標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 32872-2016 空間科學(xué)照明用LED篩選規(guī)范》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)之一,主要針對空間科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)使用的發(fā)光二極管(LED)燈具制定了詳細(xì)的篩選標(biāo)準(zhǔn)與方法。該標(biāo)準(zhǔn)旨在確保用于航天器內(nèi)部或外部照明的LED產(chǎn)品能夠滿足特定環(huán)境下的性能要求,包括但不限于可靠性、穩(wěn)定性以及適應(yīng)太空極端條件的能力。
根據(jù)文檔內(nèi)容,其覆蓋了從LED的選擇到最終應(yīng)用前測試驗(yàn)證整個過程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。具體來說,首先定義了適用于本標(biāo)準(zhǔn)的術(shù)語和定義,明確了“空間科學(xué)照明”、“LED”等概念;接著提出了對LED的基本要求,如工作溫度范圍、輻射特性、電學(xué)參數(shù)等;然后詳細(xì)列出了篩選流程,包括初步篩選、詳細(xì)篩選及最終確認(rèn)三個階段,并且為每個階段設(shè)定了明確的操作指南和技術(shù)指標(biāo);此外還規(guī)定了一系列實(shí)驗(yàn)方法來檢驗(yàn)LED在模擬太空環(huán)境下是否能夠正常運(yùn)作,比如耐高溫/低溫測試、抗輻照試驗(yàn)等;最后附錄部分提供了參考信息,幫助使用者更好地理解和執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)條款。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2016-08-29 頒布
- 2016-11-01 實(shí)施
文檔簡介
ICS31080
L53.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T32872—2016
空間科學(xué)照明用LED篩選規(guī)范
ScreeningspecificationsforilluminationLEDsinspacesciences
2016-08-29發(fā)布2016-11-01實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T32872—2016
目次
前言
…………………………Ⅰ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
總則
3………………………1
篩選項(xiàng)目和程序
4…………………………1
篩選方法
5…………………2
外觀檢查
5.1……………2
參數(shù)測量
5.2……………2
恒定加速度
5.3…………………………2
粒子碰撞噪聲檢測
5.4…………………2
密封性檢查
5.5…………………………3
高溫存儲
5.6……………3
溫度沖擊
5.7……………3
低溫啟動
5.8……………3
溫度循環(huán)
5.9……………4
老煉
5.10…………………4
參數(shù)終測
5.11……………4
參數(shù)測量和合格判定
6……………………4
測量條件
6.1……………4
測試參數(shù)
6.2……………5
測試方法
6.3……………5
合格判定
6.4……………6
附錄資料性附錄空間科學(xué)照明用篩選統(tǒng)計(jì)表
A()LED………………7
GB/T32872—2016
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國空間科學(xué)及其應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC312)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所
:。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人張濤章美敏劉石神顧建忠袁士東王晨飛
:、、、、、。
Ⅰ
GB/T32872—2016
空間科學(xué)照明用LED篩選規(guī)范
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了空間科學(xué)照明用篩選項(xiàng)目和程序篩選方法參數(shù)測量
LED(LightEmittingDiode)、、
和合格判定
。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于空間科學(xué)照明用額定功率和以上封裝的單芯的篩選其他功率級別
1W1WLED,
的也可參照執(zhí)行
LED。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
普通照明用模塊測試方法
GB/T24824—2009LED
半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
GJB128A—1997
軍用電子元器件破壞性物理分析方法
GJB4027
3總則
31被篩選器件應(yīng)按產(chǎn)品規(guī)范或技術(shù)協(xié)議的要求進(jìn)行參數(shù)初測合格的器件可參加篩選篩選按規(guī)定
.,。
的項(xiàng)目和程序進(jìn)行完成每個項(xiàng)目之后剔除不合格產(chǎn)品
,,。
32被篩選器件應(yīng)逐個編號并在每次測試時記錄測試數(shù)據(jù)篩選結(jié)束后應(yīng)編寫篩選統(tǒng)計(jì)表格式參
.,。,,
見附錄器件的參數(shù)測試數(shù)據(jù)可作為篩選報(bào)告的附件
A,。
33測試如有異常應(yīng)記錄異常的發(fā)生時間和器件編號
.,。
34當(dāng)篩選剔除率超過時應(yīng)判批次不合格當(dāng)出現(xiàn)功能失效時應(yīng)按照進(jìn)行失效分
.20%,。,GJB4027
析如屬于材料或工藝因素的非偶然性失效也應(yīng)判批次性不合格
,。
4篩選項(xiàng)目和程序
篩選按表規(guī)定的項(xiàng)目和程序進(jìn)行完成每個項(xiàng)目之后剔除不合格產(chǎn)品
1,,。
表1篩選項(xiàng)目和程序
序號篩選項(xiàng)目篩選方法
外觀檢查見
15.1
參數(shù)測量
溫馨提示
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