1484.1通用標(biāo)準(zhǔn)總結(jié)

問題總結(jié)

術(shù)語、定義和縮略語總?cè)蜉椛涔β蔜otalIsotropicRadiatedPower無線終端在空間三維球面上的射頻輻射功率積分值，反映了無線終端在所有方向上的發(fā)射特性。總?cè)蜉椛潇`敏度TotalIsotropicRadiatedSensitivity無線終端在空間三維球面上的接收靈敏度積分值，反映了無線終端在所有方向上的接收特性。全電波暗室坐標(biāo)與定位系統(tǒng)圖1所示為典型球形坐標(biāo)系統(tǒng)，Φ（fai）軸即為Z軸，θ(theta)

角定義為測量點(diǎn)與＋Z軸之間的夾角，Φ（fai）角定義為測量點(diǎn)在XY平面上的投影與+X軸之間的夾角。定義了球形坐標(biāo)系統(tǒng)以后，定義每個(gè)測量點(diǎn)的兩個(gè)正交極化方向：

Φ極化方向Φ定義為Φ軸旋轉(zhuǎn)時(shí)的運(yùn)動(dòng)方向，θ極化方向θ定義為θ軸旋轉(zhuǎn)時(shí)的運(yùn)動(dòng)方向，如圖2所示。兩種定位系統(tǒng)要求分布軸系統(tǒng)是指兩個(gè)旋轉(zhuǎn)軸相互獨(dú)立,此時(shí)測量天線圍繞theta軸轉(zhuǎn)動(dòng)，EUT圍繞fhi軸轉(zhuǎn)動(dòng)。組合軸系統(tǒng)的兩個(gè)旋轉(zhuǎn)軸相互結(jié)合在一起，此時(shí)是在theta軸定位器基礎(chǔ)上加裝fhi軸定位器，EUT同時(shí)繞兩個(gè)軸旋轉(zhuǎn)根據(jù)EUT類型，分別在以下幾種情況下進(jìn)行測試：自由空間:無線終端縱向長軸為Z軸，屏幕面向+X軸方向，右手法則定義Y軸。僅人頭模型:人頭和人手模型:僅人手模型筆記本類模型系統(tǒng)校準(zhǔn)使用全電波暗室進(jìn)行測試時(shí)，需要進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)，測量各測試儀表端口與暗室中心EUT位置處之間的路徑損耗，并使用路徑損耗測量結(jié)果對測試儀表的讀數(shù)結(jié)果進(jìn)行補(bǔ)償，從而得到正確的功率和靈敏度測量結(jié)果。系統(tǒng)校準(zhǔn)通常需要借助已知增益的標(biāo)準(zhǔn)天線，可以使用標(biāo)準(zhǔn)的偶極子天線；通常需要使用網(wǎng)絡(luò)分析儀來測量路徑損耗。在保證測量精確程度的前提下，也可使用其他標(biāo)準(zhǔn)天線和測試設(shè)備。紋波測試1484.1-4.33紋波測試用于驗(yàn)證場地靜區(qū)性能，衡量全電波天線暗室的反射引起的性能變化，其結(jié)果可以描述包括定位器和支撐結(jié)構(gòu)在內(nèi)的整個(gè)測試系統(tǒng)特性，其結(jié)果經(jīng)分析后計(jì)入整個(gè)測試系統(tǒng)總的不確定度。紋波測試規(guī)程:紋波測試分為Phi軸紋波測試和Theta軸紋波測試Phi軸紋波測試測量天線固定在 Theta90’C位置并與靜區(qū)中心在同一水平高度上將探測天線用低介電常數(shù)的絕緣支撐物固定在Phi軸定位器上用射頻電纜連接信號(hào)源（或網(wǎng)絡(luò)分析儀）與探測天線探測天線繞Phi軸旋轉(zhuǎn)一周，每2’C記錄一個(gè)測量值記錄測試結(jié)果，記錄的參數(shù)包括：測量天線和探測天線的距離；測試布置中的電纜損耗和其他相關(guān)損耗；探測天線輸入口的信號(hào)功率；接收機(jī)當(dāng)沒有信號(hào)注入時(shí)的本底噪聲。Theta軸紋波測試

