標準解讀
GB/T 21021-2007 是一項由中國發(fā)布的國家標準,專注于射頻連接器、連接器電纜組件以及電纜的互調電平測量方法。該標準旨在為這些元件在通信系統(tǒng)中的性能評估提供統(tǒng)一的測試和評估規(guī)程,確保其互操作性和可靠性。下面是該標準主要內容的概覽:
標準適用范圍
本標準適用于工作頻率在0.5GHz至40GHz之間的射頻連接器、連接器電纜組件及電纜。它定義了測量這些組件互調電平(IMD)的方法,互調電平是衡量非線性效應引起信號失真程度的一個重要指標,對理解系統(tǒng)內信號質量至關重要。
測量原理與方法
- 互調產(chǎn)物:標準詳細介紹了如何識別和測量由兩個或多個頻率信號在非線性設備中相互作用產(chǎn)生的互調產(chǎn)物。
- 測試配置:規(guī)定了測試環(huán)境的設置,包括信號源、功率計、矢量網(wǎng)絡分析儀等測試儀器的正確連接方式,以及測試夾具和適配器的要求。
- 校準過程:要求在實際測量前對測試系統(tǒng)進行全面校準,以消除系統(tǒng)本身引入的誤差。
- 測量步驟:詳細說明了如何施加測試信號,通常采用兩音或多音信號注入法,以及如何準確測量輸出信號中的互調產(chǎn)物電平。
性能評估指標
- IMD電平:定義了如何計算和報告互調產(chǎn)物的電平,通常以dBc(相對于載波的分貝值)表示。
- 互調產(chǎn)物階數(shù):明確了考慮的互調產(chǎn)物階次,如三階互調(IM3)是最常見的評估對象。
環(huán)境條件與重復性
- 規(guī)定了進行測量時的環(huán)境條件,如溫度、濕度等,以確保測試結果的一致性和可比性。
- 強調了重復測量的重要性,以評估測試結果的穩(wěn)定性和可靠性。
報告要求
指導如何編制測試報告,需包含測試條件、所用設備、測量結果及其不確定性分析等關鍵信息。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權發(fā)布的權威標準文檔。
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文檔簡介
ICS33.120.10L23中華人民共和國國家標準GB/T21021-2007/IEC62037:1999射頻連接器、連接器電纜組件和電纜互調電平測量RFconnector.connectorcableassembliesandcable-Intermodulationlevelmeasurement(IEC62037:1999.IDT)2007-06-29發(fā)布2007-11-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會
GB/T21021-2007/IEC62037:1999本標準等同采用IEC62037:1999《射頻連接器、連接器電纜組件和電纜互調電平測量》(英文版)為便于使用,對于IEC62037:1999做了下列編輯性修改:a)刪除IEC62037:1999的前言;b)按我國書寫習慣對標點符號做必要的調整本標準由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本標準由全國電子設備用高頻電纜及連接器標準化技術委員會歸口。本標準起草單位:中國電子科技集團公司第二十三研究所、上海佳吉通信器件有限公司。本標準主要起草人:王銳臻、葛雄浩、陳志彬、張建平、吳正平。
GB/T21021-2007/IEC62037:1999射頻連接器、連接器電纜組件和電纜互調電平測量范圍和目的本標準適用于射頻連接器、連接器電纜組件和電纜的互調電平測量本標準給出的試驗程序旨在測量無源射頻元件內部傳輸兩路或多路信號時所產(chǎn)生的干抗信號的電平!互調電平的產(chǎn)生射頻回路中互調產(chǎn)物產(chǎn)生的基本理論在有關文獻中已有明確的表述對無源射頻元件而言,互調失真由非線性源產(chǎn)生,大多數(shù)情況下無法明確這些非線性源的狀態(tài)、部位和特性,這些非線性源的示例包括:金屬間的互相接觸部位、不同的材料、銹蝕物、灰塵和污染物等由于受機械應力、溫度變化、材料特性的變化(如:冷變形等)和氣候變化等的影響.這些效應中的大多數(shù)將隨時間而發(fā)生變化?;フ{產(chǎn)物的產(chǎn)生并不一定遵循常用的二次非線性方程,因此,不可能精確計算出導致互調產(chǎn)生的其他功率電平。另一方面,互調的產(chǎn)生是射頻元件的固有特性,與所選的頻率無關。因此,允許在工作頻段內的適當頻率對射頻元件進行測量試驗程序的原理試驗中,將具有規(guī)定的相等試驗端口功率電平的頻率為廣和廣的信號混合.并輸入被試器件(DUT)。試驗信號中所包含的諧波信號或自互調信號應低于DUT中預期產(chǎn)生的互調電平至少10dB.價數(shù)為(廣士廣)或(2)土廣)等的互調產(chǎn)物由經(jīng)校準的接收機進行測量。大多數(shù)情況下,三階互調信號代表了所產(chǎn)生的干擾信號中的最嚴重的情況。因此.對上述信號的測量足以說明DUT的互調特性。但本標準中給出的試驗裝置也可用于測量其他階數(shù)的互調產(chǎn)物。4試驗裝置經(jīng)驗表明互調產(chǎn)物由DUT內部的某些點狀源產(chǎn)生。因此,可測量DUT中的反射互調信號.或者測量DUT中的傳輸互調信號,兩種不同的試驗裝置如圖1和圖2所示,僅供參考。也可采用其他試驗裝置布局試驗裝置1僅用于測量反射互調信號,試驗裝置2還可用于測量傳輸互調信號。上述兩種試驗裝暨均可用于測量低于載波電平、超過100dB的互調信號。由于反射法既適用于單端口器件,又適用于多端口器件,一般將其作為通用測量方法試驗裝置可由適用于本特定用途的標準微波或射頻回
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