiàn)總可獲得較高的靈敏度，γ射線(xiàn)源的選用則應(yīng)根據(jù)具體厚度和所要求的探傷靈敏度，選擇Ir192或Se75，并應(yīng)考慮配合適當(dāng)?shù)哪z片類(lèi)別。對(duì)某些條件困難的現(xiàn)場(chǎng)透照工作，體積龐大的X射線(xiàn)機(jī)使用不方便，滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)條件要求時(shí)，可選擇γ射線(xiàn)源進(jìn)行檢測(cè)。39只要直徑的焦距能滿(mǎn)足幾何不清晰度要求，環(huán)形焊縫的透照應(yīng)盡量選用圓錐靶周向X射線(xiàn)機(jī)作內(nèi)透中心法垂直周向曝光，以提高工效和影像質(zhì)量。對(duì)直徑較小的鍋爐聯(lián)箱管或其他管道焊縫，也可選用小焦點(diǎn)（0.5mm）的棒陽(yáng)極X射線(xiàn)管或小焦點(diǎn)（0.5～1mm）γ射線(xiàn)源作360°周向曝光。40選用平靶周向X射線(xiàn)機(jī)對(duì)環(huán)焊縫作內(nèi)透中心法傾斜全周向曝光時(shí)，必須考慮射線(xiàn)傾斜角度對(duì)焊縫中縱向面狀缺陷的檢出影響。41射線(xiàn)能量的選擇

X射線(xiàn)能量：由施加于X射線(xiàn)管的高壓決定，既管電壓，一般稱(chēng)它為透照電壓，能量可以根據(jù)需要調(diào)節(jié)。

射線(xiàn)能量：由射線(xiàn)源的種類(lèi)決定，能量不可調(diào)節(jié)。

42選擇射線(xiàn)能量的首要條件：具有足夠的穿透力。射線(xiàn)能量：對(duì)射線(xiàn)照片的影像質(zhì)量和射線(xiàn)照相靈敏度都具有重要影響。

43能量過(guò)高

X射線(xiàn)的平均波長(zhǎng)變短，有效能量增大，線(xiàn)質(zhì)變硬，衰減μ系數(shù)減小，對(duì)比度ΔD降低，固有不清晰度Ui增大，底片顆粒度也將增大，其結(jié)果是射線(xiàn)照相影像質(zhì)量降低，靈敏度下降。

44能量過(guò)低

穿透力不夠，透過(guò)工件到達(dá)膠片的射線(xiàn)強(qiáng)度過(guò)小，造成底片黑度不足，曝光時(shí)間過(guò)分增加，顯影時(shí)間延長(zhǎng)，灰霧增大，清晰度下降，以至底片報(bào)廢一系列現(xiàn)象。45能量的選擇的原則是：

選取的射線(xiàn)能量應(yīng)與透照物體的材料和厚度相適應(yīng)，在保證穿透力的前提下，選擇能量較低的射線(xiàn)。46選擇能量較低的射線(xiàn)可以獲得較高的對(duì)比度，但是對(duì)比度提高卻意味著透照厚度寬容度的下降。對(duì)比度過(guò)度提高則使很小的透照厚度差將產(chǎn)生很大的底片黑度差，使得底片黑度值超出允許范圍；或是厚度大的部位底片黑度太小，或是厚度小的部位底片黑度太大。因此，在有透照厚度差的情況下，選擇射線(xiàn)能量還必須考慮能夠得到合適的透照厚度寬容度。47在底片黑度不變的前提下，提高管電壓可以縮短曝光時(shí)間，從而可以提高工作效率，但其代價(jià)是靈敏度降低。為保證透照質(zhì)量，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)透照不同厚度允許使用的最高管電壓都有一定限制，并要求有適當(dāng)?shù)钠毓饬?。下圖為一些材料的透照厚度所對(duì)應(yīng)的允許使用的最高管電壓。48最高透照電壓與透照厚度的關(guān)系

49在具體確定射線(xiàn)能量時(shí)常還需要考慮其他一些情況，如一次透照厚度的變化范圍、要求的檢驗(yàn)技術(shù)級(jí)別等，即使在只考慮射線(xiàn)照相靈敏度時(shí)，也要與選用的焦距同時(shí)考慮。例如，當(dāng)一次透照厚度的變化范圍較大時(shí)，可能選用偏高一些的射線(xiàn)能量，當(dāng)采用靈敏度高的技術(shù)時(shí)，由于選用細(xì)顆粒的膠片，也會(huì)選用偏高一些的射線(xiàn)能量等。504、焦距的選擇焦距是射線(xiàn)源與膠片之間的距離，通常以F記號(hào)表示。焦距對(duì)射線(xiàn)照相靈敏度的影響主要表現(xiàn)在幾何不清晰度上。由Ug=dfL2/（F-L2）可知，焦距F越大，Ug值越小，底片上的影像越清晰。在實(shí)際透照中選擇焦距時(shí)，焦點(diǎn)尺寸也是需要考慮的相關(guān)因素。

