標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 18310.8-2003是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，專(zhuān)注于纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件的測(cè)試與測(cè)量方法。這一標(biāo)準(zhǔn)的第2-8部分具體闡述了關(guān)于“碰撞”試驗(yàn)的相關(guān)要求和流程，旨在確保光纖通信系統(tǒng)中使用的關(guān)鍵組件在遭受意外碰撞或機(jī)械沖擊時(shí)仍能保持其性能穩(wěn)定性和可靠性。

標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽：

  1. 范圍：該部分明確了標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范圍，即規(guī)定了對(duì)光纖互連器件及無(wú)源器件進(jìn)行碰撞試驗(yàn)的方法，用以評(píng)估這些器件在遭受非重復(fù)性機(jī)械沖擊時(shí)的耐受能力。

  2. 規(guī)范性引用文件：列出了實(shí)施本部分試驗(yàn)所需遵循的其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和文檔，確保所有測(cè)試均基于一致認(rèn)可的基準(zhǔn)。

  3. 術(shù)語(yǔ)和定義：為確保理解一致，界定了與碰撞試驗(yàn)相關(guān)的專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)，如“碰撞”、“機(jī)械沖擊”等的基本含義。

  4. 試驗(yàn)設(shè)備：詳細(xì)描述了進(jìn)行碰撞試驗(yàn)所必需的設(shè)備類(lèi)型、規(guī)格及校準(zhǔn)要求，包括沖擊試驗(yàn)機(jī)、夾具及其設(shè)置方法，確保測(cè)試條件可復(fù)現(xiàn)且結(jié)果可靠。

  5. 試樣準(zhǔn)備：規(guī)定了選取或制備試樣的方法，以及試驗(yàn)前對(duì)試樣進(jìn)行的預(yù)處理步驟，如清潔、固定等，以模擬實(shí)際使用狀態(tài)。

  6. 試驗(yàn)程序：詳述了碰撞試驗(yàn)的具體操作步驟，包括沖擊速度、沖擊能量、沖擊次數(shù)等關(guān)鍵參數(shù)的選擇與控制，以及如何記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

  7. 試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)估：提供了評(píng)估試樣在碰撞后性能變化的標(biāo)準(zhǔn)和方法，可能包括光傳輸特性（如插入損耗、回波損耗的變化）、物理?yè)p傷檢查等。

  8. 試驗(yàn)報(bào)告：規(guī)定了試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包含的信息，如試驗(yàn)條件、試樣描述、試驗(yàn)結(jié)果及結(jié)論等，以便于結(jié)果的交流與追溯。


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  • 已被廢除、停止使用，并不再更新
  • 2003-11-24 頒布
  • 2004-08-01 實(shí)施
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GB/T 18310.8-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-8部分：試驗(yàn)碰撞_第1頁(yè)
GB/T 18310.8-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-8部分：試驗(yàn)碰撞_第2頁(yè)
GB/T 18310.8-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-8部分：試驗(yàn)碰撞_第3頁(yè)
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GB/T 18310.8-2003纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-8部分：試驗(yàn)碰撞-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS33.180.20L50中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18310.8-2003/IEC61300-2-8:1995纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-8部分:試驗(yàn)碰撞Eibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestandmeasurementprocedures-Part2-8：Tests-Bump(IEC61300-2-8:1995,IDT)2003-11-24發(fā)布2004-08-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T18310.8-2003/IEC61300-2-8：1995本部分為GB/T18310的第8部分.并隸屬于GB/T18309.1-2001/IEC61300-1:1995《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第1部分：總則和導(dǎo)則》本部分等同采用IEC61300-2-8:1995《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序2-8部分：試驗(yàn)碰撞》英文版）為便于使用.對(duì)于IEC61300-2-8:1995還作了下列編輯性修改：刪除IEC61300-2-8:1995的前言?！独w維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序》是系列國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，下面列出了這些國(guó)家標(biāo)淮的預(yù)計(jì)結(jié)構(gòu)及其對(duì)應(yīng)的IEC標(biāo)準(zhǔn)：a）GB/T18309.1—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第1部分：總則和導(dǎo)則》idtIEC61300-1:1995）。GB/T18310《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2部分：試驗(yàn)》GGB/T18310.1-—2002《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件：基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-1部分：試驗(yàn)振動(dòng)(正弦)》IEC61300-2-1:1995.IDT)GB/T18310.2-2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-2部分：試驗(yàn)配接耐久性》idtIEC61300-2-2:1995)GB/T18310.3-2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-3部分:試驗(yàn)靜態(tài)剪切力》(idtIEC61300-2-3:1995）GB/T18310.4-2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-4部分：試驗(yàn)光纖/光纜保持力》idtIEC61300-2-4:1995)C）GB/T18311《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3部分;檢查和測(cè)量》-GB/T18311.1—2003《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-1部分：檢查和測(cè)量外觀檢查》IEC61300-3-1:1995.IDT)-GB/T18311.2—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-2部分：檢查和測(cè)量單模纖維光學(xué)器件偏振依賴(lài)性》(idtIEC61300-3-2:1995）-GB/T18311.3—2001《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-3部分：檢查和測(cè)量監(jiān)監(jiān)測(cè)衰減和回波損耗變化（多路)》（idtIEC61300-3-3:1997）-2003《纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件GB/T18311.4—基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第3-4部分：檢查和測(cè)量衰減》IEC61300-3-4:2001.IDT)本部分由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出。本部分由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所（CESI歸口本部分起草單位：中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第八研究所本部分主要起草人：王強(qiáng)、王毅、商海英

GB/T18310.8-2003/IEC61300-2-8:1995纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件基本試驗(yàn)和測(cè)量程序第2-8部分：試驗(yàn)碰撞1總則范圍和目的本部分的目的是揭示纖維光學(xué)器件在受到重復(fù)性的沖擊時(shí)其機(jī)械性能的薄弱環(huán)節(jié)和/或性能劣化它模擬在正常工作期間器件可能遭受到的重復(fù)性的沖擊1.2概述本程序按GB/T2423.6—1995試驗(yàn)Eb進(jìn)行。將樣品安裝于碰撞試驗(yàn)機(jī)上并遭受重復(fù)的半正弦脈沖。1.3規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T18310的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件·其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分·然而.鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2423.6—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞(idtIEC60068-2-29：1987）2裝置裝置由以下單元組成2.1越撞試驗(yàn)機(jī)符合GB/T2423.6—1995試驗(yàn)Eb的碰撞試驗(yàn)機(jī)2.2固定夾具合GB/T2423.6—1995試驗(yàn)Eb的固定夾具。3程序按GB/T2423.6-1995試驗(yàn)Eb進(jìn)行嚴(yán)酷等級(jí)嚴(yán)酷等級(jí)由碰撞的峰值加速度、持續(xù)時(shí)間和次數(shù)組成。相關(guān)規(guī)范中應(yīng)規(guī)定

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