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實驗五子力顯微一、實驗目的二、實驗原理基本原理現(xiàn)為排斥力，這種排斥力隨著間距的縮短而急劇變大。AFM正是利用與間距之間的這些關系，通過檢測原子間的作用力而獲得樣品表面的微觀形貌。由于AFM利用原子力工作而不原子力顯微鏡的基本結構之后，在反饋系統(tǒng)中會將此信號當作反饋信探

1臂構成，在最尖端處有一個原子級的針尖，如圖2所示 圖2原子力顯微鏡中的懸臂探針掃描3原子力顯微鏡的探針工掃描器的部分是壓電陶瓷管，根據(jù)所加的電壓，它可以在X、Y、Z三個方向上3原子力顯微鏡的探針工原子力顯微鏡的探針工作原理3所示，激光束聚焦在微懸臂背面，并反射到光AFM的工作模過改變加在掃描器Z方向上的電壓，使掃描器做適當移動來保持這個偏移的恒定，計算機探針的選擇：原則上所有的微懸臂探針都可以使用于AFM的接觸模式。由于接觸模式三、實驗裝頭，SPM底座、掃描器、探針架和探針、控制機箱、計算機控制系統(tǒng)。四、實驗步打開控制機箱電源，進入SPMConsole五、實驗結樣品表面二維圖像 樣品表面三維圖像六、思考題以接觸模式一般不適用于物大分子、低彈性模量樣品以及容易移動和變形的樣模式針尖刮擦會損壞樣式AFM斑等表面磁結構的信息，這就是MFM.bMFM的示意圖和磁力探測原理圖。圖la中可見一根細小的懸臂上有一個磁化強度為M的鐵磁性材料表面上存在著M.n產(chǎn)生的雜散磁場H，H作用于磁針尖局域磁矩m上的磁力為構的信息。同樣，如保持f不變，探測位相的改變量也行，但方程應改為七、參考文3、《掃描力顯微術》科學6、C.Mateetal.Atomicforcemicro

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