51確定焦距時(shí)必須考慮的是：1）所選取的焦距必須滿(mǎn)足射線(xiàn)照相對(duì)幾何不清晰度的規(guī)定；2）所選取的焦距應(yīng)給出射線(xiàn)強(qiáng)度比較均勻的適當(dāng)大小的透照區(qū)。

前者限定了焦距的最小值，后者指導(dǎo)如何確定實(shí)際使用的焦距值。52為保證射線(xiàn)照相的清晰度，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)透照距離的最小值有限制。在我國(guó)現(xiàn)行JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)定透照距離f（L1）與焦點(diǎn)尺寸df和透照厚度b（L2）應(yīng)滿(mǎn)足以下關(guān)系：技術(shù)等級(jí)透照距離f（L1）Ug值

2/32/3A級(jí)：f≥7.5df·bUg≤(2/15)b

2/32/3AB級(jí)：f≥10df·bUg≤(1/10)b

2/32/3B級(jí)：f≥15df·bUg≤(1/15)b

由于焦距F=f+b（或L1+L2）,所以上述關(guān)系也就限制了F的最小值

53在實(shí)際工作中，焦距的最小值通常由諾模圖查出。諾模圖的使用方法如下：在df線(xiàn)和b（L2）線(xiàn)上分別找到焦點(diǎn)尺寸和透照厚度對(duì)應(yīng)的點(diǎn)，用直線(xiàn)連接這兩個(gè)點(diǎn)，直線(xiàn)與f（L1）的交點(diǎn)即為透照距離f（L1）的最小值，而焦距最小值即為Fmin=f+b（或L1+L2）。54A和B級(jí)確定焦距最小值的諾模圖55AB級(jí)確定焦距最小值的諾模圖56焦距直接關(guān)系到射線(xiàn)照相的幾何不清晰度，并影響其他透照參數(shù)的確定，對(duì)射線(xiàn)照相靈敏度具有重要影響。在確定焦距時(shí)應(yīng)同時(shí)考慮物體的透照厚度和幾何形狀、射線(xiàn)源的焦點(diǎn)尺寸、限定的幾何不清晰度。同時(shí)工件的幾何形狀與透照方式有關(guān)：如。為得到較大的一次透照長(zhǎng)度和較小的橫向裂紋檢出角，在采用雙壁單影法透照環(huán)縫時(shí)，往往選擇較小的焦距，而當(dāng)采用中心內(nèi)照法時(shí)，焦距就是筒體的外半徑。在實(shí)際透照時(shí)所用的焦距比最小焦距要大得多。這是因?yàn)橥刚請(qǐng)龅拇笮∨c焦距相關(guān)。焦距增大后，勻強(qiáng)透照范圍增大，這樣可以得到較大的有效透照長(zhǎng)度，同時(shí)影像清晰度也進(jìn)一步提高。575、曝光量的選擇與修正1.曝光量的推薦值

曝光量是射線(xiàn)透照工藝中的重要參數(shù)。

定義：曝光量（E）為射線(xiàn)源發(fā)出的射線(xiàn)強(qiáng)度與照射時(shí)間的乘積。對(duì)于X射線(xiàn)來(lái)說(shuō)，曝光量時(shí)指管電流i與照射時(shí)間t的乘積（E=it）；對(duì)于γ射線(xiàn)來(lái)說(shuō)，曝光量是指放射源活度A與照射時(shí)間t的乘積（E=At）。58曝光量與黑度的關(guān)系：

1）底片的黑度取決于膠片感光乳劑吸收的射線(xiàn)量。2）底片黑度與曝光量有很好的對(duì)應(yīng)關(guān)系，可以通過(guò)改變曝光量來(lái)控制底片黑度。3）曝光量不只影響影像的黑度，也影響影像的對(duì)比度、顆粒度以及信噪比，從而影響底片上可記錄的最小細(xì)節(jié)尺寸。

