標準解讀

GB/T 25758.4-2010是關于無損檢測中工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性測量方法的標準之一,具體而言,該部分詳細規(guī)定了使用邊緣法來測定X射線源焦點尺寸的技術要求和試驗步驟。標準適用于各種類型的工業(yè)X射線發(fā)生裝置,包括固定式、移動式以及便攜式的X射線設備。

在內(nèi)容上,首先明確了術語定義,比如“有效焦點”指的是實際參與成像過程的那部分X射線源;而“邊緣”則指用于測試的有效區(qū)域邊界。接著,對試驗條件進行了描述,如環(huán)境溫度應在特定范圍內(nèi),并且需要保證被測X射線源處于正常工作狀態(tài)。

對于測量方法本身,標準提供了詳細的指導步驟:選擇合適的材料作為邊緣物體放置于X射線路徑中;調(diào)整好探測器與邊緣物體之間的相對位置后進行曝光;通過分析所得圖像中的陰影寬度變化來間接計算出焦點大小。此外,還特別強調(diào)了數(shù)據(jù)處理時應考慮的因素,例如幾何放大率的影響等。

最后,該標準也包含了質(zhì)量控制方面的建議,指出每次使用前都應對系統(tǒng)性能進行檢查,確保其符合預期的技術指標。同時,在報告結(jié)果時需包含所有相關的參數(shù)信息及可能影響測量準確性的任何因素說明。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2010-12-23 頒布
  • 2011-10-01 實施
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GB/T 25758.4-2010無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第4部分:邊緣方法_第1頁
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GB/T 25758.4-2010無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第4部分:邊緣方法_第3頁
GB/T 25758.4-2010無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第4部分:邊緣方法_第4頁
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GB/T 25758.4-2010無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第4部分:邊緣方法-免費下載試讀頁

文檔簡介

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犑04

中華人民共和國國家標準

犌犅/犜25758.4—2010

無損檢測工業(yè)犡射線系統(tǒng)焦點特性

第4部分:邊緣方法

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20101223發(fā)布20111001實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

犌犅/犜25758.4—2010

前言

GB/T25758《無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性》分為五個部分:

———第1部分:掃描方法;

———第2部分:針孔照相機射線照相方法;

———第3部分:狹縫照相機射線照相方法;

———第4部分:邊緣方法;

———第5部分:小焦點和微焦點X射線管的有效焦點尺寸的測量方法。

本部分為GB/T25758的第4部分。

本部分等同采用EN125434:1999《無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第4部分:邊緣方法》

(英文版)。

本部分等同翻譯EN125434:1999。

為便于使用,本部分作了下列編輯性修改:

———“本歐洲標準”一詞改為“本部分”;

———刪除EN標準的前言;

———用小數(shù)點“.”代替作為小數(shù)點的逗號“,”;

———用GB/T1.1—2000規(guī)定的引導語代替EN標準中的引導語。

本部分的附錄A為資料性附錄。

本部分由全國無損檢測標準化技術委員會(SAC/TC56)提出并歸口。

本部分起草單位:上海泰司檢測科技有限公司、上海英華無損檢測技術有限公司、上海材料研究所、

上海誠友實業(yè)有限公司、上海威誠邦達檢測技術有限公司、通用電氣傳感檢測科技(上海)有限公司、丹

東奧龍射線儀器有限公司、山東輕工業(yè)學院。

本部分主要起草人:孔凡琴、李博、章怡明、金宇飛、趙成、丁鳴華、李義彬、孫寶江。

犌犅/犜25758.4—2010

引言

為了滿足焦點尺寸測量的不同需求,在GB/T25758.1~25758.5中,描述了五種不同的方法。

掃描方法(GB/T25758.1)適用于強度分布和焦點尺寸恒定的場合,例如用于校準及圖像處理

過程。

射線照相方法(GB/T25758.2與GB/T25758.3)是傳統(tǒng)的技術,以驗證為主要目的,適用于最高

至200kV的場合。

當針孔和狹縫照相機無法使用時,邊緣方法(GB/T25758.4)或許是有效的,這種方法適用于簡易

的場合。

為了兼顧到微焦點系統(tǒng),GB/T25758.5提出了一種特殊的方法。

犌犅/犜25758.4—2010

無損檢測工業(yè)犡射線系統(tǒng)焦點特性

第4部分:邊緣方法

1范圍

GB/T25758的本部分規(guī)定了采用清晰邊緣的射線照相底片,來校驗管電壓最高至500kV的工業(yè)

X射線系統(tǒng)的大于0.5mm焦點尺寸的方法。

X射線圖像的像質(zhì)和分辨力很大程度上取決于焦點的特性。焦點成像質(zhì)量基于目標平面的二維強

度分布。

邊緣方法對于在現(xiàn)場條件下校驗焦點是特別有效,以發(fā)現(xiàn)焦點的變化。本方法不能用于焦點尺寸

的絕對測量。焦點尺寸的絕對測量方法見附錄A。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T25758的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本

部分。

GB/T19348.1無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分:工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類1)

(GB/T19348.1—2003,ISO116991:1998,IDT)

GB/T19802無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求(GB/T19802—2005,ISO5580:1985,

IDT)

GB/T25758.1無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第1部分:掃描方法(GB/T25758.1—

2010,EN125431:1999,IDT)

3術語和定義

下列術語和定義適用于GB/T25758的本部分。

3.1

焦點犳狅犮犪犾狊狆狅狋

從測量裝置中看到的X射線管陽極上的X射線發(fā)射區(qū)域。

[GB/T25758.1]

4測試方法

4.1原理和設備

本方法是通過測量幾何不清晰度來得到焦點尺寸的間接測量方法。為此,采用相對較高的幾何放

大倍率將清晰邊緣映像到膠片上。

測量中需要以下設備:

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