測量天線固定在 Phi0’C度位置并與靜區(qū)中心在同一水平線上將探測天線用低介電常數(shù)的絕緣支撐物固定在Phi軸定位器上用射頻電纜連接信號(hào)源（或網(wǎng)絡(luò)分析儀）與探測天線探測天線繞Theta軸旋轉(zhuǎn)330°（或兩個(gè)164°），每2°記錄一個(gè)測量值，共記錄165個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)記錄測試結(jié)果，記錄的參數(shù)包括：測量天線和探測天線的距離；電纜損耗和其他損耗；探測天線輸入口的信號(hào)功率；接收機(jī)的噪聲電平。測試系統(tǒng)配置1-組合軸+分布軸暗室組合軸：為了完成整個(gè)球面掃描，無線終端不僅要繞Theta軸旋轉(zhuǎn)，還需要繞Phi軸旋轉(zhuǎn)；分布軸:Theta軸和Phi軸通過暗室中相互獨(dú)立的定位器分別進(jìn)行旋轉(zhuǎn)測試系統(tǒng)配置2-不同狀態(tài)僅人頭模型僅人頭模型測試配置實(shí)質(zhì)上與自由空間配置相同，只是此時(shí)旋轉(zhuǎn)軸中心為人頭模型中心。人頭和人手模型人頭和人手模型測試配置實(shí)質(zhì)上與自由空間配置相同，只是此時(shí)旋轉(zhuǎn)軸中心為人頭模型中心。僅人手模型僅人手模型測試配置實(shí)質(zhì)上與自由空間配置相同，只是此時(shí)旋轉(zhuǎn)軸中心為無線終端屏幕中心位置?；祉懯叶ㄎ慌c模式攪拌系統(tǒng)混響室應(yīng)配置有模式攪拌系統(tǒng)，通過模式攪拌使系統(tǒng)可以獲得足夠多的統(tǒng)計(jì)獨(dú)立測量結(jié)果從而提高對TIRP和TIRS的測量精度。可能的模式攪拌系統(tǒng)包括但不限于轉(zhuǎn)臺(tái)攪拌、極化攪拌以及基于不同形狀攪拌件的機(jī)械攪拌。如果測試類型允許對結(jié)果進(jìn)行頻域平均，則系統(tǒng)還可以使用頻率攪拌方法，不過在混響室足夠大且已經(jīng)有良好攪拌的情況下，通常沒有必要使用頻率攪拌混響室測試系統(tǒng)配置典型的混響室測試系統(tǒng)配置如圖所示，包括帶有攪拌器的混響室、測量天線以及基站模擬器等組成部分。全電波暗室系統(tǒng)功率測量通用方法通過在無線終端周圍不同球面位置測量無線終端EIRP來衡量EUT的射頻輻射性能。通過分析球面上每個(gè)測量點(diǎn)的測量數(shù)據(jù)來評估有效輻射功率，得到EUT的三維輻射特性。在球坐標(biāo)的Phi軸和Theta軸分別間隔15度取1個(gè)測量點(diǎn)，即能夠充分描述EUT的遠(yuǎn)場輻射模式和總?cè)蜉椛涔β省Ｓ捎谠赑hi=0度和Theta=180度時(shí)不用測試，所以每個(gè)極化需測量264個(gè)點(diǎn)，將所有測量結(jié)果按附錄H.1中要求積分得到TIRP?；祉懯蚁到y(tǒng)功率測量通用方法進(jìn)行TIRP測量時(shí)，混響室內(nèi)攪拌器、測量天線等進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，在反射腔體內(nèi)一定空間中形成統(tǒng)計(jì)均勻的各向同性瑞利衰落信道環(huán)境。轉(zhuǎn)臺(tái)承載被測物進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，在上述空間內(nèi)進(jìn)行多點(diǎn)測試，至少應(yīng)保證得到100個(gè)統(tǒng)計(jì)獨(dú)立的功率測量采樣。最終將所有采樣點(diǎn)上測試結(jié)果按附錄H.2中要求計(jì)算得到TIRP。全電波暗室系統(tǒng)接收機(jī)性能通用測量方法當(dāng)進(jìn)行高、中、低三個(gè)信道上的TIRS測量時(shí)，通過測量EUT在一定誤碼率、誤幀率或誤塊率條件下的最小前向鏈路功率來衡量EUT的接收機(jī)性能。本部分規(guī)定在EUT接收靈敏度最差的配置下進(jìn)行試驗(yàn)，通過分析球面上每個(gè)測量點(diǎn)的測量數(shù)據(jù)來評估有效接收機(jī)靈敏度，得到EUT的三維接收機(jī)特性。由于接收機(jī)靈敏度測量沒有發(fā)射機(jī)射頻輻射功率測量精確，本部分允許進(jìn)行TIRS測試時(shí)，Phi軸和Theta軸以30度步長進(jìn)行旋轉(zhuǎn)。