GB/T 15430-1995紅外探測器環(huán)境試驗方法

UDC621.389：536.5L15中華人民共和國國家標準CB/T15430－1995紅外探測器環(huán)境試驗方法Environmentaltestinggmethodsforinfrareddetectors1995-01-06發(fā)布1995-08-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

主題內容與適用范圍1.1主題內容1.2適適用范圍引用標準3術語、符號、代號4一般要求4.1設備儀器的誤差4.2試驗程序·4.3標準大氣條件4.4考慮試驗順序的一般原則4.5各試驗項目之間的時間間隔詳細要求5.1低溫財存試驗高溫財存試驗低溫工作性能試驗高溫工作性能試驗5.5恒定濕熱試驗5.6交變濕熱試驗?9溫度變化試驗5.75.8低氣壓試驗(12密封性試驗…·5.9(13)5.10輻照試驗(15)長霉試驗5.11（18）5.12鹽霧試驗（20）5.13正弦振動試驗(20)寬頻帶隨機振動試驗5.14（24)沖擊試驗5.15(27)碰撞試驗5.16(28)恒定加速度試驗5.17（30)5.18引出端及整體安裝件強度試驗（30）

中華人民共和國國家標準CB/T15430-1995紅外探測器環(huán)境試驗方法Environmentaltestingmethodsforinfrareddetectors主題內客與適用范圍1.1主題內容本標準規(guī)定了紅外探測器的環(huán)境試驗方法、本標準所述的試驗方法為人工環(huán)境的試驗方法。1.2適用范圍本標準適用于非報警紅外探測器的各類環(huán)境試驗。，采用本標準時有關規(guī)范要根據(jù)紅外探測器可能遇到的環(huán)境條件、結構特點，從試驗技術和經(jīng)濟等方面作出綜合分析后，再規(guī)定采用哪些試驗方法、嚴酪程度以及試驗順序等。本標準通常是用于在條件試驗期間能達到穩(wěn)定溫度的試驗樣品即非散熱樣品。2引用標準GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術語GB2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程武驗Ea:沖擊試驗方法GB2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程1試驗Eb:碰撞試驗方法GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fc:振動（正弦)試驗方法GB2423.11電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fd:寬帶隨機振動試驗方法一般要求GB2423.12電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fda:寬帶隨機振動試驗方法高再現(xiàn)性GB2423.13電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fdb:寬帶隨機振動試驗方法中再現(xiàn)性GB2423.14電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fde:寬帶隨機振動試驗方法低再現(xiàn)性GB2423.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ga:恒加速度試驗方法GB2423.16電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗J：長霉試驗方法GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法GB2423.23電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Q:密封GB2423.24電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射試驗方法GB2423.291電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗U：引出端及整體安裝強度GJB360.12電子及電氣元件試