59JB/T4730.2-2005602.互易律、平方反比定律和曝光因子1）互易律：是光化學(xué)反映的一條基本定律，它指出：決定光化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)物質(zhì)量的條件，只與總的曝光量相關(guān)，即取決于輻射強(qiáng)度和時(shí)間的乘積，而與這兩個(gè)因素的單獨(dú)作用無(wú)關(guān)。如果不考慮光解銀對(duì)感光乳劑顯影的引發(fā)作用的差異，互易律可引申為底片黑度只與總曝光量相關(guān)，而與輻射強(qiáng)度和時(shí)間分別作用無(wú)關(guān)。61在射線(xiàn)照相檢測(cè)中，采用鉛箔增感或無(wú)增感時(shí)，遵守互易定律，即曝光量不變時(shí)黑度不變。當(dāng)采用熒光增感時(shí)，不遵守互易定律，即曝光量不變時(shí)黑度仍會(huì)改變，這種現(xiàn)象稱(chēng)為互易律失效。622）平方反比定律：是物理光學(xué)的一條基本定律。它指出：從一點(diǎn)源發(fā)出的輻射，強(qiáng)度I與距離F的平方成反比，即存在以下關(guān)系：

其原理是：時(shí)間內(nèi)通過(guò)的光量子總數(shù)是不變的，但由于截面積與到點(diǎn)源的距離平方成正比，所以單位面積的光量子密度，即輻射強(qiáng)度與距離平方成反比。63平方反比定律示意圖643）曝光因子：

互易定律給出了在底片黑度不變的前提下，射線(xiàn)強(qiáng)度與曝光時(shí)間相互變化的關(guān)系；平方反比定律給出了射線(xiàn)強(qiáng)度與距離之間的變化關(guān)系。將以上兩個(gè)定律結(jié)合起來(lái)得到曝光因子表達(dá)式。65

設(shè)：i-管電流（A）A-射線(xiàn)源的放射源活度t——曝光時(shí)間（s）F——焦距（mm）則X射線(xiàn)曝光因子為：則射線(xiàn)曝光因子為：

663.利用曝光因子的曝光量計(jì)算

（焦距不同時(shí)的修正）1）采用X射線(xiàn)機(jī)透照一工件，焦距為700mm、管電壓為180kV、管電流為8mA時(shí)曝光時(shí)間為3min，現(xiàn)改用1000mm的焦距，管電壓和原有黑度不變，管電流為12mA，求這時(shí)所需的曝光時(shí)間？67解：i0＝8mA；t0＝3min；F0＝700mm；i＝12mA；F＝1000mm設(shè)t為改變透照條件后的曝光時(shí)間按曝光因子概念，則應(yīng)有： 所以：

得：

t＝4.1（min）答：所需的曝光時(shí)間為4.1min682）用192Ir射線(xiàn)源，透照直徑1.8m的環(huán)焊縫，曝光時(shí)間為30min，若透照直徑為2.4m的相同的環(huán)焊縫，問(wèn)曝光時(shí)間應(yīng)是多少?解：記A為射線(xiàn)源的放射性活度；

R0＝（1.8/2）m；t0＝30min；R＝（2.4/2）m

設(shè)：t為透照第二焊縫的曝光時(shí)間則

所以

得：t＝53.3（min）答：所需的曝光時(shí)間為53.3min69（放射性衰變規(guī)律和焦距不同時(shí)的修正）3）用I192射線(xiàn)源，透照直徑1.6m的環(huán)焊縫，曝光時(shí)間為32min。若在透照直徑1.6m的容器環(huán)焊縫后25天再透照直徑為1.8m的容器焊焊縫，問(wèn)應(yīng)選用多大的曝光時(shí)間?

解：已知F1=0.8m、t1=32min

F2=0.9mI192半衰期74天，則30天前（A0）后（A），源的放射強(qiáng)度比度為：

70得：n＝25/74＝0.3378A=0.7912A0因?yàn)椋簞t得：

t＝51.2（min）

答：曝光時(shí)間應(yīng)為51.2min714.利用膠片特性曲線(xiàn)的曝光量修正計(jì)算底片黑度不同的曝光量修正膠片類(lèi)型不同的曝光量修正72（1、黑度改變時(shí)的曝光量修正）在其他條件保持不變的情況下，如需改變底片黑度，可根據(jù)膠片特性線(xiàn)上黑度的變化與曝光量的對(duì)應(yīng)關(guān)系，對(duì)原曝光量進(jìn)行修正。例：采X射線(xiàn)透照工件，曝光量為20mA·min時(shí)得到的底片黑度為1.8。現(xiàn)需將底片黑度提高到2.6，求這時(shí)所需的曝光量。（膠片特性曲線(xiàn)上，黑度為1.8對(duì)應(yīng)的曝光量對(duì)數(shù)為2.1，黑度為2.6處對(duì)應(yīng)的曝光量對(duì)數(shù)為2.4）73解：∵E0=20mA·min；D0=1.8；lgH0=2.1、D＝2.6；lgH＝2.4求：E＝？∵得：

