標準解讀
《GB/T 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量》是一項國家標準,主要針對電工電子產(chǎn)品在進行環(huán)境試驗時所使用的溫度試驗箱的性能要求及其測量方法進行了規(guī)定。該標準適用于試驗A(高溫)和試驗B(低溫)條件下對帶有一定負載的產(chǎn)品進行測試時所使用的溫度試驗箱。
根據(jù)標準內(nèi)容,首先明確了適用范圍以及引用的相關(guān)文件。接著,對于溫度試驗箱的基本要求進行了詳細描述,包括但不限于溫度變化速率、溫度均勻性等方面的要求。此外,還特別指出了當試驗箱內(nèi)放置了待測樣品后(即帶負載情況下),如何保證這些性能指標仍然能夠滿足要求的具體措施。
標準中進一步提出了關(guān)于溫度測量的具體指導(dǎo)原則與方法,比如使用何種類型的溫度傳感器、傳感器的布置位置等,并且給出了推薦的數(shù)據(jù)處理方式以確保結(jié)果準確可靠。同時,也強調(diào)了定期校準的重要性,以及如何通過一系列驗證步驟來確認試驗箱是否符合標準要求。
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- 2006-12-19 頒布
- 2007-09-01 實施
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GB/T 2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量-免費下載試讀頁文檔簡介
ICS19.040K04中華人民共和國國家標準GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量Enyironmentaltestsforelectricandelectronicproducts-MeasurementsintemperaturechambersfortestsAandtestsB(withload)(IEC60068-3-7:2001,Environmentaltesting-Part3-7:Supportingdocumentationandguidance--MeasurementsintemperaturechambersfortestsAandtestsB(withload),IDT)2006-12-19發(fā)布2007-09-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會
GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001三次前言::···范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語及定義4測量系統(tǒng)5溫度性能的測定6試驗程序7評定標準………8性能報告應(yīng)給出的信息
GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001前GB/T2424包含以下部分-GB/T2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗高溫低溫試驗導(dǎo)則(IEC60068-3-1:1978IDT)GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗濕熱試驗導(dǎo)則(IEC60068-3-4:2001.IDT)GB/T2424.5—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認(IEC60068-3-5:2001IDTGB/T2424.6—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度/濕度試驗箱性能確認(IEC60068-3-6:2001.IDT)GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測定(IEC60068-3-7:2001.IDT)GB/T2424.10—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則(eqvIEC60355:1971)GB/T2424.11-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和連接件的二氧化硫試驗導(dǎo)則GB/T2424.12-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和連接件的硫化氫試驗導(dǎo)則GB/T2424.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則(IEC60068-2-33:1971.IDT)GB/T2424.14—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則(idtIEC60068-2-9:1975)GB/T2424.15一1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則(eqvIEC60068-3-2:1976)GiB/T2424.17—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗:錫焊試驗導(dǎo)則GB/T2424.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗?zāi)M存影響的環(huán)境試驗導(dǎo)則(IEC6O0682-48:1982IDT)-B/T2424.20—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗導(dǎo)則GB/T2424.21—1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗導(dǎo)則GB/T2424.22—1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則(eqvIEC60068-2-53:1984)(B/T2424.23—1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程水試驗導(dǎo)則(B/T2424.24—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則GB/T2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第3部分:試驗導(dǎo)則地震試驗方法(idtIEC60068-3-3:1991本部分為GB/T2424第7部分.等同采用了國際標準IEC60068-3-7:2001《環(huán)境試驗第3-7部分:支持文件和導(dǎo)則試驗A和B溫度試驗箱(有負載)的測量》英文版)。考慮到我國實際情況,本部分對IEC60068-3-7做了以下編輯性修改:引用了采用國際標準的我國標準,并改變了排列順序;
GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001刪除了IEC60068-3-7的前言和引言:增加了國家標準的前言;-對標準中的圖表做了編輯性修改。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由廣州電器科學研究院負責起草本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC8)歸口.本部分主要起草人:顏景蓮、王玲。本部分為首次發(fā)布。
GB/T2424.7-2006/IEC60068-3-7:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量1范圍GB/T2424的本部分規(guī)定了一項統(tǒng)一的、可再現(xiàn)的方法,以確認其在有散熱性/非散熱性試驗樣品員載并且工作空間內(nèi)有空氣循環(huán)條件下,符合GB/T2423.1和(B/T2423.2氣候試驗規(guī)定的要求本方法主要適用于用戶進行常規(guī)的試驗箱性能監(jiān)測規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫(GB/T2423.1-2001.1EC60068-2-1:1990,IDT)GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗:第2部分:試驗方法試驗B:高溫(IEC60068-2-2:1974.IDT)GB/T2424.1—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗高溫低溫試驗導(dǎo)則(IEC60068-3-1:1974和IEC60068-3-1A:1978.IDT)GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認(IEC60068-3-5:2001.IDT)GB/T2424.6—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度/濕度試驗箱性能確認(IEC60068-3-6:2001,IDT)GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表(GB/T16839.1-1997.IEC60584-1:1995,IDT)TEC60751工業(yè)鉑電阻溫度計傳感器3術(shù)語及定義下列術(shù)語及定義適用于本部分試驗規(guī)范testspecirication適用于有/無強迫空氣循環(huán)的試驗程序.適合于各種尺寸的試驗箱注:表1匯總了GB/T2423.1及GB/T2423.2的試驗條件。3.2確認方法(方法1)conrirmationmethod(procedure1)為了確定試驗箱的性能是否符合GB/T2423.1試驗A和/或GB/T2423.2試
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