GB/T 2423.35-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗

ICS19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50:1983代替GB/T2423.35-—1986電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts-Part2:TestMethods-andnon-heat-dissipatingSpecimens(IEC60068-2-50:1983,BasicenvironmentaltestingproceduresPart2：Tests--TestZ/AFc:Combinedcold/vibration（sinusoidal)testsforbothheat-dissipatingandnon-heat-dissipatingspecimens,IDT)2005-08-26發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50:1983前言引言0.10.2振動·0.3溫度·0.4規(guī)范性引用文件·12一般說明3試驗設(shè)備嚴(yán)酷等級5溫度監(jiān)測點的選擇和監(jiān)測溫度的確定(僅適用于散熱試驗樣品）6預(yù)處理7初始檢測條件試驗9中間檢測10恢復(fù)…最后檢測12失效判據(jù)13有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)具有的內(nèi)容·圖1非散熱試驗樣品試驗曲線圖圖2敵熱試驗樣品試驗曲線圖

GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50：1983本部分等同采用IEC60068-2-50：1983《基本環(huán)境試驗規(guī)程：第2部分：試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗》英文版）為便于使用，本部分刪除了國際標(biāo)準(zhǔn)的前言。本部分代替（B/T2423.35—1986《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法》.本次修訂根據(jù)（B/T1.1—2000《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分;標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則》和GB/T20000.2—2001《標(biāo)準(zhǔn)化工作指南第2部分：采用國際標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)則》對標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行格式編排。本部分與GB/T2423.35—1986的主要有下列差異：a）本部分的技術(shù)內(nèi)容、編寫格式及表達(dá)方法與IEC60068-2-50：1983相一致。而GB/T2423.35—1986的編寫格式與IEC60068-2-50:1983有差異。本部分在規(guī)范性引用文件中,恢復(fù)了國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-50:1983中未被GB/T2423.351986引用的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和內(nèi)容，如GB/T2423.43《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb)、振動(Fe和Fd)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則》.刪除了GB/T2423.35—1986增加而國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-50:1983中沒有引用的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和內(nèi)容，如GB/T2424.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程溫度(低溫、高溫)/振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則》。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人：陳瑜紅、紀(jì)春陽。本部分于1986年首次發(fā)布。

GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50：19830.1概述本部分適用于散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗，基本上是試驗Fc:振動(正弦）和試驗A:低溫的綜合本試驗方法只適用于試驗樣品爆露在低溫條件下達(dá)到溫度穩(wěn)定的情況注：散熱試驗樣品的試驗程序不包括樣品穩(wěn)定在試驗溫度時的通電情況。對于非散熱試驗樣品的試驗程序,當(dāng)在振動綜合的條件下要求低溫通電時，可在整個試驗期間進(jìn)行指定的或連續(xù)的功能測試。0.2振動振動試驗基本上等同于試驗Fc:可以采用試驗Fc的一個或多個耐久試驗程序,但此綜合試驗中不包括耐久條件試驗之后的振動響應(yīng)檢查。0.3溫度測試散熱試驗樣品的溫度條件是以與自由空氣條件相同的方式使試驗樣品經(jīng)受溫度應(yīng)力由于在帶振動臺的試驗箱中模擬自由空氣條件的影響有困難,所以本試驗通常使用強迫空氣循環(huán)試驗樣品表面最熱點作為溫度的監(jiān)測點，試驗前,在規(guī)定環(huán)境溫度的自由空氣條件下，確定試驗樣品的監(jiān)測點和監(jiān)測溫度。0.4規(guī)范性引用文件下列文件中的條款，通過在GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版不適用于本部分.然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：總則(idtIEC60068-1:1988)GB/T2422-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語(eqvIEC60068-5-2:1990）GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫(idtIEC60068-2-1:1990）GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fe和導(dǎo)則：振動（正弦)（GB/T2423.10—1995.idtIEC60068-2-6:1982）GB2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化（GB/T2423.22-2002.IEC60068-2-14:1984IDT)GB/T2423.43電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗、第2部分：試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea)、碰撞（Eb)、振動（Fe和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則（GB/T2423.43-1995.idtIEC60068-2-47:1982）GB/T2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗高溫低溫試驗導(dǎo)則（GB/T2424.1—1989,eqvIEC60068-3-1）

GB/T2423.35-2005/IEC60068-2-50：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗?zāi)康奶峁┮粋€標(biāo)準(zhǔn)的試驗程序以確定散熱和非散熱元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫與振動綜合條件下使用、賠存和運輸?shù)倪m應(yīng)性2一般說明本試驗是試驗A:低溫和試驗Fc;振動(正弦)的綜合試驗注：試驗Ab和Ad要求在條件試驗的升溫和降溫過程中溫度變化速率不超過1K/mim(5min平均）。對于經(jīng)受熱沖擊的試驗樣品(通常是指經(jīng)受試驗Aa的、并能經(jīng)受試驗Na和Ne快速溫度變化的試驗樣品）不受最大溫度變化速率1K/mmn的限制,對于這些試驗樣品，可以使用能滿足試驗Aa(溫度突變）條件的試驗箱試驗樣品除非已進(jìn)行過試驗A和Fe（并記錄其試驗結(jié)果）否則應(yīng)首先在試驗室溫度條件下進(jìn)行振動試驗.然后經(jīng)受低溫試驗，達(dá)到溫度穩(wěn)定后，試驗樣品再經(jīng)受振動和低溫的綜合試驗。試驗部面見圖1和圖2.振動環(huán)境可以是以下一種或幾種：“）耐久掃頻試驗；振動響應(yīng)檢查，以及由振動響應(yīng)檢查得出頻率上的耐久試驗；預(yù)定頻率上的耐久試驗3試驗設(shè)備3.1試驗箱的要求3.1.1非散熱試驗樣品的試驗這類試驗箱應(yīng)滿足試驗Aa或Ab中給出的要求(見第2章注）3.1.2散熱試驗樣品的試驗溫度監(jiān)測點的選擇和監(jiān)測溫度的確定，可在滿足下述條件a)或者b)的試驗箱（或室)中進(jìn)行。）通常提供強迫空氣循環(huán)的試驗箱，能在低溫條件下模擬“自由空氣"條件的影響,并滿足試驗A中試驗Ad的“試驗設(shè)備"中給出的要求。b）能保護(hù)試驗樣品不受太陽輻照及通風(fēng)干擾的試驗箱(或室）見5.1.2)。這種試驗使用的試驗箱,通常應(yīng)有強迫空氣循環(huán)。應(yīng)滿足試驗AdGB/T2423.1-2001中的25.1和試驗AbGB/T2423.1-2001中的第14章所給出的要求（見第2章注）3.2振動系統(tǒng)的要