≈40(mA·min）

答：這時(shí)所需曝光量為40mA·min20E=×100.374（2、膠片類(lèi)型改變的曝光量修正）

當(dāng)使用不同類(lèi)型膠片進(jìn)行透照而需達(dá)到與原膠片一樣的黑度時(shí)，可利用這兩種膠片的特性曲線(xiàn)按達(dá)到同一黑度時(shí)的曝光量之比來(lái)修正原曝光量。例：射線(xiàn)檢測(cè)透照某工件，原用天津Ⅲ型膠片，曝光量為20mA·min，現(xiàn)改用天津Ⅴ型膠片，求為獲得相同黑度（D0）所需的曝光量（設(shè)黑度為D0

時(shí)膠片特性曲線(xiàn)Ⅲ型片為lgHA=3.8,Ⅴ型片為lgHA=4.5）75解：∵黑度為D0時(shí)曝光量E0為:20mA·min

lgHA=3.8；lgHA=4.5

當(dāng)黑度同為D0時(shí)，Ⅲ型片和Ⅴ型片的曝光量之比為：得：

≈100（mA·min）

0.720E=×10766、透照方式的選擇4.2.1透照方式的選擇

對(duì)接焊縫射線(xiàn)照相的常用透照方式（布置）主要有10種：?jiǎn)伪谕刚?、雙壁透照，外透法，中心法，偏心法，雙壁單影斜透法，雙壁單影直透法，雙壁雙影斜透法，雙壁雙影直透法。這些透照方式分別適用于不同的場(chǎng)合，其中單壁透照是最常用的透照方式，雙壁透照一般用在射源或膠片無(wú)法進(jìn)入內(nèi)部的小直徑容器和管道的焊縫透照，雙壁雙影法一般只用于直徑在100mm以下的管子的環(huán)焊縫透照，雙壁雙影直透法則多用于T（壁厚）＞8mm或g（焊縫寬度）＞D0/4的管子環(huán)焊縫透照。77常用的對(duì)接焊縫透照方式的分類(lèi)

78直縫單壁透照方式布置79中心曝光透照方式布置80雙壁單影透照方式布置81雙壁雙影透照方式布置82垂直透照布置

83

環(huán)焊縫的偏心透照布置a）F＜rb）F＞r84

射線(xiàn)源在外單壁透照布置

85

選擇透照方式時(shí)，應(yīng)綜合考慮各方面的因素，權(quán)衡擇優(yōu)。有關(guān)因素包括：1）透照靈敏度：透照方式存在靈敏度差異時(shí)，優(yōu)選有利于提高靈敏度的方式。如：雙壁與單壁、環(huán)縫外照與內(nèi)照、傾斜與垂直等。862）可能出現(xiàn)的缺陷類(lèi)型和特點(diǎn)

：根據(jù)可能出現(xiàn)的缺陷類(lèi)型和特點(diǎn)選擇適宜檢測(cè)透照方式，有些透照方式特別檢測(cè)某些類(lèi)型的缺陷。如：容器表面裂紋、坡口未熔合、管道根部未焊透、管道單面焊鈍邊未熔合等。873）透照厚度差和橫向裂紋檢出角較小的透照厚度和橫向裂紋檢出角有利于提高底片質(zhì)量和裂紋檢出率。如：環(huán)縫透照，焦距和透照長(zhǎng)度相同，則內(nèi)透法優(yōu)于外透法，中心曝光優(yōu)于偏心曝光。884）一次透照長(zhǎng)度

各種透照方式的一次透照長(zhǎng)度各不相同，選擇一次透照長(zhǎng)度大的可提高檢測(cè)速度和效率。如：球形容器的全景曝光、環(huán)縫的中心曝光、895）操作方便性在進(jìn)行檢測(cè)過(guò)程中應(yīng)考慮操作的安全和方便性。如：容器檢測(cè)源在內(nèi)或外、球形的容器X射線(xiàn)檢測(cè)上、下半球的檢測(cè)方法。906）工件及探傷設(shè)備的具體情況透照方式的選擇也應(yīng)考慮試件和探傷設(shè)備的具體情況。如：環(huán)縫內(nèi)透時(shí)與幾何不清晰度的關(guān)系、在檢測(cè)時(shí)發(fā)揮移動(dòng)式、便攜式、γ射線(xiàn)機(jī)各種設(shè)備的特點(diǎn)。91環(huán)焊縫檢測(cè)最佳透照方式：中心透照法特點(diǎn)：透照厚度相同、橫裂檢出角為0度、底片黑度和靈敏度具佳、缺陷檢出率高、一次透照整條焊縫，工作效率高。927、透照長(zhǎng)度的計(jì)算及查表確定一次透照長(zhǎng)度：

