標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 25897-2010 超導(dǎo)電性:鈮-鈦復(fù)合超導(dǎo)體剩余電阻比測(cè)定》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),它詳細(xì)規(guī)定了鈮-鈦復(fù)合超導(dǎo)體材料的剩余電阻比(RRR)測(cè)量方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各類鈮-鈦合金線材及帶材,在低溫條件下表現(xiàn)出超導(dǎo)性質(zhì)時(shí)其正常態(tài)電阻與超導(dǎo)態(tài)電阻之比值的測(cè)試。標(biāo)準(zhǔn)中明確了樣品制備、測(cè)試設(shè)備要求、環(huán)境條件控制以及具體實(shí)驗(yàn)步驟等關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
在樣品制備方面,要求使用具有代表性的試樣,并對(duì)試樣的尺寸、形狀進(jìn)行了限定;同時(shí)強(qiáng)調(diào)了表面處理的重要性,以減少接觸電阻的影響。對(duì)于測(cè)試裝置,則需具備精確測(cè)量微小電阻變化的能力,通常采用四端法或類似技術(shù)來提高精度和可靠性。此外,還特別指出了溫度控制的重要性,確保在整個(gè)測(cè)量過程中能夠準(zhǔn)確地達(dá)到并維持預(yù)定的低溫狀態(tài)。
整個(gè)測(cè)量過程包括將樣品冷卻至液氦溫度以下,然后逐步升溫并記錄不同溫度點(diǎn)下的電阻值。通過對(duì)比樣品在特定高溫(如300K)與臨界轉(zhuǎn)變溫度附近的電阻值,可以計(jì)算出剩余電阻比。這一參數(shù)反映了材料純度及其加工質(zhì)量,是評(píng)價(jià)鈮-鈦復(fù)合超導(dǎo)體性能的重要指標(biāo)之一。
標(biāo)準(zhǔn)還提供了數(shù)據(jù)處理方法指導(dǎo),比如如何選取合適的溫度區(qū)間進(jìn)行分析、怎樣校正由于引線等因素引入的誤差等。這些細(xì)節(jié)對(duì)于保證測(cè)量結(jié)果的一致性和可比性至關(guān)重要。
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- 2011-01-10 頒布
- 2011-05-01 實(shí)施
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GB/T 25897-2010超導(dǎo)電性:鈮-鈦復(fù)合超導(dǎo)體剩余電阻比測(cè)定-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS77.040.01CCSH21中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T25897—2010/IEC61788-4:2007超導(dǎo)電性:銀-鈦復(fù)合超導(dǎo)體剩余電阻比測(cè)定Superconductivity:ResidualresistanceratiomeasurementofNb-Ticompositesuperconductors(IEC61788-4:2007,Superconductivity-Part4:Residualresistanceratiomeasurement--ResidualresistanceratioofNb-Ticompositesuperconductors,IDT)2011-01-10發(fā)布2011-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T25897-2010/IEC61788-4:2007次前言引言1范圍規(guī)范性引用文件3術(shù)語(yǔ)和定義4要求5實(shí)驗(yàn)裝置樣品制備數(shù)據(jù)采集和分析8測(cè)試方法的不確定度和穩(wěn)定性9測(cè)試報(bào)告附錄A(資料性附錄)有關(guān)利余電阻比(RRR)測(cè)試的信息附錄B(資料性附錄)統(tǒng)計(jì)術(shù)語(yǔ)參考文獻(xiàn)
GB/T25897-2010/IEC61788-4:2007前本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草本標(biāo)準(zhǔn)采用翻譯法等同采用IEC61788-4:2007(Ed.2)《銀-鈦復(fù)合超導(dǎo)體剝余電阻比測(cè)定》。本標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容上與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)完全一致.只是按照GB/T1.1—2009的要求對(duì)附錄A中A.2中的項(xiàng)目編號(hào)做了編輯性修改。