標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 25758.3-2010 無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性 第3部分：狹縫照相機(jī)射線照相方法》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，它詳細(xì)規(guī)定了使用狹縫照相機(jī)進(jìn)行工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性的測(cè)量方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于需要評(píng)估X射線管或X射線發(fā)生器產(chǎn)生輻射的幾何特性時(shí)的情況，尤其是當(dāng)這些特性對(duì)成像質(zhì)量有直接影響時(shí)。

根據(jù)這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)，狹縫照相機(jī)法是一種通過(guò)特定設(shè)計(jì)的裝置來(lái)測(cè)量X射線源焦點(diǎn)尺寸及其位置的方法。這種方法基于這樣一個(gè)原理：當(dāng)一束細(xì)長(zhǎng)的平行光（在這個(gè)情況下是由狹縫形成的X射線）穿過(guò)被測(cè)物體后，在探測(cè)器上形成的影像是由光源大小和形狀決定的。通過(guò)對(duì)這個(gè)影像進(jìn)行分析，可以反推出光源的具體參數(shù)，如實(shí)際焦點(diǎn)大小等信息。

標(biāo)準(zhǔn)中還提供了關(guān)于如何構(gòu)建適合于執(zhí)行此類(lèi)測(cè)試的實(shí)驗(yàn)設(shè)置指南，包括但不限于選擇合適的狹縫寬度、確定適當(dāng)?shù)姆糯蟊堵室约叭绾握_地放置試樣以獲得最佳結(jié)果等方面的內(nèi)容。此外，也明確了數(shù)據(jù)處理過(guò)程中的關(guān)鍵步驟和技術(shù)要求，比如圖像采集條件的選擇、數(shù)據(jù)分析軟件的應(yīng)用等，旨在確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

在整個(gè)過(guò)程中，遵循該標(biāo)準(zhǔn)指導(dǎo)的操作人員能夠更加科學(xué)合理地完成對(duì)工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性的評(píng)價(jià)工作，從而為后續(xù)可能涉及到的質(zhì)量控制活動(dòng)提供有力支持。


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GB/T 25758.3-2010無(wú)損檢測(cè)工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性第3部分：狹縫照相機(jī)射線照相方法_第1頁(yè)
GB/T 25758.3-2010無(wú)損檢測(cè)工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性第3部分：狹縫照相機(jī)射線照相方法_第2頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

ICS19.100J04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T25758.3-2010無(wú)損檢測(cè)工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性第3部分:狹縫照相機(jī)射線照相方法Non-destructivetesting--CharacteristicsoffocalspotsinindustrialX-raysystemsforuseinnon-destructivetesting-Part3：Slitcameraradiographicmethod2010-12-23發(fā)布2011-10-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T25758.3-2010前GB/T25758《無(wú)損檢測(cè)」工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性》分為五個(gè)部分第1部分：掃描方法；-第2部分：針孔照相機(jī)射線照相方法；第3部分：狹縫照相機(jī)射線照相方法；第第4部分：邊緣方法：第第5部分：小焦點(diǎn)和微焦點(diǎn)X射線管的有效焦點(diǎn)尺寸的測(cè)量方法。本部分為GB/T25758的第3部分。工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性本部分等同采用EN12543-3:1999《無(wú)損檢測(cè)第3部分：狹縫照相機(jī)射線照相方法》英文版)。本部分等同翻譯EN12543-3:1999.為便于使用，本部分作了下列編輯性修改：“本歐洲標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為"本部分"；刪除EN標(biāo)準(zhǔn)的前言；用小數(shù)點(diǎn)"."代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號(hào)",”；-用GB/T1.1-2000規(guī)定的引導(dǎo)語(yǔ)代替EN標(biāo)準(zhǔn)中的引導(dǎo)語(yǔ)本部分的附錄A為資料性附錄。本部分由全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC56)提出并歸口本部分起草單位：上海泰司檢測(cè)科技有限公司、上海英華無(wú)損檢測(cè)技術(shù)有限公司、上海材料研究所、上海誠(chéng)友實(shí)業(yè)有限公司、上海威誠(chéng)邦達(dá)檢測(cè)技術(shù)有限公司、通用電氣傳感檢測(cè)科技(上海)有限公司、丹東奧龍射線儀器有限公司、山東輕工業(yè)學(xué)院。本部分主要起草人：孔凡琴、李博、章怡明、金宇飛、趙成、丁鳴華、李義彬、孫寶江。

GB/T25758.3-2010為了滿足焦點(diǎn)尺寸測(cè)量的不同需求,在GB/T25758.1～25758.5中，描述了五種不同的方法.掃描方法(GB/T25758.1)適用于強(qiáng)度分布和焦點(diǎn)尺寸恒定的場(chǎng)合，例如用于校準(zhǔn)及圖像處理過(guò)程射線照相方法（GB/T25758.2與GB/T25758.3)是傳統(tǒng)的技術(shù)，以驗(yàn)證為主要目的.適用于最高至200kV的場(chǎng)合。當(dāng)針孔和狹縫照相機(jī)無(wú)法使用時(shí),邊緣方法（GB/T25758.4)或許是有效的，這種方法適用于簡(jiǎn)易的場(chǎng)合。為了兼顧到微焦點(diǎn)系統(tǒng),GB/T25758.5提出了一種特殊的方法。

GB/T25758.3-2010無(wú)損檢測(cè)工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性第3部分:狹縫照相機(jī)射線照相方法1范圍GB/T25758的本部分規(guī)定了采用狹縫照相機(jī)射線照相方法·來(lái)測(cè)量管電壓最高至500kV的工業(yè)X射線系統(tǒng)的大于0.1mm焦點(diǎn)尺寸的方法。本部分中測(cè)量所用的電壓限于200kVX射線圖像的像質(zhì)和分辨力很大程度上取決于焦點(diǎn)的特性,尤其是尺寸和二維強(qiáng)度分布。商用X射線管類(lèi)型(例如在廣告或貿(mào)易中)的特性，宜首先考虐附錄A所給出的最大值。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T25758的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T19348.1無(wú)損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類(lèi)?。℅B/T19348.1-2003.1SO11699-1:2008,IDT）GB/T25758.1無(wú)損檢測(cè)工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性第1部分：掃描方法（GB/T25758.1-2010.EN12543-1:1999.IDT)3術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于GB/T25758的本部分3.1焦點(diǎn)focalspot從測(cè)量裝置中看到的X射線管陽(yáng)極上的X射線發(fā)射區(qū)域LGB/T25758.1測(cè)試設(shè)備4.1陜縫照相機(jī)狹縫照相機(jī)應(yīng)由一塊狹縫試塊組成，試塊尺寸見(jiàn)圖1獲縫試塊應(yīng)采用或類(lèi)似的具有吸收性能的材料來(lái)制作.4.2陜縫照相機(jī)的對(duì)準(zhǔn)和位置射線束方向與狹縫對(duì)稱(chēng)軸的夾角(見(jiàn)圖2)應(yīng)小于3"。當(dāng)與圖2有偏差時(shí)·應(yīng)指明主射線束的方向.狹縫的人射面應(yīng)與焦點(diǎn)保持距離,以確保實(shí)際焦點(diǎn)范圍在射線束方向上的放大倍率變化不超過(guò)主5%，見(jiàn)圖3，相關(guān)公式如下：1/m=EM/（m+6)二0.95Em/(m

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