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文檔簡(jiǎn)介

第三章

原子發(fā)射光譜分析法一、概述二、原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生三、譜線強(qiáng)度四、譜線自吸與自蝕第一節(jié)

原子發(fā)射光譜分析基本原理2023/2/6Varian710—ES全譜直讀電感耦合等離子發(fā)射光譜儀

2023/2/6一、概述

原子發(fā)射光譜分析法(AES):依據(jù)各種元素的原子或離子在熱激發(fā)或電激發(fā)下,由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),返回到基態(tài)時(shí),發(fā)射出特征光譜,依據(jù)特征光譜進(jìn)行定性、定量的分析方法。1826年,泰爾博(Talbot),

第一個(gè)建立原子特征譜線的概念,光譜化學(xué)分析的奠基人。1859年,基爾霍夫(Kirchhoff)、本生(Bunsen)研制第一臺(tái)光譜儀,原子發(fā)射光譜進(jìn)入定性分析階段。1920年,格拉赫(Gerlach)

提出了內(nèi)標(biāo)法,奠定了定量分析的基礎(chǔ)。1930年,工作曲線法的提出使得光譜定量分析趨于完善2023/2/6一、概述1931年,出現(xiàn)了直流電弧光源。1933年,出現(xiàn)了火花光源。1938年,出現(xiàn)了高壓交流電弧。1945年,光電直讀光譜儀。70年代,ICP光源的出現(xiàn),使得原子發(fā)射光譜分析煥發(fā)了青春,成為痕量分析最有力的工具之一。

2023/2/6二、原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生在正常狀態(tài)下,元素處于基態(tài),元素在受到熱(火焰)或電(電火花)激發(fā)時(shí),由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),返回到基態(tài)時(shí),發(fā)射出特征光譜(線狀光譜);特征輻射基態(tài)元素M激發(fā)態(tài)M*熱能、電能E2023/2/6必須明確如下幾個(gè)問題:

(1)原子中外層電子能級(jí)分布是量子化的,△E不是連續(xù)的,則λ或ν也是不連續(xù)的,原子光譜是線光譜;(2)同一原子中,電子能級(jí)很多,有各種不同的能級(jí)躍遷,所以有各種△E不同的值,即可以發(fā)射出許多不同λ或ν的輻射線。但躍遷要遵循“光譜選律”,不是任何能級(jí)之間都能發(fā)生躍遷;二、原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生2023/2/6(3)不同元素的原子具有不同的能級(jí),△E不一樣,所以λ或ν也不同,各種元素都有其特征的光譜線,從識(shí)別各元素的特征光譜線可以鑒定樣品中元素的存在,這就是光譜定性分析;(4)元素特征譜線的強(qiáng)度與樣品中該元素的含量有確定的關(guān)系,所以可通過測(cè)定譜線的強(qiáng)度確定元素在樣品中的含量,這就是光譜定量分析。二、原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生2023/2/6有關(guān)術(shù)語(yǔ)共振線:原子中外層電子從基態(tài)被激發(fā)到激發(fā)態(tài)后,由該激發(fā)態(tài)躍遷回基態(tài)所發(fā)射出來的輻射線。第一共振線:由最低激發(fā)態(tài)(第一激發(fā)態(tài))躍遷回基態(tài)所發(fā)射的輻射線,通常把第一共振線稱為共振線。

原子線:

由原子外層電子被激發(fā)到高能態(tài)后躍遷回基態(tài)或較低能態(tài),所發(fā)射的譜線稱為原子線,在譜線表圖中用羅馬字“Ⅰ”表示。離子線:

離子也可能被激發(fā),其外層電子躍遷也發(fā)射光譜,稱為離子線。

Ⅱ:表示一次電離離子發(fā)射的譜線;

Ⅲ:表示二次電離離子發(fā)射的譜線;2023/2/6

Na能級(jí)圖

由各種高能級(jí)躍遷到同一低能級(jí)時(shí)發(fā)射的一系列光譜線;

Na的原子線和共振線。3S3P3d4S4P5S原子線共振線3S2023/2/6三譜線強(qiáng)度

在高溫下,熱力學(xué)平衡狀態(tài)時(shí),單位體積的基態(tài)原子數(shù)N0與激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni

之間遵守Boltzmann分布定律,即在i,j兩能級(jí)間躍遷,譜線強(qiáng)度可表示為:

Aij

為躍遷幾率即發(fā)射譜線強(qiáng)度I正比于激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni,即正比于基態(tài)原子N0

,這就是定量分析依據(jù)。2023/2/6四、譜線的自吸與自蝕等離子體:以氣態(tài)形式存在的包含分子、離子、電子等粒子的整體電中性集合體。等離子體內(nèi)溫度和原子濃度的分布不均勻,中間的溫度、激發(fā)態(tài)原子濃度高,邊緣反之。自吸:中心發(fā)射的輻射被邊緣的同種基態(tài)原子吸收,使輻射強(qiáng)度降低的現(xiàn)象。元素濃度低時(shí),不出現(xiàn)自吸。隨濃度增加,自吸越嚴(yán)重,當(dāng)達(dá)到一定值時(shí),譜線中心完全吸收,如同出現(xiàn)兩條線,這種現(xiàn)象稱為自蝕。譜線表,r:自吸;R:自蝕;2023/2/6第三章

原子發(fā)射光譜分析法一、光源二、分光系統(tǒng)三、檢測(cè)器第二節(jié)

原子發(fā)射光譜分析儀器類型與結(jié)構(gòu)流程2023/2/613原子發(fā)射光譜分析的三個(gè)主要過程:

樣品蒸發(fā)、原子化,原子激發(fā)并產(chǎn)生光輻射。

分光,形成按波長(zhǎng)順序排列的光譜。

檢測(cè)光譜中譜線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度。

原子發(fā)射光譜儀方框圖光源分光系統(tǒng)檢測(cè)器2023/2/6一、光源光源的作用:提供能量使樣品蒸發(fā),形成氣態(tài)原子,并進(jìn)一步使氣態(tài)原子激發(fā)而產(chǎn)生光輻射。蒸發(fā):使試樣中各種元素從試樣中蒸發(fā)出來,在分析間隙形成原子蒸氣云(原子化)。激發(fā):使蒸氣云中的氣態(tài)原子(或離子)獲得能量而被激發(fā),當(dāng)激發(fā)態(tài)的原子(或離子)躍遷至基態(tài)(或較低激發(fā)態(tài))時(shí),發(fā)射光譜。2023/2/6

提供試樣蒸發(fā)、原子化和原子激發(fā)所需要的能量。原子發(fā)射光譜常用的激發(fā)光源有電弧、電火花和電感耦合高頻等離子體等。原子發(fā)射光譜分析儀器中使用的光源有兩類:(a)適宜液體試樣分析的光源:火焰(已淘汰)和等離子體光源;(b)適宜固體試樣直接分析的光源:電弧和電火花光源。2023/2/61.電弧光源(1)直流電?。褐绷麟娫醋鳛榧ぐl(fā)能源,電壓150~380V,電流5~30A;石墨作電極,試樣放置在一支電極(下電極)的凹槽內(nèi);使分析間隙的兩電極接觸或用導(dǎo)體接觸兩電極,通電,電極尖端被燒熱,點(diǎn)燃電弧,再使電極相距4~6mm;直流電弧發(fā)生器電弧光源:(a)直流電??;(b)交流電弧。2023/2/6

電弧點(diǎn)燃后,熱電子流高速通過分析間隔沖擊陽(yáng)極,產(chǎn)生高熱,試樣蒸發(fā)并原子化,電子與原子碰撞電離出正離子沖向陰極。電子、原子、離子間的相互碰撞,使原子躍遷到激發(fā)態(tài),返回基態(tài)時(shí)發(fā)射出該原子的光譜?;⊙鏈囟龋?000~7000K

可使約70多種元素激發(fā)。優(yōu)點(diǎn):