與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下:GB/T13811-2003電工術(shù)語(yǔ)超導(dǎo)電性(IEC60050-815:2000.MOD)本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)超導(dǎo)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC265)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:北京有色金屬研究總院。本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:中國(guó)科學(xué)院物理研究所、西北有色金屬研究院、中國(guó)科學(xué)院電工研究所、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:華崇遠(yuǎn)、劉宜平、劉向宏、劉智敏、惠東
GB/T25897-2010/IEC61788-4:2007關(guān)于-鈦復(fù)合超導(dǎo)體剩余電阻比測(cè)定的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)已建立和出版。隨著國(guó)內(nèi)生產(chǎn)餛-鈦復(fù)合超導(dǎo)材料的專業(yè)超導(dǎo)公司的成立和發(fā)展,以及-鈦復(fù)合超導(dǎo)材料領(lǐng)域內(nèi)中國(guó)和國(guó)外公司間貿(mào)易量的增加.為促進(jìn)國(guó)內(nèi)超導(dǎo)材料的研究、生產(chǎn)及國(guó)內(nèi)外貿(mào)易的發(fā)展,需要建立起和國(guó)際接軌的關(guān)于銀-鈦復(fù)合超導(dǎo)體剝余電阻比測(cè)定的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。在多芯復(fù)合超導(dǎo)體中.銅既被用作基體材料.同時(shí)又作為一種穩(wěn)定化材料。當(dāng)超導(dǎo)體局部失超時(shí)·它可起分流作用,并能把超導(dǎo)體內(nèi)產(chǎn)生的熱量傳到周圍的制冷劑中.從而使超導(dǎo)體有可能恢復(fù)其超導(dǎo)性。因此在極低溫度下銅的電阻率是復(fù)合超導(dǎo)材料的一個(gè)重要特性指標(biāo).它關(guān)系到超導(dǎo)材料的穩(wěn)定性剝余電阻比定義為復(fù)合超導(dǎo)體在室溫時(shí)的電阻與剛超過臨界溫度處的電阻之比。由于室溫時(shí)純銅的電阻率不會(huì)有很大的變化.因而剩余電阻比實(shí)際上很好地反映了銅在4.2K附近的電阻率情況和超導(dǎo)體材料的穩(wěn)定性。本標(biāo)準(zhǔn)說明了銀-鈦復(fù)合超導(dǎo)體利余電阻比測(cè)定的方法。剛超過臨界溫度處復(fù)合超導(dǎo)體的電阻使用曲線法進(jìn)行測(cè)量。該電阻的其他測(cè)量方法在附錄A.4中說明。
GB/T25897-2010/IEC61788-4:2007超導(dǎo)電性:鋸-鈦復(fù)合超導(dǎo)體剝余電阻比測(cè)定1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了由銅、銅-鎳(Cu、Cu-Ni)或銅/銅-鎳(Cu/Cu-Ni)基體和-鈦(Nb-Ti)芯絲組成的復(fù)合超導(dǎo)體的剩余電阻比(RRR)測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于在無外加磁場(chǎng)的條件下,對(duì)剩余電阻比低于350、橫截面小于3mm2、具有矩形或圓型橫截面的一體化超導(dǎo)線”進(jìn)行剝余電阻比的測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)正文中描述的是剝余電阻比測(cè)量的主要參照方法,而其他一些可選擇的測(cè)量方法在A.4中概述。2規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。IEC60050-815國(guó)際電工詞匯(IEV)第815部分:超導(dǎo)電性(InternationalElectrotechnicalVocabulary-Part815:Superconductivity)3術(shù)語(yǔ)和定義IEC60050-815界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件剩余電阻比residualresistanceratioRRR超導(dǎo)體在室溫時(shí)的電阻和剛超過臨界溫度處的電阻之比。對(duì)鋸-鈦(Nb-Ti)復(fù)合超導(dǎo)體而言,室溫電阻規(guī)定為20℃時(shí)的電阻。復(fù)合超導(dǎo)體的剩余電阻比應(yīng)按式(1)計(jì)算。:·················(1)式中R復(fù)合超導(dǎo)體在20℃時(shí)的電阻;復(fù)合超導(dǎo)體剛超過臨界溫度處的電阻圖1簡(jiǎn)示了在低溫下測(cè)量樣品電阻隨溫度的變化曲線。在此
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