• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2006-12-08 頒布
  • 2007-03-08 實施
?正版授權(quán)
JJG 1015-2006通用數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)_第1頁
JJG 1015-2006通用數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)_第2頁
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程

JJG1015—2006

通用數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)

GeneralDigitalIntegratedCircuitTestingSystem

2006-12-08發(fā)布2007-03-08實施

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

JJG1015—2006

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通用數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)??????????????

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?JJG10152006?

檢定規(guī)程?—?

?????????????

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VerificationRegulationofGeneralDigital

IntegratedCircuitTestingSystem

本規(guī)程經(jīng)國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局年月日批準(zhǔn)并自

2006128,

年月日起實施

200738。

歸口單位:全國無線電計量技術(shù)委員會

起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

本規(guī)程委托全國無線電計量技術(shù)委員會負責(zé)解釋

JJG1015—2006

本規(guī)程主要起草人:

陳大為信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

吳京燕信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

參加起草人:

周旭信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

王酣信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

JJG1015—2006

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文件………………

2(1)

概述……………………

3(1)

計量性能要求…………

4(1)

器件電源……………

4.1(1)

精密測量單元………………………

4.2(2)

驅(qū)動單元……………

4.3(2)

比較單元……………

4.4(2)

系統(tǒng)時鐘……………

4.5(2)

通用技術(shù)要求…………

5(2)

計量器具控制…………

6(2)

檢定條件……………

6.1(2)

檢定項目及檢定方法………………

6.2(3)

檢定結(jié)果的處理……………………

6.3(10)

檢定周期……………

6.4(10)

附錄數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)檢定證書及檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁格式……………

A(11)

JJG1015—2006

通用數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)檢定規(guī)程

1范圍

本規(guī)程適用于數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)包括混合集成電路及存貯器測試系統(tǒng)的數(shù)字

,

部分的首次檢定后續(xù)檢定和使用中檢驗

、。

2引用文件

測量不確定度評定與表示

JJF1059—1999《》

注使用本規(guī)程時應(yīng)注意使用上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本

:,。

3概述

通用數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)測試對象是數(shù)字邏輯集成電路器件可用于圓晶片的測

。

試和封裝后的器件測試及產(chǎn)品檢驗分析篩選等測試典型結(jié)構(gòu)由驅(qū)動比較單元

、、。/、

圖形發(fā)生器時鐘發(fā)生器精密測量單元器件電源及控制單元組成混合電路測試系

、、、。

統(tǒng)及存貯器測試系統(tǒng)中的數(shù)字測試單元與數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)基本一致對于它

。

們的數(shù)字測試單元的檢定等同于通用數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)以下為數(shù)字信號測試系統(tǒng)

結(jié)構(gòu)示意圖

。

圖集成電路測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖

1

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