標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認》是一項國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)定用于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的溫度/濕度試驗箱性能要求及其驗證方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于新制造、使用中或維修后的溫度/濕度試驗箱，以確保這些設(shè)備能夠按照預(yù)期提供準(zhǔn)確可靠的測試條件。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，溫度/濕度試驗箱需滿足特定的技術(shù)參數(shù)要求，包括但不限于溫度范圍、濕度范圍、溫度波動度、濕度波動度等。此外，還定義了若干關(guān)鍵術(shù)語如“工作空間”、“溫度梯度”、“濕度均勻性”，為理解與應(yīng)用提供了基礎(chǔ)。

對于性能確認過程，《GB/T 2424.6-2006》詳細描述了如何通過一系列測試來評估試驗箱是否符合既定規(guī)格。其中包括空載狀態(tài)下的溫度分布測試、負載條件下（模擬實際使用情況）的溫濕度穩(wěn)定性檢查等。每項測試都有明確的操作步驟、所需儀器以及數(shù)據(jù)記錄方式。


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  • 2006-12-19 頒布
  • 2007-09-01 實施
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ICS19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.6—2006/IEC60068-3-6:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度/濕度試驗箱性能確認Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts-Confirmationoftheperformanceoftemperature/humiditychambers(IEC60068-3-6:2001,Environmentaltesting--Part3-6:Supportingdocumentationnandguidance-Confirmationoftheperformanceoftemperature/humiditychambers,IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T2424.6-2006/IEC60068-3-6：2001三次前言：：：·····范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語及定義4性能測量5濕度性能的測定6標(biāo)準(zhǔn)濕度試驗順序7評定標(biāo)準(zhǔn)·………………8性能測試報告應(yīng)給出的信息

GB/T2424.6-2006/IEC60068-3-6：2001前GB/T2424包含以下部分-GB/T2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗高溫低溫試驗導(dǎo)則（IEC60068-3-1：1978IDT)GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗濕熱試驗導(dǎo)則(IEC60068-3-4:2001.IDT)GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認（IEC60068-3-5:2001.IDTGB/T2424.6—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度/濕度試驗箱性能確認(IEC60068-3-6:2001.IDT)GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量(IEC60068-3-7:2001.IDT)GB/T2424.10—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則（eqvIEC60355:1971)GB/T2424.11-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和連接件的二氧化硫試驗導(dǎo)則GB/T2424.12-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和連接件的硫化氫試驗導(dǎo)則GB/T2424.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則(IEC60068-2-33:1971.IDT)GB/T2424.14—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則(idtIEC60068-2-9:1975)GB/T2424.15一1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則（eqvIEC60068-3-2：1976）（B/T2424.17—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗：錫焊試驗導(dǎo)則GB/T2424.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗?zāi)M購存影響的環(huán)境試驗導(dǎo)則(IEC600682-48:1982IDT)B/T2424.20—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗導(dǎo)則GB/T2424.21—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗導(dǎo)則GB/T2424.22—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則(eqvIEC60068-2-53：1984）（B/T2424.23—1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程水試驗導(dǎo)則（B/T2424.24—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則GB/T2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第3部分：試驗導(dǎo)則地震試驗方法(idtIEC60068-3-3:1991）GB/T2424.6是（B/T2424(電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗)的第6部分.本部分等同采用IEC60068-3-6:2001《環(huán)境試驗第3-6部分：支持文件及導(dǎo)則溫度/濕度試驗箱性能的確認》(英文版)。為便于使用，本部分做了下列編輯性修改：

GB/T2424.6—2006/IEC60068-3-6:2001“本導(dǎo)則”一詞改為"本部分"；）刪除IEC前言；c）原文第2章引用文件ISO10012-12及ISO10012-2現(xiàn)已被ISO10012取代.本部分予以更正本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC8)歸口本部分由廣州電器科學(xué)研究院負責(zé)起草本部分主要起草人：王玲、顏景蓮、王俊本部分為首次制定

GB/T2424.6-2006/IEC60068-3-6:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度/濕度試驗箱性能確認范圍GB/T2424的本部分提供了一個統(tǒng)一可再現(xiàn)的方法,用以確認溫濕度試驗箱在無負載時是否符合（B/T2423系列標(biāo)準(zhǔn)中氣候試驗方法規(guī)定的要求。本部分適用于用戶進行常規(guī)的試驗箱性能監(jiān)測。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T2424的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗濕熱試驗導(dǎo)則(IEC60068-3-4:2001.IDT)GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認(IEC60068-3-5:2001.IDT)GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量(IEC60068-3-7:2001.IDT)GB/T16839.1熱電偶第1部分：分度表(GB/T16839.1一1997.idtIEC60584-1:1995)GB/T19022測量管理體系測量過程和測量設(shè)備的要求(GB/T19022—2003.1SO10012:2003.IDT)ISO4677-1調(diào)節(jié)和試驗用大氣相對濕度的測定第1部分：吸人式干濕球法IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件術(shù)語及定義下列術(shù)語和定義適用于本部分。有關(guān)溫度試驗的術(shù)語和定義見GB/T2424.5—2006.注：除非另有規(guī)定,濕度"是指相對濕度（RH)。溫度/濕度試驗箱temperature/humiditychamber封閉體或空間.其中某部分能達到GB/T2423有關(guān)規(guī)定的溫度/濕

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