蒸發(fā)能力強(qiáng)、分析的絕對(duì)靈敏度高,背景小,適合定性分析。

缺點(diǎn):弧光不穩(wěn),再現(xiàn)性差;不適合定量分析。2023/2/6(2)低壓交流電弧工作電壓:110~220V由高頻引弧電路和低壓電弧電路組成(a)接通電源,變壓器B1升壓至2.5~3kV,電容器C1充電,放電盤G1擊穿,G1-C1-L1構(gòu)成振蕩回路,產(chǎn)生高頻振蕩;(b)振蕩電壓經(jīng)B2的次級(jí)線圈升壓到10kV,通過電容器C2將電極間隙G的空氣電離,形成導(dǎo)電通道;(c)當(dāng)G被擊穿時(shí),低壓電流沿著已造成的電離空氣通道,通過G進(jìn)行電弧放電;(d)在放電的短暫瞬間,電壓降低直至電弧熄滅,在下半周高頻再次點(diǎn)燃,重復(fù)進(jìn)行;2023/2/6特點(diǎn):

(a)由于交流電弧放電的間歇性,電極溫度稍低,蒸發(fā)能

力稍低;(b)交流電弧的電流有脈沖性,電流密度比直流電弧大,電弧溫度高,激發(fā)能力強(qiáng);(c)交流電弧兩電極極性不斷地周期性改變,電弧穩(wěn)定性好,使分析重現(xiàn)性好,適用于定量分析,靈敏度稍低。2023/2/6(a)交流電壓經(jīng)變壓器T后,產(chǎn)生10~25kV的高壓,然后通過扼流圈D向電容器C充電,達(dá)到G的擊穿電壓時(shí),通過電感L向G放電,產(chǎn)生振蕩性的火花放電;

(b)轉(zhuǎn)動(dòng)續(xù)斷器M,2,3為鎢電極,每轉(zhuǎn)動(dòng)180度,對(duì)接一次,轉(zhuǎn)動(dòng)頻率(50轉(zhuǎn)/s),接通100次/s,保證每半周電流最大值瞬間放電一次;2.高壓電火花2023/2/6特點(diǎn):

(a)放電瞬間能量很大,產(chǎn)生的溫度高,激發(fā)能力強(qiáng),某些難激發(fā)元素可被激發(fā),且多為離子線;

(b)放電間隔長(zhǎng),使得電極溫度低,蒸發(fā)能力稍低,適于低熔點(diǎn)金屬與合金的分析;

(c)穩(wěn)定性好,重現(xiàn)性好,適用定量分析.缺點(diǎn):

(a)靈敏度較低,但可做較高含量的分析;

(b)背景大.2023/2/6(1)、等離子體光源類型:等離子體光源主要有以下三種形式:(a)直流等離子體噴焰(DCP)

弧焰溫度高8000-10000K,穩(wěn)定性好,精密度接近ICP,裝置簡(jiǎn)單,運(yùn)行成本低;

(b)

微波感生等離子體(MIP)溫度5000-6000K,激發(fā)能量高,可激發(fā)許多很難激發(fā)的非金屬元素:C、N、F、Br、Cl、C、H、O等,可用于有機(jī)物成分分析,測(cè)定金屬元素的靈敏度不如DCP和ICP。

(c)電感耦合等離子體(ICP)ICP的性能優(yōu)越,已成為最主要的應(yīng)用方式;3、等離子體焰炬2023/2/6采用ICP作為光源是ICP-AES與其他光譜儀的主要不同之處。主要部分:

a.高頻發(fā)生器作用:晶體控制高頻發(fā)生器作為振源,經(jīng)放大,產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)信號(hào),產(chǎn)生維持等離子體放電。b.等離子體炬管ICP-AES的結(jié)構(gòu):2023/2/6

b.ICP炬管等離子炬管是由一個(gè)三層同心石英玻璃管組成。內(nèi)層石英管,由載氣(一般用Ar)將霧化后的試樣從內(nèi)管引入等離子體。中層石英管通入Ar以維持等離子體。外層管內(nèi)通入冷卻氣Ar以避免等離子炬燒壞石英管;

