標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 17473.2-1998 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn)，專注于厚膜微電子技術(shù)領(lǐng)域中使用的貴金屬漿料的測試方法，特別是關(guān)于細度測定的部分。該標(biāo)準(zhǔn)為確保貴金屬漿料的質(zhì)量控制和性能評估提供了一套統(tǒng)一的測試流程和要求，對促進電子元件制造的標(biāo)準(zhǔn)化和可靠性具有重要意義。

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于以金、銀、鉑等貴金屬為主要成分，用于厚膜微電子技術(shù)的漿料。這些漿料常用于制造電子電路、電阻、電容等元器件，其細度（即顆粒大小分布）直接影響到最終產(chǎn)品的性能和可靠性。

測試原理與方法

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通過特定的儀器和程序來測定貴金屬漿料中固體顆粒的大小分布，常用的分析手段包括但不限于激光粒度分析法、篩分法或顯微鏡觀測法。具體方法的選擇需依據(jù)漿料特性和實驗室條件來定。

  • 激光粒度分析法：利用顆粒對激光光束的散射特性來推算顆粒大小，適用于較寬粒徑范圍的快速測量。
  • 篩分法：通過多級標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng)過濾漿料，根據(jù)各篩網(wǎng)上留存物料的重量來確定不同粒徑段的分布。
  • 顯微鏡觀測法：直接觀測漿料干燥后的固體顆粒，通過圖像分析軟件測量顆粒尺寸，適合對大顆粒進行精確測量。

測試步驟與要求

  1. 樣品制備：確保樣品具有代表性，按照標(biāo)準(zhǔn)要求進行適當(dāng)稀釋或預(yù)處理，以適應(yīng)所選測試方法的要求。
  2. 儀器校準(zhǔn)：測試前必須對所用設(shè)備進行校準(zhǔn)，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
  3. 測試執(zhí)行：嚴(yán)格按照選定的測試方法進行操作，記錄所有必要的測試參數(shù)和環(huán)境條件。
  4. 數(shù)據(jù)處理：收集的數(shù)據(jù)應(yīng)進行統(tǒng)計分析，計算出平均粒徑、粒度分布范圍等關(guān)鍵指標(biāo)。
  5. 報告：測試結(jié)果需詳細記錄并編制成報告，包括測試條件、所用方法、數(shù)據(jù)處理過程及最終結(jié)論。

注意事項

  • 在整個測試過程中，需嚴(yán)格控制實驗環(huán)境，避免外界因素如溫度、濕度對測試結(jié)果的影響。
  • 對于不同批次或類型的貴金屬漿料，可能需要調(diào)整測試參數(shù)以達到最佳測量效果。
  • 結(jié)果解釋時要考慮漿料的應(yīng)用背景，因為不同的應(yīng)用對細度的要求可能有所不同。

該標(biāo)準(zhǔn)為厚膜微電子行業(yè)提供了統(tǒng)一的細度測定規(guī)范，有助于提高產(chǎn)品的一致性和可靠性，同時促進技術(shù)交流和貿(mào)易活動。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17473.2-2008
  • 1998-08-19 頒布
  • 1999-03-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細度測定_第1頁
GB/T 17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細度測定_第2頁
GB/T 17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細度測定_第3頁
免費預(yù)覽已結(jié)束，剩余5頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細度測定-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS.77.040.01H21中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)CB/T17473.2-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細度測定Testmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronics-Determinationoffineness1998-08-19發(fā)布1999-03-01實施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17473.2-1998前貴金屬漿料是厚膜微電子技術(shù)領(lǐng)域的一種重要材料，漿料細度是漿料的主要參數(shù)之一.目前我國尚未制定出漿料細度測試方法標(biāo)準(zhǔn)，也沒有檢索到該測試方法的國際標(biāo)準(zhǔn)或國外先進標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)主要參照GB1724一79《涂料細度測定方法》GB6753.1-86《涂料研磨細度測定》，結(jié)合我國的實際應(yīng)用情況而制定的。本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)總公司提出。本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)總公司標(biāo)準(zhǔn)計量研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由昆明貴金屬研究所負責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：朱曉云、王昆福。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細度測定GB/T17473.2-1998Testmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronics-Determinationoffineness范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬漿料細度的刮板試驗方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于貴金屬漿料細度測定。非貴金屬漿料的細度測定亦可參照使用。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示版本均為有效。所有的標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T8170-1987數(shù)值修約規(guī)則3方法原理漿料置于細度計上,用刮板從上至下刮動，根據(jù)槽中縱向條紋出現(xiàn)的位暨,目測確定顆粒的大小。儀器與工具4.1刮板細度計：范圍為0～25m,精度為1rm,檢定周期為半年。4.2調(diào)漿刀：鑲有木柄的厚度為1mm不銹鋼材質(zhì)刀。4.3刮板。5試樣5.1將送檢試樣充分?jǐn)嚢杈住?.22試樣不少于5份，每份28-6測試步驥6.11測試環(huán)境溫度為15～35℃，相對濕度為45%～75%，大氣壓力為86～106kPa。6.22用相應(yīng)的化學(xué)純級清洗劑洗凈刮板細度計6.3將試樣均勻地放貿(mào)于細度計溝槽最深處。6.4用雙手持刮板于細度計溝槽最深處，使刮板與細度計表面垂直，并以均勾的速度從溝槽最深處將試樣刮過細度計表面，使試樣充滿溝槽，平板上不留有多余的試樣。整個操作過程在3。內(nèi)完成。6.5在3。內(nèi)橫握刮過的細度計并使其傾斜，使視線與

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。驍?shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論