焊縫射線(xiàn)照相一次透照的有效檢測(cè)長(zhǎng)度，對(duì)透照質(zhì)量和工作效率同時(shí)影響。一次透照長(zhǎng)度的兩個(gè)影響因素：①射線(xiàn)源有效照射場(chǎng)范圍②透照厚度比K值的規(guī)定間接限制了一次透照長(zhǎng)度的大小

。

93透照厚度比K＝T'/T94JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)對(duì)K值的規(guī)定951.直縫透照直縫即平板對(duì)接焊縫或筒體縱縫對(duì)A級(jí)、AB級(jí)：K≤1.03，L3≤0.5L1對(duì)B級(jí)：K≤1.01，L3≤0.3L1搭接長(zhǎng)度ΔL和有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff的計(jì)算：ΔL=L2L3/L1

當(dāng)L3=0.5L1時(shí)，ΔL=0.5L2；

當(dāng)L3=0.3L1時(shí)，ΔL=0.3L2。底片的有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff=L3+ΔL。96

在實(shí)際透照時(shí)，如搭接標(biāo)志在源側(cè)，底片上搭接標(biāo)記之間長(zhǎng)度即為有效評(píng)定長(zhǎng)度。若在膠片側(cè)，則搭接標(biāo)記以外還應(yīng)加上搭接長(zhǎng)度ΔL972.查圖表確定環(huán)焊縫透照次數(shù)通過(guò)查圖表（見(jiàn)教材附錄或JB/T4730）確定環(huán)縫100%檢測(cè)所需的最少透照次數(shù)N，然后計(jì)算出一次透照長(zhǎng)度L3及其他相參數(shù)。①通過(guò)查表只能確定環(huán)向?qū)雍缚p100%檢測(cè)的最少透照次數(shù)，但L3、ΔL、Leff仍需計(jì)算求出。查表確定透照次數(shù)的步驟：首先計(jì)算出T/D0和D0/f，然后在兩直線(xiàn)相交點(diǎn)確定透照次數(shù)。98源在外單壁透照對(duì)接環(huán)形焊接接頭，透照厚度比K=1.06時(shí)的透照次數(shù)圖

99其他方式透照對(duì)接環(huán)形焊接接頭，透照厚度比K=1.06時(shí)的透照次數(shù)

100源在外單壁透照對(duì)接環(huán)形焊接接頭，透照厚度比K=1.1時(shí)的透照次數(shù)

101源在外單壁透照對(duì)接環(huán)形焊接接頭，透照厚度比K=1.2時(shí)的透照次數(shù)

102其他方式透照對(duì)接環(huán)形焊接接頭，透照厚度比K=1.1時(shí)的透照次數(shù)

103其他方式透照對(duì)接環(huán)形焊接接頭，透照厚度比K=1.2時(shí)的透照次數(shù)

104②L3、ΔL、Leff參數(shù)計(jì)算：根據(jù)查表所得的透照張數(shù)N可求得一次透照長(zhǎng)度L3：L3=πD/N有效評(píng)定長(zhǎng)度：Leff=L3+ΔL搭接長(zhǎng)度：外透法ΔL最大。內(nèi)透法F≥R時(shí)不考慮，F(xiàn)≤R時(shí)可計(jì)算或取外透法的值。外透時(shí)ΔL=2Ttanθ、θ=аrccos（1/K）K=1.06時(shí)，θ=19.37°，ΔL≈0.7TK=1.1時(shí)，θ=24.62°，

ΔL≈1TK=1.06時(shí)，θ=33.56°，

ΔL≈1.4T105例題

外透法內(nèi)徑Di=1800mm、T=30mm、檢測(cè)比例100%、K=1.1、F=600mm、求：ΔL、Leff

和確定膠片長(zhǎng)度？解：D0=1800+60=1860；得T/D0=0.016f=600－30=570mm；得D0/f=3.26查表得：N=19張∵L3=πD0/N=（3.14×1860）/19=308mm∵L3′=πDi/N=（3.14×1800）/19=298mm∵K=1.1∴ΔL=1T=1×30=30mm∴Leff=L3′+ΔL=328mm膠片使用長(zhǎng)度應(yīng)大于Leff，宜選360mm的膠片1063.計(jì)算法確定環(huán)縫單壁外透法一次透照長(zhǎng)度及其有關(guān)參數(shù)采用外透法100%透照環(huán)焊縫時(shí)，滿(mǎn)足一定厚度比的最少曝光次數(shù)N可由下式確定:式中：α=圓心角θ=影像失真角η=半輻射角Κ=透照厚度比Τ=工件厚度D0=外直徑

