標準解讀
GB/T 25758.4-2010是關于無損檢測中工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性測量方法的標準之一,具體而言,該部分詳細規(guī)定了使用邊緣法來測定X射線源焦點尺寸的技術要求和試驗步驟。標準適用于各種類型的工業(yè)X射線發(fā)生裝置,包括固定式、移動式以及便攜式的X射線設備。
在內(nèi)容上,首先明確了術語定義,比如“有效焦點”指的是實際參與成像過程的那部分X射線源;而“邊緣”則指用于測試的有效區(qū)域邊界。接著,對試驗條件進行了描述,如環(huán)境溫度應在特定范圍內(nèi),并且需要保證被測X射線源處于正常工作狀態(tài)。
對于測量方法本身,標準提供了詳細的指導步驟:選擇合適的材料作為邊緣物體放置于X射線路徑中;調(diào)整好探測器與邊緣物體之間的相對位置后進行曝光;通過分析所得圖像中的陰影寬度變化來間接計算出焦點大小。此外,還特別強調(diào)了數(shù)據(jù)處理時應考慮的因素,例如幾何放大率的影響等。
最后,該標準也包含了質(zhì)量控制方面的建議,指出每次使用前都應對系統(tǒng)性能進行檢查,確保其符合預期的技術指標。同時,在報告結(jié)果時需包含所有相關的參數(shù)信息及可能影響測量準確性的任何因素說明。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2010-12-23 頒布
- 2011-10-01 實施
文檔簡介
犐犆犛19.100
犑04
中華人民共和國國家標準
犌犅/犜25758.4—2010
無損檢測工業(yè)犡射線系統(tǒng)焦點特性
第4部分:邊緣方法
犖狅狀犱犲狊狋狉狌犮狋犻狏犲狋犲狊狋犻狀犵—犆犺犪狉犪犮狋犲狉犻狊狋犻犮狊狅犳犳狅犮犪犾狊狆狅狋狊犻狀犻狀犱狌狊狋狉犻犪犾犡狉犪狔
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20101223發(fā)布20111001實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
書
犌犅/犜25758.4—2010
前言
GB/T25758《無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性》分為五個部分:
———第1部分:掃描方法;
———第2部分:針孔照相機射線照相方法;
———第3部分:狹縫照相機射線照相方法;
———第4部分:邊緣方法;
———第5部分:小焦點和微焦點X射線管的有效焦點尺寸的測量方法。
本部分為GB/T25758的第4部分。
本部分等同采用EN125434:1999《無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第4部分:邊緣方法》
(英文版)。
本部分等同翻譯EN125434:1999。
為便于使用,本部分作了下列編輯性修改:
———“本歐洲標準”一詞改為“本部分”;
———刪除EN標準的前言;
———用小數(shù)點“.”代替作為小數(shù)點的逗號“,”;
———用GB/T1.1—2000規(guī)定的引導語代替EN標準中的引導語。
本部分的附錄A為資料性附錄。
本部分由全國無損檢測標準化技術委員會(SAC/TC56)提出并歸口。
本部分起草單位:上海泰司檢測科技有限公司、上海英華無損檢測技術有限公司、上海材料研究所、
上海誠友實業(yè)有限公司、上海威誠邦達檢測技術有限公司、通用電氣傳感檢測科技(上海)有限公司、丹
東奧龍射線儀器有限公司、山東輕工業(yè)學院。
本部分主要起草人:孔凡琴、李博、章怡明、金宇飛、趙成、丁鳴華、李義彬、孫寶江。
Ⅰ
書
犌犅/犜25758.4—2010
引言
為了滿足焦點尺寸測量的不同需求,在GB/T25758.1~25758.5中,描述了五種不同的方法。
掃描方法(GB/T25758.1)適用于強度分布和焦點尺寸恒定的場合,例如用于校準及圖像處理
過程。
射線照相方法(GB/T25758.2與GB/T25758.3)是傳統(tǒng)的技術,以驗證為主要目的,適用于最高
至200kV的場合。
當針孔和狹縫照相機無法使用時,邊緣方法(GB/T25758.4)或許是有效的,這種方法適用于簡易
的場合。
為了兼顧到微焦點系統(tǒng),GB/T25758.5提出了一種特殊的方法。
Ⅱ
犌犅/犜25758.4—2010
無損檢測工業(yè)犡射線系統(tǒng)焦點特性
第4部分:邊緣方法
1范圍
GB/T25758的本部分規(guī)定了采用清晰邊緣的射線照相底片,來校驗管電壓最高至500kV的工業(yè)
X射線系統(tǒng)的大于0.5mm焦點尺寸的方法。
X射線圖像的像質(zhì)和分辨力很大程度上取決于焦點的特性。焦點成像質(zhì)量基于目標平面的二維強
度分布。
邊緣方法對于在現(xiàn)場條件下校驗焦點是特別有效,以發(fā)現(xiàn)焦點的變化。本方法不能用于焦點尺寸
的絕對測量。焦點尺寸的絕對測量方法見附錄A。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T25758的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文
件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成
協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本
部分。
GB/T19348.1無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分:工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類1)
(GB/T19348.1—2003,ISO116991:1998,IDT)
GB/T19802無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求(GB/T19802—2005,ISO5580:1985,
IDT)
GB/T25758.1無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第1部分:掃描方法(GB/T25758.1—
2010,EN125431:1999,IDT)
3術語和定義
下列術語和定義適用于GB/T25758的本部分。
3.1
焦點犳狅犮犪犾狊狆狅狋
從測量裝置中看到的X射線管陽極上的X射線發(fā)射區(qū)域。
[GB/T25758.1]
4測試方法
4.1原理和設備
本方法是通過測量幾何不清晰度來得到焦點尺寸的間接測量方法。為此,采用相對較高的幾何放
大倍率將清晰邊緣映像到膠片上。
測量中需要以下設備:
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