標準解讀

《GB/T 2423.16-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J及導則:長霉》相較于《GB/T 2423.16-1999 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導則:長霉》在內容上進行了若干調整,主要體現在以下幾個方面:

首先,在結構與編寫規(guī)則上,《GB/T 2423.16-2008》遵循了GB/T 1.1—2000給出的規(guī)則進行修訂,使得標準更加符合國際標準化組織(ISO)的要求。這包括對術語定義、符號表示等方面的一致性要求。

其次,《GB/T 2423.16-2008》對于試驗條件進行了細化說明,比如明確了溫度、濕度等具體參數值,并增加了關于不同等級試驗條件的選擇指導,以便于根據產品實際使用環(huán)境選擇合適的試驗方案。

再者,新版標準加強了對試驗過程中樣品處理的規(guī)定,如清洗方法、干燥時間等都有更為詳細的操作指南,旨在提高試驗結果的一致性和可比性。

此外,《GB/T 2423.16-2008》還增加了有關安全注意事項的內容,強調了在執(zhí)行長霉試驗時需要注意的安全措施,以保護操作人員健康不受損害。

最后,新版本中也包含了更多關于評價霉菌生長情況的標準描述,為判斷試驗結果提供了更明確的依據。同時,針對不同類型的產品給出了特定建議,幫助用戶更好地理解如何應用該標準來評估其產品的抗霉性能。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2008-12-30 頒布
  • 2009-10-01 實施
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GB/T 2423.16-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗J及導則:長霉_第1頁
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GB/T 2423.16-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗J及導則:長霉-免費下載試讀頁

文檔簡介

犐犆犛19.020

犓04

中華人民共和國國家標準

犌犅/犜2423.16—2008/犐犈犆60068210:2005

代替GB/T2423.16—1999

電工電子產品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法

試驗犑及導則:長霉

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋2:犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋犑犪狀犱犵狌犻犱犪狀犮犲:犕狅犾犱犵狉狅狑狋犺

(IEC60068210:2005,Environmentaltesting—

Part210:Tests—TestJandguidance:Mouldgrowth,IDT)

20081230發(fā)布20091001實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

犌犅/犜2423.16—2008/犐犈犆60068210:2005

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4對操作者的健康危害!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

5試驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

6試劑和材料!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

7試驗設備要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

8嚴酷等級!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

9初始檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

10預處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

11條件試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5

12最后檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5

13相關規(guī)范中應給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6

14試驗報告中至少應給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6

附錄A(資料性附錄)對操作人員的危害!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8

附錄B(規(guī)范性附錄)接種方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9

附錄C(資料性附錄)推薦安全措施!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!11

附錄D(資料性附錄)去污規(guī)程!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!12

附錄E(資料性附錄)試驗霉菌!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!13

附錄F(資料性附錄)導則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!14

附錄NA(資料性附錄)GB/T2423標準的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!18

犌犅/犜2423.16—2008/犐犈犆60068210:2005

前言

GB/T2423.16是GB/T2423標準的第16部分。GB/T2423標準的組成部分見資料性附錄NA。

本部分等同采用IEC60068210:2005《環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗J及導則:長霉》(英

文版),主要做了以下編輯性修改:

———刪除了IEC標準的前言;

———增加了國家標準前言;

———增加了規(guī)范性引用文件一覽表的引導語;

———引用了與國際標準有對應關系的國家標準;

———在6.1表1中增加了試驗菌種相應的中國微生物研究所菌種保藏號;

———IEC原文附錄C的條編號有遺漏,現補上,并增加腳注說明;

———在D.2中增加了腳注說明:2)IEC原文為“壓力10kPa(1bar)”。因1bar為100kPa,原文有

誤,在此給予更正。

本部分代替GB/T2423.16—1999《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗J及導則:

長霉》,與上之相比主要變化有:

———增加了圖片B.1;

———由另二種試驗真菌代替二種試驗真菌;

———規(guī)定了單一試驗真菌的孢子濃度;

———通過濕熱貯存來規(guī)定樣品的初始狀態(tài);

———孢子懸浮液的超聲波霧化作為一種推薦性接種方式;

———培養(yǎng)持續(xù)時間由84d縮短到56d;

———長霉程度等級2劃分為2a和2b二等級;

———附錄B給出詳細的接種方式;

———附錄E的內容由原來的“流程圖”改為“試驗霉菌”;

———增加了資料性附錄“GB/T2423標準的組成部分”(見附錄NA)。

本部分的附錄B為規(guī)范性附錄,附錄A、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F、附錄NA均為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產品環(huán)境條件和環(huán)境試驗標準化技術委員會(SAC/TC8)提出并歸口。

本部分起草單位:廣州電器科學研究院、廣東省微生物研究所。

本部分主要起草人:黃開云、顏景蓮、耿舒、謝小保、歐陽友生。

本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB/T2423.16—1990、GB/T2423.16—1999;

———GB/T2424.9—1990。

犌犅/犜2423.16—2008/犐犈犆60068210:2005

電工電子產品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法

試驗犑及導則:長霉

1范圍

GB/T2423的本部分規(guī)定了確定電子產品上長霉程度和長霉對產品特性及其他相關性能影響的

試驗方法。

由于長霉條件包括高的相對濕度,本試驗也可以用于評價電子產品在潮濕條件下一段時期的運輸、

貯存以及使用的適應能力。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據本部分達成

協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本

部分。

GB/T27025—2008檢測和校準實驗室能力的通用要求(ISO/IEC17025:2005,IDT)

ISO846:1997塑料———微生物作用評價

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