選擇Ar理由:性質(zhì)穩(wěn)定,不與試樣形成難解離的化合物,本身的光譜簡(jiǎn)單。

2023/2/6(3)工作原理

當(dāng)高頻發(fā)生器接通電源后,高頻電流I通過感應(yīng)線圈產(chǎn)生高頻交變磁場(chǎng)(綠色)。此時(shí)向炬管的外管內(nèi)切線方向通入冷卻氣Ar,中層管內(nèi)軸向(或切向)通入輔助氣體Ar,并用高頻點(diǎn)火裝置引燃,使氣體觸發(fā)產(chǎn)生載流子(離子和電子)。當(dāng)載流子多至足以使氣體有足夠的導(dǎo)電率時(shí),在垂直于磁場(chǎng)方向的截面上產(chǎn)生環(huán)形感生電流(渦電流)。幾百安的強(qiáng)大感應(yīng)電流瞬間將氣體加熱至10000K,在管口形成一個(gè)火炬狀的穩(wěn)定的等離子炬。

2023/2/6

(1)溫度高,惰性氣氛,原子化條件好,有利于難熔化合物的分解和元素激發(fā),有很高的靈敏度和穩(wěn)定性;(2)“趨膚效應(yīng)”,渦電流在外表面處密度大,使表面溫度高,軸心溫度低,中心通道進(jìn)樣對(duì)等離子的穩(wěn)定性影響小。也有效消除自吸現(xiàn)象,線性范圍寬(4~5個(gè)數(shù)量級(jí));(3)

ICP中電子密度大,堿金屬電離造成的影響?。?4)Ar氣體產(chǎn)生的背景干擾?。?5)無(wú)電極放電,無(wú)電極污染;

ICP焰炬外型像火焰,但不是化學(xué)燃燒火焰,氣體放電;缺點(diǎn):對(duì)非金屬測(cè)定的靈敏度低,儀器昂貴,操作費(fèi)用高。(4)特點(diǎn)2023/2/6進(jìn)樣裝置固體樣品電弧、電火花及激光為光源的發(fā)射光譜儀,樣品放置在石墨對(duì)電極的下極的凹槽內(nèi)。液體樣品電感耦合等離子體為光源中光源和霧化器連在一起。2023/2/6幾種常見光源的性質(zhì)和應(yīng)用

光源蒸發(fā)溫度激發(fā)溫度/K放電穩(wěn)定性應(yīng)用范圍直流電弧高4000~7000稍差定性分析,礦物、純物質(zhì)、難揮發(fā)元素的定量分析交流電弧中4000~7000較好試樣中低含量組分的定量分析火花低瞬間10000好金屬與合金、難激發(fā)元素的定量分析ICP很高6000~8000很好溶液定量分析2023/2/6目前原子發(fā)射光譜儀中的分光系統(tǒng)主要有三種類型:(a)平面反射光柵主要用于單通道儀器,每次僅能選擇一條譜線作分析線,檢測(cè)一種元素。(b)凹面光柵能夠?qū)崿F(xiàn)多通道多元素的同時(shí)檢測(cè)。(c)中階梯平面反射光柵中階梯光柵與棱鏡結(jié)合使用,形成二維光譜,配合陣列檢測(cè)器,可以實(shí)現(xiàn)多元素同時(shí)測(cè)定。二.分光系統(tǒng)2023/2/6發(fā)射光譜儀中采用的檢測(cè)器主要有:(a)光電倍增管(b)陣列檢測(cè)器三.檢測(cè)器2023/2/6光電轉(zhuǎn)換器件-光電倍增管mAR1R2R3R4R5R負(fù)電壓光光敏陰極陽(yáng)極電子倍增極電子倍增極2023/2/6第三章

原子發(fā)射光譜分析法一、光譜定性分析二、光譜定量分析三、分析過程與特點(diǎn)第三節(jié)

定性、定量分析方法2023/2/6

一、光譜定性分析定性依據(jù):元素不同→電子結(jié)構(gòu)不同→光譜不同→特征光譜1.元素的分析線、最后線、靈敏線、共振線分析線:復(fù)雜元素的譜線可能多至數(shù)千條,只選擇其中幾條特征譜線檢驗(yàn),稱其為分析線;最后線:濃度逐漸減小,譜線強(qiáng)度減小,最后消失的譜線;靈敏線:最易激發(fā)的能級(jí)所產(chǎn)生的譜線,每種元素都有一條或幾條譜線最強(qiáng)的線,即靈敏線。最后線也是最靈敏線;共振線:由第一激發(fā)態(tài)回到基態(tài)所產(chǎn)生的譜線;通常也是最靈敏線、最后線;2023/2/62.定性方法標(biāo)準(zhǔn)光譜比較法:

最常用的方法,以鐵譜作為標(biāo)準(zhǔn)(波長(zhǎng)標(biāo)尺);為什么選鐵譜?2023/2/6

標(biāo)準(zhǔn)光譜比較定性法為什么選鐵譜?(1)譜線多:在210~660nm范圍內(nèi)有數(shù)千條譜線;(2)譜線間距離分配均勻:容易對(duì)比,適用面廣;(3)定位準(zhǔn)確:已準(zhǔn)確測(cè)量了鐵譜每一條譜線的波長(zhǎng)。標(biāo)準(zhǔn)譜圖:將其他元素的分析線標(biāo)記在鐵譜上,鐵譜起到標(biāo)尺的作用。譜線檢查:將試樣與純鐵在完全相同條件下攝譜,將兩譜片在映譜器(放大器)上對(duì)齊、放大20倍,檢查待測(cè)元素的分析線是否存在,并與標(biāo)準(zhǔn)譜圖對(duì)比確定。可同時(shí)進(jìn)行多元素測(cè)定。2023/2/6二、光譜定量分析1.光譜半定量分析光譜半定量分析可以給出試樣中某元素的大致含量。若分析任務(wù)對(duì)準(zhǔn)確度要求不高時(shí),多采用光譜半定量分析。一般采用譜線強(qiáng)度比較法:測(cè)定一系列不同含量的待測(cè)元素標(biāo)準(zhǔn)光譜系列,在完全相同條件下(同時(shí)攝譜),測(cè)定試樣中待測(cè)元素光譜,選擇靈敏線,比較標(biāo)準(zhǔn)譜圖與試樣譜圖中靈敏線的黑度,確定含量范圍。2023/2/6

2.光譜定量分析(1)絕對(duì)強(qiáng)度法:在條件一定時(shí),譜線強(qiáng)度I與待測(cè)元素含量c關(guān)系為:

I=ac

a為常數(shù)(與蒸發(fā)、激發(fā)過程等有關(guān)),考慮到發(fā)射光譜中存在著自吸現(xiàn)象,需要引入自吸常數(shù)b,則:

發(fā)射光譜分析的基本關(guān)系式,稱為塞伯-羅馬金公式(經(jīng)驗(yàn)式)。自吸常數(shù)b隨濃度c增加而減小,當(dāng)濃度很小,自吸消失時(shí),b=1。2023/2/6

(2)內(nèi)標(biāo)法—相對(duì)強(qiáng)度法

影響譜線強(qiáng)度因素較多,直接測(cè)定譜線絕對(duì)強(qiáng)度計(jì)算難以獲得準(zhǔn)確結(jié)果,實(shí)際工作多采用內(nèi)標(biāo)法(相對(duì)強(qiáng)度法)。

在被測(cè)元素的光譜中選擇一條作為分析線(強(qiáng)度I),再選擇內(nèi)標(biāo)物的一條譜線(強(qiáng)度I0),組成分析線對(duì)。則:

相對(duì)強(qiáng)度R:

上式內(nèi)標(biāo)法定量的基本關(guān)系式。2023/2/6內(nèi)標(biāo)元素與分析線對(duì)的選擇:a.內(nèi)標(biāo)元素可以選擇基體元素,或另外加入,含量固定;b.內(nèi)標(biāo)元素與待測(cè)元素具有相近的蒸發(fā)特性;c.分析線對(duì)應(yīng)匹配,同為原子線或離子線,且激發(fā)電位相近(譜線靠近),“勻稱線對(duì)”;

d.強(qiáng)度相差不大,無(wú)相鄰譜線干擾,無(wú)自吸或自吸小。2023/2/6

(3)標(biāo)準(zhǔn)加入法標(biāo)準(zhǔn)加入法又稱增量法。無(wú)合適內(nèi)標(biāo)物時(shí),采用該法。取若干份體積相同的試液(cX),依次按比例加入不同量的待測(cè)物的標(biāo)準(zhǔn)溶液(cO),濃度依次為:

cX

,cX

+cO

,cX

+2cO

,cX

+3cO

,cX

+4cO

……

在相同條件下測(cè)定:IX,I1,I2,I

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