注：當(dāng)D0＞＞T時(shí)，107

無(wú)論采用計(jì)算法或查表法求出環(huán)縫的最少透照張數(shù)后，即可采用下式求余其它參數(shù)：在透照時(shí)，若搭接標(biāo)記放在射線(xiàn)源側(cè)，則搭接標(biāo)記之間的長(zhǎng)度即為有效評(píng)定長(zhǎng)度Leff108環(huán)縫外照法幾何參數(shù)變化特點(diǎn)：當(dāng)L1減小時(shí)，若L3不變，則K值、θ角增大；若K值、θ角不變，則L3減小。當(dāng)L1增大時(shí)，則反之。當(dāng)L1趨于無(wú)窮大時(shí)，則至少應(yīng)照12張或10張?！週1→∞，α→θ、N=180/α，θ取15°或18°∴Nmin=12或Nmin=101094.中心內(nèi)透法射源或焦點(diǎn)位于容器或圓筒或管道中心，膠片整條或逐張連接覆蓋在整圈環(huán)縫外壁上，射線(xiàn)對(duì)焊縫做一次性的周向曝光。這種透照布置，透照厚度K=1，橫向裂紋檢出角θ≈0°，所得黑度和靈敏度均一，像質(zhì)最佳，對(duì)橫裂的檢出率最高，一次透照長(zhǎng)度為整條環(huán)縫長(zhǎng)度。110a錐靶周向b平靶周向111③曝光曲線(xiàn)的使用1．曝光曲線(xiàn)的一般使用方法

從E-T曝光曲線(xiàn)上求取透照給定厚度所需要的曝光量，一般都采用所謂“一點(diǎn)法”，即按射線(xiàn)束中心穿透厚度確定與某一“kV”相對(duì)應(yīng)的E。但需注意，對(duì)有余高的焊接接頭照相，射線(xiàn)穿透厚度有兩個(gè)值，①母材部位厚度②焊縫部位厚度。但標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的黑度值均有一定范圍，應(yīng)綜合考慮，以保證所得黑度值太高或太底。1129、散射線(xiàn)的控制1、散射線(xiàn)的來(lái)源和分類(lèi)射線(xiàn)在穿透物質(zhì)過(guò)程中與物體相互作用中產(chǎn)生的次級(jí)射線(xiàn)，即散射線(xiàn)。與一次射線(xiàn)相比，散射線(xiàn)的能量減小，波長(zhǎng)變長(zhǎng)，方向改變，有時(shí)也稱(chēng)它為二次射線(xiàn)，主要是由康普頓效應(yīng)造成。散射源：散射線(xiàn)的物體稱(chēng)作散射源，凡是被射線(xiàn)照射到的一切物體，例如，試件、暗盒、桌面、墻壁、地面，甚至連空氣都會(huì)稱(chēng)為散射源。其中最大的散射源是試件本身。113按散射的方向?qū)ι⑸渚€(xiàn)分類(lèi)：1）前散射：來(lái)自暗盒正面的散射；2）背散射：來(lái)自暗盒背面的散射；3）邊蝕散射：指試件周?chē)纳渚€(xiàn)向試件背后的膠片散射，或試件中的較薄部位的射線(xiàn)向較厚部位散射，這種散射會(huì)導(dǎo)致影像邊界模糊，產(chǎn)生低黑度區(qū)域的周邊被侵蝕，面積縮小的所謂“邊蝕”現(xiàn)象。114

