大學(xué)物理學(xué)-等厚干涉的簡單應(yīng)用_第1頁
大學(xué)物理學(xué)-等厚干涉的簡單應(yīng)用_第2頁
大學(xué)物理學(xué)-等厚干涉的簡單應(yīng)用_第3頁
大學(xué)物理學(xué)-等厚干涉的簡單應(yīng)用_第4頁
大學(xué)物理學(xué)-等厚干涉的簡單應(yīng)用_第5頁
全文預(yù)覽已結(jié)束

下載本文檔

版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

大學(xué)物理學(xué)1*等厚條紋待測工件平晶

請問：此待測工件表面上，有一條凹紋還是一條凸紋？這條紋方向是怎么樣的（平行于或垂直于側(cè)棱）？答：凸紋，是垂直于側(cè)棱。若平行于側(cè)棱，等厚干涉條紋是什么樣子的？16-3-4

等厚干涉的簡單應(yīng)用1.檢查光學(xué)表明2*

例:有一個(gè)玻璃劈尖放在空氣中，劈尖夾角=810-5

用單色光垂直照射,=589.3nm，測得條紋間距l(xiāng)=2.4mm。求此玻璃的折射率.解:根據(jù)可得3*

例:制造半導(dǎo)體元件時(shí)，常常要精確測定硅片上氧化硅薄膜的厚度，這時(shí)可把氧化硅薄膜的一部分腐蝕掉，使其形成辟尖，利用等厚度條紋測其厚度。已知Si的折射率為3.42，SiO的折射率為1.5，入射光波長為589.3nm，觀察到7條暗紋。問SiO薄膜的厚度e是多少？解：可得=(2×6+1)×589.3×10-9/(4×1.5)=1.28×10-6m=1.28μm兩束反射光都有半波損失注意：第0級條紋的位置4*h待測塊規(guī)λ標(biāo)準(zhǔn)塊規(guī)平晶校驗(yàn)塊規(guī)1.精密測長度待測樣品石英環(huán)λ平晶干

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽，若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論