標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 38094-2019 搪瓷制品和瓷釉 缺陷檢測及定位的低電壓試驗(yàn)》是一項國家標(biāo)準(zhǔn),旨在通過使用低電壓的方法來檢測搪瓷制品及其表面瓷釉層中存在的缺陷,并確定這些缺陷的具體位置。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各類搪瓷產(chǎn)品,包括但不限于廚具、浴室設(shè)備以及其他家用或工業(yè)用搪瓷制品。
根據(jù)這項標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)行測試時首先需要準(zhǔn)備適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)設(shè)備,主要包括能夠提供穩(wěn)定低壓電源的裝置以及用于觀察并記錄測試結(jié)果的相關(guān)儀器。此外,還需確保被測樣品處于干凈、干燥的狀態(tài)下,以避免外部因素干擾測試準(zhǔn)確性。
在實(shí)際操作過程中,將待檢測的搪瓷制品連接到電源上,然后逐漸增加施加于其上的電壓直至達(dá)到預(yù)設(shè)值(通常不超過安全范圍內(nèi)的較低水平)。在此期間密切監(jiān)控任何異?,F(xiàn)象如火花放電等,因?yàn)檫@可能表明存在裂紋或其他類型的損壞區(qū)域。一旦發(fā)現(xiàn)疑似缺陷點(diǎn),則應(yīng)進(jìn)一步采用更精確的方法對其進(jìn)行詳細(xì)檢查與分析。
整個試驗(yàn)過程需嚴(yán)格按照規(guī)范要求執(zhí)行,包括但不限于控制環(huán)境條件(溫度、濕度)、選擇合適的電壓參數(shù)、正確安裝樣品等步驟。同時,在完成所有必要的測試后,還需要對所收集的數(shù)據(jù)進(jìn)行整理分析,并據(jù)此做出最終判斷——即確認(rèn)是否存在缺陷以及它們的確切位置。
該標(biāo)準(zhǔn)為搪瓷行業(yè)提供了一個科學(xué)有效的方法來保證產(chǎn)品質(zhì)量,有助于提高生產(chǎn)效率同時減少因質(zhì)量問題導(dǎo)致的成本浪費(fèi)。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2019-10-18 頒布
- 2020-05-01 實(shí)施
文檔簡介
ICS2522050
Y26..
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T38094—2019/ISO82892000
:
搪瓷制品和瓷釉
缺陷檢測及定位的低電壓試驗(yàn)
Vitreousandporcelainenamels—
Lowvoltagetestfordetectingandlocatingdefects
(ISO8289:2000,IDT)
2019-10-18發(fā)布2020-05-01實(shí)施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T38094—2019/ISO82892000
:
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用搪瓷制品和瓷釉缺陷檢測及定位的低電壓試驗(yàn)
ISO8289:2000《》。
與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下
:
原電池第部分外形尺寸和電性能要求
———GB/T8897.2—20132:(IEC60086-2:2011,MOD)。
本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改
:
為便于使用電導(dǎo)率的單位表述修改為國際通用單位數(shù)值不變
———,,(5.2)。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國輕工業(yè)聯(lián)合會提出并歸口
。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位東華大學(xué)國家眼鏡玻璃搪瓷制品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心上海市眼鏡玻璃搪瓷產(chǎn)品
:、、
質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)站
。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人徐曉健戴琦吳嘉許王賀蘭張國琇張尼尼徐張倩龔苗
:、、、、、、、。
Ⅰ
GB/T38094—2019/ISO82892000
:
搪瓷制品和瓷釉
缺陷檢測及定位的低電壓試驗(yàn)
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了兩種低電壓試驗(yàn)適用于搪瓷瓷層和金屬基板缺陷的檢測
,。
方法是一種基于電學(xué)或電聲學(xué)的快速測試方法可基本確定缺陷位置適用于平面試樣的檢測
A,,;
方法是一種基于顏色效應(yīng)的光學(xué)測試方法可精確確定缺陷位置適用于較復(fù)雜形狀試樣的檢測
B,,。
注1選擇正確的測試方法對于區(qū)分由方法測得的電導(dǎo)增強(qiáng)的區(qū)域與由兩種方法測得的延伸至金屬基板的針孔
:B
是重要的
。
注2低電壓試驗(yàn)是一種搪瓷缺陷檢測的非破壞性方法它完全不同于高電壓試驗(yàn)方法兩種試驗(yàn)方法的測試結(jié)果
:,,
不具有可比性
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
原電池第部分規(guī)格說明
IEC60086-22:(Primarybatteries—Part2:Specificationsheets)
3術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本文件
。
31
.
缺陷defect
來自金屬基板的氣孔開裂或爆瓷
、。
注搪瓷制品在生產(chǎn)過程中產(chǎn)生某些缺陷如燒具痕等是難以避免的
:()。
4原理
方法使用電學(xué)或電聲學(xué)的方法檢測缺陷方法使用基于顏色效應(yīng)的光學(xué)方法檢測缺陷通過
A,B。
使搪瓷制品的缺陷與導(dǎo)電溶液相接觸在低電壓條件下進(jìn)行試驗(yàn)
,。
5試驗(yàn)溶液
將亞硝酸鈉溶解在的自來水中再加入滴液體洗滌劑
3.0g±0.1g100mL,2。
如果想用目測觀察缺陷即使用基于顏色效應(yīng)的方法需在溶液中添加酚酞乙醇溶液要
,B,4mL(
求酚酞的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為
0.5%)。
警示———使用亞硝酸鈉和酚酞溶液時應(yīng)特別小心
。
若試樣試驗(yàn)之后不再涂搪除亞硝酸鈉溶液外也可使用替代試驗(yàn)溶液其他水溶性鹽類鹽類的
,,
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