標準解讀

《GB/T 5594.5-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 體積電阻率測試方法》是中國國家標準之一，該標準規(guī)定了用于測量電子元器件中結(jié)構(gòu)陶瓷材料體積電阻率的方法。體積電阻率是衡量材料導電能力的一個重要參數(shù)，在電子工業(yè)中對于選擇合適的絕緣材料具有重要意義。

根據(jù)此標準，測試應在特定條件下進行，包括溫度和濕度控制等環(huán)境因素，以確保結(jié)果的一致性和可比性。測試前需對樣品進行預處理，比如清潔表面去除油污或其他雜質(zhì)，這有助于減少外部因素對測量結(jié)果的影響。此外，標準還詳細描述了如何制備試樣以及推薦的尺寸范圍，確保不同實驗室之間能夠采用相同或相似條件下的樣本進行比較研究。

測量過程中使用的是兩電極法或者四電極法。其中，四電極法被認為更加準確可靠，因為它可以有效消除接觸電阻帶來的誤差。在施加一定電壓后，通過精密儀器記錄下通過樣品的電流值，再利用歐姆定律計算出電阻值。最后，結(jié)合已知的試樣幾何尺寸（長度、橫截面積），即可得出體積電阻率的具體數(shù)值。

整個實驗流程強調(diào)了操作規(guī)范性和數(shù)據(jù)處理準確性的重要性，并提供了詳細的步驟指導和技術要求，旨在為相關領域的研究人員和技術人員提供一個統(tǒng)一的標準參考框架。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權發(fā)布的權威標準文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1985-11-27 頒布
  • 1986-12-01 實施
?正版授權
GB/T 5594.5-1985電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法體積電阻率測試方法_第1頁
GB/T 5594.5-1985電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法體積電阻率測試方法_第2頁
免費預覽已結(jié)束，剩余6頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 5594.5-1985電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法體積電阻率測試方法-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.315.612：621.382/.387：620.1中華人民共和國國家標準GB5594.5-85電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法體積電阻率測試方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodforvolumeresistivity1985-11-27發(fā)布1986-12-01實施：標淮國同家批準

中華人民共和國國家標準電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料UDC621.315.612：621.382性能測試方法1.387:620.1GB5594.5-85體積電阻率測試方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodforvolumeresistivity本標準適用于電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷在室溫至500℃范圍體積電阻率的測定。測試原理陶瓷材料的體積電阻率是表征其絕緣性能的參數(shù)，其值為試樣體積電流方向的直流電場強度與該處電流密度之比。當試樣面積為4，試樣厚度為，其體積電阻值為R，，則體積電阻率“為：·····…···…···（1）陶瓷材料一般具有負的電阻溫度系數(shù)，其電阻率隨溫度的升高而下降。2試樣制備2.11按GB5593一85《電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料》的要求選取試樣。2.2將試樣進行清洗、下燥處理。2.3在試樣的兩平面上按GB5593一85表2和本標準圖1所示燒滲層銀電極。4-525±0.5一620±0.5635±1圖1測試樣品示意圖一測電極；2一絕緣間距

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用，未經(jīng)授權，嚴禁復制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡傳播等，侵權必究。
  • 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。?，因數(shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務。
  • 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質(zhì)量問題。

最新文檔

評論

0/150

提交評論