標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 17170-2015 半絕緣砷化鎵單晶深施主EL2濃度紅外吸收測試方法》與《GB/T 17170-1997 非摻雜半絕緣砷化鎵單晶深能級(jí)EL2濃度紅外吸收測試方法》相比,主要存在以下幾個(gè)方面的差異:
-
適用范圍調(diào)整:2015版標(biāo)準(zhǔn)特別強(qiáng)調(diào)了對(duì)“半絕緣砷化鎵單晶中深施主EL2濃度”的測量,而1997版則側(cè)重于“非摻雜”半絕緣砷化鎵單晶中的深能級(jí)EL2濃度檢測。這一變化體現(xiàn)了新標(biāo)準(zhǔn)更加針對(duì)性地考慮了材料的特定類型和摻雜狀態(tài)。
-
技術(shù)更新:鑒于科技進(jìn)步和分析技術(shù)的發(fā)展,2015版標(biāo)準(zhǔn)很可能納入了更先進(jìn)的紅外吸收測試技術(shù)和數(shù)據(jù)處理方法,以提高測試精度和效率。這些可能包括但不限于改進(jìn)的光譜儀性能、更精確的校準(zhǔn)程序或新的數(shù)據(jù)分析算法。
-
測試方法優(yōu)化:新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)測試步驟、樣品制備、測量條件等方面進(jìn)行了優(yōu)化或明確,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和實(shí)際應(yīng)用需求的變化。這有助于確保測試結(jié)果的一致性和可重復(fù)性。
-
定義和術(shù)語更新:隨著科學(xué)認(rèn)識(shí)的深入,2015版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)關(guān)鍵術(shù)語、EL2能級(jí)的定義以及相關(guān)物理概念給出了更準(zhǔn)確或更現(xiàn)代的解釋,以便更好地指導(dǎo)實(shí)踐操作。
-
質(zhì)量控制和不確定度評(píng)估:新標(biāo)準(zhǔn)可能加強(qiáng)了對(duì)測試過程中質(zhì)量控制的要求,包括對(duì)測試環(huán)境、儀器校準(zhǔn)、以及測試結(jié)果不確定度評(píng)估的具體指導(dǎo),以提升測試報(bào)告的權(quán)威性和可靠性。
-
標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)與表述:從格式到內(nèi)容表述,2015版標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)有調(diào)整,以符合當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)化文件的編寫規(guī)范,使得標(biāo)準(zhǔn)更加清晰易懂,便于用戶理解和執(zhí)行。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2015-12-10 頒布
- 2016-07-01 實(shí)施
文檔簡介
ICS77040
H17.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T17170—2015
代替
GB/T17170—1997
半絕緣砷化鎵單晶深施主EL2
濃度紅外吸收測試方法
TestmethodfortheEL2deepdonorconcentrationinsemi-insulating
galliumarsenidesinglecrystalsbyinfraredabsorptionspectroscopy
2015-12-10發(fā)布2016-07-01實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
中華人民共和國
國家標(biāo)準(zhǔn)
半絕緣砷化鎵單晶深施主EL2
濃度紅外吸收測試方法
GB/T17170—2015
*
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行
北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號(hào)
2(100029)
北京市西城區(qū)三里河北街號(hào)
16(100045)
網(wǎng)址
:
服務(wù)熱線
:400-168-0010
年月第一版
201511
*
書號(hào)
:155066·1-52428
版權(quán)專有侵權(quán)必究
GB/T17170—2015
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)代替非摻雜半絕緣砷化鎵單晶深能級(jí)濃度紅外吸收測試方法
GB/T17170—1997《EL2》。
本標(biāo)準(zhǔn)與相比主要有以下變化
GB/T17170—1997,:
修改了標(biāo)準(zhǔn)名稱
———;
增加了規(guī)范性引用文件術(shù)語和定義干擾因素和測試環(huán)境等章
———“”“”“”“”;
擴(kuò)展了半絕緣砷化鎵單晶電阻率范圍將電阻率大于7修改為大于6
———,10Ω·cm10Ω·cm;
將范圍由非摻雜半絕緣砷化鎵單晶修改為非摻雜和碳摻雜半絕緣砷化鎵單晶
———“”“”;
刪除了厚度測試樣品的解理制樣方法
———0.4mm~2mm。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)與全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)
(SAC/TC203)
化技術(shù)委員會(huì)材料分會(huì)共同提出并歸口
(SAC/TC203/SC2)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位信息產(chǎn)業(yè)專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心天津市環(huán)歐半導(dǎo)體材料技術(shù)有限公司
:、、
中國電子材料行業(yè)協(xié)會(huì)
。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人何秀坤李靜張雪囡
:、、。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T17170—1997。
Ⅰ
GB/T17170—2015
半絕緣砷化鎵單晶深施主EL2
濃度紅外吸收測試方法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半絕緣砷化鎵單晶深施主濃度的紅外吸收測試方法
EL2。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于電阻率大于6的非摻雜和碳摻雜半絕緣砷化鎵單晶深施主濃度的
10Ω·cmEL2
測定
。
本標(biāo)準(zhǔn)不適用于摻鉻半絕緣砷化鎵單晶深施主濃度的測定
EL2。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
半導(dǎo)體材料術(shù)語
GB/T14264
3術(shù)語和定義
界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件
GB/T14264。
31
.
EL2濃度EL2concentration
砷化鎵單晶中的一種本征缺陷在砷化鎵單晶體內(nèi)的濃度
EL2()。
4方法提要
半絕緣砷化鎵單晶中深施主的紅外吸收系數(shù)α與濃度具有對(duì)應(yīng)關(guān)系測量
EL2EL2,1.0972μm
處的紅外吸收系數(shù)并由經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)公式可計(jì)算濃度紅外吸收系數(shù)α與濃度的關(guān)系參見
EL2。EL2
附錄
A。
5干擾因素
51雜散光到達(dá)檢測器將導(dǎo)致濃度測試結(jié)果出現(xiàn)偏差
.,EL2。
52測試樣品的測試面積應(yīng)大于光闌孔徑否則可能導(dǎo)致錯(cuò)誤的測試結(jié)果
.,。
6儀器
61分光光度計(jì)
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