在球坐標(biāo)的Phi軸和Theta軸分別每間隔30度取1個(gè)測量點(diǎn)混響室系統(tǒng)接收機(jī)性能通用測量方法進(jìn)行TIRS測量時(shí)，混響室內(nèi)攪拌器、測量天線等進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，在反射腔體內(nèi)一定空間中形成統(tǒng)計(jì)均勻的各向同性瑞利衰落信道環(huán)境。轉(zhuǎn)臺(tái)承載被測物進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，在上述空間內(nèi)進(jìn)行多點(diǎn)測試，至少應(yīng)在100個(gè)獨(dú)立采樣點(diǎn)上進(jìn)行測試來保證測試結(jié)果準(zhǔn)確程度。在每個(gè)采樣點(diǎn)上，通過測量EUT在一定誤碼率、誤幀率或誤塊率條件下的最小前向鏈路功率來衡量EUT的接收機(jī)性能附錄E：系統(tǒng)校準(zhǔn)全電波暗室的系統(tǒng)校準(zhǔn)圖1所示為典型的全電波暗室系統(tǒng)測量路徑示意圖，其中假設(shè)EUT被放置于A點(diǎn)進(jìn)行測試，連接測量天線的線纜的暗室外端點(diǎn)為B點(diǎn)，在TIRP和TIRS測試過程中，點(diǎn)B通常連接至測試儀表端口。全電波暗室系統(tǒng)校準(zhǔn)的目的是測量A、B兩點(diǎn)之間的路徑損耗，包括A點(diǎn)到測量天線之間的傳輸損耗、測量天線增益以及測量天線連接線纜的損耗等。全電波暗室路徑校準(zhǔn)方法-11.根據(jù)所需校準(zhǔn)的頻段范圍，挑選合適的偶極子天線，并將偶極子天線取代EUT，放置于A點(diǎn)，調(diào)整其位置極化方向，使之與所需校準(zhǔn)的極化方向一致，并使其最強(qiáng)輻射方向?qū)?zhǔn)測量天線；2.從網(wǎng)絡(luò)分析儀其中一個(gè)端口通過線纜1連接到偶極子天線，并將其另外一個(gè)端口通過線纜2連接到B點(diǎn)，測量該配置下網(wǎng)絡(luò)分析儀兩個(gè)端口之間的S21，記為L13.斷開線纜1與偶極子天線的連接，斷開線纜2與B點(diǎn)的連接，并將線纜1和線纜2連接起來，測量該配置下網(wǎng)絡(luò)分析儀兩個(gè)端口之間的S21，記為L2；全電波暗室路徑校準(zhǔn)方法-2計(jì)算系統(tǒng)在該頻點(diǎn)和極化方向上的路徑損耗為：PL=L1－L2－G式中：PL——全電波暗室系統(tǒng)路徑損耗，單位為dB；G——偶極子天線在該頻點(diǎn)上的增益，單位為dBi。e）在所有TIRP和TIRS的測量頻點(diǎn)上、在兩個(gè)極化方向上重復(fù)上述步驟，得到所有測試頻段和極化方向上的路徑損耗?；祉懯业南到y(tǒng)校準(zhǔn)1.1校準(zhǔn)配置和步驟混響室系統(tǒng)校準(zhǔn)主要測量混響室平均功率傳遞函數(shù)，測量天線的失配，以及連接測量儀表和測量天線的電纜路徑損耗。推薦使用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)a）針對一個(gè)完整的攪拌序列測量混響室的S參數(shù)；b）計(jì)算混響室參考傳遞函數(shù)；c）測量連接電纜插入損耗?；祉懯业南到y(tǒng)校準(zhǔn)2基本設(shè)置：攪拌器，測量天線，校準(zhǔn)天線。網(wǎng)絡(luò)分析儀。攪拌序列中攪拌位置數(shù)應(yīng)足夠大以降低測量不確定度，攪拌位置數(shù)一般不應(yīng)低于100個(gè)，建議使用200到400個(gè)。測試系統(tǒng)不確定度分析-全電波暗室全電波暗室TIRP測試系統(tǒng)不確定度分析要求測試系統(tǒng)的總擴(kuò)展不確定度除人頭加人手狀態(tài)外在各個(gè)測試狀態(tài)下均小于2.0dB，對于人頭加人手手狀態(tài)下其總擴(kuò)展不確定度小于2.4dB。全電波暗室TIRS測試系統(tǒng)的不確定度分析要求測試系統(tǒng)的總擴(kuò)展不確定度除人頭加人手狀態(tài)外在各個(gè)測試狀態(tài)下均小于2.25dB，對于人頭加人手狀態(tài)下其總擴(kuò)展不確定度小于2.6dB