散射線(xiàn)產(chǎn)生示意圖

1—射線(xiàn)源2—工件3—暗盒4—膠片5—地面1153、散射線(xiàn)的控制措施散射線(xiàn)會(huì)使射線(xiàn)底片的灰霧黑度增大，影像對(duì)比度降低，由于一切物體都是散射源，所以散射是無(wú)法消除的，只能盡量減少。常采用降低散射線(xiàn)的措施有：1）選擇合適的射線(xiàn)能量2）使用鉛箔增感屏116控制散射線(xiàn)措施有：①背防護(hù)鉛板：防止背散射②鉛罩和光闌：減少照射場(chǎng)③厚度補(bǔ)償物：減少厚度差，減少散射比④濾板：提高有效能量，減少邊蝕⑤遮蔽物：減少邊蝕⑥修磨試件：減少厚度差，減少散射比11710、暗室處理技術(shù)（1）具有潛影的膠片經(jīng)過(guò)一系列的加工處理變?yōu)榭梢?jiàn)影像的底片并可將其長(zhǎng)期保存，這種底片反映了試件內(nèi)部的質(zhì)量。這一系列的加工處理是在暗室內(nèi)進(jìn)行的，所以稱(chēng)為暗室處理。118（2）暗室處理過(guò)程是射線(xiàn)照相檢驗(yàn)的一個(gè)重要的基本技術(shù)過(guò)程，射線(xiàn)照片的質(zhì)量不僅與透照過(guò)程相關(guān)，而且也密切相關(guān)于暗室處理過(guò)程，如果處理不當(dāng)就會(huì)影響全部工作的效果，造成底片靈敏度不夠甚至報(bào)廢119（3）暗室處理的基本過(guò)程：

一般都包括顯影、停顯（或中間水洗）、定影、水洗、干燥這五個(gè)基本過(guò)程。經(jīng)過(guò)這些過(guò)程，使膠片潛在的圖像成為固定下來(lái)的可見(jiàn)圖像。

120（4）暗室處理分類(lèi)：

自動(dòng)處理和手工處理兩類(lèi)。①自動(dòng)處理采用自動(dòng)洗片機(jī)完成膠片暗室處理過(guò)程，它需要使用專(zhuān)用顯影液、定影液，一般是在高溫下進(jìn)行處理，得到的射線(xiàn)照片質(zhì)量好并且穩(wěn)定。

②手工處理：目前多采用，洗片槽用不銹鋼或塑料制成，槽深應(yīng)大于底片長(zhǎng)度的20%，并將膠片完全浸入藥液中，不用時(shí)應(yīng)蓋好，減少藥液氧化。121暗室的布置：（1）有足夠的空間（2）分為干區(qū)和濕區(qū)兩部分，干區(qū)用于擺放膠片、暗盒、增感屏等器材和切裝膠片。濕區(qū)進(jìn)行顯影、停影、定影、水洗、干燥等。（3）暗室器材擺放位置適當(dāng)以利操作122（4）暗室完全遮光設(shè)置過(guò)渡間和雙重門(mén)（5）附近有射線(xiàn)源，注意屏蔽（6）應(yīng)有換氣設(shè)備和排水系統(tǒng)（7）應(yīng)有溫度和濕度控制設(shè)施（8）地面和工作臺(tái)應(yīng)干燥、清潔，墻壁、工作臺(tái)與地面應(yīng)反光少和防水、防化學(xué)腐蝕

123膠片處理程序和操作要點(diǎn)（1）手工處理基本過(guò)程：顯影、停顯、定影、水洗、干燥這五個(gè)過(guò)程（2）暗室操作基本要求：

清潔：手、工作臺(tái)面、切刀、有關(guān)用具

有序：膠片、暗袋、增感屏等按序擺放

細(xì)心：安排好正確的工作流程，養(yǎng)成良好的習(xí)慣，避免錯(cuò)裝、漏裝

熟練：按序布置好處理溶液和溫度控制，調(diào)整好計(jì)時(shí)設(shè)備。對(duì)手工處理，需要時(shí)應(yīng)進(jìn)行溶液有效性試驗(yàn)，對(duì)自動(dòng)洗片機(jī)，在預(yù)熱后必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行系統(tǒng)穩(wěn)定性試驗(yàn)。124手工暗室處理的標(biāo)準(zhǔn)條件和操作要點(diǎn)

125注意事項(xiàng)：（1）溫度控制（2）顯影攪動(dòng)（3）定影總時(shí)間與通透時(shí)間（4）水洗時(shí)間與溫度（5）脫水（6）干燥（自然與熱風(fēng)）126暗室處理質(zhì)量控制1）暗室紅燈安全性檢驗(yàn)：測(cè)紅燈安全（2）膠片入廠復(fù)驗(yàn)：測(cè)灰霧度等（3）顯影液有效性試驗(yàn)：測(cè)顯影液性能（4）系統(tǒng)穩(wěn)定性試驗(yàn)：

測(cè)定射線(xiàn)機(jī)性能、暗室用藥液等系統(tǒng)性能12711、焊縫透照的基本操作

透照操作應(yīng)嚴(yán)格遵守工藝規(guī)定，操作程序、內(nèi)容及有關(guān)要求簡(jiǎn)述如下：①試件檢查及清理：外檢合格②劃線(xiàn)：根據(jù)部位和比例，分段劃線(xiàn)③像質(zhì)計(jì)和標(biāo)記擺放：按標(biāo)準(zhǔn)和工藝規(guī)定擺放④貼片：緊密貼合，不留間歇⑤對(duì)焦：被檢中心，焦距滿(mǎn)足工藝規(guī)定⑥散射線(xiàn)防護(hù)：按工藝規(guī)定執(zhí)行⑦曝光：人員撤離，按工藝規(guī)定曝光12812、射線(xiàn)透照技術(shù)和工藝研究4.6.1大厚度比試件的透照技術(shù)：射線(xiàn)照相厚度寬容度：常規(guī)工藝允許工件存在一定的厚度差，在其底片上的黑度范圍符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的上下限。

大厚度比試件：KS=T厚/T薄=1.4在實(shí)際工作中主要有：小徑管環(huán)縫、角焊縫、余高較高的薄壁對(duì)接焊縫、鍛件、鑄件等129大厚度比透照的不利因素：①試件厚度比大導(dǎo)致底片黑度差大，而底片黑度過(guò)大或過(guò)小都將影響靈敏度。②試件厚度變化大導(dǎo)致散射比增大邊蝕效應(yīng)增大。采取的措施：提高管電壓、雙膠片技術(shù)、補(bǔ)償技術(shù)1301）適當(dāng)提高管電壓技術(shù)適當(dāng)提高管電壓是透照大厚度比常采用的技術(shù)措施。特點(diǎn)：管電壓上升，寬容度上降，對(duì)比度下降，散射比下降，邊蝕效應(yīng)下降。對(duì)比度下降，靈敏度降低，因此，管電壓不能隨意提高，所以JB/T4730規(guī)定了不同厚度的最高管電壓。1312）雙膠片技術(shù)

雙膠片技術(shù)：對(duì)厚度差較大的工件，采用在同一暗盒中放置兩張感光度不同或感光度相同的膠片同時(shí)透照的技術(shù)。①異速雙片法：感光度較高的膠片適用于工件厚度較大部分的透照，感光度較低的膠片適用工件厚度較小部分的透照。選擇感光度不同的兩種膠片，應(yīng)注意在有效黑度范圍內(nèi)，兩種膠片的曝光量有足夠的重疊。132雙膠片技術(shù)選取膠片方法133②同速雙片法：在同一暗盒內(nèi)放置兩張感光速度相同的膠片進(jìn)行曝光，對(duì)黑度較小部位將雙片重疊觀察評(píng)定，黑度較大部分單片評(píng)定。注意：JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定雙片疊加觀察僅限于射線(xiàn)照相技術(shù)等級(jí)的A級(jí)，且單片的黑度下線(xiàn)值不能低于1.3。1343）補(bǔ)償技術(shù)對(duì)截面厚度變化大或異形工件采用補(bǔ)償技術(shù)進(jìn)行透照是比較有效的方法。補(bǔ)償是采用與被透照工件對(duì)射線(xiàn)吸收性質(zhì)相同或相近的材料，制成的補(bǔ)償塊、補(bǔ)償粉（鐵或鉛）、補(bǔ)償液（醋酸鉛加硝酸鉛溶液）等，對(duì)工件的不同厚度部分進(jìn)行填補(bǔ)，使工件的透照厚度轉(zhuǎn)化為同樣的厚度，這樣，就可以按照厚度均勻的工件進(jìn)行透照。使用時(shí)主要應(yīng)注意補(bǔ)償物體中應(yīng)不含有影響評(píng)定或可能造成誤判的缺陷。13513、小直徑管對(duì)接接頭射線(xiàn)照相檢驗(yàn)技術(shù)

外徑≤100mm的管稱(chēng)為小直徑管，一般采用雙壁雙投影法進(jìn)行透照檢測(cè)。小徑管檢測(cè)橢圓成像和重疊成像兩種方法。采用雙壁雙影透照布置，當(dāng)同時(shí)滿(mǎn)足下列兩條件時(shí)應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像；即T（壁厚）≤8mmg（焊縫寬度）≤D0/4。橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制影像的開(kāi)口寬度在1倍焊縫寬度左右。不滿(mǎn)足上述條件或橢圓成像有困難再為滿(mǎn)足特殊要求（焊縫根部面狀缺陷）時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像。1361）透照布置①橢圓成像法：橢圓成像透照布置是源在外雙壁透照的方式，但這時(shí)候射線(xiàn)穿過(guò)焊縫后在膠片上將形